CN210513205U - 一种实验室设备校验装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种实验室设备校验装置，包括计量校验仪器本体，所述计量校验仪器本体上放置有支撑底板，且支撑底板上放置有校验支撑底托，所述校验支撑底托位于计量校验仪器本体的校验棒底端，所述支撑底板上设有使校验支撑底托能够对校验物体进行稳定支撑的可调节辅助支撑装置，此实验室设备校验装置，过在校验支撑底托的外侧设有可调节辅助支撑装置，使计量校验仪器本体的校验棒在进行校验时，可调节辅助支撑装置起到对校验物质稳定的辅助支撑的作用，使校验物体能够稳定的放置在校验支撑底托的顶部和校验棒的接触端，进而使校验棒实现准确快速的自校准的作用，进一步的提高计量校验仪器本体对实验室设备的精确校准度。

Description

一种实验室设备校验装置

技术领域

本实用新型涉及测量技术领域，具体为一种实验室设备校验装置。

背景技术

目前，现有的实验室进行实验工作中，常常需要使用到计量校验仪器对实验中所需的设备进行校准，而在计量校验仪器在投入使用前，需要进行自检定或校准，在计量检测仪器的校验棒进行自校准时，将计量检测仪器的支撑台上放置支撑底板，再向支撑底板上放置检验支撑底托，最后通过将不规则的校验物质放置在检验支撑底托与校验棒之间，用以对校验棒进行校准检测，然而由于校验支撑底托的顶部和校验棒的接触面均为光滑的球型状，从而导致不规则校验物质在放置时容易出现晃动而不稳定的现象，进而导致校验棒无法进行准确的自校准，进一步的影响实验设备的校准。为此，我们提出一种实验室设备校验装置。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种实验室设备校验装置，以解决上述背景技术中提出的问题。

为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：一种实验室设备校验装置，包括计量校验仪器本体，所述计量校验仪器本体上放置有支撑底板，且支撑底板上放置有校验支撑底托，所述校验支撑底托位于计量校验仪器本体的校验棒底端，所述支撑底板上设有使校验支撑底托能够对校验物体进行稳定支撑的可调节辅助支撑装置，通过在校验支撑底托的外侧设有的可调节辅助支撑装置，从而起到对校验支撑物质进行辅助支撑的作用，进一步的使校验棒能够进行精准的自校验的作用。

优选的，所述可调节辅助支撑装置包括设置在支撑底板上的限位槽，所述限位槽上转动连接有双向螺纹杆，所述双向螺纹杆位于支撑底板外侧的一端固定连接有转动把手，所述限位槽内部滑动连接有两个移动块，且两个移动块转动套接在双向螺纹杆外侧，两个所述移动块上均设有高度调节件，且两个高度调节件输出端上固定连接有吸盘，两个所述吸盘位于校验支撑底托底端，通过设有的可调节辅助装置，从而实现对检验物体进行辅助支撑的作用。

优选的，所述高度调节件包括固定连接在移动块上的支撑套，所述支撑套滑动连接在支撑底板上，所述支撑套内部滑动贯穿有支撑杆，所述支撑杆顶端与吸盘固定连接，所述支撑杆上设有若干个卡接孔，所述支撑套上转动连接有螺纹孔，所述螺纹孔内部贯穿有转动丝杆，且转动丝杆与螺纹孔转动连接，所述转动丝杆与卡接孔卡接，通过设有的高度调节件，从而实现对吸盘进行高度调节的作用。

优选的，所述转动丝杆位于支撑套外侧的一端固定连接有驱动板，且驱动板为圆台形状，从而便于对转动丝杆进行驱动的作用。

优选的，所述转动把手外侧设有防滑纹，从而提高转动把手的摩擦力，便于转动把手。

与现有技术相比，本实用新型的有益效果是：

本实用新型在进行使用时，通过在校验支撑底托的外侧设有可调节辅助支撑装置，使计量校验仪器本体的校验棒在进行校验时，可调节辅助支撑装置起到对校验物质稳定的辅助支撑的作用，使校验物体能够稳定的放置在校验支撑底托的顶部和校验棒的接触端，进而使校验棒实现准确快速的自校准的作用，进一步的提高计量校验仪器本体对实验室设备的精确校准度。

附图说明

图1为本实用新型整体结构示意图；

图2为本实用新型整体结构俯视图；

图3为本实用新型图1中A区域放大图；

图4为本实用新型图2中B区域放大图。

图中：1-计量校验仪器本体；2-支撑底板；3-校验支撑底托；4-可调节辅助支撑装置；5-限位槽；6-双向螺纹杆；7-转动把手；8-移动块；9-高度调节件；10-吸盘；11-支撑套；12-支撑杆；13-卡接孔；14-转动丝杆；15-驱动板。

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

请参阅图1-4，本实用新型提供一种技术方案：一种实验室设备校验装置，包括计量校验仪器本体1，所述计量校验仪器本体1上放置有支撑底板2，且支撑底板2上放置有校验支撑底托3，所述校验支撑底托3位于计量校验仪器本体1的校验棒底端，且支撑底托的高度与校验棒校准的高度相适应，且在校验物质的校验时，能够实现对不同高度的校验棒进行精确校准的作用。

所述支撑底板2上设有使校验支撑底托3能够对校验物体进行稳定支撑的可调节辅助支撑装置4，所述可调节辅助支撑装置4包括设置在支撑底板2上的限位槽5，所述限位槽5上转动连接有双向螺纹杆6，所述双向螺纹杆6位于支撑底板2外侧的一端固定连接有转动把手7，所述转动把手7外侧设有防滑纹，所述限位槽5内部滑动连接有两个移动块8，且两个移动块8转动套接在双向螺纹杆6外侧，移动块8内部设有内螺纹，用以与双向螺纹杆6之间进行螺纹连接；

两个所述移动块8上均设有高度调节件9，且两个高度调节件9输出端上固定连接有吸盘10，两个所述吸盘10位于校验支撑底托3底端，所述高度调节件9包括固定连接在移动块8上的支撑套11，所述支撑套11滑动连接在支撑底板2上，所述支撑套11内部滑动贯穿有支撑杆12，所述支撑杆12顶端与吸盘10固定连接，所述支撑杆12上设有若干个卡接孔13，所述支撑套11上转动连接有螺纹孔，所述螺纹孔内部贯穿有转动丝杆14，且转动丝杆14与螺纹孔转动连接，所述转动丝杆14与卡接孔13卡接，所述转动丝杆14位于支撑套11外侧的一端固定连接有驱动板15，且驱动板15为圆台形状；

当对校验棒进行自校准时，首先调节计量校验仪器本体1上的校准棒的校准高度，同时根据校准棒的高度，选择适配的校验支撑底托3，此时，转动支撑底板2上的转动把手7，使双向螺纹杆6在限位槽5内部进行转动，双向螺纹杆6提供两个移动块8两个相反方向的驱动力，而由于移动块8在其顶端支撑套11的限位的作用，两个移动块8在限位槽5内部相向移动或沿着相反的方向移动，将吸盘10之间的距离调节至一定大小，此时，将校验物体放置在校验支撑底托3顶端，同时校验棒与校验物体之间进行接触，再分别转动支撑套11上的驱动板15，转动丝杆14脱离支撑杆12上，将支撑杆12与支撑套11之间的高度进行相对调节，再将转动丝杆14与支撑杆12上的螺纹孔卡紧，进而调节吸盘10至所需高度，进而实现对校验物体进行稳定支撑的作用，进一步的实现对校验棒进行稳定校准的作用。

需要说明的是，在本文中，诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。

尽管已经示出和描述了本实用新型的实施例，对于本领域的普通技术人员而言，可以理解在不脱离本实用新型的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型，本实用新型的范围由所附权利要求及其等同物限定。

Claims (5)

1.一种实验室设备校验装置，包括计量校验仪器本体（1），其特征在于：所述计量校验仪器本体（1）上放置有支撑底板（2），且支撑底板（2）上放置有校验支撑底托（3），所述校验支撑底托（3）位于计量校验仪器本体（1）的校验棒底端，所述支撑底板（2）上设有使校验支撑底托（3）能够对校验物体进行稳定支撑的可调节辅助支撑装置（4）。

2.根据权利要求1所述的一种实验室设备校验装置，其特征在于：所述可调节辅助支撑装置（4）包括设置在支撑底板（2）上的限位槽（5），所述限位槽（5）上转动连接有双向螺纹杆（6），所述双向螺纹杆（6）位于支撑底板（2）外侧的一端固定连接有转动把手（7），所述限位槽（5）内部滑动连接有两个移动块（8），且两个移动块（8）转动套接在双向螺纹杆（6）外侧，两个所述移动块（8）上均设有高度调节件（9），且两个高度调节件（9）输出端上固定连接有吸盘（10），两个所述吸盘（10）位于校验支撑底托（3）底端。

3.根据权利要求2所述的一种实验室设备校验装置，其特征在于：所述高度调节件（9）包括固定连接在移动块（8）上的支撑套（11），所述支撑套（11）滑动连接在支撑底板（2）上，所述支撑套（11）内部滑动贯穿有支撑杆（12），所述支撑杆（12）顶端与吸盘（10）固定连接，所述支撑杆（12）上设有若干个卡接孔（13），所述支撑套（11）上转动连接有螺纹孔，所述螺纹孔内部贯穿有转动丝杆（14），且转动丝杆（14）与螺纹孔转动连接，所述转动丝杆（14）与卡接孔（13）卡接。

4.根据权利要求3所述的一种实验室设备校验装置，其特征在于：所述转动丝杆（14）位于支撑套（11）外侧的一端固定连接有驱动板（15），且驱动板（15）为圆台形状。

5.根据权利要求2所述的一种实验室设备校验装置，其特征在于：所述转动把手（7）外侧设有防滑纹。

Images