PL48398B1 - - Google Patents

Download PDF

Info

Publication number
PL48398B1
PL48398B1 PL101601A PL10160163A PL48398B1 PL 48398 B1 PL48398 B1 PL 48398B1 PL 101601 A PL101601 A PL 101601A PL 10160163 A PL10160163 A PL 10160163A PL 48398 B1 PL48398 B1 PL 48398B1
Authority
PL
Poland
Prior art keywords
receivers
rails
tube
deflection plates
output terminal
Prior art date
Application number
PL101601A
Other languages
English (en)
Inventor
dr Leszek Filipczynski prof.
Original Assignee
Polska Akademia Nauk
Filing date
Publication date
Application filed by Polska Akademia Nauk filed Critical Polska Akademia Nauk
Publication of PL48398B1 publication Critical patent/PL48398B1/pl

Links

Description

Pierwszenstwo: BIBLIOTEKA Urzedu Patentowego 17.Y.1963 (P 101 601) Opublikowano: 5.IX.1964 48398 KI. 42 k 46/06 MKP G 01 n UKD SAOlf Twórca wynalazku: prof. dr Leszek Filipczynski Wlasciciel patentu: Polska Akademia Nauk (Instytut Podstawowych Problemów Techniki), Warszawa (Polska) Urzadzenie ultradzwiekowe do jednoczesnego badania dwóch szyn w torach Przedmiotem wynalazku jest urzadzenie ultra¬ dzwiekowe do jednoczesnego badania dwóch szyn w torach.W dotychczasowych urzadzeniach ultradzwieko¬ wych tego typu impulsy ultradzwiekowe, odbite od wykrytych wad w szynach, zostaja przedstawione na podstawie czasu wskaznika oscyloskopowego w ten sposób, ze nie mozna stwierdzic, w której szy¬ nie znajduje sie wykryta wada.Niedogodnosc te usuwa urzadzenie ultradzwie¬ kowe wedlug wynalazku, przedstawione na rysun¬ ku, w którym impulsy elektryczne wytworzone w nadajnikach 112 zamienione w glowicach 3 i 4 na impulsy ultradzwiekowe wprowadzone zostaja do szyn 5 i 6. Po odbiciu od wykrytych wad impulsy te, zamienione w glowicach na impulsy elektrycz¬ ne, zostaja wzmocnione przez odbiorniki 7 i 8, a nastepnie doprowadzone niezaleznie do plytek odchylajacych 9 i 10 lampy oscyloskopowej.Dzieki temu podstawa czasu 11 wychylona zo¬ staje* w lewo, gdy wykryta wada znajduje sie w lewej szynie, natomiast wychylona zostaje w pra¬ wo, gdy wykryta wada znajduje sie w prawej szynie. W ten sposób urzadzenie wedlug wynalaz¬ ku pozwala na bezposrednie stwierdzenie na pod¬ stawie obrazu oscyloskopowego, w której szynie znajduje sie wykryta wada.W dotychczasowych urzadzeniach ultradzwieko¬ wych, które nie pozwalaja na stwierdzenie na pod- 10 15 20 25 2 stawie obrazu oscyloskopowego, w której szynie wystepuje wada, zachodzi koniecznosc stosowania dwóch niezaleznych ukladów alarmujacych; jedne¬ go dla lewej, a drugiego dla prawej szyny.Natomiast przedstawione rozwiazanie umozliwia zaistasowanie jednego tylko urzadzenia alarmuja¬ cego, wspólnego dla obu szyn. Impulsy z odbiorni¬ ków 7 i 8 zostaja w tym celu doprowadzone do mieszacza 12,' a stad do urzadzenia alarmujace¬ go 13. PL

Claims (2)

  1. Zastrzezenia patentowe 1. Urzadzenie ultradzwiekowe do jednoczesnego badania dwóch szyn w torach, skladajace sie z dwóch ukladów defektoskopowych, dzialajacych na wspólny uklad zawierajacy lampe oscylosko¬ powa, znamienny tym, ze zacisk wyjsciowy jed¬ nego z odbiorników polajczony jest z jedna z plytek odchylania poziomego lub pionowego lampy oscyloskopowej, a zacisk wyjsciowy dru¬ giego odbiornika polaczony jest z druga z plytek odchylania poziomego lub pionowego tejze lam¬ py oscyloskopowej.
  2. 2. Urzadzenie wedlug zastrz. 1, znamienne tym, ze zaciski wyjsciowe dwóch odbiorników polaczo¬ ne sa poprzez uklad mieszajacy z zaciskiem wejsciowym urzadzenia alarmujacego. 48 39848 398 ZG „Ruch" W-wa, zam. 609-64, naklad 300 egz. PL
PL101601A 1963-05-17 PL48398B1 (pl)

Publications (1)

Publication Number Publication Date
PL48398B1 true PL48398B1 (pl) 1964-06-15

Family

ID=

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US4875003A (en) Non-contact I/O signal pad scan testing of VLSI circuits
US2789267A (en) System for testing pulse generators
US3733587A (en) Universal buffer interface for computer controlled test systems
ATE37097T1 (de) System und verfahren zum testen fuer eine integrierte schaltung.
EP0010599A1 (en) Shift register latch circuit operable as a D-type edge trigger and counter comprising a plurality of such latch circuits
PL48398B1 (pl)
JPH0325384A (ja) プリント板試験方法
JPS61278766A (ja) カウンタ装置
DE3686989D1 (de) Verminderung des rauschens waehrend des pruefens von integrierten schaltungschips.
US4009437A (en) Net analyzer for electronic circuits
SU739331A1 (ru) Блок обработки сигналов фотоприемников к устройству дл измерени непрозрачного движущегос объекта
BOSSI et al. Computed tomography of electronics(Interim Report, Aug. 1988- May 1989)
SU1409218A1 (ru) Устройство дл определени агрегационной способности клеток
JPS5750666A (en) Testing device for function of circuit
SU396631A1 (ru) УСТРрЙСТВО РАЗБРАКОВКИ ТРИГГЕРОВ ПО ЧАСТОТЕ УСТАНОВКИ И ВЫХОДНОЙ ЧАСТОТЕ
KR940011630B1 (ko) 포탄 근접 신관의 카스텀회로(custom ic)측정장치
Thompson et al. The use of marginal voltage analysis as a screening tool for increased integrated circuit reliability.
PL44010B1 (pl)
SU366837A1 (ru) ВСЕСОЮЗНАЯ n,^TEHTrfO-Tt?HH4t^A
JPH084104B2 (ja) 半導体集積回路装置の試験方法
SU1709237A1 (ru) Устройство дл измерени волнового сопротивлени симметричных линий задержки
PL49929B1 (pl)
SU534229A1 (ru) Устройство дл измерени критической частоты мельканий
PL49181B1 (pl)
JPS5681454A (en) Probe card