PL45432B1 - - Google Patents

Download PDF

Info

Publication number
PL45432B1
PL45432B1 PL45432A PL4543261A PL45432B1 PL 45432 B1 PL45432 B1 PL 45432B1 PL 45432 A PL45432 A PL 45432A PL 4543261 A PL4543261 A PL 4543261A PL 45432 B1 PL45432 B1 PL 45432B1
Authority
PL
Poland
Prior art keywords
oxides
emulsion
solution
illuminated
remaining parts
Prior art date
Application number
PL45432A
Other languages
English (en)
Filing date
Publication date
Application filed filed Critical
Publication of PL45432B1 publication Critical patent/PL45432B1/pl

Links

Description

S7 msfiS *< POLSKIEJ RZECZYPOSPOLITEJ LUDOWEJ OPIS PATENTOWY Nr 45432 KI. 21 g, 11/02 Polska Akademia Nauk*) (Instytut Podstawowych Problemóiu Techniki) Warszawa, Polska Sposób usuwania tlenków z okreslonych miejsc powierzchni pólprzewodników Patemt trwa od dnia 24 maja 1961 r.W 'procesie produkcji elementów pólprzewod¬ nikowych takich jak diody, tranzystory, struk¬ tury n-p-n-p (p-n-p-n) i innych wykorzystuje sie dyfuzje domieszek do wytwarzania zlacz w wyj¬ sciowym materiale. Wymienione elementy wy¬ magaja przynajmniej jednego zlacza \p-n (n-p) lub bardziej 'zlozonej struktury (np. n-p-n w tranzystorze).Proces dyfuzji wielokrotnej jest jedna z me¬ tod umozliwiajaca otrzymanie takich struktur.Po przeprowadzeniu dyfuzji jednej domieszki z fazy gazowej *do plytki pólprzewodnika (ger¬ manowego, kirzemowego lub innych), powierzch¬ nie ich sa calkowicie utlenione. Nastepnie ze scisle okreslonych miejsc powierzchni, np. prze¬ znaczonych na emiter, usuwa sie tlenek, co umozliwia prawidlowy przebieg dyfuzji dru¬ giej domieszki.*) Wlasciciel patentu oswiadczyl, ze wspól¬ twórcami wynalazku sa mgr Herbert Czichon i mgr. Andrzej Kobendza.Tlenki usuwa sie naogól przez trawienie w roztworach fluorowodoru. Czesci powierzchni tlenków zabezpiecza sie za pomoca wosków lub lakierów maskujacycli i odsloniete miejsca tra¬ wi roztworem fluorowodoru. Sposób ten nie jx- zwala jednak na otrzymanie rysunków o-okres¬ lonym ksztalcie i o ostrych, równych brzegach.Przy ¦malych wymiarach rysunku nie daje on pozadanych rezultatów.Wedlug wynalazku zastosowano spoiof) foto¬ chemicznego maskowania. Polega on im pokry¬ waniu plytek (pólprzewodnikowych cienfcilfaa warstwa emulsji swiatloczulej, w sklad której wchodzi polialkohol winylowy, dwuchromian amonu i substancje zwilzajace, np. nekalina.Nastepnie plytke naswietla sie poprzez nega¬ tyw i nienaswietlone czesci emulsji wymyka za pomoca wody. Kontrole wywolania przepro¬ wadza sie przez barwienie emulsji w jednym z roztworów: erytozyny, safraniny lub blekitu bezposredniego3B. \ Potem emulsje hartuje sie w roztworze kwa~fiu chromowego o stezeniu 50 g/l, albo w roz¬ tworze zywic fenolo^formaMehydowo siarczyno¬ wych. W celu zwiekszenia kwasoodpornosci emulsji, plytki po hartowaniu w kwasie chro¬ mowym wygtrzewa sie przez okolo 15 minut w temperaturze 150—200°C, a po hartowaniu w roztworze zywicy fenolowo-forniaidehydowo- -siarczynowej — w temperaturze 220—300°C.Tak przygotowane plytki trawi sie w roztwo¬ rze fluorowodoru, do którego dodano fluorek amonu do nasycenia w celu zmniejszenia dy¬ fuzji wody w warstwe emulsji. "W miejscach odslonietych rozpuszcza sie tlenek i otrzymuje sie czysta powierzchnie pólprzewodnika. Pozo¬ stala wajrstwe emulsji usuwa sde przez podgrze¬ wanie plytek w roztworze kw^asu cukrowego, szczawiowego lub winowego o stezeniu 30—100 g/l.Sposób fotochemicznego maskowania umozli¬ wia- wytrawienie tlenków ze scisle okreslonych rysunków, dzieki czemu moze byc stosowany przy produkcji wymienionych elementów pól¬ przewodnikowych, PL

Claims (1)

1. Zastrzezenie patentowe Sposób usuwania tlenków z okreslonych miejsc pólprzewodników, znamienny tym, ze plytke po¬ krywa sie warstwa swiatloczula, w sklad której wchodzi polialkohol winylowy i dwuchromian amonu, naswietla sie poprzez negatyw, wywo¬ luje miejsca nienaswietlone, a pozostale czesci barwi, hartuje i wygrzewa, po czym trawi sie w roztworach zawierajacych oprócz fluorowo¬ doru — fluorek amonu, a nastepnie po przetra¬ wieniu tlenków — usuwa sie pozostale czesci emulsji przez podgrzewanie w roztowrze kwasu cukrowego, szczawiowego lub winowego. Polska Akademia Nauk Instytut Podstawo w ych Problemów Techniki ;:'EL!OTEKA 2365. RSW „Prasa", Kielce PL
PL45432A 1961-05-24 PL45432B1 (pl)

Publications (1)

Publication Number Publication Date
PL45432B1 true PL45432B1 (pl) 1961-12-15

Family

ID=

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US3122817A (en) Fabrication of semiconductor devices
US4151010A (en) Forming adjacent impurity regions in a semiconductor by oxide masking
US3708360A (en) Self-aligned gate field effect transistor with schottky barrier drain and source
JPS6080269A (ja) 半導体素子の製法
US4025364A (en) Process for simultaneously fabricating epitaxial resistors, base resistors, and vertical transistor bases
US3615942A (en) Method of making a phosphorus glass passivated transistor
US3670403A (en) Three masking step process for fabricating insulated gate field effect transistors
PL45432B1 (pl)
US3592705A (en) Method of making semiconductor device
US3783046A (en) Method of making a high-speed shallow junction semiconductor device
JPS5633826A (en) Manufacture of target
JPS5683973A (en) Manufacture of mos type transistor
JPS6464262A (en) Mos transistor
GB1069467A (en) Improvements in and relating to methods of masking
JPS5530867A (en) Method of making semiconductor device
JPS5656628A (en) Manufacture of semiconductor device
PL53487B1 (pl)
JPS57153462A (en) Manufacture of semiconductor integrated circuit device
JPS5791537A (en) Manufacture of semiconductor device
GB920306A (en) Fabrication method for semiconductor devices
JPS6446976A (en) Manufacture of semiconductor integrated circuit device
JPS5650579A (en) Manufacture of junction type field effect semiconductor device
JPS57132357A (en) Manufacture of semiconductor element
JPS5710246A (en) Manufacture of semiconductor device
JPS5789258A (en) Manufacture of semiconductor device