PL45432B1 - - Google Patents
Download PDFInfo
- Publication number
- PL45432B1 PL45432B1 PL45432A PL4543261A PL45432B1 PL 45432 B1 PL45432 B1 PL 45432B1 PL 45432 A PL45432 A PL 45432A PL 4543261 A PL4543261 A PL 4543261A PL 45432 B1 PL45432 B1 PL 45432B1
- Authority
- PL
- Poland
- Prior art keywords
- oxides
- emulsion
- solution
- illuminated
- remaining parts
- Prior art date
Links
- 239000000839 emulsion Substances 0.000 claims description 8
- MUBZPKHOEPUJKR-UHFFFAOYSA-N Oxalic acid Chemical compound OC(=O)C(O)=O MUBZPKHOEPUJKR-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 6
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims description 6
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 5
- KRHYYFGTRYWZRS-UHFFFAOYSA-N Fluorane Chemical compound F KRHYYFGTRYWZRS-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 4
- 229910000040 hydrogen fluoride Inorganic materials 0.000 claims description 4
- DDFHBQSCUXNBSA-UHFFFAOYSA-N 5-(5-carboxythiophen-2-yl)thiophene-2-carboxylic acid Chemical compound S1C(C(=O)O)=CC=C1C1=CC=C(C(O)=O)S1 DDFHBQSCUXNBSA-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 2
- FEWJPZIEWOKRBE-JCYAYHJZSA-N Dextrotartaric acid Chemical compound OC(=O)[C@H](O)[C@@H](O)C(O)=O FEWJPZIEWOKRBE-JCYAYHJZSA-N 0.000 claims description 2
- 239000004372 Polyvinyl alcohol Substances 0.000 claims description 2
- FEWJPZIEWOKRBE-UHFFFAOYSA-N Tartaric acid Natural products [H+].[H+].[O-]C(=O)C(O)C(O)C([O-])=O FEWJPZIEWOKRBE-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 2
- JOSWYUNQBRPBDN-UHFFFAOYSA-P ammonium dichromate Chemical compound [NH4+].[NH4+].[O-][Cr](=O)(=O)O[Cr]([O-])(=O)=O JOSWYUNQBRPBDN-UHFFFAOYSA-P 0.000 claims description 2
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 claims description 2
- 235000006408 oxalic acid Nutrition 0.000 claims description 2
- 229920002451 polyvinyl alcohol Polymers 0.000 claims description 2
- 235000000346 sugar Nutrition 0.000 claims description 2
- 235000002906 tartaric acid Nutrition 0.000 claims description 2
- 239000011975 tartaric acid Substances 0.000 claims description 2
- 238000009792 diffusion process Methods 0.000 description 4
- 230000000873 masking effect Effects 0.000 description 3
- KRVSOGSZCMJSLX-UHFFFAOYSA-L chromic acid Substances O[Cr](O)(=O)=O KRVSOGSZCMJSLX-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 2
- 239000002019 doping agent Substances 0.000 description 2
- 238000005530 etching Methods 0.000 description 2
- AWJWCTOOIBYHON-UHFFFAOYSA-N furo[3,4-b]pyrazine-5,7-dione Chemical compound C1=CN=C2C(=O)OC(=O)C2=N1 AWJWCTOOIBYHON-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 2
- 238000010791 quenching Methods 0.000 description 2
- 230000000171 quenching effect Effects 0.000 description 2
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 2
- 244000025254 Cannabis sativa Species 0.000 description 1
- 241000208152 Geranium Species 0.000 description 1
- VMXJCRHCUWKQCB-UHFFFAOYSA-N NPNP Chemical compound NPNP VMXJCRHCUWKQCB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000002253 acid Substances 0.000 description 1
- 239000011230 binding agent Substances 0.000 description 1
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 description 1
- 238000000576 coating method Methods 0.000 description 1
- 238000004043 dyeing Methods 0.000 description 1
- 239000008098 formaldehyde solution Substances 0.000 description 1
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 1
- 239000012535 impurity Substances 0.000 description 1
- -1 phenol sulphite formaldehyde Chemical compound 0.000 description 1
- 239000011347 resin Substances 0.000 description 1
- 229920005989 resin Polymers 0.000 description 1
- OARRHUQTFTUEOS-UHFFFAOYSA-N safranin Chemical compound [Cl-].C=12C=C(N)C(C)=CC2=NC2=CC(C)=C(N)C=C2[N+]=1C1=CC=CC=C1 OARRHUQTFTUEOS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 1
- 239000007858 starting material Substances 0.000 description 1
- 239000002966 varnish Substances 0.000 description 1
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000001993 wax Substances 0.000 description 1
- 238000009736 wetting Methods 0.000 description 1
Description
S7 msfiS *< POLSKIEJ RZECZYPOSPOLITEJ LUDOWEJ OPIS PATENTOWY Nr 45432 KI. 21 g, 11/02 Polska Akademia Nauk*) (Instytut Podstawowych Problemóiu Techniki) Warszawa, Polska Sposób usuwania tlenków z okreslonych miejsc powierzchni pólprzewodników Patemt trwa od dnia 24 maja 1961 r.W 'procesie produkcji elementów pólprzewod¬ nikowych takich jak diody, tranzystory, struk¬ tury n-p-n-p (p-n-p-n) i innych wykorzystuje sie dyfuzje domieszek do wytwarzania zlacz w wyj¬ sciowym materiale. Wymienione elementy wy¬ magaja przynajmniej jednego zlacza \p-n (n-p) lub bardziej 'zlozonej struktury (np. n-p-n w tranzystorze).Proces dyfuzji wielokrotnej jest jedna z me¬ tod umozliwiajaca otrzymanie takich struktur.Po przeprowadzeniu dyfuzji jednej domieszki z fazy gazowej *do plytki pólprzewodnika (ger¬ manowego, kirzemowego lub innych), powierzch¬ nie ich sa calkowicie utlenione. Nastepnie ze scisle okreslonych miejsc powierzchni, np. prze¬ znaczonych na emiter, usuwa sie tlenek, co umozliwia prawidlowy przebieg dyfuzji dru¬ giej domieszki.*) Wlasciciel patentu oswiadczyl, ze wspól¬ twórcami wynalazku sa mgr Herbert Czichon i mgr. Andrzej Kobendza.Tlenki usuwa sie naogól przez trawienie w roztworach fluorowodoru. Czesci powierzchni tlenków zabezpiecza sie za pomoca wosków lub lakierów maskujacycli i odsloniete miejsca tra¬ wi roztworem fluorowodoru. Sposób ten nie jx- zwala jednak na otrzymanie rysunków o-okres¬ lonym ksztalcie i o ostrych, równych brzegach.Przy ¦malych wymiarach rysunku nie daje on pozadanych rezultatów.Wedlug wynalazku zastosowano spoiof) foto¬ chemicznego maskowania. Polega on im pokry¬ waniu plytek (pólprzewodnikowych cienfcilfaa warstwa emulsji swiatloczulej, w sklad której wchodzi polialkohol winylowy, dwuchromian amonu i substancje zwilzajace, np. nekalina.Nastepnie plytke naswietla sie poprzez nega¬ tyw i nienaswietlone czesci emulsji wymyka za pomoca wody. Kontrole wywolania przepro¬ wadza sie przez barwienie emulsji w jednym z roztworów: erytozyny, safraniny lub blekitu bezposredniego3B. \ Potem emulsje hartuje sie w roztworze kwa~fiu chromowego o stezeniu 50 g/l, albo w roz¬ tworze zywic fenolo^formaMehydowo siarczyno¬ wych. W celu zwiekszenia kwasoodpornosci emulsji, plytki po hartowaniu w kwasie chro¬ mowym wygtrzewa sie przez okolo 15 minut w temperaturze 150—200°C, a po hartowaniu w roztworze zywicy fenolowo-forniaidehydowo- -siarczynowej — w temperaturze 220—300°C.Tak przygotowane plytki trawi sie w roztwo¬ rze fluorowodoru, do którego dodano fluorek amonu do nasycenia w celu zmniejszenia dy¬ fuzji wody w warstwe emulsji. "W miejscach odslonietych rozpuszcza sie tlenek i otrzymuje sie czysta powierzchnie pólprzewodnika. Pozo¬ stala wajrstwe emulsji usuwa sde przez podgrze¬ wanie plytek w roztworze kw^asu cukrowego, szczawiowego lub winowego o stezeniu 30—100 g/l.Sposób fotochemicznego maskowania umozli¬ wia- wytrawienie tlenków ze scisle okreslonych rysunków, dzieki czemu moze byc stosowany przy produkcji wymienionych elementów pól¬ przewodnikowych, PL
Claims (1)
1. Zastrzezenie patentowe Sposób usuwania tlenków z okreslonych miejsc pólprzewodników, znamienny tym, ze plytke po¬ krywa sie warstwa swiatloczula, w sklad której wchodzi polialkohol winylowy i dwuchromian amonu, naswietla sie poprzez negatyw, wywo¬ luje miejsca nienaswietlone, a pozostale czesci barwi, hartuje i wygrzewa, po czym trawi sie w roztworach zawierajacych oprócz fluorowo¬ doru — fluorek amonu, a nastepnie po przetra¬ wieniu tlenków — usuwa sie pozostale czesci emulsji przez podgrzewanie w roztowrze kwasu cukrowego, szczawiowego lub winowego. Polska Akademia Nauk Instytut Podstawo w ych Problemów Techniki ;:'EL!OTEKA 2365. RSW „Prasa", Kielce PL
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| PL45432B1 true PL45432B1 (pl) | 1961-12-15 |
Family
ID=
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US3122817A (en) | Fabrication of semiconductor devices | |
| US4151010A (en) | Forming adjacent impurity regions in a semiconductor by oxide masking | |
| US3708360A (en) | Self-aligned gate field effect transistor with schottky barrier drain and source | |
| JPS6080269A (ja) | 半導体素子の製法 | |
| US4025364A (en) | Process for simultaneously fabricating epitaxial resistors, base resistors, and vertical transistor bases | |
| US3615942A (en) | Method of making a phosphorus glass passivated transistor | |
| US3670403A (en) | Three masking step process for fabricating insulated gate field effect transistors | |
| PL45432B1 (pl) | ||
| US3592705A (en) | Method of making semiconductor device | |
| US3783046A (en) | Method of making a high-speed shallow junction semiconductor device | |
| JPS5633826A (en) | Manufacture of target | |
| JPS5683973A (en) | Manufacture of mos type transistor | |
| JPS6464262A (en) | Mos transistor | |
| GB1069467A (en) | Improvements in and relating to methods of masking | |
| JPS5530867A (en) | Method of making semiconductor device | |
| JPS5656628A (en) | Manufacture of semiconductor device | |
| PL53487B1 (pl) | ||
| JPS57153462A (en) | Manufacture of semiconductor integrated circuit device | |
| JPS5791537A (en) | Manufacture of semiconductor device | |
| GB920306A (en) | Fabrication method for semiconductor devices | |
| JPS6446976A (en) | Manufacture of semiconductor integrated circuit device | |
| JPS5650579A (en) | Manufacture of junction type field effect semiconductor device | |
| JPS57132357A (en) | Manufacture of semiconductor element | |
| JPS5710246A (en) | Manufacture of semiconductor device | |
| JPS5789258A (en) | Manufacture of semiconductor device |