Przedmiotem wynalazku jest uklad polaczen suportu glowicy testera ukladów scalonych, przeznaczonego do stosowania jako przystawka do automatycznego urzadzenia dla badania cyfrowych mikroukladów scalonych.Stan techniki. Znane i stosowane automatyczne urzadzenie do badania cyfrowych mikroukladów scalo¬ nych, jak na przyklad tester 9211 typu 1421 firmy Schlumberger ma glowice pomiarowa polaczona poprzez wielostykowe zlacze z wymiennym suportem na którym jest usytuowana podstawka badanego mikroukladu scalonego, zas kontakty podstawki sa odpowiednio polaczone przewodami z odpowiednimi zestykami zlacza glowica—suport.Sterownik, którym zazwyczaj jest minikomputer, poprzez jednostke obslugi i programowania i dystrybuto¬ ry logiki jest polaczony z programowanymi generatorami przebiegów sterujacych, które poprzez dynamiczna matryce komutacyjna sa polaczone z glowica' pomiarowa. Jednoczesnie jednostka pomiarowa czasów i napiec polaczona z wymieniona matryca jest polaczona z drugim zespolem wejsc jednostki obslugi i programowania.Glowica pomiarowa jest jednoczesnie polaczona ze statyczna matryca komutacyjna, polaczona z progra¬ mowanym zasilaczem pomiarowym napieciowo-pradowym, programowanymi zasilaczami forsujacymi napiecia i programowanajednostka funkcjonalna.Znany, wyzej wymieniony tester, pozwala na kontrole parametrów statycznych funkcjonalnych i dyna¬ micznych tych typów cyfrowych mikroukladów scalonych, których parametry elektrycznie nie wykraczaja poza mozliwosci sterownicze i pomiarowe testera. W szczególnosci pozwala na kontrole parametrów scalonych ukla¬ dów TTL, RTL,DTL, MSI, MOS.Znane testery cyfrowych mikroukladów scalonych nie pozwalaja na pomiar parametrów analogowych ukladów scalonych, z uwagi na brak mozliwosci forsowania napiec na poziomie miliwoltów, brak mozliwosci programowego porównywania wartosci aktualnie mierzonej z wartoscia zmierzona w poprzednim takcie pomiaro¬ wym, celem okreslenia gradientu mierzonego parametru elektrycznego.Ponadto, ziarno pomiarowe jednostki pomiarowej napiecia zasilacza pomiarowego testera jest tak duze, iz nie jest ono w stanie wykazac kilkumiliwoltowej zmiany kilkuwoltowego parametru mierzonego, poniewaz war¬ tosc zmianyjest czasami mniejsza od wielkosci tego ziarna.2 122175 Okazuje sie jednak, ze istnieje mozliwosc latwego, prostego i skutecznego przystosowania znanych teste¬ rów cyfrowych mikroukladów scalonych do pomiarów i kontroli analogowych ukladów scalonych.Istota wynalazku. Uklad polaczen suportu glowicy testera ukladów scalonych, w którym suport, zaopa¬ trzony w podstawke do mocowania mierzonych ukladów scalonych i polaczony poprzez wielostykowe zlacze z glowica pomiarowa testera, ma wyprowadzenia podstawki suportu polaczone poprzez komutacyjne uklady z ukladami kompensacji czestotliwosciowych i blokad przeciwzbudzeniowych, z ukladem pomiaru gradientów i ukladem wzmacniacza malych napiec.Wyjscia ukladu pomiaru gradientów i ukladu wzmacniacza malych napiec jak i wejscia zasilajace ukladu pomiaru gradientów i ukladu wzmacniacza malych napiec sa polaczone z wielostykowym zlaczem.Z drugiej strony wymienione komutacyjne uklady sa polaczone z wejsciami zespolu ukladów obciazen rezystancyjno-pojemnosciowych oraz z wyjsciami ukladów wymuszen pradowych i z wyjsciami ukladów dzielni¬ ków rezystancyjnych, przy czym wejscie ukladów wymuszen pradowych i wejscia ukladów dzielników rezystan- cyjnych sa polaczone z odpowiednimi stykami wielostykowego zlacza, które jest równiez polaczone przez zespól wejsc—wyjsc bezposrednio z wymienionymi komutacyjnymi ukladami suportu.Rozwiazanie wedlug wynalazku w sposób latwy i prosty umozliwia przystosowanie automatycznego urza¬ dzenia dla badania cyfrowych ukladów scalonych do wykorzystania go równiez dla badania i pomiarów analogo¬ wych mikroukladów scalonych.Objasnienie rysunku. Wynalazek jest blizej objasniony na przykladzie wykonania przedstawionym na ry¬ sunku, który pokazuje schemat blokowy ukladu polaczen.Przyklad realizacji wynalazku. W ukladzie wedlug wynalazku podstawka 1, w której mocuje sie mierzony mikrouklad scalony, usytuowana na suporcie 2, ma swoje wyprowadzenia polaczone z komutacyjnymi ukladami 3. Wyprowadzenia podstawki 1 sa polaczone poprzez komutacyjne uklady 3 z ukladami 4 kompensacji czestotli¬ wosciowych i blokad przeciwzbudzeniowych oraz z wejsciem ukladu 5 pomiaru gradientów i wejsciem ukladu 6 wzmacniacza malych napiec. Wyjscie ukladu 5 pomiaru gradientów i wyjscie ukladu 6 wzmacniacza malych napiec jak i wejscia zasilajace tych dwóch ukladów sa polaczone z wielostykowym zlaczem 7, które to zlacze laczy suport 2 z pomiarowa glowica 8 testera. Do pomiarowej glowicy 8 sa doprowadzone wyjscia 9 z dynamicz¬ nej matrycy komutacyjnej testera, wyjscie 10 ze statycznej matrycy komutacyjnej i wyjscia 11 z dystrybutora logiki. Komutacyjne uklady 3 suportu 2 sa z drugiej strony polaczone z wejsciami zespolu 12 ukladów obciazen rezystancyjno-pojemnosciowych oraz z wyjsciami ukladów 13 wymuszen pradowych i ukladów 14 dzielników rezystancyjnych. Wejscie ukladów 13 wymuszen pradowych i wejscia ukladów 14 dzielników rezystancyjnych sa polaczone z odpowiednimi stykami wielostykowego zlacza 7. Wielostykowe zlacze 7 jest równiez polaczone bezposrednio zespolem 15 wejsc - wyjsc z komutacyjnymi ukladami 3.Dzialanie ukladu. Realizacje sprawdzania analogowego mikroukladu scalonego rozpoczyna sie podobnie, jak dla cyfrowego mikroukladu scalonego do wprowadzenia programu roboczego do pamieci sterownika (mini¬ komputera), bedacego czescia skladowa testera. Z chwila wywolania w testerze procesu automatycznej kontroli nastepuje realizacja programu roboczego, podzielona na kolejne testy statyczne, test funkcjonalny i na kolejne testy dynamiczne.Kazdy test programu realizuje sie w czasie kilku kolejnych chwil czasowych, przy czym w czasie pierwszej chwili czasowej nastepuje przylaczenie wyznaczonych kontaktów wielostykowego zlacza 7 do odpowiednich linii matrycy komutacyjnej, w nastepnych chwilach czasowych nastepuje podanie napiec zasilajacych na mikro¬ uklad badany i na uklady pomocnicze suportu, a w ostatniej chwili czasowej nastepuje pomiar lub porównywa¬ nie parametru mierzonego z wartoscia zadana i zakonczenie testu.Wyzej opisanym zasadom automatycznego funkcjonowania testera, w zakresie realizacji dowolnego testu programu roboczego, podporzadkowane jest automatyczne sprawdzanie na testerze analogowych mikroukladów scalonych.Uklad polaczen wedlug wynalazku, usytuowany na suporcie 2, realizuje kolejne testy kontrolne, tworzac stosownie do aktualnego pomiaru i do typu badanego mikroukladu scalonego — odpowiedni uklad pomiarowy.Umieszczony w podstawce 1 analogowy mikrouklad scalony komunikuje sie poprzez przekaznikowe, komutacyjne uklady 3 z ukladami 4 kompensacji, ukladami 12 obciazen, ukladami 14 dzielników, ukladami 13 wymusen, ukladem 5 pomiaru gradientów, ukladem 6 wzmacniacza i bezposrednio — poprzez zespól 15 wejsc - wyjsc wielostykowego zlacza 7 z liniami matrycy komutacyjnej.Zgodnie z zasadami realizacji przez tester dowolnego testu programu w pierwszej chwili czasowej realizowa¬ nego testu nastepuje - zgodne z programem- przyporzadkowanie wyznaczonych programem kontaktów zlacza 7 do linii matrycy komutacyjnej, co równoczesnie wysterowuje przekaznikowe komutacyjne uklady 3 tak, ze tworzy sie dla badanego ukladu scalonego uklad pomiarowy stosowny do danego testu programu.122175 3 Odpowiednie wysterowanie komutacyjnych ukladów 3 umozliwia wiec galwaniczne przylaczenie do pod¬ stawki 1 suportu wszystkich pozostalych ukladów funkcjonalnych usytuowanych na suporcie 2.W nastepnej chwili czasowej realizowanego testu programu nastepuje podanie na badany uklad scalony i na uklady funkcjonalne suportu napiec zasilajacych z programowanych zasilaczy napieciowych testera oraz ewen¬ tualne ustawienie wstan aktywny zasilacza pomiarowego, jesli w poprzedniej chwili czasowej zostal on przylaczony do któregos z obmierzanych wejsc lub wyjsc badanego ukladu scalonego, lub do wyjscia ukladu 5 pomiaru gradientów lub ukladu 6 wzmacniacza.W przypadku pomiarów funkcjonalnych i dynamicznych zasilacz pomiarowy jest w stanie nieaktywnym.W ostatniej chwili czasowej realizacji testu programu roboczego nastepuje, juz bez udzialu ukladów funk¬ cjonalnych suportu, pomiar lub porównanie parametru mierzonego z wartoscia zadana i obróbka wyniku testu.Zastrzezenie patentowe Uklad polaczen suportu glowicy testera ukladów scalonych, w którym suport, zaopatrzony w podstawke do mocowania mierzonych ukladów scalonych, jest polaczony poprzez wielostykowe zlacze z glowica pomiaro¬ wa testera, która z kolei jest polaczona z wyjsciami matrycy komutacyjnej statycznej i matrycy komutacyjnej dynamicznej oraz ukladów dystrybutora logiki, znamienny tym, ze wyprowadzenia podstawki (1) suportu (2) sa polaczone poprzez komutacyjne uklady (3) z ukladami (4) kompensacji czestotliwosciowych i blokad przeciwzbudzeniowych, z ukladem (5) pomiaru gradientów i ukladem (6) wzmacniacza malych napiec, zas wyjscia ukladu (5) pomiaru gradientów i ukladu (6) wzmacniacza malych napiec jak i wejscia zasilajace tych dwóch ukladów sa polaczone z wielostykowym zlaczem (7), przy czym z drugiej strony wymienione komutacyj¬ ne uklady (3) suportu (2) sa polaczone z wejsciami zespolu (12) ukladów obciazen rezystancyjno-pojemnoscio- wych oraz z wyjsciami ukladów (13) wymuszen pradowych i z wyjsciami ukladów (14) dzielników rezystancyj- nych, podczas gdy wejscie ukladów (13) wymuszen pradowych i wejscia ukladów (14) dzielników rezystancyj- nych sa polaczone z odpowiednimi stykami wielostykowego zlacza (7), które jest równiez polaczone poprzez zespól (15) wejsc- wyjsc bezposrednio z wymienionymi komutacyjnymi ukladami (3). PL