NL8901380A - Simultane dubbele inspectie. - Google Patents

Simultane dubbele inspectie. Download PDF

Info

Publication number
NL8901380A
NL8901380A NL8901380A NL8901380A NL8901380A NL 8901380 A NL8901380 A NL 8901380A NL 8901380 A NL8901380 A NL 8901380A NL 8901380 A NL8901380 A NL 8901380A NL 8901380 A NL8901380 A NL 8901380A
Authority
NL
Netherlands
Prior art keywords
station
electromagnetic radiation
type
radiation
types
Prior art date
Application number
NL8901380A
Other languages
English (en)
Original Assignee
Heuft Qualiplus Bv
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Family has litigation
First worldwide family litigation filed litigation Critical https://patents.darts-ip.com/?family=26646491&utm_source=google_patent&utm_medium=platform_link&utm_campaign=public_patent_search&patent=NL8901380(A) "Global patent litigation dataset” by Darts-ip is licensed under a Creative Commons Attribution 4.0 International License.
Application filed by Heuft Qualiplus Bv filed Critical Heuft Qualiplus Bv
Priority to NL8901380A priority Critical patent/NL8901380A/nl
Priority to EP90200250A priority patent/EP0387930B1/en
Priority to ES90200250T priority patent/ES2080102T3/es
Priority to AT90200250T priority patent/ATE126886T1/de
Priority to DE69021753T priority patent/DE69021753T2/de
Priority to AU49735/90A priority patent/AU4973590A/en
Priority to US07/480,643 priority patent/US5134278A/en
Publication of NL8901380A publication Critical patent/NL8901380A/nl

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/90Investigating the presence of flaws or contamination in a container or its contents
    • G01N21/909Investigating the presence of flaws or contamination in a container or its contents in opaque containers or opaque container parts, e.g. cans, tins, caps, labels
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/90Investigating the presence of flaws or contamination in a container or its contents
    • G01N21/9018Dirt detection in containers

Landscapes

  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
  • Medicines Containing Antibodies Or Antigens For Use As Internal Diagnostic Agents (AREA)
  • Eye Examination Apparatus (AREA)
  • Measurement Of The Respiration, Hearing Ability, Form, And Blood Characteristics Of Living Organisms (AREA)

Description

Simultane dubbele inspectie
De uitvinding betreft een werkwijze voor het op afwijkingen, zoals vormfouten, vuil, barsten enzovoorts, inspecteren van een voorwerp of een reeks successievelijk aangevoerde voorwerpen, omvattende de volgende stappen: 1) het verschaffen van ten minste één belichtingsstation voor het afgeven van elektromagnetische straling van een gekozen type, 2) het verschaffen van ten minste één bijbehorend waarneemstation, dat is ingericht voor het waarnemen van de door het belichtingsstation afgegeven elektromagnetische straling, 3) het verschaffen van een te inspecteren voorwerp, en 4) het zodanig gealigneerd opstellen van het of elk belichtingsstation, het of elk bijbehorende waarneemstation en het voorwerp, dat het of elk waarneemstation een beeld kan vormen van het door het bijbehorende belichtingsstation belichte voorwerp.
Een dergelijke werkwijze is bekend. Bij een bekende werkwijze wordt een te inspecteren voorwerp, bijvoorbeeld een glazen pot, door middel van een transportinrichting getransporteerd naar een belichtingsstation en een bijbehorend waarneemstation. Het belichtingsstation kan bijvoorbeeld zijn ingericht voor het afgeven van een flits op het moment, waarop de aankomst van het te inspecteren voorwerp wordt vastgesteld. Het waarneemstation, in het bijzonder een videocamera, neemt het beeld van het te inspecteren voorwerp waar en voert dat bijvoorbeeld toe aan een centrale verwerkingseenheid, die kan zijn gekoppeld met uitstootmiddelen voor het uitstoten van een afgekeurd voorwerp. Het op deze wijze aan een eerste inspectie onderworpen voorwerp wordt vervolgens toegevoerd aan een tweede inspectiestation met een tweede belichtingsstation en een tweede waarneemstation, welk inspectiestation afwijkt van het eerste om een tweede type afwijkingen te kunnen vaststellen.
Fig. 1 toont een transportinrichting l voor transport van glazen potten 2. Een lamp 3 geeft een flits af op het moment, waarop de pot 2 op de inspectieplaats is gearriveerd. Een videocamera 4 neemt het beeld van de pot 2 waar en geeft aan niet-getekende centrale besturingsmiddelen eventueel een afkeuringssignaal door, dat kan dienen voor de besturing van stroomafwaarts van de transportinrichting geplaatste uitstootmiddelen. De pot 2 wordt op deze wijze doorgelicht. Déze wijze van belichting staat bekend als "bright field illumination". Deze werkwijze is zeer geschikt voor het waarnemen van bijvoorbeeld vuil.
Vervolgens wordt de pot 2 verder getransporteerd in de richting van de pijl 5 naar de met 2' aangeduide positie. Daar bevindt zich een tweede inspectiestation, bestaande uit een tweede lamp 6, die een flits afgeeft op het moment, waarop de pot 2' is gearriveerd. Doordat zich bovenop de lamp 6 in het midden een ronde ondoorzichtige schijf 7 bevindt wordt de pot 2' niet rechtstreeks doorgelicht, zoals hiervoor beschreven, maar vindt belichting volgens het principe van het "donkere veld" plaats. Een videocamera 8, neemt dan ook onder normale omstandigheden geen licht waar, maar kan uitsluitend de aanwezigheid van bepaalde vormfouten of barsten constateren, namelijk afwijkingen die resulteren in uitzenden door de pot 2' van licht in de richting van de videocamera 8.
Volgens deze bekende techniek dient dus voor het vaststellen van afwijkingen van twee verschillende types gebruik te worden gemaakt van twee afzonderlijke inspectiestations, elk bestaande uit een belichtingsstation en een waarneem-station.
Het nadeel van de hiervoor beschreven bekende inspectiemethode is, dat deze twee afzonderlijke inspecties veel ruimte in beslag nemen en extra besturingsmiddelen vergen.
De uitvinding beoogt een eenvoudiger werkwijze te bieden, die aanzienlijk eenvoudiger en daardoor kostenbesparend is. Tevens stelt de uitvinding'zich ten doel een werkwijze te bieden, die een aanzienlijke ruimtewinst oplevert.
Daartoe is de werkwijze volgens de uitvinding gekenmerkt door de volgende stap: 5) het verschaffen van slechts één belichtingsstation en/of slechts één waarneemstation, welk belichtingsstation elektromagnetische straling van ten minste twee types uitzendt, en welk waarneemstation elektromagnetische straling van die ten minste twee types kan waarnemen, waarbij het uit straling van het ene type gevormde beeld informatie kan geven over afwijkingen van het eerste type en het uit straling van het tweede type gevormde beeld informatie kan geven over afwijkingen van het tweede type enz., zodanig dat tegelijkertijd twee of meer types afwijkingen kunnen worden vastgesteld.
In een bepaalde uitvoering kan de werkwijze zijn gekenmerkt door de volgende stap: 6) het zodanig uitvoeren van stap 5) dat de voortplantingsrichtingen van de elektromagnetische straling van de ten minste twee types onderling verschillen.
Bijvoorbeeld kan daartoe de werkwijze gekenmerkt zijn door de volgende stap: 7) het zodanig uitvoeren van stap 6) dat een type straling een in hoofdzaak gerichte bundel is een ander type straling in hoofdzaak diffuus is.
Ook kan men gebruik maken van een andere uitvoering, die is gekenmerkt door de volgende stap: 8) het zodanig uitvoeren van stap 5) dat de polarisatierichtingen van de elektromagnetische straling van de ten minste twee types onderling verschillen.
Een andere, ook zeer goed werkende wijze van discriminatie kan worden verkregen met een variant, die is gekenmerkt door de volgende stap: 9) het zodanig uitvoeren van stap 5) dat de spectrale samenstellingen van de ten minste twee types elektromagnetische straling verschillen.
Een bekende inrichting voor het uitvoeren van de bekende werkwijze omvat: 1) ten minste één belichtingsstation voor het afgeven van elektromagnetische straling van een gekozen type; 2) ten minste één bijbehorend waarneemstation, dat is ingericht voor het waarnemen van de door het belichtingsstation afgegeven elektromagnetische straling; 3) steunmiddelen voor het dragen van een te inspecteren voorwerp; 4) waarbij het of elk belichtingsstation, het of elk bijbehorend waarneemstation en de steunmiddelen zodanig zijn gealigneerd, dat het of elk waarneemstation een beeld kan vormen van het door het bijbehorende belichtingsstation belichte voorwerp.
Een dergelijke inrichting is aan de hand van fig. 1 boven reeds beschreven.
De inrichting volgens de uitvinding is gekenmerkt door slechts één belichtingsstation en/of slechts één waarneemstation, welk belichtingsstation elektromagnetische straling van ten minste twee types uitzendt, en welk waarneemstation elektromagnetische straling van die ten minste twee types kan waarnemen, waarbij het uit straling van een type gevormde beeld informatie kan geven over afwijkingen van een eerste type en het uit straling van een tweede type gevormde beeld informatie kan geven over afwijkingen van een tweede type enz., zodanig dat tegelijkertijd twee of meer types afwijkingen kunnen worden vastgesteld.
Een voorkeursuitvoering vertoont het kenmerk dat het ene waarneemstation is ingericht voor het simultaan afzonderlijk waarnemen van alle types elektromagnetische straling.
Bijvoorbeeld voor het inspecteren van glazen houders kan de donkerveld-detectiemethode aanmerkelijk verbeterd worden, door de bodem van de houder niet alleen van buitenaf te verlichten, zoals hierna aan de hand van fig. 2 zal worden besproken, maar ook door de "zwarte" schijf heen. Daartoe vertoont de inrichting dan het kenmerk, dat het belichtingsstation is ingericht voor het afgeven van doorvallende indirecte elektromagnetische straling en daartoe omvat: een bron voor elektromagnetische straling, die is geplaatst voor het doorvallend belichten van een te inspecteren voorwerp, en donkerveld-middelen, omvattende vanaf de elektromagnetische stralingsbron, een diffusor, een eerste patroon van voor de elektromagnetische straling ondoorlatende stroken, bijvoorbeeld concentrische ringen, en een tweede patroon van voor de elektromagnetische straling ondoorlatende stroken, welke twee patronen zodanig op afstand boven elkaar zijn geplaatst, dat de lijnen van het ene patroon de vrije ruimten tussen de lijnen van het andere patroon afdekken.
Door deze configuratie worden bijvoorbeeld glassplinters en dergelijke riu niet alleen belicht van buiten af, d.w.z. vanaf de ringvormige diffuse lichtbron rond de zwarte schijf, maar tevens als het ware door de schijf heen, zij het niet direct, maar uitsluitend indirect, zodat bij een foutloos voorwerp geen elektromagnetische straling het waarneemstation bereikt, maar uitsluitend in geval van een afwijking.
De werkwijze en inrichting volgens de uitvinding bieden de mogelijkheid ten minste twee inspecties op één inspectiepositie uit te voeren.
De uitvinding zal nu worden verduidelijkt aan de hand van bijgaande tekening. Hierin tonen:
Fig. 1 een schematisch zij-aanzicht van de hierboven reeds besproken inspectie-inrichting volgens de stand der techniek;
Fig. 2 een schematisch zij-aanzicht van een inspectie-inrichting volgens de uitvinding in een eerste uitvoeringsvoorbeeld;
Fig. 3 een inspectie-inrichting volgens de uitvinding in een tweede uitvoering;
Fig. 4 een inspectie-inrichting volgens de uitvinding in een derde uitvoering;
Fig. 5 de doorlaatkarakteristieken van spectraal-selectieve filters voor toepassing in de uitvinding;
Fig. 6 een sterk geschematiseerd detail van een vierde uitvoering;
Fig. 7 een schematisch zij-aanzicht van een vijfde uitvoering;
Fig. 8 het beeld van een perfecte TL-buis;
Fig. 9 het beeld van een TL-buis met afwijking in het glas;
Fig. 10 het detail X volgens fig. 7;
Fig. 11 een met fig. 10 corresponderend aanzicht van een voorkeursuitvoering van de diffusor met raster; en
Fig. 12 een dwarsdoorsnede door een alternatief belichtingsstation.
Voor de beschrijving van fig. l wordt naar het bovenstaande verwezen.
Fig. 2 toont de pot 2, die wordt aangevoerd door de transportinrichting 1 tot boven een lamp 9, die in het midden is afgedekt door een filter 10, dat alle straling met een golflengte boven 600 nm doorlaat, en alle straling met kleinere golflengte afsnijdt.
Het door het filter 10 doorgelaten rode licht geeft een doorlichting van de pot 2. De doorgelaten straling passeert een halfdoorlatende spiegel 11 en treedt via een filter 12 de videocamera 4 binnen. Het filter 12 is van hetzelfde type als het filter 10 en laat dus rood licht door. De camera 4 neemt derhalve een beeld waar, corresponderend met de camera 4 volgens fig. 1.
De halfdoorlatende spiegel 11 zendt via een spiegel 13 een ander deel van het licht via een filter 14 naar de videocamera 8. Het filter 14 is van het type, dat uitsluitend straling doorlaat met een golflengte kleiner dan 600 nm. Als gevolg hiervan zal geen "doorlichtbeeld" van de pot 2 door de camera 8 wordt waargenomen. Voor deze camera 8 fungeert derhalve het filter 10 als de zwarte schijf 7 volgens fig. 1.
Het lichtafgevende bovenvlak 15 van de lamp 9 is echter slechts in zijn centrale deel af gedekt door het filter 10. De randzone 16 kan licht afgeven conform de lamp 6 met de zwarte schijf 7 volgens fig. 1. Deze lichtafgevende rand 16 werkt derhalve voor het vormen van donker veldbelichting voor de pot 2. Aangezien de via de rand 16 afgegeven straling ook golflengten bevat die door het filter 14 kunnen worden doorgelaten is de camera 8 hierdoor in staat een donker veld-beeld van de pot 2 waar te nemen.
Uit het bovenstaande zal blijken, dat op één inspectieplaats nu simultaan twee inspecties op verschillende afwijkingen kunnen worden uitgevoerd.
Fig. 3 toont een transportband 17, die een te inspecteren open aluminiumhouder 18 aanvoert. Een eerste lamp 19 geeft licht af via het filter 10 aan een lenzensysteem 20, 21. De uittredende bundel is evenwijdig.
In het midden bevindt zich aan de uittreezijde van het systeem 20, 21 een zwarte schijf 7, waardoor een cilindrische evenwijdige bundel 22 in de houder 18 wordt gericht via de halfdoorlatende spiegel 11. Deze bundel wordt gereflecteerd door de naar boven toe bolle bodem van de houder 18 en onder een zeer kleine hoek op de cilindrische wand van de houder 18 gericht, waar hij opnieuw wordt gereflecteerd. Een perfect cilindrische houder zonder vormfouten zal het door de cilindrische wand gereflecteerde licht zodanig afgeven dat dit zich buiten het bereik van een afbeeldingslens 23 voortplant. Slechts in geval van bijvoorbeeld een deuk zal rood licht door de lens 23 worden doorgelaten naar de halfdoorlatende spiegel 11, waar het rode licht corresponderend met de deuk via een halfdoorlatende spiegel 24 via het rode filter 12 de videocamera 4 bereikt.
Rond de afbeeldingslens 23 strekt zich een ringvormige lichtbron 25 uit. Deze omvat een ringvormige flitslamp 26 en een blauwe diffusor 27. Deze matglazen diffusor geeft min of meer diffuus licht af naar het inwendige van de bus 18, zoals symbolisch met pijlen 28 aangeduid. De bus 18 wordt inwendig diffuus blauw verlicht. Het blauwe beeld van de bus kan het roodfilter 12 niet passeren en uitsluitend de blauwe straling, die is gereflecteerd door de spiegel 24 kan via de spiegel 13 en het blauwfilter 14 de camera 8 bereiken.
Fig. 4 toont een variant, waarbij de lichtbron overeenkomt met die volgens fig. 3, maar slechts één videocamera 29 wordt toegepast. Desgewenst kan de kleurinformatie in het videosignaal dienen voor het discrimineren op verschillende afwijkingen.
Fig. 5 toont in een getrokken lijn de doorlaatkarakteristiek 30 van de rode filters 10, 12, terwijl met een onderbroken lijn de doorlaatkarakteristiek 31 van de diffusor 27 en het blauwfilter 14 is weergegeven. Duidelijk zal zijn dat in het bijzonder de doorlaatkarakteristiek 30 bijzonder scherp is, zodat informatie-overspraak tussen beide waarneemsystemen niet behoeft te worden gevreesd. Desgewenst zou eventueel nog gebruik kunnen worden gemaakt van belichtingsmiddelen, die elektromagnetische straling met zeer beperkte bandbreedte afgeven, bijvoorbeeld bronnen met een lijnenspectrum, waarbij één lijn of een beperkt golflengtegebied wordt doorgelaten, in dit verband kan bijvoorbeeld worden gedacht aan een combinatie van een kwiklamp en een natriumlamp. Duidelijk zal overigens zijn, dat ook allerlei andere soorten bronnen in aanmerking komen.
Fig. 6 toont een detail van een variant, waarin gebruik wordt gemaakt van drie videocamera's 4, 33, 8.
Het met 35 aangeduide, van het te inspecteren voorwerp afkomstige invallende licht of andere elektromagnetische straling wordt op een zogenaamde dichroïsche spiegel 36 gericht. Deze laat straling van het ene golflengtegebied door naar de camera 32 en reflecteert een andere portie in de richting van halfdoorlatende spiegel 24. voor de verdere optische weg wordt verwezen naar fig. 3.
Fig. 7 toont een opstelling voor het inspecteren van een TL-buis 37, althans de vooraf vervaardigde glazen omhulling daarvan.
Gebruik wordt gemaakt van twee flitslampen 38, 39, die diffusorplaten resp. 40, 41 belichten. Deze diffusorplaten vertonen, zoals aan de hand van fig. 10 duidelijker te zien is, een als raster 42 van evenwijdige stroken 43 gevormde roodfilters, bijvoorbeeld van hetzelfde materiaal als het filter 10 of 12. Een videocamera 53 neemt via een tegen het waarnemen van rechtstreekse reflecties werkzaam polarisatiefilter 44, via respectieve spiegels 45, 46 en 47, 48 de buis 37 in twee richtingen waar, respectievelijk belicht door de lampen 38 en 39.
Er zijn diverse types afwijkingen of gebreken, die aan de buis dienen te worden vastgesteld, zoals luchtbellen in het glas, strepen, insluitingen, steentjes, materiaalgebreken. Voor een goede inspectie is het vereist de gehele omtrek van de buis de inspecteren. De opstelling volgens fig. 7 is daartoe ingericht.
De aandacht wordt erop gevestigd, dat de buis 37 in axiale richting het inspectiestation bijvoorbeeld met een bepaalde snelheid kan passeren, waardoor alle gebreken over de gehele lengte kunnen worden gedetecteerd.
De inspectie volgens fig. 7 vindt plaats op basis van lichtbreking. Niet-transparante deeltjes worden door bepaling van een transmissieverschil opgespoord. Ook kan als waarneemstation een opstelling van hetzelfde type als volgens fig. 2 of een equivalent daarvan worden toegepast.
Fig. 8 toont een videobeeld, bestaande uit twee inspectiegebieden, die respectievelijk corresponderen met de lamp 39 en de lamp 38.
Fig. 9 toont als voorbeeld een verstoring van het beeld, waaruit blijkt, dat er sprake is van een fout in het glas, gezien door de camera 53. Deze neemt niet-transparante fouten in elke positie waar, in tegenstelling tot de situatie, waarin het rasterpatroon uit niet-transparante stroken bestaat en kleine niet-transparante fouten, die op een strook vallen niet gedetecteerd worden.
De overlapgebieden 49, 50 zijn samengesteld uit lijnen, die na diffractie elkaar overlappen. Het resterende gebied 51, 51' is het inspectiegebied. Het zal duidelijk zijn dat dit inspectiegebied groot genoeg moet zijn om gebreken over de gehele omtrek van de buis 37 waar te nemen onder de twee hoeken.
Met betrekking tot fig. 9 wordt nog opgemerkt, dat de lijnrichting van het videobeeld overeenkomt met de langsrichting van de rasterstroken 43.
De aandacht wordt erop gevestigd, dat bij de inspectie volgens fig. 7 de camera 53 is scherpgesteld op het voorvlak van de diffusorplaten 40, 41. Bij de hiervoor besproken wijzen van inspectie vindt scherpstelling steeds op het voorwerp 2, 18 plaats.
Ten einde te zorgen, dat de grijswaarde van de rasterstroken 43 overeenkomt met de daartussen gelegen gebieden kan gebruik worden gemaakt van de in fig. 11 getekende variant, waarin deze tussengelegen gebieden zijn voorzien van grijsfilters 54. Bij waarneming van een diffusorplaat volgens fig. 11 door een roodfilter zal derhalve een homogeen rood vlak worden waargenomen.
Fig. 10 toont de breedte 55 en de onderlinge afstand 56 van de rasterstroken 43. Deze grootheden beïnvloeden de grootte van het inspectiegebied op de buis en de afmetingen van het minimaal detecteerbare gebrek. Globaal geldt:
Naarmate de breedte en de onderlinge afstand kleiner zijn zal het overlapgebied groter zijn en kunnen kleinere gebreken beter worden gedetecteerd.
Naarmate de breedte en de onderlinge afstand groter zijn zal het overlapgebied kleiner zijn en kunnen kleinere gebreken minder goed worden gedetecteerd.
Naarmate de breedte en de onderlinge afstand van elkaar gaan afwijken, zullen glasgebreken altijd minder goed worden gedetecteerd.
Door de uitvinding is de detectie van niet-transparante fouten onafhankelijk geworden van het rasterpatroon.
Fig. 11 tenslotte toont een opstelling voor donkerveld-belichting. Deze opstelling omvat een glasplaat 57, die aan zijn bovenvlak een eerste patroon 58 van voor de 'elektromagnetische straling ondoorlatende stroken 59, bijvoorbeeld concentrische ringen omvat, en aan zijn ondervlak een tweede patroon 60 van voor de elektromagnetische straling ondoorlatende stroken 61 omvat, welke patronen zodanig op afstand ter grote van de dikte van de glasplaat 57 boven elkaar zijn geplaatst, dat de stroken van het ene patroon 58, 60 de vrije ruimten tussen de stroken van het andere patroon 60, 58 afdekken. Onder de plaat 57 bevindt zich een diffusor 62 waaronder de niet-getekende stralingsbron is geplaatst. Deze zendt met pijlen 63 aangeduide elektromagnetische straling uit. Deze elektromagnetische straling wordt in de richting van het waarneemstation 4, 8 (zie figuur 2), geheel afgeschermd door de ondoorzichtige patronen 58, 60. Uitsluitend door schuine doorvallende straling kunnen onregelmatigheden en fouten worden belicht en aanleiding geven tot beeldvorming in het waarneemstation 4, 8. Het zal duidelijk zijn, dat voor bijvoorbeeld glazen flessen patronen van concentrische ringen het meest in aanmerking komen. Voor toepassing in een opstelling voor het controleren van fluorescentiebuizen, zoals uiteengezet aan de hand van de figuren 7-11, kunnen patronen van rechte stroken worden toegepast.

Claims (8)

1. Werkwijze voor het op afwijkingen, zoals vormfouten, vuil, barsten enzovoorts, inspecteren van een voorwerp of een reeks successievelijk aangevoerde voorwerpen, omvattende de volgende stappen: 1. het verschaffen van ten minste één belichtingsstation voor het afgeven van elektromagnetische straling van een gekozen type, 2. het verschaffen van ten minste één bijbehorend waarneemstation, dat is ingericht voor het waarnemen van de door het belichtingsstation afgegeven elektromagnetische straling, 3. het verschaffen van een te inspecteren voorwerp, en 4. het zodanig gealigneerd opstellen van het of elk belichtingsstation, het of elk bijbehorende waarneemstation en het voorwerp, dat het of elk waarneemstation een beeld kan vormen van het door het bijbehorende belichtingsstation belichte voorwerp, gekenmerkt door de volgende stap: 5. het verschaffen van slechts één belichtingsstation en/of slechts één waarneemstation, welk belichtingsstation elektromagnetische straling van ten minste twee types uitzendt, en welk waarneemstation elektromagnetische straling van die ten minste twee types kan waarnemen, waarbij het uit straling van het ene type gevormde beeld informatie kan geven over afwijkingen van het eerste type en het uit straling van het tweede type gevormde beeld Informatie kan geven over afwijkingen van het tweede type enzovoort, zodanig dat tegelijkertijd twee of meer types afwijkingen kunnen worden vastgesteld.
2. Werkwijze volgens conclusie 1, gekenmerkt door de volgende stap: 6. het zodanig uitvoeren van stap 5) dat de voortplantingsrichtingen van de elektromagnetische straling van de ten minste twee types onderling verschillen.
3. Werkwijze volgens conclusie 2, gekenmerkt door de volgende stap: 7. het zodanig uitvoeren van stap 6) dat een type straling een in hoofdzaak gerichte bundel is en het andere type straling in hoofdzaak diffuus is.
4. Werkwijze volgens conclusie 1, gekenmerkt door de volgende stap: 8. het zodanig uitvoeren van stap 5) dat de polarisatierichtingen van de elektromagnetische straling van de ten minste twee types onderling verschillen.
5. Werkwijze volgens conclusie 1, gekenmerkt door de volgende stap: 9. het zodanig uitvoeren van stap 5) dat de spectrale samenstellingen van de ten minste twee types elektromagnetische straling verschillen.
6. Inrichting voor het uitvoeren van de werkwijze volgens één der voorgaande conclusies, omvattende: 1. ten minste één belichtingsstation voor het afgeven van elektromagnetische straling van een gekozen type; 2. ten minste één bijbehorend waarneemstation, dat is ingericht voor het waarnemen van de door het belichtingsstation afgegeven elektromagnetische straling; 3. steunmiddelen voor het dragen van een te inspecteren voorwerp; 4. waarbij het of elk belichtingsstation, het of elk bijbehorend waarneemstation en de steunmiddelen zodanig zijn gealigneerd, dat het of elk waarneemstation een beeld kan vormen van het door het bijbehorende belichtingsstation belichte voorwerp, gekenmerkt door slechts één belichtingsstation en/of slechts één waarneemstation, welk belichtingsstation elektromagnetische straling van ten minste twee types uitzendt, en welk waarneemstation elektromagnetische straling van die twee types kan waarnemen, waarbij het uit straling van een type gevormde beeld informatie kan geven over afwijkingen van een eerste type en het uit straling van een tweede type gevormde beeld informatie kan geven over afwijkingen van een tweede type enzovoort, zodanig dat tegelijkertijd twee of meer types afwijkingen kunnen worden vastgesteld.
7. Inrichting volgens conclusie 6, met het kenmerk, dat het ene waarneemstation is ingericht voor het simultaan afzonderlijk waarnemen van alle types elektromagnetische straling.
8. Inrichting volgens conclusie 6, met het kenmerk, dat het belichtingsstation is ingericht voor het afgeven van doorvallende indirecte elektromagnetische straling en daartoe omvat: een bron voor elektromagnetische straling, die is geplaatst voor het doorvallend belichten van een te inspecteren voorwerp, en donkerveld-middelen, omvattende vanaf de elektromagnetische stralingsbron, een diffusor, een eerste patroon van voor de elektromagnetische straling ondoorlatende stroken, bijvoorbeeld concentrische ringen, en een tweede patroon van voor de elektromagnetische straling ondoorlatende stroken, welke twee patronen zodanig op afstand boven elkaar zijn geplaatst, dat de lijnen van het ene patroon de vrije ruimten tussen de lijnen van het andere patroon afdekken.
NL8901380A 1989-02-14 1989-05-31 Simultane dubbele inspectie. NL8901380A (nl)

Priority Applications (7)

Application Number Priority Date Filing Date Title
NL8901380A NL8901380A (nl) 1989-02-14 1989-05-31 Simultane dubbele inspectie.
EP90200250A EP0387930B1 (en) 1989-02-14 1990-02-02 Simultaneous double inspection
ES90200250T ES2080102T3 (es) 1989-02-14 1990-02-02 Inspeccion doble simultanea.
AT90200250T ATE126886T1 (de) 1989-02-14 1990-02-02 Doppel- und simultanprüfung.
DE69021753T DE69021753T2 (de) 1989-02-14 1990-02-02 Doppel- und Simultanprüfung.
AU49735/90A AU4973590A (en) 1989-02-14 1990-02-13 Simultaneous double inspection
US07/480,643 US5134278A (en) 1989-02-14 1990-02-14 Device for simultaneously inspecting an object for defects and debris

Applications Claiming Priority (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
NL8900356 1989-02-14
NL8900356 1989-02-14
NL8901380A NL8901380A (nl) 1989-02-14 1989-05-31 Simultane dubbele inspectie.
NL8901380 1989-05-31

Publications (1)

Publication Number Publication Date
NL8901380A true NL8901380A (nl) 1990-09-03

Family

ID=26646491

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
NL8901380A NL8901380A (nl) 1989-02-14 1989-05-31 Simultane dubbele inspectie.

Country Status (7)

Country Link
US (1) US5134278A (nl)
EP (1) EP0387930B1 (nl)
AT (1) ATE126886T1 (nl)
AU (1) AU4973590A (nl)
DE (1) DE69021753T2 (nl)
ES (1) ES2080102T3 (nl)
NL (1) NL8901380A (nl)

Families Citing this family (27)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE4111145C2 (de) * 1991-04-06 1995-09-14 Schott Glaswerke Verfahren zum Prüfen medizinischer Ampullen
US5144422A (en) * 1991-06-24 1992-09-01 Hughes Aircraft Company Optimal television imaging system for guided missile
US5256871A (en) * 1992-12-22 1993-10-26 Emhart Glass Machinery Investments Inc. Machine for video inspection of glass containers with intersecting light beams
WO1995004264A1 (en) 1993-07-29 1995-02-09 Wesley-Jessen Corporation Inspection system for optical components
KR19990022929A (ko) * 1995-06-15 1999-03-25 데릭 제임스 코이맥 물체 표면 조사 방법 및 장치
DE19542630C2 (de) * 1995-11-15 2001-10-11 Thomas Huhn Vorrichtung und Verfahren zum Prüfen von Gefäßwänden
DE29607076U1 (de) * 1996-04-18 1996-08-29 Sick Optik Elektronik Erwin Opto-elektronischer Sensor zur Erkennung transparenter Objekte
DE29706425U1 (de) * 1997-04-10 1998-08-06 Heuft Systemtechnik Gmbh Vorrichtung zum Erkennen von diffus streuenden Verunreinigungen in transparenten Behältern
DE19741384A1 (de) * 1997-09-19 1999-03-25 Heuft Systemtechnik Gmbh Verfahren zum Erkennen von diffus streuenden Materialien, Verunreinigungen und sonstigen Fehlern bei transparenten Gegenständen
US6061125A (en) * 1998-01-27 2000-05-09 Insight Control Systems International Dual illumination apparatus for container inspection
DE19903486C2 (de) 1999-01-29 2003-03-06 Leica Microsystems Verfahren und Vorrichtung zur optischen Untersuchung von strukturierten Oberflächen von Objekten
DE29901791U1 (de) * 1999-02-02 2000-07-06 Novartis Ag Linsenmesseinrichtung
JP3907042B2 (ja) * 1999-06-08 2007-04-18 日本たばこ産業株式会社 原料中の夾雑物検出装置およびその検出方法
US7227148B2 (en) * 1999-06-08 2007-06-05 Japan Tobacco Inc. Apparatus for detecting impurities in material and detecting method therefor
DE10065290C2 (de) * 2000-12-29 2003-05-15 Krones Ag Verfahren und Vorrichtung zur optischen Inspektion von Flaschen
US6765661B2 (en) 2001-03-09 2004-07-20 Novartis Ag Lens inspection
US6885904B2 (en) * 2001-05-18 2005-04-26 Advanced Vision Particle Measurement, Inc. Control feedback system and method for bulk material industrial processes using automated object or particle analysis
US6629010B2 (en) 2001-05-18 2003-09-30 Advanced Vision Particle Measurement, Inc. Control feedback system and method for bulk material industrial processes using automated object or particle analysis
US20040263619A1 (en) * 2003-06-30 2004-12-30 Diehr Richard D Container inspection machine
FR2860873B1 (fr) * 2003-10-13 2008-10-17 Bsn Glasspack Procede et dispositif optoelectronique d'inspection d'une surface de revolution d'un recipient
GB0606217D0 (en) * 2006-03-29 2006-05-10 Pilkington Plc Glazing inspection
DE102006047150B4 (de) * 2006-10-05 2013-01-17 Krones Aktiengesellschaft Inspektionsvorrichtung für Behältnisse
JP5324415B2 (ja) * 2009-12-22 2013-10-23 ユニバーサル製缶株式会社 缶の凹凸検出装置
DE102010050673A1 (de) 2010-11-09 2012-05-10 Krones Aktiengesellschaft Vorrichtung und Verfahren zum Inspizieren von Behältnissen
NO336441B1 (no) * 2012-01-24 2015-08-17 Tomra Sorting As Anordning, system og fremgangsmåte for optisk detektering av materie
JP5959430B2 (ja) * 2012-12-21 2016-08-02 倉敷紡績株式会社 ボトルキャップの外観検査装置及び外観検査方法
DE102021109287A1 (de) * 2021-04-14 2022-10-20 Krones Aktiengesellschaft Vorrichtung und Verfahren zum Inspizieren von Dosen

Family Cites Families (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE2545678C3 (de) * 1975-10-11 1979-08-09 Kronseder, Hermann, 8404 Woerth Prüfvorrichtung für Glasflaschen
US4136930A (en) * 1977-01-10 1979-01-30 The Coca-Cola Company Method and apparatus for detecting foreign particles in full beverage containers
US4180722A (en) * 1977-07-07 1979-12-25 Bonnie Clewans Liquid heating device
DE2827704C3 (de) * 1978-06-23 1981-03-19 Erwin Sick Gmbh Optik-Elektronik, 7808 Waldkirch Optische Vorrichtung zur Bestimmung der Lichtaustrittswinkel
US4221961A (en) * 1978-10-23 1980-09-09 Industrial Automation Corporation Electronic bottle inspector having particle and liquid detection capabilities
US4520388A (en) * 1982-11-01 1985-05-28 General Electric Company Optical signal projector
JPS603542A (ja) * 1983-06-21 1985-01-09 Mitsubishi Electric Corp ビン検査装置
US4551627A (en) * 1983-08-01 1985-11-05 Kirin Beer Kabushiki Kaisha Methods and apparatus for detecting residual liquid in containers
DE3413027A1 (de) * 1984-04-06 1985-10-17 Mecapec S.A., Schmerikon Verfahren und vorrichtung zur kontrolle der oberflaeche einer sich bewegenden materialschicht
JPS61207952A (ja) * 1985-03-12 1986-09-16 Hajime Sangyo Kk 透明材よりなるビンの欠陥検査方法
EP0222959B1 (de) * 1985-11-15 1991-01-02 Peter Dr. Hermann Vorrichtung zur Erkennung von Fehlern, insbesondere Rissen, in transparenten Körpern auf optischem Wege
EP0263618A3 (en) * 1986-10-02 1989-10-04 Emhart Glass Machinery Investments Inc. Inspection apparatus
US4943713A (en) * 1987-11-27 1990-07-24 Hajime Industries Ltd. Bottle bottom inspection apparatus

Also Published As

Publication number Publication date
ATE126886T1 (de) 1995-09-15
ES2080102T3 (es) 1996-02-01
US5134278A (en) 1992-07-28
DE69021753T2 (de) 1996-03-21
EP0387930B1 (en) 1995-08-23
DE69021753D1 (de) 1995-09-28
EP0387930A1 (en) 1990-09-19
AU4973590A (en) 1990-08-23

Similar Documents

Publication Publication Date Title
NL8901380A (nl) Simultane dubbele inspectie.
JP6654139B2 (ja) 濡れた眼用レンズの検査システムおよび検査方法
JPH07209210A (ja) 容器の透明領域を光学的に検査する方法と装置
US7760350B2 (en) Glazing inspection
KR101844079B1 (ko) 금속 뚜껑의 결함을 검출하는 장치, 시스템 그리고 방법
KR101332786B1 (ko) 결함 검출 및/또는 분류 방법 및 장치
US4131540A (en) Color sorting system
JP3607744B2 (ja) 半透明な容器の検査装置及び検査方法
KR101442871B1 (ko) 시트 재료 조명 시스템 및 방법
US20100051834A1 (en) Bright field and dark field channels, used for automotive glass inspection systems
CA2098260C (en) Inspection of transparent containers with opposing reflection means
JP2002529698A (ja) ガラス検査装置
US6532064B1 (en) Automatic inspection apparatus and method for simultaneous detection of anomalies in a 3-dimensional translucent object
JPS61159139A (ja) 検査装置
WO2002033390A1 (en) Method and apparatus for detecting refractive defects in transparent containers
US10739278B2 (en) Contact lens defect inspection using UV illumination
NO336441B1 (no) Anordning, system og fremgangsmåte for optisk detektering av materie
KR101203210B1 (ko) 결함 검사장치
US20090237653A1 (en) Device for recording a number of images of disk-shaped objects
JP2017166903A (ja) 欠陥検査装置及び欠陥検査方法
KR100782424B1 (ko) 유리기판의 품질 검사장치
JP4707511B2 (ja) 光透過性容器充填液体中の異物検査装置
JPH11316195A (ja) 透明板の表面欠陥検出装置
JP2003075367A (ja) 透明板状体の欠点検出装置
KR20170129077A (ko) 투과 광학계 검사 장치 및 이를 이용한 결함 검사 방법

Legal Events

Date Code Title Description
A1B A search report has been drawn up
BV The patent application has lapsed