NL8401649A - Meetstelsel voor het, onder gebruikmaking van een op driehoeksmeting berustend principe, contactloos meten van de afstand tussen een bepaald punt van een objectvlak en een referentieniveau. - Google Patents

Meetstelsel voor het, onder gebruikmaking van een op driehoeksmeting berustend principe, contactloos meten van de afstand tussen een bepaald punt van een objectvlak en een referentieniveau. Download PDF

Info

Publication number
NL8401649A
NL8401649A NL8401649A NL8401649A NL8401649A NL 8401649 A NL8401649 A NL 8401649A NL 8401649 A NL8401649 A NL 8401649A NL 8401649 A NL8401649 A NL 8401649A NL 8401649 A NL8401649 A NL 8401649A
Authority
NL
Netherlands
Prior art keywords
radiation
detector
beams
measuring system
distance
Prior art date
Application number
NL8401649A
Other languages
English (en)
Dutch (nl)
Original Assignee
Optische Ind De Oude Delft Nv
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Optische Ind De Oude Delft Nv filed Critical Optische Ind De Oude Delft Nv
Priority to NL8401649A priority Critical patent/NL8401649A/nl
Priority to DE8585200806T priority patent/DE3569153D1/de
Priority to EP85200806A priority patent/EP0163347B1/fr
Priority to US06/736,561 priority patent/US4673817A/en
Priority to IL75269A priority patent/IL75269A/xx
Priority to JP60111278A priority patent/JPS60257309A/ja
Publication of NL8401649A publication Critical patent/NL8401649A/nl

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01S—RADIO DIRECTION-FINDING; RADIO NAVIGATION; DETERMINING DISTANCE OR VELOCITY BY USE OF RADIO WAVES; LOCATING OR PRESENCE-DETECTING BY USE OF THE REFLECTION OR RERADIATION OF RADIO WAVES; ANALOGOUS ARRANGEMENTS USING OTHER WAVES
    • G01S17/00—Systems using the reflection or reradiation of electromagnetic waves other than radio waves, e.g. lidar systems
    • G01S17/02—Systems using the reflection of electromagnetic waves other than radio waves
    • G01S17/06—Systems determining position data of a target
    • G01S17/46—Indirect determination of position data
    • G01S17/48—Active triangulation systems, i.e. using the transmission and reflection of electromagnetic waves other than radio waves
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
    • G01B11/02—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness
    • G01B11/024—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness by means of diode-array scanning

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Computer Networks & Wireless Communication (AREA)
  • Radar, Positioning & Navigation (AREA)
  • Remote Sensing (AREA)
  • Measurement Of Optical Distance (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
NL8401649A 1984-05-23 1984-05-23 Meetstelsel voor het, onder gebruikmaking van een op driehoeksmeting berustend principe, contactloos meten van de afstand tussen een bepaald punt van een objectvlak en een referentieniveau. NL8401649A (nl)

Priority Applications (6)

Application Number Priority Date Filing Date Title
NL8401649A NL8401649A (nl) 1984-05-23 1984-05-23 Meetstelsel voor het, onder gebruikmaking van een op driehoeksmeting berustend principe, contactloos meten van de afstand tussen een bepaald punt van een objectvlak en een referentieniveau.
DE8585200806T DE3569153D1 (en) 1984-05-23 1985-05-20 Measuring system for contactless measuring the distance between a predetermined point of an object surface and a reference level
EP85200806A EP0163347B1 (fr) 1984-05-23 1985-05-20 Système de mesure sans contact pour mesurer la distance entre un point déterminé de la surface d'un objet et un niveau de référence
US06/736,561 US4673817A (en) 1984-05-23 1985-05-21 Measuring system for contactless measuring the distance between a predetermined point of an object surface and a reference level
IL75269A IL75269A (en) 1984-05-23 1985-05-21 Measuring system for contactless measuring the distance between a predetermined point of an object surface and a reference level
JP60111278A JPS60257309A (ja) 1984-05-23 1985-05-22 非接触距離測定装置

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
NL8401649A NL8401649A (nl) 1984-05-23 1984-05-23 Meetstelsel voor het, onder gebruikmaking van een op driehoeksmeting berustend principe, contactloos meten van de afstand tussen een bepaald punt van een objectvlak en een referentieniveau.
NL8401649 1984-05-23

Publications (1)

Publication Number Publication Date
NL8401649A true NL8401649A (nl) 1985-12-16

Family

ID=19843992

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
NL8401649A NL8401649A (nl) 1984-05-23 1984-05-23 Meetstelsel voor het, onder gebruikmaking van een op driehoeksmeting berustend principe, contactloos meten van de afstand tussen een bepaald punt van een objectvlak en een referentieniveau.

Country Status (6)

Country Link
US (1) US4673817A (fr)
EP (1) EP0163347B1 (fr)
JP (1) JPS60257309A (fr)
DE (1) DE3569153D1 (fr)
IL (1) IL75269A (fr)
NL (1) NL8401649A (fr)

Families Citing this family (22)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5033845A (en) * 1985-10-15 1991-07-23 Canon Kabushiki Kaisha Multi-direction distance measuring method and apparatus
US4709156A (en) * 1985-11-27 1987-11-24 Ex-Cell-O Corporation Method and apparatus for inspecting a surface
FR2600412A1 (fr) * 1986-06-18 1987-12-24 Bertin & Cie Dispositif opto-electronique pour la determination de la distance et de la forme d'un objet
JPS633212A (ja) * 1986-06-24 1988-01-08 N T T Gijutsu Iten Kk 計測装置
US4799785A (en) * 1986-10-17 1989-01-24 Keates Richard H Cornea contour mapping
SE458480B (sv) * 1986-12-11 1989-04-03 Bofors Ab Anordning i zonroer foer uppskjutbar enhet, innefattande saendare och mottagare foer optisk straalning
JPH0789059B2 (ja) * 1987-01-14 1995-09-27 株式会社日立製作所 視覚センサシステム
JPS6432105A (en) * 1987-07-28 1989-02-02 Pioneer Electronic Corp Angle deviation measuring instrument for flat plate member
CA1307051C (fr) * 1988-02-26 1992-09-01 Paolo Cielo Methode et dispositif de controle du profil d'une piece usinee
DE3830892C1 (fr) * 1988-09-10 1989-09-28 Fried. Krupp Gmbh, 4300 Essen, De
US4988886A (en) * 1989-04-06 1991-01-29 Eastman Kodak Company Moire distance measurement method and apparatus
EP0419082B1 (fr) * 1989-09-21 1996-04-17 Stanley Electric Corporation Appareil de mesure optique de distance
US5075562A (en) * 1990-09-20 1991-12-24 Eastman Kodak Company Method and apparatus for absolute Moire distance measurements using a grating printed on or attached to a surface
US5075560A (en) * 1990-09-20 1991-12-24 Eastman Kodak Company Moire distance measurements using a grating printed on or attached to a surface
US5390118A (en) * 1990-10-03 1995-02-14 Aisin Seiki Kabushiki Kaisha Automatic lateral guidance control system
EP0479271B1 (fr) * 1990-10-03 1998-09-09 Aisin Seiki Kabushiki Kaisha Système de commande de guidage latéral automatique
US5202742A (en) * 1990-10-03 1993-04-13 Aisin Seiki Kabushiki Kaisha Laser radar for a vehicle lateral guidance system
DE4104602C1 (fr) * 1991-02-12 1992-06-04 E.M.S. Technik Gmbh, 2950 Leer, De
CA2115859C (fr) * 1994-02-23 1995-12-26 Brian Dewan Methode et appareil d'optimisation de la definition des sous-pixels dans un dispositif de mesure des distances par triangulation
US6572444B1 (en) 2000-08-31 2003-06-03 Micron Technology, Inc. Apparatus and methods of automated wafer-grinding using grinding surface position monitoring
US8058634B2 (en) * 2008-12-16 2011-11-15 Corning Incorporated Method and apparatus for determining sheet position using information from two distinct light beams each at a different position and a different angle
US8467043B2 (en) * 2010-10-14 2013-06-18 Hon Hai Precision Industry Co., Ltd. Lens module testing apparatus

Family Cites Families (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
FR2350582A1 (fr) * 1976-05-03 1977-12-02 Nat Res Dev Procede et appareil de mesure de la distance separant un point d'une surface
US4227813A (en) * 1977-03-10 1980-10-14 Centre De Recherches Metallurgiques Centrum Voor Research In De Metallurgie Process for determining a dimension of an object
DE2809878A1 (de) * 1977-03-10 1978-09-14 Centre Rech Metallurgique Verfahren zur bestimmung der abmessungen eines gegenstandes
DE2851750B1 (de) * 1978-11-30 1980-03-06 Ibm Deutschland Verfahren und Vorrichtung zur Messung der Ebenheit der Rauhigkeit oder des Kruemmungsradius einer Messflaeche
JPS55154402A (en) * 1979-05-21 1980-12-02 Anritsu Corp Shape measuring apparatus
DE2945251A1 (de) * 1979-11-09 1981-05-14 Betriebsforschungsinstitut VDEh - Institut für angewandte Forschung GmbH, 4000 Düsseldorf Verfahren und vorrichtung zur bestimmung der lage einer oberflaeche
BE883832A (fr) * 1980-06-13 1980-10-01 Centre Rech Metallurgique Procede et dispositif pour controler la planeite des toles metalliques.
JPS57104808A (en) * 1980-12-20 1982-06-30 Anritsu Corp Shape measuring apparatus
JPS5828606A (ja) * 1981-08-14 1983-02-19 Hitachi Ltd 微小変形測定方法
US4502785A (en) * 1981-08-31 1985-03-05 At&T Technologies, Inc. Surface profiling technique
GB2113832B (en) * 1982-01-20 1986-08-28 Dyk Johannes Wilhelmus Van Electromagnetic radiation scanning of a surface
JPS58201015A (ja) * 1982-05-20 1983-11-22 Canon Inc 測距装置
SU1084600A1 (ru) * 1982-08-13 1984-04-07 Одесский Конструкторско-Технологический Институт По Поршневым Кольцам Устройство дл измерени профил издели

Also Published As

Publication number Publication date
JPS60257309A (ja) 1985-12-19
JPH0575049B2 (fr) 1993-10-19
EP0163347B1 (fr) 1989-03-29
US4673817A (en) 1987-06-16
IL75269A (en) 1989-03-31
EP0163347A1 (fr) 1985-12-04
IL75269A0 (en) 1985-09-29
DE3569153D1 (en) 1989-05-03

Similar Documents

Publication Publication Date Title
NL8401649A (nl) Meetstelsel voor het, onder gebruikmaking van een op driehoeksmeting berustend principe, contactloos meten van de afstand tussen een bepaald punt van een objectvlak en een referentieniveau.
US4845352A (en) Scanning differential phase contrast microscope
KR920009018B1 (ko) 거리측정시스템
CN102253392B (zh) 飞行时间摄像机单元和光学监视系统
US5877851A (en) Scannerless ladar architecture employing focal plane detector arrays and FM-CW ranging theory
US20220291363A1 (en) Techniques for amplification of return signal in lidar system
NO752747L (fr)
JP2004527765A5 (fr)
JP2004527765A (ja) 距離測定用光学センサー
RU2319158C2 (ru) Оптический измерительный преобразователь смещения
US20230049443A1 (en) Techniques for processing a target return signal using free-space optics
KR20160101312A (ko) 거리 측정 장치
US3890034A (en) Optical scanner
US4952816A (en) Focus detection system with zero crossing detection for use in optical measuring systems
US4477727A (en) Beam position detection system for use in an optical scanning system
US5083023A (en) Composite light source unit and scanning device
JPH11201718A (ja) センサ装置及び距離測定装置
US5815272A (en) Filter for laser gaging system
RU2540451C1 (ru) Система лазерной локации
JPS607416A (ja) 画像走査読取装置
Angelbeck Application Of A Laser Scanning And Imagine System To Underwater Viewing
US5724162A (en) Optical correlator using spatial light modulator
JP2638959B2 (ja) 回帰反射型光電スイッチ
JPH1195114A (ja) 走査型光学顕微鏡装置
US20230400582A1 (en) Coherent sensing system using a DOE

Legal Events

Date Code Title Description
A1B A search report has been drawn up
BV The patent application has lapsed