NL183915C - Werkwijze voor het automatisch t.o.v. elkaar centreren van een tweetal voorwerpen. - Google Patents

Werkwijze voor het automatisch t.o.v. elkaar centreren van een tweetal voorwerpen.

Info

Publication number
NL183915C
NL183915C NLAANVRAGE7506234,A NL7506234A NL183915C NL 183915 C NL183915 C NL 183915C NL 7506234 A NL7506234 A NL 7506234A NL 183915 C NL183915 C NL 183915C
Authority
NL
Netherlands
Prior art keywords
centering
objects
automatic
Prior art date
Application number
NLAANVRAGE7506234,A
Other languages
English (en)
Dutch (nl)
Other versions
NL7506234A (nl
Original Assignee
Western Electric Co
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Western Electric Co filed Critical Western Electric Co
Publication of NL7506234A publication Critical patent/NL7506234A/xx
Application granted granted Critical
Publication of NL183915C publication Critical patent/NL183915C/xx

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03F—PHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F9/00—Registration or positioning of originals, masks, frames, photographic sheets or textured or patterned surfaces, e.g. automatically
    • G03F9/70—Registration or positioning of originals, masks, frames, photographic sheets or textured or patterned surfaces, e.g. automatically for microlithography
    • G03F9/7069—Alignment mark illumination, e.g. darkfield, dual focus
    • G—PHYSICS
    • G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03F—PHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F9/00—Registration or positioning of originals, masks, frames, photographic sheets or textured or patterned surfaces, e.g. automatically
    • G03F9/70—Registration or positioning of originals, masks, frames, photographic sheets or textured or patterned surfaces, e.g. automatically for microlithography
    • G03F9/7088—Alignment mark detection, e.g. TTR, TTL, off-axis detection, array detector, video detection

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Multimedia (AREA)
  • Control Of Position Or Direction (AREA)
  • Feeding Of Articles To Conveyors (AREA)
  • Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)
  • Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)
  • Image Processing (AREA)
  • Wire Bonding (AREA)
  • Die Bonding (AREA)
  • Supply And Installment Of Electrical Components (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
NLAANVRAGE7506234,A 1974-05-31 1975-05-27 Werkwijze voor het automatisch t.o.v. elkaar centreren van een tweetal voorwerpen. NL183915C (nl)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US475006A US3903363A (en) 1974-05-31 1974-05-31 Automatic positioning system and method

Publications (2)

Publication Number Publication Date
NL7506234A NL7506234A (nl) 1975-12-02
NL183915C true NL183915C (nl) 1989-02-16

Family

ID=23885861

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
NLAANVRAGE7506234,A NL183915C (nl) 1974-05-31 1975-05-27 Werkwijze voor het automatisch t.o.v. elkaar centreren van een tweetal voorwerpen.

Country Status (14)

Country Link
US (1) US3903363A (ja)
JP (1) JPS5711142B2 (ja)
BE (1) BE829643A (ja)
BR (1) BR7503172A (ja)
CA (1) CA1022258A (ja)
DE (1) DE2523858C2 (ja)
ES (1) ES438079A1 (ja)
FR (1) FR2275821A1 (ja)
GB (1) GB1509574A (ja)
HK (1) HK72979A (ja)
IL (1) IL47364A (ja)
IT (1) IT1032985B (ja)
NL (1) NL183915C (ja)
SE (1) SE393880B (ja)

Families Citing this family (37)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3988535A (en) * 1975-11-04 1976-10-26 Western Electric Company, Inc. Automated positioning
JPS52140278A (en) * 1976-05-19 1977-11-22 Hitachi Ltd Position detector
DE2643809B2 (de) * 1976-09-29 1980-10-09 Licentia Patent-Verwaltungs-Gmbh, 6000 Frankfurt Verfahren zum Einjustieren eines Körpers
DE2803653C3 (de) * 1978-01-27 1986-05-28 Texas Instruments Deutschland Gmbh, 8050 Freising Ausrichtvorrichtung
JPS54114182A (en) * 1978-02-27 1979-09-06 Canon Inc Alingment device
JPS54114183A (en) * 1978-02-27 1979-09-06 Canon Inc Position matching method
JPS54114181A (en) * 1978-02-27 1979-09-06 Canon Inc Alignment device
JPS5850420B2 (ja) * 1978-02-28 1983-11-10 株式会社新川 パタ−ン位置合せ装置
US4208675A (en) * 1978-03-20 1980-06-17 Agence Nationale De Valorization De La Recherche (Anvar) Method and apparatus for positioning an object
CH643959A5 (de) * 1978-04-14 1984-06-29 Siemens Ag Verfahren und vorrichtung zur automatischen lageerkennung von halbleiterchips.
JPS5856402B2 (ja) * 1978-08-30 1983-12-14 大日本スクリ−ン製造株式会社 位置決め用センサ−
US4253111A (en) * 1978-09-25 1981-02-24 Gca Corporation Apparatus for bonding leads to semiconductor chips
US4233625A (en) * 1978-11-03 1980-11-11 Teledyne, Inc. Television monitoring system for automatically aligning semiconductor devices during manufacture
JPS5588347A (en) * 1978-12-27 1980-07-04 Fujitsu Ltd Automatic aligning system
US4318081A (en) * 1979-12-19 1982-03-02 Hajime Industries Ltd. Object inspection system
US4260979A (en) * 1979-12-31 1981-04-07 International Business Machines Corporation Apparatus for sensing non-coded images
US4316189A (en) * 1980-05-08 1982-02-16 Westinghouse Electric Corp. Electromechanical display apparatus
US4376584A (en) * 1980-06-02 1983-03-15 Bell Telephone Laboratories, Inc. Pattern printing including aligning masks and monitoring such alignment
US4342090A (en) * 1980-06-27 1982-07-27 International Business Machines Corp. Batch chip placement system
JPS58130840A (ja) * 1982-01-29 1983-08-04 Fuji Electric Co Ltd 紙葉類搬送装置
US4471947A (en) * 1983-04-19 1984-09-18 Osborne Charles W Fence Construction
US4551912A (en) * 1983-06-30 1985-11-12 International Business Machines Corporation Highly integrated universal tape bonding
US4593406A (en) * 1984-01-16 1986-06-03 The United States Of America As Represented By The United States Department Of Energy Automatic image acquisition processor and method
US4604648A (en) * 1984-10-12 1986-08-05 Kley Victor B Electronic viewing system for integrated circuit packages
US4651203A (en) * 1985-10-29 1987-03-17 At&T Technologies, Inc. Video controlled article positioning system
DE3621056A1 (de) * 1986-06-24 1988-01-14 Polygram Gmbh Verfahren zum ausrichten der drehlage von drehbaren oder positionieren von verschieblichen gegenstaenden
US4880309A (en) * 1987-04-14 1989-11-14 General Signal Corporation Dark field target design system for alignment of semiconductor wafers
GB8801691D0 (en) * 1988-01-26 1988-02-24 Protocol Eng Plc Film punch registration
GB9125603D0 (en) * 1991-12-02 1992-01-29 Gec-Marconi Limited Optical analysis system and positioning apparatus therefor
JP3223583B2 (ja) * 1992-06-29 2001-10-29 株式会社島津製作所 マイクロマニピュレータ用操作装置
US6587581B1 (en) * 1997-01-10 2003-07-01 Hitachi, Ltd. Visual inspection method and apparatus therefor
US6331891B1 (en) * 1998-04-07 2001-12-18 Fujitsu Limited Apparatus and method for assembling semiconductor device and semiconductor device thus fabricated
EP0949660B1 (en) * 1998-04-07 2007-08-01 Fujitsu Limited Apparatus and method for assembling semiconductor device
US7141450B2 (en) * 2002-04-08 2006-11-28 Lucent Technologies Inc. Flip-chip alignment method
US8146497B2 (en) * 2004-05-04 2012-04-03 Sys Tec S.R.L. Method and machine for aligning flexographic printing plates on printing cylinders
US7344273B2 (en) 2005-03-22 2008-03-18 Binary Works, Inc. Ring light with user manipulable control
WO2013190606A1 (ja) * 2012-06-18 2013-12-27 富士機械製造株式会社 バルクフィーダ

Family Cites Families (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3207904A (en) * 1962-04-09 1965-09-21 Western Electric Co Electro-optical article positioning system
US3497705A (en) * 1968-02-12 1970-02-24 Itek Corp Mask alignment system using radial patterns and flying spot scanning
US3749830A (en) * 1968-04-09 1973-07-31 Westinghouse Electric Corp Pattern sensing and positioning system
US3593286A (en) * 1968-11-27 1971-07-13 Norman G Altman Pattern recognition system having electronically controllable aperture shape, scan shape, and scan position
US3581375A (en) * 1969-03-07 1971-06-01 Ibm Method and apparatus for manufacturing integrated circuits
US3811011A (en) * 1969-07-08 1974-05-14 Itek Corp Multiple image registration system
CA968439A (en) * 1971-05-26 1975-05-27 Western Electric Company, Incorporated Video controlled positioning method and apparatus
US3796497A (en) * 1971-12-01 1974-03-12 Ibm Optical alignment method and apparatus

Also Published As

Publication number Publication date
JPS513580A (ja) 1976-01-13
US3903363A (en) 1975-09-02
SE7505834L (sv) 1975-12-01
DE2523858A1 (de) 1975-12-18
SE393880B (sv) 1977-05-23
FR2275821B1 (ja) 1979-07-06
NL7506234A (nl) 1975-12-02
CA1022258A (en) 1977-12-06
GB1509574A (en) 1978-05-04
IL47364A0 (en) 1975-07-28
HK72979A (en) 1979-10-26
BE829643A (fr) 1975-09-15
ES438079A1 (es) 1977-02-01
FR2275821A1 (fr) 1976-01-16
BR7503172A (pt) 1976-05-25
IL47364A (en) 1977-02-28
DE2523858C2 (de) 1984-08-23
JPS5711142B2 (ja) 1982-03-02
IT1032985B (it) 1979-06-20

Similar Documents

Publication Publication Date Title
NL183915C (nl) Werkwijze voor het automatisch t.o.v. elkaar centreren van een tweetal voorwerpen.
NL7412732A (nl) Werkwijze voor het alkyleren van een isoalkaan.
NL185500C (nl) Werkwijze voor het fluoreren van oppervlakken.
NL7504698A (nl) Werkwijze voor het polymeriseren van een (alpha)-ole- fine.
NL7603604A (nl) Werkwijze voor het bereiden van alkenen.
NL7614578A (nl) Werkwijze voor het modificeren van polyvinylideen- fluoride.
NL172147B (nl) Werkwijze voor het bereiden van dialkyloxalaten.
NL178862C (nl) Werkwijze voor het bereiden van een aerogelachtig gestruktureerd kiezelzuur.
NL162665C (nl) Werkwijze voor het polymeriseren van 1-alkenen.
NL7505306A (nl) Werkwijze voor het calcineren van kooks.
NL7514436A (nl) Werkwijze en inrichting voor het samenvoegen van damwand.
NL7408819A (nl) Werkwijze voor het bereiden van cycloolefines.
NL7416198A (nl) Werkwijze voor het trekken van stafmateriaal.
NL7510925A (nl) Werkwijze voor het bereiden van toevoegsels.
NL7604355A (nl) Werkwijze voor het bereiden van 5-acetoacetyl- aminobenzimidazolon.
NL163486C (nl) Werkwijze voor het bereiden van fosgeen.
NL7414752A (nl) Werkwijze voor het trekken van een strengvor- mig voorwerp.
NL7409978A (nl) Werkwijze voor het vervaardigen van mikrobolletjes.
NL7508671A (nl) Werkwijze voor het bepalen van plastiminogeen.
NL7611668A (nl) Werkwijze voor het fluidumtransport van voorwerpen.
NL7414024A (nl) Werkwijze voor het alkyleren van een isoalkaan met een alkeen.
NL171992C (nl) Werkwijze voor het stabiliseren van chloorhoudende harsen.
NL7507808A (nl) Werkwijze voor het isomeriseren van alkenen.
NL176064B (nl) Werkwijze voor het polymeriseren van chloorcyclofosfazenen.
NL7509176A (nl) Werkwijze voor het verpakken van een of meer voorwerpen.

Legal Events

Date Code Title Description
BA A request for search or an international-type search has been filed
BB A search report has been drawn up
BC A request for examination has been filed
A85 Still pending on 85-01-01
BK Erratum

Free format text: CORRECTION TO PAMPHLET

V4 Discontinued because of reaching the maximum lifetime of a patent