MD4052C1 - Устройство для измерения электропроводности и термоэлектродвижущей силы полупроводниковых материалов в интервале температур 300…1200К - Google Patents

Устройство для измерения электропроводности и термоэлектродвижущей силы полупроводниковых материалов в интервале температур 300…1200К

Info

Publication number
MD4052C1
MD4052C1 MDA20080262A MD20080262A MD4052C1 MD 4052 C1 MD4052 C1 MD 4052C1 MD A20080262 A MDA20080262 A MD A20080262A MD 20080262 A MD20080262 A MD 20080262A MD 4052 C1 MD4052 C1 MD 4052C1
Authority
MD
Moldova
Prior art keywords
tube
metal
quartz tube
fixed
bush
Prior art date
Application number
MDA20080262A
Other languages
English (en)
Romanian (ro)
Other versions
MD4052B1 (en
Inventor
Николае ПОПОВИЧ
Original Assignee
Институт Электронной Инженерии И Промышленных Технологий Академии Наук Молдовы
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Институт Электронной Инженерии И Промышленных Технологий Академии Наук Молдовы filed Critical Институт Электронной Инженерии И Промышленных Технологий Академии Наук Молдовы
Priority to MDA20080262A priority Critical patent/MD4052C1/ru
Publication of MD4052B1 publication Critical patent/MD4052B1/xx
Publication of MD4052C1 publication Critical patent/MD4052C1/ru

Links

Landscapes

  • Investigating Or Analyzing Materials Using Thermal Means (AREA)

Abstract

Изобретение относится к системам для исследования явлений переноса электрических зарядов в полупроводниках и полуметаллах, а именно, для тестирования электропроводности и термоэлектродвижущей силы термоэлектрических материалов для определения их эффективности в диапазоне температур 300…1200К.Устройство для измерения электропроводности и термоэлектродвижущей силы полупроводниковых материалов в интервале температур 300…1200К содержит металлическую трубку (6), в которой размещены две термопары (11, 12), которые контактируют с образцом (13), электрические провода (14, 15). Устройство еще содержит пружину (10), вакуумную камеру и внешний источник тепла, расположенный поверх вакуумной камеры со стороны установления образца (13). Устройство дополнительно включает металлический блок (2), закрепленный в металлической втулке (1), вмонтированной в кварцевой трубке (3), закрепленной в верхней части металлической трубки (6) посредством элемента фиксации (4) и втулки (5). Устройство еще включает подвижный металлический блок (7) с осевым отверстием для термопары (12), установленный в верхней части кварцевой трубки (8), нижняя часть которой жестко закреплена на кварцевой трубке (19), помещенной внутри кварцевой трубки (9) с возможностью перемещения вдоль нее. Кварцевая трубка (20) закреплена внутри кварцевой трубки (9). Верхняя часть кварцевой трубки (9) закреплена в нижней части металлической трубки (6) посредством элемента фиксации (18) и втулки (16), при этом пружина (10) размещена на трубке (19) между кварцевыми трубками (8) и (20). Нижняя часть кварцевой трубки (9) закреплена в верхней части металлической трубки (22) посредством элемента фиксации (21) и втулки (23). В металлическом блоке (2) и металлической втулке (1) выполнено осевое отверстие для термопары (11).
MDA20080262A 2008-10-16 2008-10-16 Устройство для измерения электропроводности и термоэлектродвижущей силы полупроводниковых материалов в интервале температур 300…1200К MD4052C1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
MDA20080262A MD4052C1 (ru) 2008-10-16 2008-10-16 Устройство для измерения электропроводности и термоэлектродвижущей силы полупроводниковых материалов в интервале температур 300…1200К

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
MDA20080262A MD4052C1 (ru) 2008-10-16 2008-10-16 Устройство для измерения электропроводности и термоэлектродвижущей силы полупроводниковых материалов в интервале температур 300…1200К

Publications (2)

Publication Number Publication Date
MD4052B1 MD4052B1 (en) 2010-06-30
MD4052C1 true MD4052C1 (ru) 2011-01-31

Family

ID=43568991

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
MDA20080262A MD4052C1 (ru) 2008-10-16 2008-10-16 Устройство для измерения электропроводности и термоэлектродвижущей силы полупроводниковых материалов в интервале температур 300…1200К

Country Status (1)

Country Link
MD (1) MD4052C1 (ru)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
MD430Z (ru) * 2011-02-24 2012-05-31 ИНСТИТУТ ЭЛЕКТРОННОЙ ИНЖЕНЕРИИ И НАНОТЕХНОЛОГИЙ "D. Ghitu" АНМ Устройство для измерения теплопроводности термоэлектрических материалов в зависимости от температуры с помощью эффекта Пельтье

Citations (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
SU463008A1 (ru) * 1972-05-10 1975-03-05 Кишиневский Научно-Исследовательский Институт Электроприборостроения Термоэлектрический преобразователь
SU1253358A1 (ru) * 1984-09-18 1996-01-10 Ереванский политехнический институт им.К.Маркса Материал для изготовления терморезисторов с положительным температурным коэффициентом сопротивления
RU93055713A (ru) * 1993-12-14 1996-06-10 И.Н. Говор Термоэлектрический элемент
MD855B1 (en) * 1996-10-25 1997-09-30 Inst Cercetari Stiintifice Cast microwire process
MD1564F1 (en) * 1999-12-07 2000-11-30 S.A. Process for filling the stator of the electric machine
EA002073B1 (ru) * 1998-10-06 2001-12-24 Исаак Аронович Орентлихерман Пьезопреобразователь
EA004668B1 (ru) * 2000-06-07 2004-06-24 Эндресс+Хаузер Гмбх+Ко.Кг Электромеханический преобразователь
RU2231688C2 (ru) * 2000-03-31 2004-06-27 Авдеев Леонид Алексеевич Термоэлемент
MD2510F1 (en) * 2003-02-18 2004-07-31 Anatolii Matusovici Ioiser Nanostructure and process for manufacture thereof
MD20050370A (ru) * 2005-12-12 2007-08-31 Технический университет Молдовы Устроиство для литья проводящих нитей из металлов в жидкой фазе
MD3579B1 (en) * 2006-05-02 2008-04-30 Institutul De Inginerie Electronica Si Tehnologiiindustriale Al Academiei De Stiinte A Moldovei Process for obtaining bismuth semimetallic microwire in molybdenum glass insulation
MD3691B1 (en) * 2007-05-10 2008-08-31 Societatea Pe Actiuni Institutul De Cercetari Stiintifice "Eliri" Process for manufacturing a filiform nanostructure

Patent Citations (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
SU463008A1 (ru) * 1972-05-10 1975-03-05 Кишиневский Научно-Исследовательский Институт Электроприборостроения Термоэлектрический преобразователь
SU1253358A1 (ru) * 1984-09-18 1996-01-10 Ереванский политехнический институт им.К.Маркса Материал для изготовления терморезисторов с положительным температурным коэффициентом сопротивления
RU93055713A (ru) * 1993-12-14 1996-06-10 И.Н. Говор Термоэлектрический элемент
MD855B1 (en) * 1996-10-25 1997-09-30 Inst Cercetari Stiintifice Cast microwire process
EA002073B1 (ru) * 1998-10-06 2001-12-24 Исаак Аронович Орентлихерман Пьезопреобразователь
MD1564F1 (en) * 1999-12-07 2000-11-30 S.A. Process for filling the stator of the electric machine
RU2231688C2 (ru) * 2000-03-31 2004-06-27 Авдеев Леонид Алексеевич Термоэлемент
EA004668B1 (ru) * 2000-06-07 2004-06-24 Эндресс+Хаузер Гмбх+Ко.Кг Электромеханический преобразователь
MD2510F1 (en) * 2003-02-18 2004-07-31 Anatolii Matusovici Ioiser Nanostructure and process for manufacture thereof
MD20050370A (ru) * 2005-12-12 2007-08-31 Технический университет Молдовы Устроиство для литья проводящих нитей из металлов в жидкой фазе
MD3579B1 (en) * 2006-05-02 2008-04-30 Institutul De Inginerie Electronica Si Tehnologiiindustriale Al Academiei De Stiinte A Moldovei Process for obtaining bismuth semimetallic microwire in molybdenum glass insulation
MD3691B1 (en) * 2007-05-10 2008-08-31 Societatea Pe Actiuni Institutul De Cercetari Stiintifice "Eliri" Process for manufacturing a filiform nanostructure

Non-Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
Burkov A.T., Heinrich A., Konstantinov P.P., Nakama T., Yagasaki K. Measurement Science and Technology, 2001, vol. 12, p. 264-272 *
Jahed M.M., Riffel M., Poche C., Scherrer S. Proceedings Energy Conversion Engineering Conference and Exhibit, 2000, vol. 1, p. 135-138 *
Littleton R.T., Jeffries J., Kaeser M. A., Long M., Tritt T.M. Material Research Society Symposium Proceedings, 1999, vol. 545, p. 137-138 *

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
MD430Z (ru) * 2011-02-24 2012-05-31 ИНСТИТУТ ЭЛЕКТРОННОЙ ИНЖЕНЕРИИ И НАНОТЕХНОЛОГИЙ "D. Ghitu" АНМ Устройство для измерения теплопроводности термоэлектрических материалов в зависимости от температуры с помощью эффекта Пельтье

Also Published As

Publication number Publication date
MD4052B1 (en) 2010-06-30

Similar Documents

Publication Publication Date Title
Wang et al. Determination of thermoelectric module efficiency: A survey
CN103308416B (zh) 热分析装置
CN201016950Y (zh) 一种半导体热电性能测试仪
Kallaher et al. An apparatus for concurrent measurement of thermoelectric material parameters
CN104122448A (zh) 一种高温测试夹具
KR101898037B1 (ko) 곡면형 열전 소자의 특성 측정용 고온 구조체, 이를 이용한 특성 측정 시스템 및 방법
Kwon et al. Impact of parasitic thermal effects on thermoelectric property measurements by Harman method
CA2733429C (en) Thermoelement
MD4052C1 (ru) Устройство для измерения электропроводности и термоэлектродвижущей силы полупроводниковых материалов в интервале температур 300…1200К
Franco et al. Poly-Si heaters for ultra-fast local temperature control of on-wafer test structures
CN102865969B (zh) 压力传感器温度特性的测试装置
Pearce et al. Self-validating type C thermocouples to 2300° C using high temperature fixed points
KR102024679B1 (ko) 석영관으로 구성된 제백계수 및 전기전도도 측정 장치 및 그 방법
US2525439A (en) Thermocouple
US7553072B2 (en) Performance testing apparatus for heat pipes
JP2007218591A (ja) ハイブリッド型表面温度計、温度分布測定装置及び測定方法
US7553073B2 (en) Performance testing apparatus for heat pipes
KR100499351B1 (ko) 제벡계수 및 전기전도도 측정장치
JP6213382B2 (ja) 測定装置
KR101383118B1 (ko) 투과전자현미경에서 고온상태로 3차원 분석이 가능한 3축 구동 ｔｒ―홀더
Anatychuk et al. Increasing the rapidity of thermal conductivity measurement by the absolute method
CN103411697B (zh) 材料高温力学试验机的铠装热电偶测温装置
JP6325378B2 (ja) センサ装置
Sharma et al. Design, fabrication and calibration of low cost thermopower measurement set up in low-to mid-temperature range
RU90555U1 (ru) Устройство для измерения температуры среды и поверхности

Legal Events

Date Code Title Description
FG4A Patent for invention issued
KA4A Patent for invention lapsed due to non-payment of fees (with right of restoration)
MM4A Patent for invention definitely lapsed due to non-payment of fees