MD4052C1 - Dispozitiv pentru măsurarea conductibilităţii electrice şi forţei termoelectromotoare a materialelor semiconductoare în intervalul de temperaturi 300...1200K - Google Patents

Dispozitiv pentru măsurarea conductibilităţii electrice şi forţei termoelectromotoare a materialelor semiconductoare în intervalul de temperaturi 300...1200K

Info

Publication number
MD4052C1
MD4052C1 MDA20080262A MD20080262A MD4052C1 MD 4052 C1 MD4052 C1 MD 4052C1 MD A20080262 A MDA20080262 A MD A20080262A MD 20080262 A MD20080262 A MD 20080262A MD 4052 C1 MD4052 C1 MD 4052C1
Authority
MD
Moldova
Prior art keywords
tube
metal
quartz tube
fixed
bush
Prior art date
Application number
MDA20080262A
Other languages
English (en)
Russian (ru)
Other versions
MD4052B1 (ro
Inventor
Николае ПОПОВИЧ
Original Assignee
Институт Электронной Инженерии И Промышленных Технологий Академии Наук Молдовы
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Институт Электронной Инженерии И Промышленных Технологий Академии Наук Молдовы filed Critical Институт Электронной Инженерии И Промышленных Технологий Академии Наук Молдовы
Priority to MDA20080262A priority Critical patent/MD4052C1/ro
Publication of MD4052B1 publication Critical patent/MD4052B1/ro
Publication of MD4052C1 publication Critical patent/MD4052C1/ro

Links

Landscapes

  • Investigating Or Analyzing Materials Using Thermal Means (AREA)

Abstract

Invenţia se referă la sisteme de cercetare a fenomenelor încercare a sarcinilor electrice în semiconductori şi semimetale, şi anume de testare a conductibilităţii electrice şi forţei termoelectromotoare a materialelor termoelectrice pentru a determina eficienţa lor în intervalul de temperaturi 300…1200K.Dispozitivul pentru măsurarea conductibilităţii electrice şi forţei termoelectromotoare a materialelor semiconductoare în intervalul de temperaturi 300…1200K conţine un tub metalic (6), în care sunt amplasate două termocupluri (11, 12), care contactează cu proba (13), conductoare electrice (14, 15). Dispozitivul mai conţine un arc (10), o cameră de vacuumare şi o sursă termică exterioară,amplasată deasupra camerei de vacuumare din partea instalării probei (13). Dispozitivul include suplimentar un bloc metalic (2), fixat într-o bucşă metalică (1), montată întru-un tub din cuarţ (3), fixat în partea superioară a tubului metalic (6) prin intermediul elementului de fixare (4) şi al bucşei (5). Dispozitivul mai include un bloc metalic mobil (7) cu orificiu axial pentru termocuplu (12), amplasat în partea superioară a unui tub din cuarţ (8), partea inferioară a căruia este fixată rigid pe un tub din cuarţ (19), amplasat în interiorul unui tub din cuarţ (9) cu posibilitatea deplasării de-a lungul acestuia. Un tub din cuarţ (20) este fixat în interiorul tubului din cuarţ (9). Partea superioară a tubului din cuarţ (9) este fixată în partea inferioară a tubului metalic (6) prin intermediul elementului de fixare (18) şi al bucşei (16), totodată arcul (10) este amplasat pe tubul (19) între tuburile din cuarţ (8) şi (20). Partea inferioară a tubului din cuarţ (9) este fixată în partea superioară a unui tub metalic (22) prin intermediul elementului de fixare (21) şi al bucşei (23). În blocul metalic (2) şi bucşa metalică (1) este executat un orificiu axial pentru termocuplu (11).
MDA20080262A 2008-10-16 2008-10-16 Dispozitiv pentru măsurarea conductibilităţii electrice şi forţei termoelectromotoare a materialelor semiconductoare în intervalul de temperaturi 300...1200K MD4052C1 (ro)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
MDA20080262A MD4052C1 (ro) 2008-10-16 2008-10-16 Dispozitiv pentru măsurarea conductibilităţii electrice şi forţei termoelectromotoare a materialelor semiconductoare în intervalul de temperaturi 300...1200K

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
MDA20080262A MD4052C1 (ro) 2008-10-16 2008-10-16 Dispozitiv pentru măsurarea conductibilităţii electrice şi forţei termoelectromotoare a materialelor semiconductoare în intervalul de temperaturi 300...1200K

Publications (2)

Publication Number Publication Date
MD4052B1 MD4052B1 (ro) 2010-06-30
MD4052C1 true MD4052C1 (ro) 2011-01-31

Family

ID=43568991

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
MDA20080262A MD4052C1 (ro) 2008-10-16 2008-10-16 Dispozitiv pentru măsurarea conductibilităţii electrice şi forţei termoelectromotoare a materialelor semiconductoare în intervalul de temperaturi 300...1200K

Country Status (1)

Country Link
MD (1) MD4052C1 (ro)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
MD430Z (ro) * 2011-02-24 2012-05-31 ИНСТИТУТ ЭЛЕКТРОННОЙ ИНЖЕНЕРИИ И НАНОТЕХНОЛОГИЙ "D. Ghitu" АНМ Dispozitiv pentru măsurarea conductibilităţii termice a materialelor termoelectrice în funcţie de temperatură cu ajutorul efectului Peltier

Citations (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
SU463008A1 (ru) * 1972-05-10 1975-03-05 Кишиневский Научно-Исследовательский Институт Электроприборостроения Термоэлектрический преобразователь
SU1253358A1 (ru) * 1984-09-18 1996-01-10 Ереванский политехнический институт им.К.Маркса Материал для изготовления терморезисторов с положительным температурным коэффициентом сопротивления
RU93055713A (ru) * 1993-12-14 1996-06-10 И.Н. Говор Термоэлектрический элемент
MD855B1 (ro) * 1996-10-25 1997-09-30 Inst Cercetari Stiintifice Procedeu de producere a microconductorului turnat
MD1564F1 (ro) * 1999-12-07 2000-11-30 S.A. Procedeu de umplere a statorului masinii electrice
EA002073B1 (ru) * 1998-10-06 2001-12-24 Исаак Аронович Орентлихерман Пьезопреобразователь
EA004668B1 (ru) * 2000-06-07 2004-06-24 Эндресс+Хаузер Гмбх+Ко.Кг Электромеханический преобразователь
RU2231688C2 (ru) * 2000-03-31 2004-06-27 Авдеев Леонид Алексеевич Термоэлемент
MD2510F1 (ro) * 2003-02-18 2004-07-31 Anatolii Matusovici Ioiser Nanostructura si procedeu de confectionare a acesteia
MD20050370A (ro) * 2005-12-12 2007-08-31 Технический университет Молдовы Instalaţie de turnare a firelor conductoare din metale în fază lichidă
MD3579B1 (ro) * 2006-05-02 2008-04-30 Institutul De Inginerie Electronica Si Tehnologiiindustriale Al Academiei De Stiinte A Moldovei Procedeu de obtinere a microfirelor semimetalice de bismut in izolatie de sticla de molibden
MD3691B1 (ro) * 2007-05-10 2008-08-31 Societatea Pe Actiuni Institutul De Cercetari Stiintifice "Eliri" Procedeu de confectionare a unei nanostructuri filiforme

Patent Citations (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
SU463008A1 (ru) * 1972-05-10 1975-03-05 Кишиневский Научно-Исследовательский Институт Электроприборостроения Термоэлектрический преобразователь
SU1253358A1 (ru) * 1984-09-18 1996-01-10 Ереванский политехнический институт им.К.Маркса Материал для изготовления терморезисторов с положительным температурным коэффициентом сопротивления
RU93055713A (ru) * 1993-12-14 1996-06-10 И.Н. Говор Термоэлектрический элемент
MD855B1 (ro) * 1996-10-25 1997-09-30 Inst Cercetari Stiintifice Procedeu de producere a microconductorului turnat
EA002073B1 (ru) * 1998-10-06 2001-12-24 Исаак Аронович Орентлихерман Пьезопреобразователь
MD1564F1 (ro) * 1999-12-07 2000-11-30 S.A. Procedeu de umplere a statorului masinii electrice
RU2231688C2 (ru) * 2000-03-31 2004-06-27 Авдеев Леонид Алексеевич Термоэлемент
EA004668B1 (ru) * 2000-06-07 2004-06-24 Эндресс+Хаузер Гмбх+Ко.Кг Электромеханический преобразователь
MD2510F1 (ro) * 2003-02-18 2004-07-31 Anatolii Matusovici Ioiser Nanostructura si procedeu de confectionare a acesteia
MD20050370A (ro) * 2005-12-12 2007-08-31 Технический университет Молдовы Instalaţie de turnare a firelor conductoare din metale în fază lichidă
MD3579B1 (ro) * 2006-05-02 2008-04-30 Institutul De Inginerie Electronica Si Tehnologiiindustriale Al Academiei De Stiinte A Moldovei Procedeu de obtinere a microfirelor semimetalice de bismut in izolatie de sticla de molibden
MD3691B1 (ro) * 2007-05-10 2008-08-31 Societatea Pe Actiuni Institutul De Cercetari Stiintifice "Eliri" Procedeu de confectionare a unei nanostructuri filiforme

Non-Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
Burkov A.T., Heinrich A., Konstantinov P.P., Nakama T., Yagasaki K. Measurement Science and Technology, 2001, vol. 12, p. 264-272 *
Jahed M.M., Riffel M., Poche C., Scherrer S. Proceedings Energy Conversion Engineering Conference and Exhibit, 2000, vol. 1, p. 135-138 *
Littleton R.T., Jeffries J., Kaeser M. A., Long M., Tritt T.M. Material Research Society Symposium Proceedings, 1999, vol. 545, p. 137-138 *

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
MD430Z (ro) * 2011-02-24 2012-05-31 ИНСТИТУТ ЭЛЕКТРОННОЙ ИНЖЕНЕРИИ И НАНОТЕХНОЛОГИЙ "D. Ghitu" АНМ Dispozitiv pentru măsurarea conductibilităţii termice a materialelor termoelectrice în funcţie de temperatură cu ajutorul efectului Peltier

Also Published As

Publication number Publication date
MD4052B1 (ro) 2010-06-30

Similar Documents

Publication Publication Date Title
Wang et al. Determination of thermoelectric module efficiency: A survey
CN103308416B (zh) 热分析装置
Weathers et al. Thermal transport measurement techniques for nanowires and nanotubes
CN201016950Y (zh) 一种半导体热电性能测试仪
CN104122448A (zh) 一种高温测试夹具
US8684598B2 (en) Thermoelement
KR20170090351A (ko) 곡면형 열전 소자의 특성 측정용 고온 구조체, 이를 이용한 특성 측정 시스템 및 방법
MD4052C1 (ro) Dispozitiv pentru măsurarea conductibilităţii electrice şi forţei termoelectromotoare a materialelor semiconductoare în intervalul de temperaturi 300...1200K
Pearce et al. Self-validating type C thermocouples to 2300° C using high temperature fixed points
CN109725183B (zh) 一种便携式热电势检测仪器用探头
CN102865969B (zh) 压力传感器温度特性的测试装置
SE442147B (sv) Forfarande for kalibrering "in situ" av en i en radioaktiv miljo befintlig apparat for lokal overvakning av effekt jemte anordning for genomforande av forfarandet
JP2007218591A (ja) ハイブリッド型表面温度計、温度分布測定装置及び測定方法
US7553072B2 (en) Performance testing apparatus for heat pipes
US7553073B2 (en) Performance testing apparatus for heat pipes
KR200462931Y1 (ko) 스프링로드 타입 열전대
RU2633405C1 (ru) Устройство для измерений теплопроводности
KR20040110241A (ko) 제벡계수 및 전기전도도 측정장치
RU2393442C1 (ru) Зонд для измерения температуры поверхности тел
KR101383118B1 (ko) 투과전자현미경에서 고온상태로 3차원 분석이 가능한 3축 구동 ｔｒ―홀더
JP2015230215A (ja) 測定装置
Anatychuk et al. Increasing the rapidity of thermal conductivity measurement by the absolute method
CN103411697B (zh) 材料高温力学试验机的铠装热电偶测温装置
JP6325378B2 (ja) センサ装置
Sharma et al. Design, fabrication and calibration of low cost thermopower measurement set up in low-to mid-temperature range

Legal Events

Date Code Title Description
FG4A Patent for invention issued
KA4A Patent for invention lapsed due to non-payment of fees (with right of restoration)
MM4A Patent for invention definitely lapsed due to non-payment of fees