MD4052B1 - Dispozitiv pentru masurarea conductibilitatii electrice si fortei termoelectromotoare a materialelor semiconductoare in intervalul de temperaturi 300...1200K - Google Patents

Dispozitiv pentru masurarea conductibilitatii electrice si fortei termoelectromotoare a materialelor semiconductoare in intervalul de temperaturi 300...1200K Download PDF

Info

Publication number
MD4052B1
MD4052B1 MDA20080262A MD20080262A MD4052B1 MD 4052 B1 MD4052 B1 MD 4052B1 MD A20080262 A MDA20080262 A MD A20080262A MD 20080262 A MD20080262 A MD 20080262A MD 4052 B1 MD4052 B1 MD 4052B1
Authority
MD
Moldova
Prior art keywords
quartz tube
tube
metal
fixed
temperature range
Prior art date
Application number
MDA20080262A
Other languages
English (en)
Other versions
MD4052C1 (ro
Inventor
Nicolae Popovici
Original Assignee
Institutul De Inginerie Electronica Si Tehnologii Industriale Al Academiei De Stiinte A Moldovei
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Institutul De Inginerie Electronica Si Tehnologii Industriale Al Academiei De Stiinte A Moldovei filed Critical Institutul De Inginerie Electronica Si Tehnologii Industriale Al Academiei De Stiinte A Moldovei
Priority to MDA20080262A priority Critical patent/MD4052C1/ro
Publication of MD4052B1 publication Critical patent/MD4052B1/ro
Publication of MD4052C1 publication Critical patent/MD4052C1/ro

Links

Landscapes

  • Investigating Or Analyzing Materials Using Thermal Means (AREA)

Abstract

Inventia se refera la sisteme de cercetare a fenomenelor incercare a sarcinilor electrice in semiconductori si semimetale, si anume de testare a conductibilitatii electrice si fortei termoelectromotoare a materialelor termoelectrice pentru a determina eficienta lor in intervalul de temperaturi 300…1200K. Dispozitivul pentru masurarea conductibilitatii electrice si fortei termoelectromotoare a materialelor semiconductoare in intervalul de temperaturi 300…1200K contine un tub metalic (6), in care sunt amplasate doua termocupluri (11, 12), care contacteaza cu proba (13), conductoare electrice (14, 15). Dispozitivul mai contine un arc (10), o camera de vacuumare si o sursa termica exterioara, amplasata deasupra camerei de vacuumare din partea instalarii probei (13). Dispozitivul include suplimentar un bloc metalic (2), fixat intr-o bucsa metalica (1), montata intru-un tub din cuart (3), fixat in partea superioara a tubului metalic (6) prin intermediul elementului de fixare (4) si al bucsei (5). Dispozitivul mai include un bloc metalic mobil (7) cu orificiu axial pentru termocuplu (12), amplasat in partea superioara a unui tub din cuart (8), partea inferioara a caruia este fixata rigid pe un tub din cuart (19), amplasat in interiorul unui tub din cuart (9) cu posibilitatea deplasarii de-a lungul acestuia. Un tub din cuart (20) este fixat in interiorul tubului din cuart (9). Partea superioara a tubului din cuart (9) este fixata in partea inferioara a tubului metalic (6) prin intermediul elementului de fixare (18) si al bucsei (16), totodata arcul (10) este amplasat pe tubul (19) intre tuburile din cuart (8) si (20). Partea inferioara a tubului din cuart (9) este fixata in partea superioara a unui tub metalic (22) prin intermediul elementului de fixare (21) si al bucsei (23). In blocul metalic (2) si bucsa metalica (1) este executat un orificiu axial pentru termocuplu (11).
MDA20080262A 2008-10-16 2008-10-16 Dispozitiv pentru măsurarea conductibilităţii electrice şi forţei termoelectromotoare a materialelor semiconductoare în intervalul de temperaturi 300...1200K MD4052C1 (ro)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
MDA20080262A MD4052C1 (ro) 2008-10-16 2008-10-16 Dispozitiv pentru măsurarea conductibilităţii electrice şi forţei termoelectromotoare a materialelor semiconductoare în intervalul de temperaturi 300...1200K

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
MDA20080262A MD4052C1 (ro) 2008-10-16 2008-10-16 Dispozitiv pentru măsurarea conductibilităţii electrice şi forţei termoelectromotoare a materialelor semiconductoare în intervalul de temperaturi 300...1200K

Publications (2)

Publication Number Publication Date
MD4052B1 true MD4052B1 (ro) 2010-06-30
MD4052C1 MD4052C1 (ro) 2011-01-31

Family

ID=43568991

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
MDA20080262A MD4052C1 (ro) 2008-10-16 2008-10-16 Dispozitiv pentru măsurarea conductibilităţii electrice şi forţei termoelectromotoare a materialelor semiconductoare în intervalul de temperaturi 300...1200K

Country Status (1)

Country Link
MD (1) MD4052C1 (ro)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
MD430Z (ro) * 2011-02-24 2012-05-31 ИНСТИТУТ ЭЛЕКТРОННОЙ ИНЖЕНЕРИИ И НАНОТЕХНОЛОГИЙ "D. Ghitu" АНМ Dispozitiv pentru măsurarea conductibilităţii termice a materialelor termoelectrice în funcţie de temperatură cu ajutorul efectului Peltier

Family Cites Families (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
SU463008A1 (ru) * 1972-05-10 1975-03-05 Кишиневский Научно-Исследовательский Институт Электроприборостроения Термоэлектрический преобразователь
SU1253358A1 (ru) * 1984-09-18 1996-01-10 Ереванский политехнический институт им.К.Маркса Материал для изготовления терморезисторов с положительным температурным коэффициентом сопротивления
MD855C2 (ro) * 1996-10-25 1998-03-31 Сочиетате Пе Акциунь, Институтул Де Черчетэрь Штиинцифиче "Елири" Procedeu de producere a microconductorului turnat
RU2134436C1 (ru) * 1998-10-06 1999-08-10 Закрытое акционерное общество "ИНЕФ" Пьезопреобразователь
MD1564G2 (ro) * 1999-12-07 2001-05-31 Uzina De Pompe Submersibile "Hidropompa", S.A. Procedeu de umplere a statorului maşinii electrice
RU2231688C2 (ru) * 2000-03-31 2004-06-27 Авдеев Леонид Алексеевич Термоэлемент
DE10028319A1 (de) * 2000-06-07 2001-12-13 Endress Hauser Gmbh Co Elektromechanischer Wandler
MD2510G2 (ro) * 2003-02-18 2005-06-30 ИОЙШЕР Анатол Nanostructură şi procedeu de confecţionare a acesteia
MD20050370A (ro) * 2005-12-12 2007-08-31 Технический университет Молдовы Instalaţie de turnare a firelor conductoare din metale în fază lichidă
MD3579C2 (ro) * 2006-05-02 2008-11-30 Институт Электронной Инженерии И Промышленных Технологий Академии Наук Молдовы Procedeu de obţinere a microfirelor semimetalice de bismut în izolaţie de sticlă de molibden
MD3691C2 (ro) * 2007-05-10 2009-03-31 Акционерное Общество Научно-Исследовательский Институт "Eliri" Procedeu de confecţionare a unei nanostructuri filiforme

Also Published As

Publication number Publication date
MD4052C1 (ro) 2011-01-31

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR20130028377A (ko) 열전소자 평가 장치
CN101413908B (zh) 薄膜温差电材料赛贝克系数测试系统及方法
MD4052B1 (ro) Dispozitiv pentru masurarea conductibilitatii electrice si fortei termoelectromotoare a materialelor semiconductoare in intervalul de temperaturi 300...1200K
CN108061738A (zh) 一种样品热导率和热电势的测量装置及方法
CN102865969B (zh) 压力传感器温度特性的测试装置
Pearce et al. Self-validating type C thermocouples to 2300 C using high temperature fixed points
KR20100057118A (ko) 온도 가변형 프로브 스테이션
CN209878636U (zh) 一种热电参数测试装置
CN109725183B (zh) 一种便携式热电势检测仪器用探头
Akbi A method for measuring the photoelectric work function of contact materials versus temperature
Taylor et al. Measurement of thermal conductivity using steady-state isothermal conditions and validation by comparison with thermoelectric device performance
Iero et al. Heat flux sensor for power loss measurements of switching devices
MD3463F1 (ro) Dispozitiv pentru masurarea rezistentei elementelor din conductor izolat in procesul ajustarii la nominal
WO2017157431A1 (en) Arrangement and method for determining a measurement value for a power cable
CN203688603U (zh) 电子材料电性能温度特性测试用试样夹装装置
KR101848012B1 (ko) 열전 반도체의 열전도도 및 열전 성능지수 측정방법
CN110709690B (zh) 用于确定处理室内气体的露点的装置以及具有用于确定露点的装置的热处理装置
Lee et al. Impedance spectroscopy-based electrical equivalent model of a thermoelectric module for the figure of merit (ZT)
Sharma et al. Design, fabrication and calibration of low cost thermopower measurement set up in low-to mid-temperature range
RU164970U1 (ru) Устройство контроля термоиндикаторных сплавов
RU1790759C (ru) Способ измерени коэффициента теплопроводности электропровод щего образца
RU2356038C1 (ru) Установка для определения эффективной теплопроводности порошково-вакуумной и экранно-вакуумной теплоизоляций
RU50658U1 (ru) Датчик температуры
Nettleton On a special apparatus for the measurement at various temperatures of the Thomson effect in wires
RU136161U1 (ru) Устройство для измерения температуры твердой поверхности

Legal Events

Date Code Title Description
FG4A Patent for invention issued
KA4A Patent for invention lapsed due to non-payment of fees (with right of restoration)
MM4A Patent for invention definitely lapsed due to non-payment of fees