MD1065Y - Dispozitiv și metodă de măsurare a rezistenţei senzorilor pe bază de oxizi semiconductori nanostructuraţi - Google Patents
Dispozitiv și metodă de măsurare a rezistenţei senzorilor pe bază de oxizi semiconductori nanostructuraţi Download PDFInfo
- Publication number
- MD1065Y MD1065Y MDS20150148A MDS20150148A MD1065Y MD 1065 Y MD1065 Y MD 1065Y MD S20150148 A MDS20150148 A MD S20150148A MD S20150148 A MDS20150148 A MD S20150148A MD 1065 Y MD1065 Y MD 1065Y
- Authority
- MD
- Moldova
- Prior art keywords
- measuring
- resistance
- sensors based
- semiconductor oxides
- nanostructured semiconductor
- Prior art date
Links
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 title abstract 4
- 238000000034 method Methods 0.000 title abstract 2
Landscapes
- Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)
Abstract
Invenţia se referă la domeniul tehnicii de măsurare şi poate fi utilizată în aparate de măsurat, în care se utilizează senzori pe bază de oxizi semiconductori nanostructuraţi.Dispozitivul de măsurare a rezistenţei senzorilor pe bază de oxizi semiconductori nanostructuraţi include o sursă de tensiune de referinţă (1) conectată la un voltmetru (6) şi unită în serie cu senzorul nanostructurat cercetat (2) şi cu un rezistor suplimentar (3), la nodul de conectare a căruia cu senzorul (2) este conectată intrarea unui amplificator (4). Ieşirea amplificatorului (4) este conectată la un voltmetru (5), totodată rezistorul (3), nodurile comune ale sursei de tensiune de referinţă (1), amplificatorul (4) şi voltmetrele (5 şi 6) sunt conectate la masă.Metoda de măsurare a rezistenţei senzorilor pe bază de oxizi semiconductori nanostructuraţi constă în aceea că se măsoară tensiunea U1 a sursei de tensiune de referinţă, se măsoară tensiunea U3 pe rezistorul suplimentar, se calculează valoarea tensiunii care cade pe senzorul cercetat conform formulei Ux=U1-U3, şi se calculează valoarea curentului care trece prin senzorul cercetat conform formulei Ix=U3/R3. Calcularea valorii rezistenţei senzorului Rx se efectuează conform legii lui Ohm, utilizând valorile obţinute Ux şi Ix.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| MDS20150148A MD1065Z (ro) | 2015-11-09 | 2015-11-09 | Dispozitiv şi metodă de măsurare a rezistenţei senzorilor pe bază de oxizi semiconductori nanostructuraţi |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| MDS20150148A MD1065Z (ro) | 2015-11-09 | 2015-11-09 | Dispozitiv şi metodă de măsurare a rezistenţei senzorilor pe bază de oxizi semiconductori nanostructuraţi |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| MD1065Y true MD1065Y (ro) | 2016-08-31 |
| MD1065Z MD1065Z (ro) | 2017-03-31 |
Family
ID=56855222
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| MDS20150148A MD1065Z (ro) | 2015-11-09 | 2015-11-09 | Dispozitiv şi metodă de măsurare a rezistenţei senzorilor pe bază de oxizi semiconductori nanostructuraţi |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| MD (1) | MD1065Z (ro) |
Family Cites Families (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| SU1597802A1 (ru) * | 1987-04-17 | 1990-10-07 | Институт радиофизики и электроники АН АрмССР | Устройство дл измерени параметров источников питани |
| RU19420U1 (ru) * | 2001-05-18 | 2001-08-27 | Общество с ограниченной ответственностью "Связьприбор" | Устройство для измерения электрических параметров и определения места повреждения кабельных линий |
| US8263002B1 (en) * | 2008-05-16 | 2012-09-11 | University Of Central Florida Research Foundation, Inc. | Fabrication of ZnO nanorod-based hydrogen gas nanosensor |
| RU2541723C1 (ru) * | 2013-09-17 | 2015-02-20 | Федеральное Государственное Бюджетное Образовательное Учреждение Высшего Профессионального Образования "Донской Государственный Технический Университет" (Дгту) | Прецизионный аналого-цифровой интерфейс для работы с резистивными микро- и наносенсорами |
-
2015
- 2015-11-09 MD MDS20150148A patent/MD1065Z/ro not_active IP Right Cessation
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| MD1065Z (ro) | 2017-03-31 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JP2016114585A5 (ro) | ||
| MY187633A (en) | Gas concentration detecting device | |
| PL398277A1 (pl) | Sposób sterowania elektrodami do pomiaru bioimpedancyjnych i urzadzenie do pomiarów bioimpedancyjnych | |
| MD1065Y (ro) | Dispozitiv și metodă de măsurare a rezistenţei senzorilor pe bază de oxizi semiconductori nanostructuraţi | |
| CN204269734U (zh) | 一种独立的高压绝缘监测装置 | |
| MD444Z (ro) | Impedanţmetru | |
| MD445Z (ro) | Impedanţmetru | |
| VERJBIŢKI et al. | Device and method for measuring the resistance of sensors based on nanostructured semiconductor oxides | |
| MD1269Z (ro) | Dispozitiv şi metodă de măsurare a rezistenţei senzorului pe bază de oxizi semiconductori nanostructuraţi în diapazon de ordinul microwaţilor | |
| TW201443446A (zh) | 負電壓檢知裝置 | |
| WO2011137708A3 (zh) | 电阻检测装置及方法 | |
| CN105675952A (zh) | 电流测量装置、方法及其制作方法 | |
| CN106841806B (zh) | 一种钢轨电阻的测量装置及方法 | |
| CN204228921U (zh) | 一种无源便携式非电量直跳继电器测试仪 | |
| 박소연 et al. | Precision electrical measurement experiment using a lock-in amplifier that is suitable for science and engineering undergraduates | |
| MD1270Z (ro) | Dispozitiv de măsurare a parametrilor senzorului pe bază de oxizi semiconductori nanostructuraţi în diapazon de ordinul microwaţilor | |
| RU86755U1 (ru) | Среднеквадратический преобразователь | |
| JP2019193433A5 (ro) | ||
| RU2596905C1 (ru) | Способ уменьшения температурной погрешности датчика холла | |
| MD859Y (en) | Method for measuring impedance components | |
| PL410735A1 (pl) | Sposób obserwowania urządzenia elektrycznego i strażnik urządzenia elektrycznego | |
| MX373489B (es) | Aparato de proteccion. | |
| MD1023Y (ro) | Dispozitiv de măsurare a parametrilor senzorilor pe bază de oxizi semiconductori micro- și nanostructuraţi | |
| UA108581C2 (en) | Method of overredundant (superredundant) resistance measurement of resistors and resistive sensors | |
| PL407423A1 (pl) | Sposób ograniczenia wpływu odkształcenia napięcia sieci na dokładność pomiaru impedancji uziemienia metodą techniczną |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| FG9Y | Short term patent issued | ||
| KA4Y | Short-term patent lapsed due to non-payment of fees (with right of restoration) |