MD1270Z - Dispozitiv de măsurare a parametrilor senzorului pe bază de oxizi semiconductori nanostructuraţi în diapazon de ordinul microwaţilor - Google Patents

Abstract

Invenţia se referă la domeniul tehnicii de măsurare şi poate fi utilizată în aparate de măsurat, în care se utilizează senzori pe bază de oxizi semiconductori nanostructuraţi.Dispozitivul de măsurare a parametrilor senzorului pe bază de oxizi semiconductori nanostructuraţi în diapazon de ordinul microwaţilor include o sursă de tensiune de referinţă reglabilă, conectată în serie cu un senzor cercetat şi o rezistentă etalon, căderea totală a tensiunii pe senzor şi rezistenţa etalon şi, separat, căderea de tensiune pe rezistenţa etalon fiind aplicate la intrările a două convertoare analogic-digitale ale unui microcontroler prin două amplificatoare operaţionale, ieşirile microcontrolerului sunt conectate print-un convertor digital-analogic la intrarea sursei de tensiune de referinţă reglabilă şi la un ecran pentru afişarea rezultatelor obţinute.