LT5930B - Materialinių išteklių identifikavimo būdas - Google Patents
Materialinių išteklių identifikavimo būdas Download PDFInfo
- Publication number
- LT5930B LT5930B LT2011058A LT2011058A LT5930B LT 5930 B LT5930 B LT 5930B LT 2011058 A LT2011058 A LT 2011058A LT 2011058 A LT2011058 A LT 2011058A LT 5930 B LT5930 B LT 5930B
- Authority
- LT
- Lithuania
- Prior art keywords
- nanofilm
- identification
- matrix
- identification number
- evaporation
- Prior art date
Links
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 35
- 239000000463 material Substances 0.000 title claims abstract description 7
- 239000002120 nanofilm Substances 0.000 claims abstract description 30
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 claims abstract description 9
- 238000001704 evaporation Methods 0.000 claims abstract description 6
- 230000008020 evaporation Effects 0.000 claims abstract description 6
- 239000002105 nanoparticle Substances 0.000 claims description 5
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 claims description 2
- 238000009833 condensation Methods 0.000 claims description 2
- 230000005494 condensation Effects 0.000 claims description 2
- 150000002500 ions Chemical class 0.000 claims description 2
- 229910045601 alloy Inorganic materials 0.000 claims 2
- 239000000956 alloy Substances 0.000 claims 2
- 230000008021 deposition Effects 0.000 claims 2
- 238000002513 implantation Methods 0.000 claims 1
- 238000002347 injection Methods 0.000 claims 1
- 239000007924 injection Substances 0.000 claims 1
- 230000002427 irreversible effect Effects 0.000 claims 1
- 238000013507 mapping Methods 0.000 claims 1
- 238000000053 physical method Methods 0.000 abstract 1
- 230000003746 surface roughness Effects 0.000 abstract 1
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 5
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 3
- 238000005299 abrasion Methods 0.000 description 1
- 238000000151 deposition Methods 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 238000001208 nuclear magnetic resonance pulse sequence Methods 0.000 description 1
- 239000002245 particle Substances 0.000 description 1
- 230000003252 repetitive effect Effects 0.000 description 1
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 1
Landscapes
- Physical Vapour Deposition (AREA)
- Manufacturing Of Electric Cables (AREA)
- Non-Insulated Conductors (AREA)
Abstract
Išradimas yra priskiriamas materialinių resursų identifikavimo sričiai ir gali būti panaudotas elektrai laidžių detalių žymėjimui. Materialinių išteklių identifikavimo būdas, užnešant ant identifikavimo žymės identifikavimo numerį, informacinį tinklelį ir neatgaminamą matricą, formuojant fizikiniais metodais paviršių bei įvedant į duomenų bazę identifikavimo numerį. Nauja yra tai, kad neatgaminamą matricą formuoja atskirai nuo gaminio ant nanoplėvelės stohastiškai pagal taškinį nanoplėvelės sričių išgarinimą arba sudarant joje paviršiaus nelygumus ir vėliau užneša ant objekto ( gaminio) paviršiaus.
Description
Išradimas yra priskiriamas materialių resursų indentifikavimo sričiai ir gali būti panaudotas elektrai laidžių detalių žymėjimui, pavyzdžiui, transporto priemonių kurių paviršiai padengti nanoplėvele.
Žinomas kietų medžiagų indentifikavimo būdas (žiūr. Moldavijos respublikos patentas Nr.3390, G08 G 1/017, 1999) paviršiaus žymėjimą atliekant greitaeigio dalelių srauto pagalba. Toks indentifikavimo būdas gali būti taikomas tik palyginus minkštiems metaliniams paviršiams žymėti.
Taip pat žinoma, kad tikslu padidinti metalinių paviršių kietumą, atsparumą trinčiai ir kitiems iš anksto programuojamiems paviršių kokybės parametrams užtikrinti, jų paviršiai padengiami nanoplevele.
Žinomas metalinių detalių indentifikavimo būdas (žiūr. Moldavijos respublikos patentas Nr.3389, G08 G 1/017, 1999) kuriuo metalinių detalių paviršiai žymimi sudarant ant jų informacinį tinklelį ir neatgaminamą matricą taip , kad elektrinė iškrova tarp žymės ir elektrodo ir bendro indentifikavimo numerio bei neatkuriamos matricos patenka į duomenų bazę. Nurodyto analogo trūkumas tai ,kad kibirkštinės iškrovos metalo paviršiuje palieka neprognozuojamą formą. Ši savybė garantuoja objekto atpažinimą kuomet vyksta indentifikavimo ekspertizė kurios metu ekspertas sulygina dėmes ant žymės (Fig.l) su dėmėmis esančiomis duomenų bazėje. Fig.l matome , kad tarp kibirkštinės iškrovos padarytų dėmių yra daugybė kliuvinių niekaip nesusietų su kibirkštinės iškrovos procesu. Tai apsunkina indentifikavimo proceso automatizavimą, kadangi sudėtinga apibrėžti kibirkštinės iškrovos padarytą dėmę o tuo pačiu formuoti objektyvią duomenų bazę.
Yra žinomas neatkartojamas indentifikavimo žymės užnešimo būdas (žiūr. RF teigiamas sprendimas pagal paraišką Nr.2007119974) kurio metu žymė padalinama į keletą sričių, kas leidžia vykdyti tam tikrus technologinius procesus. Tokiu būdu sudėtinga į ploto vienetą sutalpinti daugybę sričių ir tuo pačiu valdyti procesą apsaugant kitas sritis dielektriniu trafaretu.
Šis būdas priimamas kaip prototipas.
Šio išradimo tikslas - padidinti neatkartojamos indentifikavimo žymės užnešimo būdo efektyvumą.
Išradimo tikslas pasiekiamas tuo, kad gamybos proceso metu ant indentifikavimo žymės užnešamas indentifikavimo numeris , informacinis tinklelis ir neatgaminama matrica vienu iš nurodytu fizikiniu veiksmu: realizuojant iškrovą tarp žymės ir elektrodo; impulsinio lazerio poveikiu; plazminiu metodu; garinimo ir kondensavimo metodu; elektronų , atomų jonų ir atskirų nanodalelių klasteriu įvedimu panaudojant pirminę emisiją ir bendru indentifikavimo numerio bei neatkartojamos matricos įvedimu į duomenų bazę.
Pateikto būdo ypatumas yra tas , kad neatkartojama matrica formuojama atskirai nuo gaminio (objekto) ant nanoplėvelės stohastiškai pagal taškinį sričių išgarinimą arba sudarant joje paviršiaus nelygumus ir vėliau užnešant ant objekto paviršiaus. Tokiu metodu kibirkštinė iškrova ant nanoplėvelės formuoja individualias skylutes. Skanuojant taip paruoštą nanoplėvelę (Fig.2),ryškiai matomi dėmės kontūrai, kuriuos paliko kibirkštinės iškrovos procesas ir taip išvengiamas neapibrėžtumas ir visi kliuviniai duomenų bazių formavimui. Taip paruošta nanoplėvelė t.y. turinti nanožymės savybes, pagal žinoma metodiką užnešama ant gaminio (objekto) paviršiaus.Zinoma daugybė nanoplėvėlių užnešimo būdų, kurie reikalauja pačios plėvelės savybių suderinimo su gaminio (objekto) paviršiaus savybėmis. Nepageidaujama naudoti nanoplėvelę su nanožymės savybėmis tose vietose kur yra ypatingai didelė trintis.
Fig.3 pavaizduota įrenginio schema (vaizdas iš šono), pagal kurią ant nanoplėvelės formuojami visi indentifikavimo žymės parametrai.
Įrenginį sudaro aukštos įtampos smailas elektrodas 1, prijungtas prie aukštos įtampos šaltinio 2, kondensatorius 3, nanoplėvelė 4, gaminys (objektas) indentifikavimui, kuris tiesiogiai nesusietas su kibirkštinės iškrovos procesu ir ant kurio paviršiaus vėliau užnešama nanoplėvelė.
Fig.4 pavaizduota nanoplėvelės 4 schema (vaizdas iš viršaus), kuri turi indentifikavimo numerį 6, informacinį tinklelį 7 ir neatkartojamą matricą 8, sudaryta iš taškų rinkinio atsiradusio po išgarinimo proceso.
Pirmas būdo realizavimo pavyzdys:
Būdui realizuoti buvo panaudota 100-110 nanometrų storio nanoplėvelė.
Tarpelis tarp nanoplėvelės ir aukštos įtampos smailaus elektrodo palaikomas tarp 15 ir 20 milimetrų. Į elektrodą iš aukštos įtampos šaltinio paduodama 18-22 kilovoltų įtampa per iškrovos kondensatorių kurio talpumas nuo 470 iki 1000 pikofaradų. Indentifikavimo žymės užnešimo proceso metu t.y. 30-40 sekundžių laike ant nanoplėvelės užfiksuota nuo 80 iki 120 įvairių pagal matmenys ir formą skylučių. Tikimybė atgaminti tokią nanoplėvelę praktiškai nereali.
Antras būdo realizavimo pavyzdys:
Būdui realizuoti buvo panaudota 300-350 nanometrų storio nanoplėvelė.Tarpelis tarp nanoplėvelės ir aukštos įtampos smailaus elektrodo palaikomas tarp 12 ir 16 milimetrų. Į elektrodą iš aukštos įtampos šaltinio paduodama 14-16 kilovoltų įtampa per iškrovos kondensatorių kurio talpumas nuo 200 iki 470 pikofaradų. Indentifikavimo žymės užnešimo proceso metu t.y. 30-40 sekundžių laike ant nanoplėvelės užfiksuota nuo 60 iki 80 įvairių pagal matmenys ir formą skylučių. Šiuo atveju ant palyginus storos nanoplėvelės buvo mažesnis skylučių kiekis dėl nepakankamos aukštos įtampos šaltinio energijos. Tačiau tikimybė atgaminti tokią nanoplėvelę praktiškai nereali.
Trečias būdo realizavimo pavyzdys:
Įrangoje panaudotas lazeris kurio impulso energija iki 10 džiaulių ir impulso trukmė nuo 10'3 iki 104 sekundės. Būsima nanoplėvelė buvo formuojama ant šaldomo padėklo, esančio vakuuminėje kameroje su optiškai skaidriu lazerio spinduliui langeliu. Šiuo metodu formuojant nanoplėvelę gavosi daugybė paviršinių efektų, kurių pagalba galima sudaryti informacinio įrašo sritis.
Ketvirtas būdo realizavimo pavyzdys:
Įrangoje panaudotas dujų iškrovos šaltinis ΗΠΦ-800, esantis vakuuminėje kameroje. Prie impulsų sekos dažnio iki 10 hercų, trukmės 10'3 sekundės ir energijos iškrovos 800 džiaulių gaunamas temperatūros rėžimas iki 25.000° Kelvino kurio metu atomai;
nanodalelės;nanodalelių klasteriai išgaruoja iš paviršiaus tuo būdu formuodami nanoplėvelėje žymių su neribotu kiekiu informacinio įrašo sričių.
Claims (5)
- Išradimo apibrėžtis1. Materialinių išteklių identifikavimo būdas, užnešant ant identifikavimo žymės indentifikavimo numerį, informacinį tinklelį ir neatgaminamą matricą, formuojant fizikiniais metodais paviršių bei įvedant į duomenų bazę indentifikavimo numerį b e si skiriantis tuo, kad neatgaminamą matricą formuoja atskirai nuo gaminio(objekto) ant nanoplėvelės stohastiškai pagal taškinį nanoplėvelės sričių išgarinimą arba sudarant joje paviršiaus nelygumus ir vėliau užneša ant (gaminio) objekto paviršiaus.
- 2. Būdas pagal 1 punktą, besiskiriantis tuo, kad nanoplėvelės užnešimą gali vykdyti atominiais sluoksniais Xj ( kur i = 1,2,3...sluoksnių skaičius) angstremais, kas leidžia formuoti daugybę įvairiausių žymių, įgalinančių fiksuoti technologinius reikalavimus gaminiui (objektui).
- 3. Būdas pagal 2 punktą, besiskiriantis tuo, kad nanoplėvelės gali formuoti iš įvairių medžiagų bei jų lydinių panaudojant užpurškimo technologijas.
- 4. Būdas pagal 3 punktą, besiskiriantis tuo, kad nanoplėvelės gali formuoti iš įvairių medžiagų bei jų lydinių panaudojant lazerinį nusodinimą, plazminį metodą, išgarinimą ir kondensaciją, o taip pat pirminę emisiją ir elektronų implantaciją, atomus, jonus , fotonus, nanodaleles bei nanodalelių klasterius.
- 5. Būdas pagal 2,3 punktus, besiskiriantis tuo, kad paminėtuose punktuose nurodytas operacijas tarpusavyje gali derinti.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| LT2011058A LT5930B (lt) | 2011-06-21 | 2011-06-21 | Materialinių išteklių identifikavimo būdas |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| LT2011058A LT5930B (lt) | 2011-06-21 | 2011-06-21 | Materialinių išteklių identifikavimo būdas |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| LT2011058A LT2011058A (lt) | 2012-12-27 |
| LT5930B true LT5930B (lt) | 2013-04-25 |
Family
ID=47427718
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| LT2011058A LT5930B (lt) | 2011-06-21 | 2011-06-21 | Materialinių išteklių identifikavimo būdas |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| LT (1) | LT5930B (lt) |
Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| MD3390F2 (en) | 2004-02-27 | 2007-08-31 | Vladimir Schiliov | Process for identification of articles |
| MD3389F2 (en) | 2004-02-27 | 2007-08-31 | Vladimir Schiliov | Process for identification of the current-conducting object |
| RU2007119974A (ru) | 2007-05-30 | 2008-12-10 | Владимир Дмитриевич Шкилев (RU) | Способ внесения дополнительной технологической информации в идентификационную невоспроизводимую метку |
-
2011
- 2011-06-21 LT LT2011058A patent/LT5930B/lt not_active IP Right Cessation
Patent Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| MD3390F2 (en) | 2004-02-27 | 2007-08-31 | Vladimir Schiliov | Process for identification of articles |
| MD3389F2 (en) | 2004-02-27 | 2007-08-31 | Vladimir Schiliov | Process for identification of the current-conducting object |
| RU2007119974A (ru) | 2007-05-30 | 2008-12-10 | Владимир Дмитриевич Шкилев (RU) | Способ внесения дополнительной технологической информации в идентификационную невоспроизводимую метку |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| LT2011058A (lt) | 2012-12-27 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| RU2667926C2 (ru) | Способ и система для маркирования объекта, имеющего поверхность из проводящего материала | |
| Winiarski et al. | Surface decoration for improving the accuracy of displacement measurements by digital image correlation in SEM | |
| US8993071B2 (en) | Method for manufacturing magnetic recording medium | |
| Selivonin et al. | Effect of electrode degradation on the electrical characteristics of surface dielectric barrier discharge | |
| TWI748309B (zh) | 藉由帶電粒子束系統掃描樣本之方法 | |
| JP2013519991A (ja) | 基板の表面をパターニングするためのプラズマ放電を発生させる装置および方法 | |
| US9457426B2 (en) | Method of manufacturing mask | |
| US20040007183A1 (en) | Apparatus and method for the formation of thin films | |
| LT5930B (lt) | Materialinių išteklių identifikavimo būdas | |
| CN102203856B (zh) | 离子注入装置 | |
| RU2544714C2 (ru) | Способ изготовления и установки метки | |
| JP2020019991A5 (lt) | ||
| Quesada et al. | New concepts for production of scalable single layer oxidized regions by local anodic oxidation of graphene | |
| CN106756801A (zh) | 一种蒸镀设备及蒸镀工艺 | |
| KR101136258B1 (ko) | 내부에 나노 개구 구비 금속막이 형성된 소자의 제조방법, 그 방법으로 제조된 나노 소자, 광학렌즈 및 플라즈모닉 광학헤드 | |
| CN118231218A (zh) | 集成到离子捕集中的磁场线圈 | |
| KR100937935B1 (ko) | 본딩 와이어 표면의 고분자 수지 절연체 막의 두께 측정방법 | |
| RU2661127C2 (ru) | Способ создания идентификационной метки на металлическом фильтре | |
| RU2656622C2 (ru) | Способ создания идентификационной метки | |
| CN105865861A (zh) | 一种制备失效分析样品的方法 | |
| RU2650460C1 (ru) | Способ создания идентификационной метки на металлическом носителе | |
| JP2005029839A (ja) | 蒸発容器、蒸発源および真空蒸着方法 | |
| JP2005233743A (ja) | 表面層評価方法 | |
| JPH03502213A (ja) | 基板上への物質のデポジション | |
| Rossignol et al. | Experimental approach of the interaction between a sub-microscopic cathode tip and the plasma |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| BB1A | Patent application published |
Effective date: 20121227 |
|
| FG9A | Patent granted |
Effective date: 20130425 |
|
| MM9A | Lapsed patents |
Effective date: 20130621 |