KR980005423A - 이온주입시스템의 진공처리장치 - Google Patents
이온주입시스템의 진공처리장치 Download PDFInfo
- Publication number
- KR980005423A KR980005423A KR1019960022348A KR19960022348A KR980005423A KR 980005423 A KR980005423 A KR 980005423A KR 1019960022348 A KR1019960022348 A KR 1019960022348A KR 19960022348 A KR19960022348 A KR 19960022348A KR 980005423 A KR980005423 A KR 980005423A
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- vacuum
- line
- valve
- ion implantation
- processing apparatus
- Prior art date
Links
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J37/00—Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
- H01J37/30—Electron-beam or ion-beam tubes for localised treatment of objects
- H01J37/317—Electron-beam or ion-beam tubes for localised treatment of objects for changing properties of the objects or for applying thin layers thereon, e.g. for ion implantation
- H01J37/3171—Electron-beam or ion-beam tubes for localised treatment of objects for changing properties of the objects or for applying thin layers thereon, e.g. for ion implantation for ion implantation
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J37/00—Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
- H01J37/02—Details
- H01J37/18—Vacuum locks ; Means for obtaining or maintaining the desired pressure within the vessel
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J2237/00—Discharge tubes exposing object to beam, e.g. for analysis treatment, etching, imaging
- H01J2237/18—Vacuum control means
- H01J2237/182—Obtaining or maintaining desired pressure
- H01J2237/1825—Evacuating means
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Physical Vapour Deposition (AREA)
- Measuring Fluid Pressure (AREA)
Abstract
본 발명은 반도체장치의 제조에 사용되는 이온주입시스템의 진공처리장치에 있어서 이온주입시스템의 프로세스 챔버를 배기하여 고진공상태로 하기 위한 과정에서 진공라인의 저진공정도를 검출하기 위한 저진공측정용 게이지가 진공라인에 결합되는 구조에 관한 것으로서, 그 구성은 이온주입이 진행되는 프로세스챔버를 진공상태로 유지하기 위한 진공펌프(10) 및 상기 프로세스챔버와 상기 진공펌프사이에 있는 진공라인(20)을 구비하고, 또한 상기 진공라인(20)의 진공상태를 검출하기 위해 연통되어 있는 진공측정라인(40)과; 상기 진공라인(20)과 상기 진공측정라인(40)사이에서 전기적 제어에 의해 개폐작동하는 제1밸브(50)와, 상기 진공측정라인(40)과 그의 배기구(41)사이에 설치되어 있는 제2밸브(60) 및; 상기 제1밸브(50)와 제2밸브(60)사이에서 상기 진공측정라인(40)에 설치되어 있는 진공측정용 게이지(30)를 포함한다.
Description
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제2도는 본 발명의 실시예에 따른 이온주입장치의 저진공측정용 게이지가 진공라인에 결합된 구조를 보여주고 있는 도면.
Claims (5)
- 이온주입이 진행되는 프로세스챔버를 진공상태로 유지하기 위한 진공펌프 (10) 및 상기 프로세스챔버와 상기 진공펌프사이에 있는 진공라인(20)을 구비하고 있는 이온주입장치의 진공처리장치에 있어서, 상기 진공라인(20)의 진공상태를 검출하기 위해 연통되어 있는 진공측정라인(40)과; 상기 진공라인(20)과 상기 진공라인(40)과 상기 진공라인(20)사이에서 전기적 제어에 의해 개폐작동하는 제1밸브 (50)와, 상기 진공측정라인(40)과그의 배기구(41)사이에 설치되어 있는 제2밸브 (60) 및; 상기 제1밸브(50)와 제2밸브(60)사이에서 상기 진공측정라인(40)에 설치되어 있는 진공측정용 게이지(30)를 포함하는 것을 특징으로 하는 진공처리장지.
- 제1항에 있어서, 상기 진공측정용 게이지(30)는 저진공측정용 게이지인 것을 포함하는 것을 특징으로 하는 진공처리장치.
- 제2항에 있어서, 상기 진공측정용 게이지는 써머커플 게이지(thermalcouple gauge)인 것을 특징으로 하는 진공처리장치.
- 제1항에 있어서, 상기 제1밸브(50)는 전기적 제어에 의해 작동하는 솔레노이드 밸브인 것을 특징으로 하는 진공처리장치.
- 제1항에 있어서, 상기 제2밸브(60)는 수동으로 작동하는 리크체크밸브인 것을 특징으로 하는 진공처리장치.※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1019960022348A KR100195865B1 (ko) | 1996-06-19 | 1996-06-19 | 이온주입시스템의 진공처리 장치 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1019960022348A KR100195865B1 (ko) | 1996-06-19 | 1996-06-19 | 이온주입시스템의 진공처리 장치 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR980005423A true KR980005423A (ko) | 1998-03-30 |
KR100195865B1 KR100195865B1 (ko) | 1999-06-15 |
Family
ID=19462504
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1019960022348A KR100195865B1 (ko) | 1996-06-19 | 1996-06-19 | 이온주입시스템의 진공처리 장치 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
KR (1) | KR100195865B1 (ko) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR20160003318U (ko) | 2015-03-18 | 2016-09-28 | 유종혁 | 해루질용 작살 뜰채 |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100725102B1 (ko) | 2006-01-24 | 2007-06-04 | 삼성전자주식회사 | 이온주입설비의 러핑밸브 오동작 감지장치 |
-
1996
- 1996-06-19 KR KR1019960022348A patent/KR100195865B1/ko not_active IP Right Cessation
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR20160003318U (ko) | 2015-03-18 | 2016-09-28 | 유종혁 | 해루질용 작살 뜰채 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
KR100195865B1 (ko) | 1999-06-15 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US3762212A (en) | Leak testing apparatus and methods | |
KR19980702019A (ko) | 테스트 가스 누출 검출기 | |
TW326072B (en) | Leakage seeker using counter-flow | |
CO4520260A1 (es) | Sistema de monitoreo y relevo de un fluido de alta presion | |
ATE391340T1 (de) | Massenspektrometersystem | |
KR980005423A (ko) | 이온주입시스템의 진공처리장치 | |
DE3771921D1 (de) | Heliumlecksuchanlage. | |
ATE111597T1 (de) | Nach dem gegenstromprinzip arbeitendes tragbarer helium-lecksuchgerät zum prüfen von anlagen, die eine eigene pumpengruppe zur verfügung haben. | |
US5226314A (en) | Tracer-gas leak detector | |
JPH11304633A (ja) | エアーリーク検出装置 | |
FR2366553A1 (fr) | Procede et dispositif de controle d'etancheite a partir de l'helium naturel de l'air | |
JP3149226B2 (ja) | 漏れ検出装置 | |
GB1382720A (en) | Leak detecting system and method for passing a measured sample of gas to a leak detector | |
JPS6441685A (en) | Testing device for pump | |
Nelson | The Hydrogen Gauge—An Ultra‐Sensitive Device for Location of Air Leaks in Vacuum‐Device Envelopes | |
JPH07286928A (ja) | ヘリウムリークディテクタ | |
MX2022014205A (es) | Dispositivo para detectar un analito en una muestra. | |
JP2661592B2 (ja) | 吸引型隔膜式ガス検知器およびガス検知方法 | |
KR0122311Y1 (ko) | 반도체 제조용 챔버의 압력감지장치 | |
JP2002277342A (ja) | 漏洩試験装置 | |
KR970071997A (ko) | 진공계를 구비한 진공 장치 | |
SU1610355A1 (ru) | Устройство дл контрол герметичности полых изделий | |
SU877379A1 (ru) | Устройство дл контрол герметичности изделий | |
JPS55109958A (en) | Mass spectrometer | |
KR100359995B1 (ko) | 반도체장비용 오링의 기밀성시험장치 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A201 | Request for examination | ||
E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
GRNT | Written decision to grant | ||
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20070125 Year of fee payment: 9 |
|
LAPS | Lapse due to unpaid annual fee |