KR980003674A - Lcd 모듈의 자동 화질 검사 장치 및 방법 - Google Patents
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Abstract
본 발명은 LCD 모듈에 모이레 무늬를 주사하고 이를 해석함으로 CCD 카메라의 수직 위치 맞춤을 실시하여 상기 LCD 모듈의 화소 정보를 보다 고정도로 검사하는 LCD 모듈의 자동 화질 검사 장치 및 방법에 관한 것으로서, LCDD모듈에 모이레 무늬를 주사하고 CCD 카메라를 통해 이를 획득하여 해석함으로 CCD 카메라의 수직위치 맞춤을 실시하기 때문에 상기 LCD 모듈과 CCD 카메라 사이에서 발생하는 광학적 오차를 해결하여 상기 LCD 모듈을 보다 정밀하게 검사할 수 있고 LCD 모듈의 제품 신뢰성이 향상되는 효과가 있는 것이다.
Description
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제3도는 본 발명에 의한 LCD 모듈의 자동 화질 검사 장치의 블록도.
제4도는 본 발명에 의한 기준 격자광 형성부의 상세 구성도.
제5도는 본 발명에 의한 LCD 모듈의 자동 화질 검사 방법을 도시한 흐름도이다.
Claims (6)
- CCD 카메라와 위치 제어부로 구성된 LCD 모듈의 자동 화질 검사 장치에 있어서, 레이저 구동을 위한 전원을 공급하는 레이저 전원 발생부와, 상기 레이저 전원 발생부의 전원을 공급받아 레이저 빔을 발생시키고 발생된 레이저 빔으로 격자광을 생성시켜 LCD 모듈에 모이레 무늬를 주사하는 기준 격자광 형성부와, 상기 CCD 카메라에 입력된 모이레 무늬를 분석하는 주 컴퓨터와, 상기 위치 제어부가 상기 주 컴퓨터에서 분석된 데이터를 입력받아 상기 CCD 카메라의 수직 위치 맞춤을 위한 펄스를 출력하면 이를 입력받아 상기 CCD 카메라의 수직 2축 위치 맞춤을 행하는 수직 위치 조정부를 포함하여 구성된 것을 특징으로 하는 LCD 모듈의 자동화질 검사 장치.
- 제1항에 있어서, 상기 기준 격자광 형성부는 레이저 전원 발생부의 전원을 공급받아 레이저 빔을 발생시키는 반도체 레이저와, 상기 레이저 빔을 확산시키는 확산판과, CCD 카메라와의 공간 주기 간섭이 발생하도록 다수의 구멍이 형성된 광판과, 상기 광판을 통과한 레이저 빔을 모아 LCD 모듈에 격자광을 형성하는 결상렌즈로 구성된 것을 특징으로 하는 LCD 모듈의 자동 화질 검사 장치.
- LCD 모듈의 수평 위치 맞춤을 하는 제1과정과, CCD 카메라의 수직 위치 맞춤을 하는 제2과정과, 카메라 조정부가 CCD 카메라의 초점을 자동으로 포커싱하는 제3과정과, LCD 모듈과 CCD 카메라 사이의 앨리어싱을 제거하는 제4과정과, LCD 모듈의 영상을 취득하는 제5과정과, 주 컴퓨터가 상기 LCD 모듈의 영상 데이터를 분석하여 양/불량을 판정하고 결과를 디스플레이하는 제6과정으로 이루어지는 것을 특징으로 하는 LCD 모듈의 자동 화질 검사 방법.
- 제3항에 있어서, 상기 제2과정은 LCD 모듈에 모이레 무늬를 주사하는 제1단계와, CCD 카메라가 상기 LCD 모듈의 영상 데이터를 입력받아 화상 처리부에 저장하는 제2단계와, 주 컴퓨터가 상기 모이레 무늬의 파장을 분석하는 제3단계와, 상기 주 컴퓨터가 상기 모이레 무늬의 파장을 통해 CCD 카메라와 LCD 모듈간의 수직도를 수치화하는 제4단계와, 상기 수치화된 수직도 오차를 이동각으로 환산하여 수직 위치 조정부가 상기 CCD 카메라의 수직 2축 위치 맞춤을 행하는 제5단계로 이루어진 것을 특징으로 하는 LCD 모듈의 자동 화질 검사 방법.
- 제4항에 있어서, 상기 제3단계는 CCD 카메라를 미소 회전시키면서 여러 장의 영상 프레임을 획득하고, 상기 각 영상 프레임을 라인 스케닝하여 가장 좁은 파장을 알아내는 단계인 것을 특징으로 하는 LCD 모듈의 자동 화질 검사 방법.
- 제4항에 있어서, 상기 제3단계는 한 장의 영상 프레임을 획득하고, 상기 영상 프레임을 미소 회전시키면서 라인 스케닝하여 가장 좁은 파장을 알아내는 단계인 것을 특징으로 하는 LCD 모듈의 자동 화질 검사 방법.※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
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KR1019960021275A KR100187013B1 (ko) | 1996-06-13 | 1996-06-13 | Lcd 모듈의 자동 화질 검사 장치 및 방법 |
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KR100187013B1 KR100187013B1 (ko) | 1999-05-01 |
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ID=19461769
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Cited By (2)
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---|---|---|---|---|
KR20030068212A (ko) * | 2002-02-14 | 2003-08-21 | 김종성 | 고해상도 카메라를 이용한 에프피디 결함 검사방법 |
KR100837459B1 (ko) * | 2006-06-30 | 2008-06-12 | 가부시끼가이샤 도시바 | 표시 패널의 촬상 방법 및 표시 패널의 촬상 장치 |
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KR100441841B1 (ko) * | 1996-08-30 | 2004-11-16 | 삼성전자주식회사 | 액정표시소자용 패널의 오프 픽셀 인접불량 검출방법 |
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1996
- 1996-06-13 KR KR1019960021275A patent/KR100187013B1/ko not_active IP Right Cessation
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