KR980003674A - Lcd 모듈의 자동 화질 검사 장치 및 방법 - Google Patents

Lcd 모듈의 자동 화질 검사 장치 및 방법 Download PDF

Info

Publication number
KR980003674A
KR980003674A KR1019960021275A KR19960021275A KR980003674A KR 980003674 A KR980003674 A KR 980003674A KR 1019960021275 A KR1019960021275 A KR 1019960021275A KR 19960021275 A KR19960021275 A KR 19960021275A KR 980003674 A KR980003674 A KR 980003674A
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
lcd module
ccd camera
image
quality inspection
image quality
Prior art date
Application number
KR1019960021275A
Other languages
English (en)
Other versions
KR100187013B1 (ko
Inventor
하철호
Original Assignee
구자홍
Lg 전자주식회사
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 구자홍, Lg 전자주식회사 filed Critical 구자홍
Priority to KR1019960021275A priority Critical patent/KR100187013B1/ko
Publication of KR980003674A publication Critical patent/KR980003674A/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR100187013B1 publication Critical patent/KR100187013B1/ko

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02FOPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F1/00Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
    • G02F1/01Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour 
    • G02F1/13Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour  based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
    • G02F1/1306Details
    • G02F1/1309Repairing; Testing
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88Investigating the presence of flaws or contamination
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06TIMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
    • G06T1/00General purpose image data processing
    • G06T1/0007Image acquisition
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06TIMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
    • G06T7/00Image analysis
    • G06T7/60Analysis of geometric attributes
    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04NPICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
    • H04N23/00Cameras or camera modules comprising electronic image sensors; Control thereof
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/95Investigating the presence of flaws or contamination characterised by the material or shape of the object to be examined
    • G01N2021/9513Liquid crystal panels

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Nonlinear Science (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • Signal Processing (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Multimedia (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Geometry (AREA)
  • Computer Vision & Pattern Recognition (AREA)
  • Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)
  • Liquid Crystal (AREA)
  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)

Abstract

본 발명은 LCD 모듈에 모이레 무늬를 주사하고 이를 해석함으로 CCD 카메라의 수직 위치 맞춤을 실시하여 상기 LCD 모듈의 화소 정보를 보다 고정도로 검사하는 LCD 모듈의 자동 화질 검사 장치 및 방법에 관한 것으로서, LCDD모듈에 모이레 무늬를 주사하고 CCD 카메라를 통해 이를 획득하여 해석함으로 CCD 카메라의 수직위치 맞춤을 실시하기 때문에 상기 LCD 모듈과 CCD 카메라 사이에서 발생하는 광학적 오차를 해결하여 상기 LCD 모듈을 보다 정밀하게 검사할 수 있고 LCD 모듈의 제품 신뢰성이 향상되는 효과가 있는 것이다.

Description

LCD 모듈의 자동 화질 검사 장치 및 방법
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제3도는 본 발명에 의한 LCD 모듈의 자동 화질 검사 장치의 블록도.
제4도는 본 발명에 의한 기준 격자광 형성부의 상세 구성도.
제5도는 본 발명에 의한 LCD 모듈의 자동 화질 검사 방법을 도시한 흐름도이다.

Claims (6)

  1. CCD 카메라와 위치 제어부로 구성된 LCD 모듈의 자동 화질 검사 장치에 있어서, 레이저 구동을 위한 전원을 공급하는 레이저 전원 발생부와, 상기 레이저 전원 발생부의 전원을 공급받아 레이저 빔을 발생시키고 발생된 레이저 빔으로 격자광을 생성시켜 LCD 모듈에 모이레 무늬를 주사하는 기준 격자광 형성부와, 상기 CCD 카메라에 입력된 모이레 무늬를 분석하는 주 컴퓨터와, 상기 위치 제어부가 상기 주 컴퓨터에서 분석된 데이터를 입력받아 상기 CCD 카메라의 수직 위치 맞춤을 위한 펄스를 출력하면 이를 입력받아 상기 CCD 카메라의 수직 2축 위치 맞춤을 행하는 수직 위치 조정부를 포함하여 구성된 것을 특징으로 하는 LCD 모듈의 자동화질 검사 장치.
  2. 제1항에 있어서, 상기 기준 격자광 형성부는 레이저 전원 발생부의 전원을 공급받아 레이저 빔을 발생시키는 반도체 레이저와, 상기 레이저 빔을 확산시키는 확산판과, CCD 카메라와의 공간 주기 간섭이 발생하도록 다수의 구멍이 형성된 광판과, 상기 광판을 통과한 레이저 빔을 모아 LCD 모듈에 격자광을 형성하는 결상렌즈로 구성된 것을 특징으로 하는 LCD 모듈의 자동 화질 검사 장치.
  3. LCD 모듈의 수평 위치 맞춤을 하는 제1과정과, CCD 카메라의 수직 위치 맞춤을 하는 제2과정과, 카메라 조정부가 CCD 카메라의 초점을 자동으로 포커싱하는 제3과정과, LCD 모듈과 CCD 카메라 사이의 앨리어싱을 제거하는 제4과정과, LCD 모듈의 영상을 취득하는 제5과정과, 주 컴퓨터가 상기 LCD 모듈의 영상 데이터를 분석하여 양/불량을 판정하고 결과를 디스플레이하는 제6과정으로 이루어지는 것을 특징으로 하는 LCD 모듈의 자동 화질 검사 방법.
  4. 제3항에 있어서, 상기 제2과정은 LCD 모듈에 모이레 무늬를 주사하는 제1단계와, CCD 카메라가 상기 LCD 모듈의 영상 데이터를 입력받아 화상 처리부에 저장하는 제2단계와, 주 컴퓨터가 상기 모이레 무늬의 파장을 분석하는 제3단계와, 상기 주 컴퓨터가 상기 모이레 무늬의 파장을 통해 CCD 카메라와 LCD 모듈간의 수직도를 수치화하는 제4단계와, 상기 수치화된 수직도 오차를 이동각으로 환산하여 수직 위치 조정부가 상기 CCD 카메라의 수직 2축 위치 맞춤을 행하는 제5단계로 이루어진 것을 특징으로 하는 LCD 모듈의 자동 화질 검사 방법.
  5. 제4항에 있어서, 상기 제3단계는 CCD 카메라를 미소 회전시키면서 여러 장의 영상 프레임을 획득하고, 상기 각 영상 프레임을 라인 스케닝하여 가장 좁은 파장을 알아내는 단계인 것을 특징으로 하는 LCD 모듈의 자동 화질 검사 방법.
  6. 제4항에 있어서, 상기 제3단계는 한 장의 영상 프레임을 획득하고, 상기 영상 프레임을 미소 회전시키면서 라인 스케닝하여 가장 좁은 파장을 알아내는 단계인 것을 특징으로 하는 LCD 모듈의 자동 화질 검사 방법.
    ※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
KR1019960021275A 1996-06-13 1996-06-13 Lcd 모듈의 자동 화질 검사 장치 및 방법 KR100187013B1 (ko)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1019960021275A KR100187013B1 (ko) 1996-06-13 1996-06-13 Lcd 모듈의 자동 화질 검사 장치 및 방법

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1019960021275A KR100187013B1 (ko) 1996-06-13 1996-06-13 Lcd 모듈의 자동 화질 검사 장치 및 방법

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR980003674A true KR980003674A (ko) 1998-03-30
KR100187013B1 KR100187013B1 (ko) 1999-05-01

Family

ID=19461769

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1019960021275A KR100187013B1 (ko) 1996-06-13 1996-06-13 Lcd 모듈의 자동 화질 검사 장치 및 방법

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR100187013B1 (ko)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20030068212A (ko) * 2002-02-14 2003-08-21 김종성 고해상도 카메라를 이용한 에프피디 결함 검사방법
KR100837459B1 (ko) * 2006-06-30 2008-06-12 가부시끼가이샤 도시바 표시 패널의 촬상 방법 및 표시 패널의 촬상 장치

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100441841B1 (ko) * 1996-08-30 2004-11-16 삼성전자주식회사 액정표시소자용 패널의 오프 픽셀 인접불량 검출방법

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20030068212A (ko) * 2002-02-14 2003-08-21 김종성 고해상도 카메라를 이용한 에프피디 결함 검사방법
KR100837459B1 (ko) * 2006-06-30 2008-06-12 가부시끼가이샤 도시바 표시 패널의 촬상 방법 및 표시 패널의 촬상 장치

Also Published As

Publication number Publication date
KR100187013B1 (ko) 1999-05-01

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US8098372B2 (en) Optical inspection tool featuring multiple speed modes
US20050213086A1 (en) Method of apparatus for detecting particles on a specimen
JP2561160B2 (ja) 走査型顕微鏡
JP2011095226A (ja) 被検査体の検査装置、及び電子基板の位置補正装置
JP2009168582A (ja) 外観検査装置
JP3580493B2 (ja) 走査ヘッドおよびそれを利用可能な外観検査方法および装置
JP2006284572A (ja) ディスク状対象物を検査するための装置
JPH06347416A (ja) 光学式欠陥検査装置
KR980003674A (ko) Lcd 모듈의 자동 화질 검사 장치 및 방법
JP4375596B2 (ja) 表面検査装置及び方法
JP4573255B2 (ja) 外観検査装置および外観検査方法
JP4573308B2 (ja) 表面検査装置及び方法
JP2009150718A (ja) 検査装置および検査プログラム
JPH1068901A (ja) 2次元スキャナ装置
JPH0156682B2 (ko)
JPH09197280A (ja) 走査型光学顕微鏡の走査直線性補正方法
JPH01297542A (ja) 欠陥検査装置
EP1439385A1 (en) Method and system for fast on-line electro-optical detection of wafer defects
KR100187016B1 (ko) Lcd 패널의 자동 화질 검사 장치 및 방법
JP2624481B2 (ja) 光誘起電流による半導体装置の検査装置
JP2002310934A (ja) 外観検査装置
JP4963543B2 (ja) 走査型レーザ顕微鏡及びその制御方法
JP2008020356A (ja) レンズ検査装置
JP3290784B2 (ja) 共焦点光学系を用いた結晶欠陥検出方法
JP2005345764A (ja) 走査型光学装置

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant
LAPS Lapse due to unpaid annual fee