KR970068412A - 전전자 교환기의 시험 및 유지보수 장치 - Google Patents

전전자 교환기의 시험 및 유지보수 장치 Download PDF

Info

Publication number
KR970068412A
KR970068412A KR1019960007393A KR19960007393A KR970068412A KR 970068412 A KR970068412 A KR 970068412A KR 1019960007393 A KR1019960007393 A KR 1019960007393A KR 19960007393 A KR19960007393 A KR 19960007393A KR 970068412 A KR970068412 A KR 970068412A
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
signaling terminal
signaling
terminal
buffer
signal
Prior art date
Application number
KR1019960007393A
Other languages
English (en)
Other versions
KR0176409B1 (ko
Inventor
이성배
Original Assignee
유기범
대우통신 주식회사
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 유기범, 대우통신 주식회사 filed Critical 유기범
Priority to KR1019960007393A priority Critical patent/KR0176409B1/ko
Publication of KR970068412A publication Critical patent/KR970068412A/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR0176409B1 publication Critical patent/KR0176409B1/ko

Links

Classifications

    • H—ELECTRICITY
    • H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04M—TELEPHONIC COMMUNICATION
    • H04M3/00—Automatic or semi-automatic exchanges
    • H04M3/22—Arrangements for supervision, monitoring or testing
    • H04M3/26—Arrangements for supervision, monitoring or testing with means for applying test signals or for measuring
    • H04M3/28—Automatic routine testing ; Fault testing; Installation testing; Test methods, test equipment or test arrangements therefor
    • H—ELECTRICITY
    • H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04Q—SELECTING
    • H04Q1/00—Details of selecting apparatus or arrangements
    • H04Q1/18—Electrical details
    • H04Q1/20—Testing circuits or apparatus; Circuits or apparatus for detecting, indicating, or signalling faults or troubles
    • H—ELECTRICITY
    • H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04M—TELEPHONIC COMMUNICATION
    • H04M2203/00—Aspects of automatic or semi-automatic exchanges
    • H04M2203/05—Aspects of automatic or semi-automatic exchanges related to OAM&P
    • H04M2203/055—Aspects of automatic or semi-automatic exchanges related to OAM&P loopback testing
    • H—ELECTRICITY
    • H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04M—TELEPHONIC COMMUNICATION
    • H04M2207/00—Type of exchange or network, i.e. telephonic medium, in which the telephonic communication takes place
    • H04M2207/08—ISDN systems

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Computer Networks & Wireless Communication (AREA)
  • Signal Processing (AREA)
  • Monitoring And Testing Of Exchanges (AREA)
  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)

Abstract

본 발명은 DTS-3100 전전자 교환기에 있어서 No.7 블록인 SS7U의 ST(Signaling Terminal)를 포함한 각종의 기능을 시험 및 유지보수를 하도록 하기에 적합한 전전자 교환기의 시험 및 유지보수 장치에 관한 것으로서, 종래의 기술에 있어서는 DTS-3100 전전자 교환기에서의 No.7 블록인 SS7U의 ST(Signaling Terminal)를 포함한 각종의 기능 시험 및 유지보수를 위한 각 장치는 여러 종류로 나뉘어 있기 때문에 각 장치를 사용하기 위한 여러 시험 환경을 동시에 만들지 못하게 되는 경우가 발생하는 결점이 있었으나, 본 발명에서는 DTS-3100 전전자 교환기에서의 No.7 블록인 SS7U의 ST(Signaling Terminal)를 포함한 각종의 기능 시험 및 유지보수를 위한 각 장치를 하나의 보드에 형성함으로써 원하는 기능 시험 및 유지보수를 용이하게 할 수 있는 것이다.

Description

전전자 교환기의 시험 및 유지보수 장치
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
도면은 본 발명에 따른 전전자 교환기의 시험 및 유지보수 장치의 일 실시예를 나타낸 블록도.

Claims (3)

  1. DTS-3100 전전자 교환기의 No.7 블록인 SS7U의 ST(Signaling Terminal)를 포함한 각종의 기능을 시험 및 유지보수하는 장치에 있어서: 각 신호(SDLCLK: Signaling Data Link Clock)(SDLRXD: Signaling Data Link Receive Data)(SDLTXD: Signaling Data Link Trans Data)를 버퍼링해서 출력하는 버퍼(10)와; 레벨 변환을 통해 신호(Serial Input)를 입력하고 신호 (Serial Output)를 출력하는 레벨 변환부(12)와; ST(Signaling Terminal)의 SHW 정합 시험시에 ST(Signaling Terminal)로 신호(SHWCLK: Sub High Way Clock)(SHWFS: Sub High Way Frame Synch)를 발생시키는 제1신호 발생부(14)와; 상기 ST(Signaling Terminal)의 SHW정합 시험시에 상기 ST(Signaling Terminal)로 신호(SHWTXD: Sub High Way Trans Data)를 인가받고 신호(SHWRXD: Sub High Way Receive Data)를 출력시켜 루프백시키는 제1루프백부(16)와; 상기 ST(Signaling Terminal)의 ST_Bus 정합 시험시에 상기 ST(Signaling Terminal)로 신호(ST_CLK: Signaling Terminal Clock) (ST_FS: Signaling Terminal Frame Synch)를 발생시키는 제2신호 발생부(18)와; 상기 ST(Signaling Terminal)의 ST_Bus 정합 시험시에 상기 ST(Signaling Terminal)로 신호(ST_TXD: Signaling Terminal Trans Data)를 인가받고 신호 (ST_RXD: Signaling Terminal Receive Data)를 출력시켜 루프백시키는 제2루프백부(20)와; 상기 버퍼(10)와 MGTS를 접속시키는 제1접속부(22)와; 상기 버퍼(10)와 CH32를 접속시키는 제2접속부(24)와; 상기 버퍼(10)와 SPM을 접속시키는 제3접속부(26)와; 상기 레벨 변환부(12)와 외부의 모니터를 접속시키는 제4접속부(28)가 하나의 회로 보드에 형성되어 이루어짐을 특징으로 하는 전전자 교환기의 시험 및 유지보수 장치.
  2. 제1항에 있어서, 상기 버퍼(10)는 3×3버퍼링함을 특징으로 하는 전전자 교환기의 시험 및 유지보수 장치.
  3. 제1항 또는 제2항에 있어서, 상기 제1, 제2, 제3, 제4 접속부(22,24,26,28)중에서 적어도 하나 이상의 접속부는 RS232C 케이블로 이루어짐을 특징으로 하는 전전자 교환기의 시험 및 유지보수 장치.
    ※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
KR1019960007393A 1996-03-19 1996-03-19 전전자 교환기의 시험 및 유지보수 장치 KR0176409B1 (ko)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1019960007393A KR0176409B1 (ko) 1996-03-19 1996-03-19 전전자 교환기의 시험 및 유지보수 장치

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1019960007393A KR0176409B1 (ko) 1996-03-19 1996-03-19 전전자 교환기의 시험 및 유지보수 장치

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR970068412A true KR970068412A (ko) 1997-10-13
KR0176409B1 KR0176409B1 (ko) 1999-05-15

Family

ID=19453432

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1019960007393A KR0176409B1 (ko) 1996-03-19 1996-03-19 전전자 교환기의 시험 및 유지보수 장치

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR0176409B1 (ko)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100438531B1 (ko) * 2000-10-28 2004-07-03 엘지전자 주식회사 자체 기능 테스트가 가능한 중계선 보드

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100438531B1 (ko) * 2000-10-28 2004-07-03 엘지전자 주식회사 자체 기능 테스트가 가능한 중계선 보드

Also Published As

Publication number Publication date
KR0176409B1 (ko) 1999-05-15

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR950003967A (ko) 표시정보변환장치 및 정보처리시스템
EP0803855A3 (en) Processor for converting pixel number of video signal and display apparatus using the same
KR930022910A (ko) 필드 메모리의 비디오 및 모션 샘플을 이중으로 멀티플렉싱하는 비디오 메모리 시스템
KR970068412A (ko) 전전자 교환기의 시험 및 유지보수 장치
TW355903B (en) Video signal processing device and method for processing digital data signals
KR970056957A (ko) 화상처리 장치
KR960028604A (ko) 전전자 교환기 가입자회로 모듈 시험장치 및 방법
KR890009126A (ko) 통신시스템에서 압축 변환한 데이타를 신장 변환하는 장치
KR980004087A (ko) 통신/영상 서비스 통합 접속 시스템의 망 관리 장치용 직렬 데이타 입축력 보드
KR200303513Y1 (ko) 문자방송용데이터입력장치
KR970059949A (ko) 씨디(CD)-오케이(OK)의 백 드롭(back drop) 화면 생성 장치
KR960025058A (ko) 전자교환기의 티디버스 정합회로
JP2861533B2 (ja) ディジタルデータの装置内伝送システム
US6674549B1 (en) Apparatus for capturing image
KR0145634B1 (ko) 전전자 교환기용 하이브리드 집적회로의 시험회로
KR950020207A (ko) 다중 프로세서의 통신장치
KR970056220A (ko) 단말기를 접속하기 위한 신호변환장치
KR960027833A (ko) 전전자 교환기의 패킷 통합시험장치 및 방법
KR960022056A (ko) 철도차량용 모니터시스템의 직렬통신 시험장치
KR920011069A (ko) 소자검사장치용 디지탈 ic 로직레벨 발생회로
JPH07111496A (ja) 光信号伝送方式
KR930009444A (ko) Cif 영상신호 변환기
KR970057721A (ko) 영상처리장치에 있어서 비월/순차주사 호환회로
KR920014297A (ko) 전자교환기의 신호단말 그룹 버스 삼중화 신호 감시회로
KR970078190A (ko) 에스피엠장치와 피씨엠단간의 정합회로

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
N231 Notification of change of applicant
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant
FPAY Annual fee payment

Payment date: 20041108

Year of fee payment: 7

LAPS Lapse due to unpaid annual fee