KR970053075A - 모스트랜지스터의 제조방법 - Google Patents

모스트랜지스터의 제조방법 Download PDF

Info

Publication number
KR970053075A
KR970053075A KR1019950046839A KR19950046839A KR970053075A KR 970053075 A KR970053075 A KR 970053075A KR 1019950046839 A KR1019950046839 A KR 1019950046839A KR 19950046839 A KR19950046839 A KR 19950046839A KR 970053075 A KR970053075 A KR 970053075A
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
drain region
substrate
forming
concentration source
gate
Prior art date
Application number
KR1019950046839A
Other languages
English (en)
Other versions
KR0156154B1 (ko
Inventor
황현상
Original Assignee
문정환
Lg 반도체주식회사
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 문정환, Lg 반도체주식회사 filed Critical 문정환
Priority to KR1019950046839A priority Critical patent/KR0156154B1/ko
Publication of KR970053075A publication Critical patent/KR970053075A/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR0156154B1 publication Critical patent/KR0156154B1/ko

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L29/00Semiconductor devices specially adapted for rectifying, amplifying, oscillating or switching and having potential barriers; Capacitors or resistors having potential barriers, e.g. a PN-junction depletion layer or carrier concentration layer; Details of semiconductor bodies or of electrodes thereof ; Multistep manufacturing processes therefor
    • H01L29/66Types of semiconductor device ; Multistep manufacturing processes therefor
    • H01L29/66007Multistep manufacturing processes
    • H01L29/66075Multistep manufacturing processes of devices having semiconductor bodies comprising group 14 or group 13/15 materials
    • H01L29/66227Multistep manufacturing processes of devices having semiconductor bodies comprising group 14 or group 13/15 materials the devices being controllable only by the electric current supplied or the electric potential applied, to an electrode which does not carry the current to be rectified, amplified or switched, e.g. three-terminal devices
    • H01L29/66409Unipolar field-effect transistors
    • H01L29/66477Unipolar field-effect transistors with an insulated gate, i.e. MISFET
    • H01L29/66568Lateral single gate silicon transistors
    • H01L29/66575Lateral single gate silicon transistors where the source and drain or source and drain extensions are self-aligned to the sides of the gate
    • H01L29/6659Lateral single gate silicon transistors where the source and drain or source and drain extensions are self-aligned to the sides of the gate with both lightly doped source and drain extensions and source and drain self-aligned to the sides of the gate, e.g. lightly doped drain [LDD] MOSFET, double diffused drain [DDD] MOSFET
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/02Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
    • H01L21/04Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer
    • H01L21/18Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer the devices having semiconductor bodies comprising elements of Group IV of the Periodic Table or AIIIBV compounds with or without impurities, e.g. doping materials
    • H01L21/26Bombardment with radiation
    • H01L21/263Bombardment with radiation with high-energy radiation
    • H01L21/265Bombardment with radiation with high-energy radiation producing ion implantation
    • H01L21/266Bombardment with radiation with high-energy radiation producing ion implantation using masks

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • High Energy & Nuclear Physics (AREA)
  • Toxicology (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Ceramic Engineering (AREA)
  • Insulated Gate Type Field-Effect Transistor (AREA)

Abstract

본 발명은 모스트랜지스터에 관한 것으로서, 특히 기판과 고농도 소오스/드레인 영역과의 접합 커패시턴스를 감소시켜 고속동작을 가능하게 한 모스트랜지스터의 제조 방법에 관한 것이다.
이를 위한 본 발명의 모스트랜지스터의 제조방법은 제1도전형의 기판상에 게이트와 게이트 절연막을 순차적으로 형성하는 공정과, 상기 게이트를 마스크로 기판전면에 제2 도전형의 저농도 불순물 이온을 주입하여 제2도전형의 제1 저농도 소오스 드레인 영역을 형성하는 공정과, 상기 게이트 측면에 측벽 절연막을 형성하는 공정과, 상기 측벽 절연막과 게이트를 마스크로 기판전면에 제2도전형 고농도 불순물 이온을 주입하여 제2 도전형 고농도 소오스/드레인 영역을 형성하는 공정과, 상기 기판전면에 저온 열처리를 하여 제2 도전형의 고농도 소오스/드레인 영역 아래에 제2도전형의 제2저농도 소오스/드레인 영역을 형성하는 공정임을 특징으로 한다.

Description

모스트랜지스터의 제조방법
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제2도는 본 발명의 모스트랜지스터의 제조공정도.

Claims (4)

  1. 제1도전형이 기판상에 게이트와 게이트 절연막을 순차적으로 형성하는 공정과, 상기 게이트를 마스크로 기판전면에 제2도전형의 저농도 불순물 이온을 주입하여 제2도전형의 제1저농도 소오스 드레인 영역을 형성하는 공정과, 상기 게이트 측면에 측벽 절연막을 형성하는 공정과, 상기 측벽 절연막과 게이트를 마스크로 기판전면에 제2도전형 고농도 불순물 이온을 주입하여 제2도전형 고농도 소오스/드레인 영역을 형성하는 공정과, 상기 기판전면에 저온 열처리를 하여 제2도전형의 고농도 소오스/드레인 영역을 형성하는 공정임을 특징으로 하는 모스트랜지스터의 제조방법.
  2. 제1항에 있어서, 소오스/드레인 영역을 형성하는 불순물 이온은 B 또는 BF2이온임을 특징으로 하는 모스트랜지스터의 제조방법.
  3. 제1항에 있어서, 제2 저농도 소오스/드레인 영역은 고농도 소오스/드레인 영역을 형성하는 이온과 동일한 이온임을 특징으로 하는 모스트랜지스터의 제조방법.
  4. 제1항 또는 제3항에 있어서, 제2 저농도 소오스/드레인 영역은 고농도 소오스/드레인 영역 형성을 위한 이온 주입 후 700℃에서 30분간 열처리 하여 형성함을 특징으로 하는 모스트랜지스터의 제조방법.
    ※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
KR1019950046839A 1995-12-05 1995-12-05 모스트랜지스터의 제조방법 KR0156154B1 (ko)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1019950046839A KR0156154B1 (ko) 1995-12-05 1995-12-05 모스트랜지스터의 제조방법

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1019950046839A KR0156154B1 (ko) 1995-12-05 1995-12-05 모스트랜지스터의 제조방법

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR970053075A true KR970053075A (ko) 1997-07-29
KR0156154B1 KR0156154B1 (ko) 1998-12-01

Family

ID=19437879

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1019950046839A KR0156154B1 (ko) 1995-12-05 1995-12-05 모스트랜지스터의 제조방법

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR0156154B1 (ko)

Also Published As

Publication number Publication date
KR0156154B1 (ko) 1998-12-01

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR970053075A (ko) 모스트랜지스터의 제조방법
KR950009978A (ko) 모스트랜지스터의 제조방법
KR930005272A (ko) Ldd형 mos 트랜지스터 및 그의 제조방법
KR970054398A (ko) 모스트랜지스터 제조 방법
KR960043050A (ko) 반도체 소자의 트랜지스터 제조방법
KR970053097A (ko) 모스전계효과트랜지스터 제조방법
KR970003447A (ko) 모스 트랜지스터의 소스/드레인 영역의 어닐링 방법
KR920020594A (ko) Ldd 트랜지스터의 구조 및 제조방법
KR960026459A (ko) 트랜지스터 제조방법
KR930003434A (ko) Ldd 구조의 모스 트랜지스터 제조방법
KR950012645A (ko) 반도체 장치의 박막 트랜지스터 제조방법
KR970052211A (ko) 반도체 소자의 접합 영역 형성 방법
KR970054387A (ko) 모스트랜지스터 제조 방법
KR970003682A (ko) 저도핑 드레인 구조의 모스 트랜지스터 제조 방법
KR970053069A (ko) 모오스 전계 효과 트랜지스터 제조 방법
KR960035917A (ko) 반도체 소자 제조방법
KR970008650A (ko) 모오스 트랜지스터의 제조방법
KR910019204A (ko) 슬롭형 게이트를 이용한 ldd제조방법
KR890002992A (ko) 모오스 전계효과 트랜지스터의 제조방법
KR920013769A (ko) Ldd 구조의 트랜지스터 제조방법
KR950002056A (ko) 모스(mos)트랜지스터 제조방법
KR940003081A (ko) 절연 게이트형 전계효과 트랜지스터의 제조방법
KR970054459A (ko) 모스트랜지스터 제조 방법
KR930006961A (ko) 모스펫 제조방법
KR950025921A (ko) 반도체소자 제조방법

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant
FPAY Annual fee payment

Payment date: 20090624

Year of fee payment: 12

LAPS Lapse due to unpaid annual fee