KR970046795U - 웨이퍼 테스트용 양면 프로브카드 - Google Patents
웨이퍼 테스트용 양면 프로브카드Info
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- probe card
- double sided
- wafer testing
- sided probe
- wafer
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Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR2019950040167U KR200208209Y1 (ko) | 1995-12-12 | 1995-12-12 | 웨이퍼 테스트용 양면 프로브카드 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR2019950040167U KR200208209Y1 (ko) | 1995-12-12 | 1995-12-12 | 웨이퍼 테스트용 양면 프로브카드 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR970046795U true KR970046795U (ko) | 1997-07-31 |
KR200208209Y1 KR200208209Y1 (ko) | 2001-01-15 |
Family
ID=60877664
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR2019950040167U KR200208209Y1 (ko) | 1995-12-12 | 1995-12-12 | 웨이퍼 테스트용 양면 프로브카드 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
KR (1) | KR200208209Y1 (ko) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100472700B1 (ko) * | 2000-07-10 | 2005-03-08 | 이국상 | 반도체 소자 테스트용 프로브 카드 |
KR100493223B1 (ko) * | 1997-12-10 | 2005-08-05 | 신에츠 포리마 가부시키가이샤 | 전자회로기판의검사프로브및검사방법 |
-
1995
- 1995-12-12 KR KR2019950040167U patent/KR200208209Y1/ko not_active IP Right Cessation
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100493223B1 (ko) * | 1997-12-10 | 2005-08-05 | 신에츠 포리마 가부시키가이샤 | 전자회로기판의검사프로브및검사방법 |
KR100472700B1 (ko) * | 2000-07-10 | 2005-03-08 | 이국상 | 반도체 소자 테스트용 프로브 카드 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
KR200208209Y1 (ko) | 2001-01-15 |
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