KR970046795U - 웨이퍼 테스트용 양면 프로브카드 - Google Patents

웨이퍼 테스트용 양면 프로브카드

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100472700B1 (ko) * 2000-07-10 2005-03-08 이국상 반도체 소자 테스트용 프로브 카드
KR100493223B1 (ko) * 1997-12-10 2005-08-05 신에츠 포리마 가부시키가이샤 전자회로기판의검사프로브및검사방법

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KR100493223B1 (ko) * 1997-12-10 2005-08-05 신에츠 포리마 가부시키가이샤 전자회로기판의검사프로브및검사방법
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