KR970030561A - 반도체 제조장치의 온도확인장치 - Google Patents

반도체 제조장치의 온도확인장치 Download PDF

Info

Publication number
KR970030561A
KR970030561A KR1019950042332A KR19950042332A KR970030561A KR 970030561 A KR970030561 A KR 970030561A KR 1019950042332 A KR1019950042332 A KR 1019950042332A KR 19950042332 A KR19950042332 A KR 19950042332A KR 970030561 A KR970030561 A KR 970030561A
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
temperature
furnace
control unit
semiconductor manufacturing
temperature control
Prior art date
Application number
KR1019950042332A
Other languages
English (en)
Other versions
KR100363077B1 (ko
Inventor
박정규
최진오
Original Assignee
김광호
삼성전자 주식회사
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 김광호, 삼성전자 주식회사 filed Critical 김광호
Priority to KR1019950042332A priority Critical patent/KR100363077B1/ko
Publication of KR970030561A publication Critical patent/KR970030561A/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR100363077B1 publication Critical patent/KR100363077B1/ko

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/67005Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/67242Apparatus for monitoring, sorting or marking
    • H01L21/67248Temperature monitoring
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01KMEASURING TEMPERATURE; MEASURING QUANTITY OF HEAT; THERMALLY-SENSITIVE ELEMENTS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01K7/00Measuring temperature based on the use of electric or magnetic elements directly sensitive to heat ; Power supply therefor, e.g. using thermoelectric elements
    • G01K7/02Measuring temperature based on the use of electric or magnetic elements directly sensitive to heat ; Power supply therefor, e.g. using thermoelectric elements using thermoelectric elements, e.g. thermocouples
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L23/00Details of semiconductor or other solid state devices
    • H01L23/34Arrangements for cooling, heating, ventilating or temperature compensation ; Temperature sensing arrangements
    • H01L23/345Arrangements for heating
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10NELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10N10/00Thermoelectric devices comprising a junction of dissimilar materials, i.e. devices exhibiting Seebeck or Peltier effects
    • H10N10/10Thermoelectric devices comprising a junction of dissimilar materials, i.e. devices exhibiting Seebeck or Peltier effects operating with only the Peltier or Seebeck effects
    • H10N10/13Thermoelectric devices comprising a junction of dissimilar materials, i.e. devices exhibiting Seebeck or Peltier effects operating with only the Peltier or Seebeck effects characterised by the heat-exchanging means at the junction

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Waste-Gas Treatment And Other Accessory Devices For Furnaces (AREA)

Abstract

본 발명은 반도체장치의 온도확인장치에 관한 것으로, 반도체 소자 제조공정이 진행되는 로(爐), 상기 로 내부에서 측정된 온도를 설정온도와 비교하여 로 내부의 온도를 제어하기 위한 온도제어부, 상기 로 내부의 온도를 상기 온도제어부로 전달하기 위해 상기 로와 연결되도록 설치된 연결 박스 및 상기 로 내부의 온도를 외부에서 확인하기 위한 외부 모니터링부를 구비하는 반도체 제조장치에 있어서, 상기 연결박스가 상기 온도제어부 및 외부 모니터링부와 동시에 연결되어, 반도체 제조공정 중 상기 온도제어부의 입력을 차단하지 않고 로 내부의 온도를 모니터링 할 수 있는 것을 특징으로 하는 온도 확인장치가 제공된다. 따라서, 온도제어부에서 지시한 온도와 실제공정 진행중의 온도를 동시에 비교할 수 있다.

Description

반도체 제조장치의 온도확인장치
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제2도는 본 발명의 일 실시예에 따른 반도체 제조장치의 온도확인장치를 설명하기 위한 도시한 개략도이다.

Claims (3)

  1. 반도체 소자 제조공정이 진행되는 로(爐), 상기 로 내부에서 측정된 온도를 설정온도와 비교하여 로 내부의 온도를 제어하기 위한 온도제어부, 상기 로 내부의 온도를 상기 온도제어부로 전달하기 위해 상기 로와 연결되도록 설치된 연결 박스 및 상기 로 내부의 온도를 외부에서 확인하기 위한 외부 모니터링부를 구비하는 반도체 제조장치에 있어서, 상기 연결박스가 상기 온도제어부 및 외부 모니터링부와 동시에 연결되어, 반도체 제조공정 중 상기 온도 제어부의 입력을 차단하지 않고 로 내부의 온도를 모니터링 할 수 있는 것을 특징으로 하는 온도 확인장치.
  2. 제1항에 있어서, 상기 로 내부에 프로파일 열전대가 설치된 것을 특징으로 하는 온도 확인장치.
  3. 제2항에 있어서, 상기 프로파일 열전대는 상기 연결박스 내에서 상기 온도제어부 및 상기 외부 모니터링부와 직접 연결되는 것을 특징으로 하는 온도 확인장치.
    ※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
KR1019950042332A 1995-11-20 1995-11-20 반도체 제조장치의 온도 확인장치 KR100363077B1 (ko)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1019950042332A KR100363077B1 (ko) 1995-11-20 1995-11-20 반도체 제조장치의 온도 확인장치

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1019950042332A KR100363077B1 (ko) 1995-11-20 1995-11-20 반도체 제조장치의 온도 확인장치

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR970030561A true KR970030561A (ko) 1997-06-26
KR100363077B1 KR100363077B1 (ko) 2003-02-11

Family

ID=37490785

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1019950042332A KR100363077B1 (ko) 1995-11-20 1995-11-20 반도체 제조장치의 온도 확인장치

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR100363077B1 (ko)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101333309B1 (ko) * 2012-03-15 2013-11-27 한국과학기술원 적층 패키지의 신뢰성 평가를 위한 향상된 열 사이클링 시험 시스템 및 방법

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR200476753Y1 (ko) * 2013-12-26 2015-03-31 주식회사 우진 방사선 차폐 구조를 갖는 상온보상장치
KR102288807B1 (ko) * 2019-10-22 2021-08-11 무진전자 주식회사 반도체 장비를 구성하는 챔버의 내부 온도를 관리하는 시스템

Family Cites Families (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS63241922A (ja) * 1987-03-30 1988-10-07 Toshiba Corp オ−トプロフアイル装置
KR970008334B1 (en) * 1988-02-24 1997-05-23 Tokyo Electron Sagami Kk Method and apparatus for heat treatment method
US5147498A (en) * 1990-04-09 1992-09-15 Anelva Corporation Apparatus for controlling temperature in the processing of a substrate
JPH0498826A (ja) * 1990-08-16 1992-03-31 Yokogawa Electric Corp 拡散炉の温度設定方法
JPH05152311A (ja) * 1991-12-02 1993-06-18 Matsushita Electric Ind Co Ltd 半導体装置の製造方法及び半導体製造装置

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101333309B1 (ko) * 2012-03-15 2013-11-27 한국과학기술원 적층 패키지의 신뢰성 평가를 위한 향상된 열 사이클링 시험 시스템 및 방법

Also Published As

Publication number Publication date
KR100363077B1 (ko) 2003-02-11

Similar Documents

Publication Publication Date Title
EP0502207A4 (en) Input/output controller
BR0116197A (pt) Diagnóstico de uma condição de comutador de derivação
EP0813151A4 (en) CONTROL DEVICE
KR970030561A (ko) 반도체 제조장치의 온도확인장치
FI922828A (fi) Foerfarande och kopplingsanordning foer oevervakning och begraensning av driftstemperaturen av elektriskt uppvaermda anordningar samt anvaendning av detta foerfarande
EP1128241A3 (de) Verfahren und Vorrichtung zur Sicherheitsüberwachung einer Steuereinrichtung
ATE529934T1 (de) Steuereinrichtung für einen motorstarter
KR200248849Y1 (ko) 반도체 공정 챔버의 히팅 장치
JPH0992590A (ja) 半導体装置のための真空装置
JPS61122469A (ja) 空冷装置
KR840001708A (ko) 홈형 유도로의 슬랙부착량 측정방법
KR0155841B1 (ko) 디지탈 온도 제어기를 갖는 반도체 제조장치
JPS6472171A (en) Internal temperature controller for image forming device
KR100722029B1 (ko) 발열 장치를 구비한 tv 및 tv 발열 방법
RU2111524C1 (ru) Устройство для регулирования температуры
KR20020048613A (ko) 고속 열처리 설비 및 그 설비의 자가 진단 방법
WO2020230179A3 (en) Process for controlling the correct operation of pressure equipment and related system for the implementation thereof
JPH11125565A (ja) 電子機器
KR970077154A (ko) 반도체 실리사이드막 제조용 증착설비의 전원공급장치
KR970032601A (ko) 전기압력보온밥솥의 압력센서를 이용한 공정제어방법
KR970032600A (ko) 전기압력보온밥솥용 압력센싱장치의 이상 발생인식방법
KR970013250A (ko) 반도체 디바이스의 항온유지장치
KR19990019697U (ko) 대형 티브이의 내부온도 일정 유지회로
KR20020057336A (ko) 반도체 제조설비에서 프로세스 용기 내부 온도 제어장치
KR970030428A (ko) 반도체 제조장비의 가열장치

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E902 Notification of reason for refusal
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant
FPAY Annual fee payment

Payment date: 20061030

Year of fee payment: 5

LAPS Lapse due to unpaid annual fee