KR970025358A - 확산판의 문턱값에 의한 조명검사방법 - Google Patents
확산판의 문턱값에 의한 조명검사방법 Download PDFInfo
- Publication number
- KR970025358A KR970025358A KR1019950038621A KR19950038621A KR970025358A KR 970025358 A KR970025358 A KR 970025358A KR 1019950038621 A KR1019950038621 A KR 1019950038621A KR 19950038621 A KR19950038621 A KR 19950038621A KR 970025358 A KR970025358 A KR 970025358A
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- nozzle
- diffuser plate
- luminance
- threshold value
- image
- Prior art date
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/8806—Specially adapted optical and illumination features
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K13/00—Apparatus or processes specially adapted for manufacturing or adjusting assemblages of electric components
- H05K13/08—Monitoring manufacture of assemblages
- H05K13/081—Integration of optical monitoring devices in assembly lines; Processes using optical monitoring devices specially adapted for controlling devices or machines in assembly lines
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Operations Research (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Abstract
칩 마운터의 노즐부의 조명상태를 검사하는 방법에 관한 것으로, 화상 인식 카메라로 부터 노즐의 영상을 입력받고, 상기 영상에서 확산판 영역에 대하여 노즐 중심에서 8 방향으로 조도의 분포를 검출하고. 상기 확산판과 노즐사이의 경계부에서 문턱값을 구하여 상기 각 방향에 대해 확산판 영역의 휘도와 비교하여 문턱값보다 낮은 휘도 부분이 있으면 불량이라고 판단한다.
Description
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제3도는 본 발명에 의한 조명 검사 방법을 보이는 플로우 차트이다.
Claims (3)
- 칩 마운터의 노즐부의 조명상태를 검사하는 방법에 있어서, 화상 인식 카메라로 부터 노즐의 영상을 입력받는 단계와, 상기 영상에서 확산판 영역에 대하여 노즐 중심에서 다수의 방향으로 휘도의 분포를 검출하는 단계와, 상기 확산판 영역과 배경 사이의 경제부에서 문턱값을 구하는 단계와, 상기 검출된 각 방향의 휘도 분포에서 사전에 측정된 확산판의 지름값을 이용하여 확산판 영역의 휘도가 상기 확산판의 문턱값보다 큰지를 판단하는 단계와, 상기 확산판 영역의 휘도가 문턱값보다 큰 경우, 조명상태 양호를 모니터에 표시하고, 확산판 영역의 휘도가 문턱값보다 작은 부분이 있는 경우, 상기 단계에서 불량이라고 판단한 부분을 모니터에 표시하는 단계를 구비하는 것을 특징으로 하는 확산판의 문턱값에 의한 노즐 조명 검사 방법.
- 제1항에 있어서, 상기 영상에서 확산판 영역에 대하여 노즐 중심에서 조조의 분포를 검출하는 방향은 8방향인 것을 특징으로 하는 확산판의 문턱값에 의한 노즐 조명 검사 방법.
- 제1항에 있어서, 상기 확산판 영역을 구하는 과정에서 확산판과 배경사이의 경계부와 확산판과 노즐사이의 경계부는 확산판영역에 포함시키지 않는 것을 특징으로 하는 확산판의 문턱값에 의한 노즐 조명 검사 방법.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1019950038621A KR0169863B1 (ko) | 1995-10-31 | 1995-10-31 | 확산판의 문턱값에 의한 조명검사방법 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1019950038621A KR0169863B1 (ko) | 1995-10-31 | 1995-10-31 | 확산판의 문턱값에 의한 조명검사방법 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR970025358A true KR970025358A (ko) | 1997-05-30 |
KR0169863B1 KR0169863B1 (ko) | 1999-04-15 |
Family
ID=19432234
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1019950038621A KR0169863B1 (ko) | 1995-10-31 | 1995-10-31 | 확산판의 문턱값에 의한 조명검사방법 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
KR (1) | KR0169863B1 (ko) |
-
1995
- 1995-10-31 KR KR1019950038621A patent/KR0169863B1/ko not_active IP Right Cessation
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
KR0169863B1 (ko) | 1999-04-15 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
KR910012993A (ko) | 땜납 접합부 탐지 시스템 및 방법 | |
TWI263942B (en) | Method and sensing device for motion detection in an optical pointing device, such as an optical mouse | |
JPS6141906A (ja) | はんだ面の状態認識方法 | |
EP0952442A3 (en) | Visual inspection apparatus and method | |
KR970025358A (ko) | 확산판의 문턱값에 의한 조명검사방법 | |
KR970025357A (ko) | 화상처리에 의한 노즐 조명 검사방법 | |
JP3247302B2 (ja) | 半田付け検査装置 | |
JP2015210226A (ja) | 外観検査装置及び外観検査方法 | |
JPH07135400A (ja) | 実装部品の検査方法 | |
JP3454142B2 (ja) | 半田付け検査装置 | |
JP2002139439A (ja) | 検査用拡散光源 | |
KR970025356A (ko) | 화상처리를 이용한 부품 흡착불량 검사장치 및 그 제어방법 | |
KR970077405A (ko) | 반도체 장비의 패턴 정렬 검사장치 | |
JP2517385Y2 (ja) | 半導体装置の樹脂欠け検査装置 | |
JPH06118024A (ja) | 表示素子の輝度ムラ検査方法 | |
JPH02155106A (ja) | 照明装置 | |
KR100299501B1 (ko) | 칩의 리드간 납땜불량 검사방법 | |
JP2801657B2 (ja) | ピン付きパッケージ検査装置 | |
KR0152885B1 (ko) | 인쇄회로 기판의 납땜상태 분류방법 | |
KR20040008417A (ko) | 웨이퍼의 결함 검출방법 | |
JPH0678856U (ja) | 照明装置 | |
KR970002350A (ko) | 인쇄 회로 기판상의 부품 실장 상태 검사 방법 및 장치 | |
JPH04236318A (ja) | コンデンサ極性検査装置 | |
JPS6486090A (en) | Inspection method for existence of substance | |
JPH06300546A (ja) | ピンホール状欠陥抽出法及び判定法 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A201 | Request for examination | ||
E902 | Notification of reason for refusal | ||
E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
GRNT | Written decision to grant | ||
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20010928 Year of fee payment: 4 |
|
LAPS | Lapse due to unpaid annual fee |