JPH06300546A - ピンホール状欠陥抽出法及び判定法 - Google Patents
ピンホール状欠陥抽出法及び判定法Info
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- JPH06300546A JPH06300546A JP5109789A JP10978993A JPH06300546A JP H06300546 A JPH06300546 A JP H06300546A JP 5109789 A JP5109789 A JP 5109789A JP 10978993 A JP10978993 A JP 10978993A JP H06300546 A JPH06300546 A JP H06300546A
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- Japan
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- pinhole
- center
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 リード状物体の上に存在するピンホール状欠
陥を抽出する方法、およびピンホール状欠陥の最大径と
リード状物体の幅との比で不良を判定する方法を提供す
ることを目的とする。 【構成】 リード状物体の画像の二値化像にリード状物
体の輝度値と反対の最大輝度または最小輝度の枠を書
き、一番画素数の大きな物体を除くことで、ピンホール
状欠陥を抽出する。
陥を抽出する方法、およびピンホール状欠陥の最大径と
リード状物体の幅との比で不良を判定する方法を提供す
ることを目的とする。 【構成】 リード状物体の画像の二値化像にリード状物
体の輝度値と反対の最大輝度または最小輝度の枠を書
き、一番画素数の大きな物体を除くことで、ピンホール
状欠陥を抽出する。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明はリード状物体の画像処理
によるピンホール状欠陥の抽出判定法に関する。
によるピンホール状欠陥の抽出判定法に関する。
【０００２】
【従来の技術】リード状の物体の画像処理において、物
体の上に存在するピンホール状欠陥について、従来技術
ではピンホール状欠陥のリード状物体の幅方向の径を算
出するのみでピンホール状欠陥が円形でないものに付い
てはピンホール状欠陥の最大径を求めることはできなか
った。
体の上に存在するピンホール状欠陥について、従来技術
ではピンホール状欠陥のリード状物体の幅方向の径を算
出するのみでピンホール状欠陥が円形でないものに付い
てはピンホール状欠陥の最大径を求めることはできなか
った。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】本発明はかかる点に関
するものであり、リード状の物体の上に存在するピンホ
ール状欠陥の抽出方法と、前記ピンホール状欠陥の最大
径とリード状の物体の幅との比によって不良判定がなさ
れる場合の不良判定方法を提供することを目的としてい
る。
するものであり、リード状の物体の上に存在するピンホ
ール状欠陥の抽出方法と、前記ピンホール状欠陥の最大
径とリード状の物体の幅との比によって不良判定がなさ
れる場合の不良判定方法を提供することを目的としてい
る。
【０００４】
【課題を解決するための手段】本発明者らは上記課題を
達成すべく鋭意研究の結果、まず画面上の二値化像に前
記リード状物体の輝度値と反対の最大輝度または最小輝
度の枠を書き、物体の画素数の大きな順にナンバリング
し一番画素数の大きな物体を除くことでリード状物体の
上に存在するピンホール状欠陥の抽出を行なう方法を見
いだした。
達成すべく鋭意研究の結果、まず画面上の二値化像に前
記リード状物体の輝度値と反対の最大輝度または最小輝
度の枠を書き、物体の画素数の大きな順にナンバリング
し一番画素数の大きな物体を除くことでリード状物体の
上に存在するピンホール状欠陥の抽出を行なう方法を見
いだした。
【０００５】本発明者らはさらに上記のようにして抽出
したピンホール状欠陥について、その重心を算出し、求
めた重心を中心にしてラジアル方向に一定角度ごとのラ
ンレングスを求め、各方向の前記ピンホール状欠陥の重
心近傍のランレングスを比較し、前記ピンホール状欠陥
の重心を含むランレングスを中心としてその両側のラン
レングスを加算した長さの合計が最小のものをもってリ
ード状の物体の幅とし、前記ピンホール状欠陥の重心を
含むランレングスの最大長をもってピンホール状欠陥の
径とし、両者の比をもって不良を判定する方法をも見い
だした。
したピンホール状欠陥について、その重心を算出し、求
めた重心を中心にしてラジアル方向に一定角度ごとのラ
ンレングスを求め、各方向の前記ピンホール状欠陥の重
心近傍のランレングスを比較し、前記ピンホール状欠陥
の重心を含むランレングスを中心としてその両側のラン
レングスを加算した長さの合計が最小のものをもってリ
ード状の物体の幅とし、前記ピンホール状欠陥の重心を
含むランレングスの最大長をもってピンホール状欠陥の
径とし、両者の比をもって不良を判定する方法をも見い
だした。
【０００６】
【実施例】次にこの発明の実施例を図にもとづいて詳細
に説明する。図１はＬ／Ｆ、ＴＡＢ、プリント基板の配
線パターンなどのようなリード状の形状を持つ物体の原
画像であり、１はリード状の物体、２はリード状の物体
の上に存在するピンホール状欠陥である。この画像のピ
ンホール状欠陥抽出判定処理において、まず反転二値化
画像に最大輝度の輝度値２５５の外枠を描画することに
より、図２のごとく輝度値２５５の物体を背景とピンホ
ール状欠陥のみとし、次に図３のごとく輝度値２５５の
物体をそこに含まれる画素数で順位をつけるラベリング
処理により区別し、画素数最大の物体（背景）を除去す
ることにより図４のごとくピンホール状欠陥を抽出す
る。
に説明する。図１はＬ／Ｆ、ＴＡＢ、プリント基板の配
線パターンなどのようなリード状の形状を持つ物体の原
画像であり、１はリード状の物体、２はリード状の物体
の上に存在するピンホール状欠陥である。この画像のピ
ンホール状欠陥抽出判定処理において、まず反転二値化
画像に最大輝度の輝度値２５５の外枠を描画することに
より、図２のごとく輝度値２５５の物体を背景とピンホ
ール状欠陥のみとし、次に図３のごとく輝度値２５５の
物体をそこに含まれる画素数で順位をつけるラベリング
処理により区別し、画素数最大の物体（背景）を除去す
ることにより図４のごとくピンホール状欠陥を抽出す
る。
【０００７】なお上記したのは、原画像を反転二値化し
た場合について述べたが、原画像をそのまま二値化して
最小輝度の外枠を描画すれば、後は同様な処理でピンホ
ール状欠陥を暗部として抽出できる。
た場合について述べたが、原画像をそのまま二値化して
最小輝度の外枠を描画すれば、後は同様な処理でピンホ
ール状欠陥を暗部として抽出できる。
【０００８】それから抽出したピンホール状欠陥の１つ
１つについて、その重心位置を算出し、図５のごとく原
画像に書き込む。次に図６のごとく求めた重心を中心と
してラジアル方向に一定角度ごとのランレングスを求
め、図７のごとく各方向の前記ピンホール状欠陥の重心
近傍のランレングスを比較し、前記ピンホール状欠陥の
重心を含むランレングスＬ2 を中心としてその両側のラ
ンレングスＬ1 、Ｌ3 を加算した長さの合計Ｌが最小の
ものをもってリード状物体の幅ｙ′とし、図８のごとく
前記ピンホール状欠陥の重心を含むランレングスＬ2 の
最大長をもってピンホール状欠陥の径ｘ′とし、両者の
比をもって例えばｘ′／ｙ′＞１／４をもって不良とす
ることによって不良を判定することができる。
１つについて、その重心位置を算出し、図５のごとく原
画像に書き込む。次に図６のごとく求めた重心を中心と
してラジアル方向に一定角度ごとのランレングスを求
め、図７のごとく各方向の前記ピンホール状欠陥の重心
近傍のランレングスを比較し、前記ピンホール状欠陥の
重心を含むランレングスＬ2 を中心としてその両側のラ
ンレングスＬ1 、Ｌ3 を加算した長さの合計Ｌが最小の
ものをもってリード状物体の幅ｙ′とし、図８のごとく
前記ピンホール状欠陥の重心を含むランレングスＬ2 の
最大長をもってピンホール状欠陥の径ｘ′とし、両者の
比をもって例えばｘ′／ｙ′＞１／４をもって不良とす
ることによって不良を判定することができる。
【０００９】また、この方法によれば図９のごとくリー
ド状物体に存在する欠け等の欠陥も、図９におけるＡ
点、Ｂ点のような屈曲点を結ぶ包絡線処理を施して仮想
的なピンホールとみなし、上記と同様な処理によって不
良を判定することができる。
ド状物体に存在する欠け等の欠陥も、図９におけるＡ
点、Ｂ点のような屈曲点を結ぶ包絡線処理を施して仮想
的なピンホールとみなし、上記と同様な処理によって不
良を判定することができる。
【００１０】
【発明の効果】以上のように、本発明の方法によると物
体の画像処理において、リード状の物体の上にあるピン
ホール状欠陥を抽出することができる。さらに円形でな
いピンホール状欠陥の最大径とリード状の物体の幅との
比によって不良判定がなされる場合であって、画面内で
幅の異なるリード状の物体が複数存在する場合でも簡単
に不良の抽出、判定をすることができる。
体の画像処理において、リード状の物体の上にあるピン
ホール状欠陥を抽出することができる。さらに円形でな
いピンホール状欠陥の最大径とリード状の物体の幅との
比によって不良判定がなされる場合であって、画面内で
幅の異なるリード状の物体が複数存在する場合でも簡単
に不良の抽出、判定をすることができる。
【図１】リード状の形状をもつ物体の原画像である。
【図２】反転二値化像に最大輝度の外枠を描画した画像
である。
である。
【図３】画素数の順位でラベリングをした画像である。
【図４】ピンホール状欠陥を抽出した画像である。
【図５】原画像にピンホール状欠陥の重心を書き込んだ
ものである。
ものである。
【図６】ピンホール状欠陥の重心を中心にしてラジアル
方向に一定角度ごとにランレングスを求めることの説明
図である。
方向に一定角度ごとにランレングスを求めることの説明
図である。
【図７】各方向のピンホール状欠陥の重心近傍のランレ
ングスを比較した図である。
ングスを比較した図である。
【図８】リード状物体の巾ｙ′とピンホール状欠陥の最
大径ｘ′との比で不良を判定する説明図である。
大径ｘ′との比で不良を判定する説明図である。
【図９】リード状物体に欠け等の欠陥が存在する場合の
処理方法の説明図である。
処理方法の説明図である。
１ リード状物体 ２ ピンホール状欠陥 Ｌ2 ピンホール状欠陥の重心を含むランレングス Ｌ1 、Ｌ3 Ｌ2 の両側のランレングス ｘ′ ピンホール状欠陥の径 ｙ′ リード状物体の幅
Claims (2)
- 【請求項１】 リード状物体の画像処理において、まず
画面上の二値化像に前記リード状物体の輝度値と反対の
最大輝度または最小輝度の枠を書き、物体の画素数の大
きな順にナンバリングし一番画素数の大きな物体を除く
ことで上記リード状物体の上に存在するピンホール状欠
陥の抽出を行なうピンホール状欠陥抽出法。 - 【請求項２】 請求項１記載の方法で抽出したピンホー
ル状欠陥について、リード状の物体の上に存在するピン
ホール状欠陥の最大径とリード状の物体の幅との比によ
って不良判定がなされる場合、ピンホール状欠陥の重心
を算出し、求めた重心を中心にしてラジアル方向に一定
角度ごとの白黒画素のそれぞれ続く長さ（以下ランレン
グスと呼ぶ）を求め、各方向の前記ピンホール状欠陥の
重心近傍のランレングスを比較し、前記ピンホール状欠
陥の重心を含むランレングスを中心としてその両側のラ
ンレングスを加算した長さの合計が最小のものをもって
リード状の物体の幅とし、前記ピンホール状欠陥の重心
を含むランレングスの最大長をもってピンホール状欠陥
の径とし、両者の比をもって不良を判定するピンホール
状欠陥判定法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5109789A JPH06300546A (ja) | 1993-04-14 | 1993-04-14 | ピンホール状欠陥抽出法及び判定法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5109789A JPH06300546A (ja) | 1993-04-14 | 1993-04-14 | ピンホール状欠陥抽出法及び判定法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06300546A true JPH06300546A (ja) | 1994-10-28 |
Family
ID=14519266
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP5109789A Pending JPH06300546A (ja) | 1993-04-14 | 1993-04-14 | ピンホール状欠陥抽出法及び判定法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH06300546A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006105807A (ja) * | 2004-10-06 | 2006-04-20 | Central Glass Co Ltd | 透明板状体の印刷欠陥および／または印刷汚れの検査方法 |
| JP2006349344A (ja) * | 2005-06-13 | 2006-12-28 | Sumitomo Metal Mining Co Ltd | 除外フィルターシステム |
-
1993
- 1993-04-14 JP JP5109789A patent/JPH06300546A/ja active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006105807A (ja) * | 2004-10-06 | 2006-04-20 | Central Glass Co Ltd | 透明板状体の印刷欠陥および／または印刷汚れの検査方法 |
| JP2006349344A (ja) * | 2005-06-13 | 2006-12-28 | Sumitomo Metal Mining Co Ltd | 除外フィルターシステム |
| JP4565334B2 (ja) * | 2005-06-13 | 2010-10-20 | 住友金属鉱山株式会社 | 除外フィルターによる検査方法 |
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