KR960702606A - 광 산란을 사용하여 입자의 크기를 결정하기 위한 장치 및 방법(Apparatus and method for determining the size of particles using light scattering) - Google Patents

광 산란을 사용하여 입자의 크기를 결정하기 위한 장치 및 방법(Apparatus and method for determining the size of particles using light scattering)

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KR960702606A
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이. 베네데토 엘리자베스
더블유. 라이온스 존
피. 우드 스튜워트
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스테픈 에스, 그레이스
더 다우 케미칼 캄파니
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Abstract

본 발명의 장치 및 방법은 재료의 굴절율에 관계 없이 매체내에 현탁되는 입자(20)의 크기를 효과적으로 결정한다. 상기 장치는 시준된 광(22)의 비임을 발생하기 위한 수단(12)과, 입자(20)를 시준된 광(22)에 노출시켜서 광을 산란시키기 위한 수단(13) 및 입자(20)에 의해 산란되는 어떠한 광도 상기 검출기(14,31)에 도달하는 것을 방지하기 위한 수단(17,41,43)을 포함한다. 본 발명의 방법은 시준된 광(22)의 비임을 통하여 입자(20)를 포함하는 매체를 통과시킴으로써 입자(20)에 접촉되는 광이 산란되는 단계와; 입자(20)에 의해 산란되는 광이 검출되는 것을 방지시키는 단계와; 입자에 의해 산란되지 않는 광을 검출하는 단계 및; 검출기(14,31)위에 조사되는 광세기 감소로부터 입자(20)의 크기를 결정하는 단계를 포함한다.

Description

광 산란을 사용하여 입자의 크기를 결정하기 위한 장치 및 방법(Apparatus and method for determining the size of particles using light scattering)
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제1는 차광 기구에 의하여 종래의 입자 크기 결정내로 삽입되는 검출 협력기를 도시하는 본 발명 장치의 일실시예를 도시하는 개략적인 다이아그램.
제2도는 광축에 평행한 입자에 층돌되는 광선이 상기 입자에 의하여 어떻게 변경되는지를 도시하는 다이아그램.
제3도는 광 집적각을 감소시키는 플로우 셀로부터 상기 검출기가 어떻게 이격되게 이동하는지를 도시하는 다이아그램.

Claims (21)

  1. 매체에 현탁된 입자의 크기를 결정하기 위한 장치에 있어서, 상기 장치는 광 비임을 발생하기 위한 수단과; 광 비임에 입자를 노출시켜서 입자에 접촉된 광이 산란되도록 하는 수단 및; 광 비임에 입자를 노출시키기 위한 수단을 통하여 광이 통과한 후에 소정의 집적각에 걸쳐 상기 광을 검출하기 위한 수단을 포함하는 형태이며, 산란된 광이 검출기에 도할하는 것을 방지하기 위한 공간 필터를 구비하는 것을 특징으로 하는 매체에 현탁된 입자의 크기를 결정하기 위한 장치.
  2. 제1항에 있어서, 상기 공간 필터는 강 비임에 입자를 노출하기 위한 수단과 광 검출 수단 사이에 위치된 검출 협력기를 포함하는 것을 특징으로 하는 매체에 현탁된 입자의 크기를 결정하기 위한 장치.
  3. 제1항에 있어서, 상기 광 비임을 발생하기 위한 수단은 광선 모두가 광속에 평행할 수 있도록 시준된 광 비임을 발생시킬 수 있는 것을 특징으로 하는 매체에 현탁된 입자의 크기를 결정하기 위한 장치.
  4. 제3항에 있어서, 상기 공간 필터는 시준된 광의 광축위에 위치된 렌즈와 결합되어 사용되고, 상기 렌즈는 검출 수단과 입자를 시준된 광에 노출시키기 위한 수단 사이에 위치되어, 촛점에서 광축에 평행한 광선 모두를 포커스시키는 것을 특징으로 하는 매체에 현탁된 입자의 크기를 결정하기 위한 장치.
  5. 제4항에 있어서, 상기 공간 필터는 촛점을 통과하지 않는 모든 광선을 차단하기 위하여 핀홀을 포함하는 것을 특징으로 하는 매체에 현탁된 입자의 크기를 결정하기 위한 장치.
  6. 제4항에 있어서, 상기 공간 필터는 촛점에서 광선 비임의 직경과 동일한 직경을 가지는 광섬유 케이블을 포함하고 상기 광섬유 케이블은 렌즈의 촛점에 위치되므로, 상기 촛점을 통과하는 광선만이 광섬유 케이블로 향하는 것을 특징으로 하는 매체에 현탁된 입자의 크기를 결정하기 위한 장치.
  7. 제4항에 있어서, 상기 검출 수단은 촛점을 통과하는 광만이 검출될 수 있도록 감소된 활성 영역을 가지는 것을 특징으로 하는 매체에 현탁된 입자의 크기를 결정하기 위한 장치.
  8. 제1항에 있어서, 상기 공간 필터는 상기 집적각을 약 3도 이하로 감소시키는 것을 특징으로 하는 매체에 현탁된 입자의 크기를 결정하기 위한 장치.
  9. 제1항에 있어서, 상기 공간 필터는 집적각을 약 2도 이하로 감소시키는 것을 특징으로 하는 매체에 현탁된 입자의 크기를 결정하기 위한 장치.
  10. 제1항에 있어서, 상기 공간 필터는 집적각을 약1도 이하로 감소시키는 것을 특징으로 하는 매체에 현탁된 입자의 크기를 크기를 결정하기 위한 장치.
  11. 매체에 현탁된 입자의 크기를 결정하기 위한 방법에 있어서, (가)입자에 접촉하는 광이 산란될 수 있도록 입자를 포함하는 매체를 광 비임에 통과시키는 단계와; (나)상기 입자에 의해 산란되지 않는 광을 검출하는 단계와; (다)입자에 의해 산란되는 광이 검출되는 것을 방지하는 단계 및; (라)입자가 광 비임을 통과할때 검출되는 광의 감소로부터 입자의 크기를 결정하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 매체에 현탁된 입자의 크기를 결정하기 위한 방법.
  12. 제11항에 있어서, 상기 광 비임은 입자를 포함한 매체가 광을 통과하기 전에 시준되는 것을 특징으로 하는 매체에 현탁된 입자의 크기를 결정하기 위한 방법.
  13. 제12항에 있어서, 상기 (다)단계는 시준된 비임과 정렬되는 광축을 가진 렌즈에 광을 통과시키는 단계를 포함하므로, 상기 렌즈는 촛점에서 광축에 평행한 모든 광선을 포커스시키며, 입자가 광에 노출된 후에 위치되는 것을 특징으로 하는 매체에 현탁된 입자의 크기를 결정하기 위한 방법.
  14. 제13항에 있어서, 촛점에서 위치된 공간 필터에 광을 통과시키는 단계를 부가로 포함하고, 상기 공간필터는 촛점을 통과하는 광 만이 통과될 수 있도록 형성되는 것을 특징으로 하는 매체에 현탁된 입자의 크기를 결정하기 위한 방법.
  15. 제13항에 있어서, 상기 촛점을 통과하는 광을 광섬유 케이블로 향하게 하는 단계를 부가로 포함하는 것을 특징으로 하는 매체에 현탁된 입자의 크기를 결정하기 위한 방법.
  16. 제11항에 있어서, 3도 이하의 집적각내에 있는 광 만이 검출되는 것을 특징으로 하는 매체에 현탁된 입자의 크기를 결정하기 위한 방법.
  17. 제11항에 있어서, 2도 이하의 집적각내에 있는 광 만이 검출되는 것을 특징으로 하는 매체에 현탁된 입자의 크기를 결정하기 위한 방법.
  18. 제11항에 있어서, 1도 이하의 집적각내에 있는 광 만이 검출되는 것을 특징으로 하는 매체에 현탁된 입자의 크기를 결정하기 위한 방법.
  19. 매체에 현탁된 입자의 크기를 결정하기 위한 장치에서, 상기 장치는 광 비임을 발생하기 위한 수단과; 광 비임에 입자를 노출시켜서 입자에 접촉된 광이 산란되도록 하는 수단 및; 광비임에 입자를 노출시키기 위한 수단을 통하여 광이 통과한 후에 상기 광을 검출하기 위한 수단을 포함하는 형태이며, 3도 이상의 산란각을 가진 어떠한 광도 검출기에 도달하는 것을 효과적으로 방지하기 위한 공간 필터를 구비하는 것을 특징으로 하는 매체에 현탁된 입자의 크기를 결정하기 위한 장치.
  20. 매체에 현탁된 입자의 크기를 결정하기 위한 장치에서, 상기 장치는 광 비잉을 발생하기 위한 수단과; 광 비임에 입자를 노출시켜서 입자에 접촉된 광이 산란되도록 하는 수단 및; 광 비임에 입자를 노출시키기 위한 수단을 통하여 광이 통과한 후에 상기 광을 검출하기 위한 수단을 포함하는 형태이며, 산란된 광이 검출기에 도달하는 것을 방지하기 위한 공간 필터를 포함하고, 상기 공간 필터는 현탁 매체의 굴절율에 대한 입자의 굴절율의 비가 1.03이 될 수 있도록 매체에 현탁된 입자 크기를 효과적으로 결정하는 것을 특징으로 하는 매체에 현탁된 입자의 크기를 결정하기 위한 장치.
  21. ※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
KR1019950705357A 1993-05-26 1994-05-26 광 산란을 사용하여 입자의 크기를 결정하기 위한 장치 및 방법(Apparatus and method for determining the size of particles using light scattering) KR960702606A (ko)

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