KR960043065A - 프루브 조정 방법 - Google Patents
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Abstract
이 발명은 프루브 스테이션(Probe Station)의 프루브(Probe) 조정방법에 관한 것으로, 프루브 스테이션을 이용하여 박막트랜지스터 회로기판과 같은 대면적 기판을 테스트하기 전에 프루브가 수평이 되도록 하기 위하여, 저항체에 프루브스테이션의 핀을 접속하고, 인접 핀 간의 저항을 저항측정장치를 이용하여 측정 및 판독을 한 다음, 프루브 스테이션의 핀 조정장치를 이용하여 핀을 수평 조정하는 것으로 이루어지는 것을 특징으로 하는 프루브 조정 방법에 관한 것이다. 또한 상기한 프루브 조정 방법을 이용하여 먼저 여러개의 프루브 블럭을 나누어 프루브 블럭 단위로 저항을 측정하여 수평조정을 한 후 각 프루브 블럭의 저항값이 일치하도록 프루브 블럭 간의 저항을 맞추어 주는 프루브 조정 방법에 관한 것이다.
Description
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제3도는 본 발명의 제1실시예에 따른 고저항 기판의 저항 측정 회로도이고, 제11도는 본 발명의 제1실시예에 따른 핀간의 저항을 측정하는 방법을 나타낸 상태도이다.
Claims (2)
- 저항체에 프루브스테이션의 핀을 접속하고, 인접 핀간의 저항을 저항측정장치를 이용하여 측정 및 판독을 한 다음, 프루브 스테이션의 핀 조정 장치를 이용하여 핀을 수평조정하는 것으로 이루어지는 것을 특징으로 하는 프루브 조정방법.
- 프루브 스테이션의 다수의 프루브에 대하여 여러 개의 프루브 블럭을 나누어 프루브 블럭을 지정한 다음, 프루브 블럭 중 어느 하나의 프루브 블럭에 저항체를 접속하고, 저항측정장치를 이용하여 인접 핀 간의 저항을 측정 및 판독 한 다음, 프루브 스테이션의 핀 조정 장치를 이용하여 프루브 블럭의 핀을 수평조정한 뒤, 프루브 블럭 중 나머지 프루브 블럭에 대해서도 상기와 같은 방법으로 프루브 블럭의 핀을 수평조정하는 것을 되풀이 한 다음, 각 프루브 블럭마다 저항이 동일하도록 프루브의 높이를 조절하여 각 프루브 블럭마다 동일한 저항값이 나오도록 조정하는 것으로 이루어지는 것을 특징으로 하는 프루브 조정방법.※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
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