KR960042064A - 수직동작식 프로브카드 - Google Patents
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Abstract
Description
Claims (6)
- 피검사물의 전기적 특성을 검사하기 위하여 피검사물위에 형성된 전극위에 접촉하도록 수직적으로 움직이는 프로브로 구성되어 있으며 상기한 프로브는 굴곡부(110)또는 U자형상의 만곡부(510)가 형성되어 있는 것을 특징으로 하는 수직동작식 프로브카드.
- 재1항에 있어서, 상기 인접한 프로브의 굴곡부(110) 또는 U자형사의 만곡부(510)가 같은 방향으로 좌굴되도록 배열되어 있는 것을 특징으로 하는 수직동작식 프로브카드.
- 재1항에 있어서, 상기 인접한 프로브의 굴곡부(110) 또는 U자형사의 만곡부(510)가 반대 반대방향으로 좌굴되도록 배열되어 있는 것을 특징으로 하는 수직동작식 프로브카드.
- 피검사물의 전기적 특성을 검사하기 위하여 아래쪽에 위치하는 피검사물과 평행하게 놓여 있는 프린트기판(200)과 상기한 프린트기판(200)의 이면으로부터 수직적으로 뻗은 다수의 프로브(100)를 보유하는 프로브카드(300)의 조합으로서, 상기한 프린트기판(200)의 이면으로부터 수직적으로 아래방향으로 장착된 제1수직스페이서(310)와, 상기한 프린트기판과 평행이고 제1수직스페이서의 아래끝부분과 연결되어 있는 제1위치결정판(320)과, 상기한 제1수직스페이서로부터 연장되어 수직적으로 아래방향으로 장착된 제2수직스페이서(330)와, 상기한 프린트기판(200)과 평행이고 제2수직스페이서(330)의 아래끝부분과 연결되어 있는 제2위치결정판(340)으로 구성되어 있으며, 상기한 제1과 제2위치결정판은 프로브(100)가 관통하여 피검사물과 접촉하도록 프로브와 같은수, 같은 위치에 관통구멍을 보유하고 있으며 각 프로브(100)는 제1위치결정판(320)과 제2위치 결정판(340) 사이에 길이방향으로 굴곡부(110) 또는 U자형상의 만곡부를 보유하는 것을 특징으로 하는 수직동작식 프로브카드.
- 제4항에 있어서, 상기 인접한 프로브의 굴곡부(110) 또는 U자형상의 만곡부가 같은 방향으로 좌굴되도록 배열되어 있는 것을 특징으로 하는 수직동작식 프로브카드.
- 제4항에 있어서, 상기 인접한 프로브의 굴곡부(110) 또는 U자형상의 만곡부가 반대 방향으로 좌굴되도록 배열되어 있는 것을 특징으로 하는 수직동작식 프로브카드.※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1019950010857A KR960042064A (ko) | 1995-05-03 | 1995-05-03 | 수직동작식 프로브카드 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1019950010857A KR960042064A (ko) | 1995-05-03 | 1995-05-03 | 수직동작식 프로브카드 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR960042064A true KR960042064A (ko) | 1996-12-19 |
Family
ID=66523781
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1019950010857A Ceased KR960042064A (ko) | 1995-05-03 | 1995-05-03 | 수직동작식 프로브카드 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
KR (1) | KR960042064A (ko) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100920230B1 (ko) * | 2007-11-22 | 2009-10-05 | 삼성전기주식회사 | 기판 검사 장치 |
-
1995
- 1995-05-03 KR KR1019950010857A patent/KR960042064A/ko not_active Ceased
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100920230B1 (ko) * | 2007-11-22 | 2009-10-05 | 삼성전기주식회사 | 기판 검사 장치 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
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PA0201 | Request for examination |
Patent event code: PA02012R01D Patent event date: 19950503 Comment text: Request for Examination of Application |
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Comment text: Notification of reason for refusal Patent event date: 19980508 Patent event code: PE09021S01D |
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Patent event date: 19981023 Comment text: Decision to Refuse Application Patent event code: PE06012S01D Patent event date: 19980508 Comment text: Notification of reason for refusal Patent event code: PE06011S01I |