KR960035720A - 전계 효과 전자 방출 소자 및 그 제조 방법 - Google Patents
전계 효과 전자 방출 소자 및 그 제조 방법 Download PDFInfo
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Abstract
본 발명은 소자 제조시 전계 효과에 의해 전자를 방출하는 마이크로-팁의 형성을 용이하게 할 수 있는 전계 효과 전자 방출 소자 및 그 제조 방법에 관한 것이다.
즉, 본 발명에 따른 전계 효과 전자 방출 소자 및 그 제조 방법은 텅스텐 음극과 그 하부의 티타늄 접착층 상부의 알루미늄 마스크의 식각 속도(etching rate)의 차 및 내부 응력의 차를 아주 크게하여, 접착층 및 마스크를 순간적으로 식각할 때 텅스텐 마이크로-팁이 내부 응력에 의해 튀어오르도록 하여 마이크로-팁을 형성하는 방법으로, 공정상 팁 끝의 사이즈를 임의로 조정할 수 있고, 또한 공정 자체가 텅스텐의 내부 스트레스와 BOE법의 특성을 이용하므로 재현성이 뛰어난 장점이 있다.
Description
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제4도는 본 발명에 따른 전계 효과 전자 방출 소자의 수직 단면도이고, 제5도는 제4도의 전계 효과 전자 방출소자의 발췌 사시도이며, 제6도는 제5도의 구조에서 마이크로-팁이 돌출되기 전의 모습을 나타내는 발췌 사시도이다.
Claims (17)
- 배면 기판; 상기 기판 상에 스트라이프 상으로 소정의 식각액에 대하여 소정 속도 이상의 제1식각 속도로 식각되는 물질로 형성된 접착층; 상기 접착층 상에 상기 스트라이프 상으로 상기 식각액에 식각되지 않는 동시에 상기 접착층과의 내부 응력이 소정의 크기 이상인 금속으로 형성된 음극; 상기 음극의 소정 부분이 각각 삼각형으로 식각되어 상부로 구부러지도록 형성된 마이크로-팁; 상기 마이크로-팁 이외의 음극 상에 식각액에 대하여 상기 제1식각액 속도 이하의 제2식각 속도로 식각되는 물질로 형성된 마스크층; 상기 마스크층 상에 스트라이프상으로 형성된 절연체층; 상기 절연체층 상에 스트라이프상으로 형성된 게이트; 상기 배면 기판과 소정의 간격으로 이격되어 대향된 전면 기판; 그리고 상기 배면 기판과 대향되는 전면 기판 상에 상기 음극과 교차하는 방향으로 스트라이프 상으로 형성된 양극; 을 구비하여 된것을 특징으로 하는 전계 효과 전자 방출 소자.
- 제1항에 있어서, 상기 접착층은 티타늄 또는 알루미늄을 소정의 두께로 증착하여 형성된 것을 특징으로 하는 전계 효과 전자 방출소자.
- 제1항에 있어서, 상기 음극은 텅스텐을 소정의 두께로 증착하여 형성된 것을 특징으로 하는 전계효과 전자 방출 소자
- 제1항에 있어서, 상기 마이크로-팁은 소정의 돌출 각도를 가지는 것을 특징으로 하는 전계 효과 전자 방출소자..
- 제4항에 있어서, 상기 돌출 각도는 60°~70°로 이루는 것을 특징으로 하는 전계효과 방출용 마이크로-팁
- 제1항에 있어서, 상기 마스크는 알루미늄 또는 티타늄을 소정의 두께로 증착시켜 형성된 것을 특징으로 하는 전계 효과 전자 방출 소자.
- 제1항에 있어서, 상기 게이트는 크롬르 증착시켜 형성된 것을 특징으로 하는 전계 효과 전자 방출 소자.
- 기판상에 소정의 식각액에 대하여 소정 속도 이상의 제1식각속도로 식각되는 물질로 이루어진 접착층, 상기 접착층과는 내부 응력이 소정의 크기 이상이고, 상기 식각액에 대하여 식각되지 않는 금속의 음극층 및 상기 식각액에 대하여 상기 제1 속도 이하의 속도인 제2식각 속도로 식각되는 물질로 이루어진 마스크층을 순차적으로 적층하는 단계; 상기 마이크층을 패터닝하여 삼각형의 마스크를 형성하는 단계; 상기 마스크를 사용하여 음극의 노출된부분을 식각하여 마이크로-팁이 될 부분들을 형성하는 단계; 상기 마스크 및 마이크로-팁이 형성될 부분이 형성된 기판 상에 절연체층을 형성시키는 단계; 상기 절연 체층 상에 리프트-오프 기법으로 증착되고 패턴하여 게이트를 형성하는 단계; 상기 게이트를 마스크로 이용하여 절연체층을 선택적으로 식각하여 상기 마스크 및 마이크로-팁이 될 부분을 노출시키는 단계; 상기 마이크로-팁이 될 부분이 하부 및 상부의 상기 접착층 및 마이크를 소정의 시간 이내에 식각함으로써 상기 마이크로-팁이 될 부분이 상기 내부 응력에 의해 돌출되게 하여 마이크로-팁 돌출단계; 상기 마이크로-팁이 형성된 배면 기판과 소정의 간격을 두고 양극 대향되도록 상기 음극과 교차하는 방향의 스트라이프 상의 양극이 형성된 전면 기판을 배치하고 그 가장자리를 밀봉한 다음 그 내부 공기를 빼내어 소정의 진공도 이상의 진공 상태로 만들어 소자를 완성하는 단계; 를 포함하는 것을 특징으로 하는 전계 효과 전자 방출 소자의 제조 방법.
- 제8항에 있어서, 상기 접착층을 적층하는 단계는 티타늄 또는 알루미늄을 소정의 두께로 증착하는 것을 특징으로 하는 전계 효과 전자 방출 소자의 제조 방법.
- 제8항에 있어서, 상기 음극층을 적층하는 단계는 텅스텐을 소정의 두께로 DC마그네트론 스퍼터링법 또는 전자빔 증착법으로 증착하는 것을 특징으로 하는 전계 효과 전자 방출 소자의 제조 방법.
- 제8항에 있어서, 상기 마스크층을 적층하는 단계는 알루미늄 또는 티타늄을 소정의 두께로 마그네트론 스퍼터링법 또는 전자빔 증착법으로 증착하는 것을 특징으로 하는 전계 효과 전자 방출 소자의 제조 방법.
- 제8항에 있어서, 상기 마스크를 형성하는 단계는 상기 마스크층에 소정의 포토레지스트 마스크를 형성하는 단계 및 이 포토레지스트 마스크를 이용하여 클로린(chlorine)계열의 리액티브 이온 에칭법을 사용하여 식각하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 전계효과 전자 방출소자의 제조방법.
- 제8항에 있어서, 상기 마스크를 형성하는 단계는 리프트-오프 기법에 의해 이루어지는 것을 특징으로 하는 전계 효과 전자 방출소자의 제조 방법.
- 제8항에 있어서, 상기 마이크로-팁이 될 부분을 형성하는 단계는 상기 마스크를 사용하여 상기 음극을CF4/O2플라즈마로 식각하는 것을 특징으로 하는 전계 효과 전자 방출소자의 제조방법.
- 제8항에 있어서, 상기 게이트를 형성하는 단계는 게이트층을 증착하고 사진 식각법으로 식각하여 형성하는 것을 특징으로 하는 전계 효과 전자 방출 소자의 제조 방법.
- 제8항에 있어서, 상기 마이크로-팁 돌출단계는 버퍼드 악사이드 에칭(BOE;buffered oxide etching)법으로 식각하는 것을 특징으로 하는 전계 효과 전자 방출소자의 제조 방법.
- 제16항에 있어서, 상기 버퍼드 악사이드 에칭법은 HF:NH4F의 비가 7:1~10:1인 용액을 사용하는 것을 특징으로 하는 전계 효과 전자 방출소자의제조방법.※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
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Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100250408B1 (ko) * | 1996-11-30 | 2000-04-01 | 김영남 | 실링홈을 가지는 전계 방출형 표시장치 |
US8212623B2 (en) | 2010-02-09 | 2012-07-03 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Terahertz oscillators and methods of manufacturing electron emitters |
Families Citing this family (19)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP3042402B2 (ja) * | 1996-04-26 | 2000-05-15 | 住友電気工業株式会社 | 窒化珪素系セラミックス摺動材料及びその製造方法 |
US6710539B2 (en) * | 1998-09-02 | 2004-03-23 | Micron Technology, Inc. | Field emission devices having structure for reduced emitter tip to gate spacing |
US6387717B1 (en) * | 2000-04-26 | 2002-05-14 | Micron Technology, Inc. | Field emission tips and methods for fabricating the same |
US6373194B1 (en) | 2000-06-01 | 2002-04-16 | Raytheon Company | Optical magnetron for high efficiency production of optical radiation |
US6724146B2 (en) * | 2001-11-27 | 2004-04-20 | Raytheon Company | Phased array source of electromagnetic radiation |
US6903005B1 (en) * | 2000-08-30 | 2005-06-07 | Micron Technology, Inc. | Method for the formation of RuSixOy-containing barrier layers for high-k dielectrics |
US6461909B1 (en) | 2000-08-30 | 2002-10-08 | Micron Technology, Inc. | Process for fabricating RuSixOy-containing adhesion layers |
JP3737696B2 (ja) * | 2000-11-17 | 2006-01-18 | 株式会社東芝 | 横型の電界放出型冷陰極装置の製造方法 |
US6525477B2 (en) | 2001-05-29 | 2003-02-25 | Raytheon Company | Optical magnetron generator |
US6636697B2 (en) | 2001-12-21 | 2003-10-21 | Eastman Kodak Company | Depressurized underwater one-time-use camera with seal integrity indicator and method |
US6625394B2 (en) | 2001-12-21 | 2003-09-23 | Eastman Kodak Company | Two-shot molded seal integrity indicator, underwater camera, and method |
US6574435B1 (en) | 2001-12-21 | 2003-06-03 | Eastman Kodak Company | Underwater camera housing having sealed pivotable shutter actuator and method |
US6636695B2 (en) | 2001-12-21 | 2003-10-21 | Eastman Kodak Company | Dual action shutter release with thumbwheel brake and methods |
US6618555B2 (en) | 2001-12-21 | 2003-09-09 | Eastman Kodak Company | Underwater one-time-use camera having camera frame assembly retained in front housing part at unloading |
US7265360B2 (en) * | 2004-11-05 | 2007-09-04 | Raytheon Company | Magnetron anode design for short wavelength operation |
EP2109132A3 (en) * | 2008-04-10 | 2010-06-30 | Canon Kabushiki Kaisha | Electron beam apparatus and image display apparatus using the same |
JP2011082071A (ja) * | 2009-10-08 | 2011-04-21 | Canon Inc | 電子放出素子、電子線装置、及び、画像表示装置 |
JP2018152418A (ja) * | 2017-03-10 | 2018-09-27 | 東芝メモリ株式会社 | 半導体装置の製造方法及びエッチング用マスク |
CN110875165A (zh) * | 2018-08-30 | 2020-03-10 | 中国科学院微电子研究所 | 一种场发射阴极电子源及其阵列 |
Family Cites Families (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE68913419T2 (de) * | 1988-03-25 | 1994-06-01 | Thomson Csf | Herstellungsverfahren von feldemissions-elektronenquellen und anwendung zur herstellung von emitter-matrizen. |
US5063327A (en) * | 1988-07-06 | 1991-11-05 | Coloray Display Corporation | Field emission cathode based flat panel display having polyimide spacers |
US5217401A (en) * | 1989-07-07 | 1993-06-08 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Method of manufacturing a field-emission type switching device |
JP2574500B2 (ja) * | 1990-03-01 | 1997-01-22 | 松下電器産業株式会社 | プレーナ型冷陰極の製造方法 |
US5266155A (en) * | 1990-06-08 | 1993-11-30 | The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Navy | Method for making a symmetrical layered thin film edge field-emitter-array |
JP3235172B2 (ja) * | 1991-05-13 | 2001-12-04 | セイコーエプソン株式会社 | 電界電子放出装置 |
US5382867A (en) * | 1991-10-02 | 1995-01-17 | Sharp Kabushiki Kaisha | Field-emission type electronic device |
US5457355A (en) * | 1993-12-01 | 1995-10-10 | Sandia Corporation | Asymmetrical field emitter |
-
1995
- 1995-03-29 KR KR1019950006889A patent/KR100343207B1/ko not_active IP Right Cessation
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-
1996
- 1996-02-14 JP JP2710196A patent/JP3883227B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100250408B1 (ko) * | 1996-11-30 | 2000-04-01 | 김영남 | 실링홈을 가지는 전계 방출형 표시장치 |
US8212623B2 (en) | 2010-02-09 | 2012-07-03 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Terahertz oscillators and methods of manufacturing electron emitters |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH08287819A (ja) | 1996-11-01 |
KR100343207B1 (ko) | 2002-11-22 |
US5675210A (en) | 1997-10-07 |
JP3883227B2 (ja) | 2007-02-21 |
US5614795A (en) | 1997-03-25 |
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