KR960034386A - 실리콘 웨이퍼 세정용 유체 및 이를 사용하는 실리콘 웨이퍼의 세정방법 - Google Patents
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Abstract
본 발명은 HNO335 내지 65중량%, HF 0.05 내지 0.5 중량%, HCl 0.05 내지 0.5중량%, 계면활성제 0.002 내지 0.1중량% 및 물을 포함하는 실리콘 웨이퍼 세정용 유체와, 실리콘 웨이퍼의 표면을 당해 세정용 유체로 처리함을 포함하는 실리콘 웨이퍼의 세정방법을 제공한다. 본 발명에 따라, 실리콘 웨이퍼 표면은 에칭 양을 수십 Å, 특히 약 20 내지 30Å으로 간단히 조절함으로써 에칭시킬 수 있고, 표면평활도는 손상되지 않는다. 또한, 1012atoms/㎠ 정도의 금과 기타 중금속에 의한 오염률을 1/100 이하로 감소시킬 수 있다.
Description
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
Claims (18)
- HNO335 내지 65중량%, HF 0.05 내지 0.05 중량%, HCl 0.05 내지 0.5중량%, 계면활성제 0.002 내지 0.1중량% 및 물을 포함하는 실리콘 웨이퍼 세정용 유체.
- 제1항에 있어서, 계면활성제가 분자에 퍼플루오로알킬 그룹을 갖는 화합물을 포함하는 실리콘 웨이퍼 세정용 유체.
- 제1항에 있어서, 하나는 염산, 불화수소산 및 계면활성제를 함유하는 수용액이고 다른 하나는 진한 질산인 두가지 유체의 형태로 제공되며, 사용하고자 하는 경우에 두가지 유체를 혼합함으로써 제조되는 실리콘 웨이퍼 세정용 유체.
- 제1항에 있어서, 한 부분은 진한 질산과 불화수소산을 함유하는 수용액이고 다른 부분은 염산과 계면활성제를 함유하는 수용액인 두 부분의 유체 형태로 제공되며, 사용하고자 하는 경우에 두 부분 유체를 혼합함으로써 제조되는 실리콘 웨이퍼 세정용 유체.
- 제1항에 있어서, HF 수용액, HCl 수용액 및 계면활성제 수용액을 HNO3수용액에 가함으로써 제조되는 실리콘 웨이퍼 세정용 유체.
- 제5항에 있어서, HF 수용액, HCl 수용액 및 계면활성제 수용액이 언급된 순서대로 HNO3용액에 첨가되는 실리콘 웨이퍼 세정용 유체.
- 제5항에 있어서, HCl 수용액, HF 수용액 및 계면활성제 수용액이 언급된 순서대로 HNO3용액에 첨가되는 실리콘 웨이퍼 세정용 유체.
- HNO335 내지 65중량%, HF 0.05 내지 0.5 중량%, HCl 0.05 내지 0.5중량%, 계면활성제 0.002 내지 0.1중량% 및 물을 포함하는 실리콘 웨이퍼 표면과 접촉시킴을 포함하는, 실리콘 웨이퍼 세정방법.
- 제8항에 있어서, 계면활성제가 분자에 퍼플루오로알킬 그룹을 갖는 화합물을 포함하는 실리콘 웨이퍼 세정방법.
- 제8항에 있어서, 접촉온도가 0 내지 30℃인 실리콘 웨이퍼 세정방법.
- 제10항에 있어서, 접촉온도가 10℃ 이하인 실리콘 웨이퍼 세정방법.
- 제8항에 있어서, 실리콘 웨이퍼의 전체 표면을 실리콘 웨이퍼 세정용 유체층으로 피복시켜 접촉시키는 실리콘 웨이퍼 세정방법.
- 제12항에 있어서, 유체층의 두께가 0.1 내지 1㎜인 실리콘 웨이퍼 세정방법.
- 제12항에 있어서, 유체층이 실리콘 웨이퍼 세정용 유체를 수평면으로 방사된 실리콘 웨이퍼의 표면에 적하시킴으로써 형성되는 실리콘 웨이퍼 세정방법.
- 제12항에 있어서, 유체층이 실리콘 웨이퍼 세정용 유체를 수직으로 유지되는 실리콘 웨이퍼의 표면에 붓고 캐스팅함으로써 형성되는 실리콘 웨이퍼 세정방법.
- 제12항에 있어서, 유체층이 실리콘 웨이퍼 세정용 유체를 수직으로 유지되는 실리콘 웨이퍼의 표면에 분무함으로써 형성되는 실리콘 웨이퍼 세정방법.
- 제8항에 있어서, 정제수로 세정하는 단계를 추가로 포함하는 실리콘 웨이퍼 세정방법.
- 제8항 세정방법에 의해 세정된 실리콘 웨이퍼.※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
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