KR960003257Y1 - 직접회로 리드 외관 검사장치 - Google Patents

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Abstract

내용 없음.

Description

직접회로 리드 외관 검사장치
제1도는 본 고안의 직접회로 리드 외관 검사장치의 구성을 나타내는 도면.
제2도는 본 고안에 관련하는 구동 회로도이다.
* 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명
1 : 광원 2 : IC 마스터 패턴
2a : 리드 3 : 투영판
4 : CPU 5 : 구동부
6 : IC 리드 7 : IC 패키지
8 : 검사 스테이지 9 : 렌즈
10 : 이미지 센서 11 : 이미지 프로세싱부
본 고안은 직접회로 리드 외관 검사장치에 관한 것으로서, 보다 상세하게는 조명장치의 조명에 의해 직접회로 리드의 외관을 보다 신속하고 정확하게 검출할 수 있도록 한 직접회로 리드 외관 검사장치에 관한 것이다.
IC 제조공정중이나 인쇄회로 기판에 삽입 또는 표면 실장할 때 회로를 구성하는 IC 리드의 변형이 생겨 쇼트가 일어나게 됨으로써 제품의 불량발생이 일어나게 된다.
따라서 이러한 불량발생을 미연에 방지하기 위해 IC 리드의 검사가 행하여지고 있다.
상기한 IC 리드의 검사는 IC 제조공정 단계에서 검사하거나 사용자가 사용하기 전에 육안으로 리드의 상태를 검사한 다음 실장하기 때문에 신뢰도 및 작업성이 저하되는 문제점이 있다.
따라서 상기한 문제점을 해결하기 위해 종래에는 IC 리드 검사 스테이지상에 IC리드를 X-Y 로보트 조작에 의해 검사위치에 올려 놓은 다음 검사를 수행할 이미지 센서와 적합한 위치에 위치하도록 얼라인을 시킨다.
이러한 상태에서 이미지 센서를 통하여 감지된 IC의 형상 정보를 IC 리드와 검사 스테이지 등 주변과의 명암 차이를 일정한 수준값으로 나누어 IC 리드만의 정보를 검색함으로써 IC 리드간의 거리를 산출하여 양호한가 불량한가를 판단하게 된다.
따라서 확실한 명암을 구별하는 조명장치가 없기 때문에 IC 리드와 주변과의 명암 차이가 확실하지 못함에 기인하여 검사에 따른 작업시간이 많이 소요되어 작업성이 저하됨은 물론 제품의 신뢰도가 떨어져 생산성이 저하되는 제반 문제점이 내재되어 있다.
본 고안은 상기한 바와 같은 종래의 문제점을 해소하기 위해 안출된 것으로서, 본 고안의 목적은 조명장치의 조명에 의해 직접회로 리드의 외관을 보다 신속하고 정확하게 검출하여 작업성 향상은 물론 생산성 향상을 도모할 수 잇는 직접회로 리드 외관검사 장치를 제공하는데 있다.
상기한 바와 같은 목적을 실현하기 위해 본 고안은 확실한 명암의 구별이 가능하도록 고정설치된 광원과, 상기한 광원의 아래측에 IC 마스터 패턴의 리드만 투과되도록 주위가 코팅된 투영판과, 상기한 투영판의 아래측에는 CPU로부터 출력신호를 인가받아 구동부에 의해 구동됨과 아울러 IC 리드를 보유하는 IC 패키지가 얹혀지는 검사 스테이지와, 상기한 검사 스테이지의 주위에 IC 리드와 주변과의 명암을 감지하는 수개의 이미지 센서와로 구성됨을 특징으로 하는 직접회로 리드 외관 검사장치를 제공한다.
상기한 투영판과 검사 스테이지 사이에 IC 마스터 패턴의 리드를 투과한 빛이 선명하도록 실측의 렌즈가 고정 설치됨을 특징으로 한다.
상기한 검사 스테이지의 표면은 무반사 처리됨을 특징으로 한다.
또한 상기한 검사 스테이지의 구동은 이미지 센서의 확실한 명암차의 감지에 따라 그 영상이 이미지 프로세싱부에 의해 검출될 때 정지됨을 특징으로 한다.
이하 본 고안의 바람직한 실시예를 첨부한 도면에 따라 더욱 상세히 설명한다.
제1도는 본 고안의 직접회로 리드 외관 검사장치의 구성을 나타내는 도면이고, 제2도는 본 고안에 관련하는 구동회로도로서, 확실한 명암의 구별이 가능하도록 소정위치에 광원(1)이 고정설치되어 있다.
상기한 광원(1)의 아래측에 리드(2a)를 보유하는 IC 마스터 패턴(2)이 형성됨과 아울러 이 IC 마스터 패턴(2)의 리드(2a)만 투과되도록 주위가 코팅된 투영판(3)이 제공되어 있다.
상기한 투영판(3)의 아래측에는 CPU(4)로부터 출력신호를 인가받아 구동부(5)에 의해 구동됨과 아울러 IC 리드(6)를 보유하는 IC 패키지(7)가 얹혀지는 검사 스테이지(8)가 이동 가능하게 고정 설치되어 있다.
상기한 투영판(3)과 검사스테이지(8) 사이에는 IC 마스터 패턴(2)의 리드(2a)를 통과한 빛이 선명하도록 실측의 렌즈(9)가 제공됨이 바람직하다.
상기한 검사 스테이지(8)는 반사에 의해 명암이 생길 수 있는 것을 방지하기 위하여 표면은 무반사 처리됨이 바람직하다.
그리고 상기한 검사 스테이지(8) 주위에는 IC 리드(6)와 검사 스테이지(8), IC 패키지(7) 등 주변과의 명암 차이를 감지하는 수개의 이미지 센서(10)가 고정 설치되어 있다.
상기한 이미지 센서(10)와 전기적으로 연결된 이미지 프로세싱부(11)는 이미지센서(10)가 감지한 화상을 검출하여 CPU(4)로 출력하면, CPU(4)는 전기적으로 연결된 메모리부(12)에 메모리된 정보와 비교하게 되어 있다.
상기한 구동부(5)는 이미지 프로세싱부(11)에 확실한 명암의 화상이 검출될 때 정지됨이 바람직하다.
이와 같이 구성되는 본 고안의 직접회로 리드 외관 검사장치는, 광원(1)을 온(ON)시킨 다음 X-Y로보트(도시생략)를 조정하여 도시되지 않은 트레이로부터 검사 스테이지(8) 상에 IC 패키지(7)를 위치시킨다.
이때 IC 패키지(7)의 IC리드(6)는 투영관(3)에 형성된 IC 마스터 패턴(2)의 리드(2a)와 허용되는 공차내에서 얼라인된 상태이다.
이렇게 검사 스테이지(8)에 IC 패키지(7)가 올려지면 광원(1)의 빛이 IC 마스터 패턴(2)의 리드(2a)만 통과하여 렌즈(9)에 의해 선명하게 되어 IC 패키지(7)의 리드(6)에 비추어진다.
이러한 상태에서 서로 마주보는 상태의 이미지 센서(10)에 의해 IC 리드(6)와 주변과의 명암을 감지한 화상을 이미지 프로세싱부(11)가 검출하여 CPU(4)로 출력하면 이 CPU는 메모리부(12)에 메모리된 정보와 비교하여 정확한 화상을 얹지 못했을 때는 구동부(5)에 출력신호를 출력하여 검사스테이지(8)를 X축, Y축이 동시에 이동 가능하도록 구동시켜 IC 리드(6)와 주변과의 명암이 확실하게 감지된 화상이 이미지 프로세싱부(11)에 검출되도록 한다.
이렇게 확실한 명암의 화상이 이미지 프로세싱부(11)에 검출되면 CPU(4)는 구동부(5)의 출력신호를 차단하여 검사 스테이지(8)의 구동을 정지시킨다.
이상 설명한 바와 같이 검사 스테이지(8)에 위치한 IC 패키지(7)의 IC 리드(6)는 광원(1)의 빛이 투영판(3)에 형성된 IC 마스터 패턴(2)의 리드(2a)만을 투과하여 주변과의 선명한 명암차이가 각각의 이미지 센서(10)에 갑지되어 그 화상이 이미지 프로세싱부(11)에 검출됨으로써 CPU(4)는 IC리드(6)의 간격이 양호하거나 불량함을 보다 신속하고 정확하게 판단할 수 있기 때문에 작업성 향상은 물론 생산성 향상을 도모할 수 있는 이점이 있다.

Claims (4)

  1. 확실한 명암의 구별이 가능하도록 고정설치된 광원(1)과, 상기한 광원(1)의 아래측에 빛이 IC 마스터 패턴(2)의 리드(2a)만 투과되도록 주위가 코팅된 투영판(3)과, 상기한 투영판(3)의 아래측에는 CPU(4)로부터 출력신호를 인가받아 구동부(5)에 의해 구동됨과 아울러 IC 리드(6)를 보유하는 IC 패키지(7)가 얹혀지는 검사 스테이지(8)와, 상기한 검사 스테이지(8)의 주위에 IC 리드(6)와 주변과의 명암 차이를 감지하는 수개의 이미지 센서(10)와로 구성됨을 특징으로 하는 직접회로 리드 외관 검사장치.
  2. 제1항에 있어서, 투영판(3)과 검사 스테이지(8) 사이에 IC 마스터 패턴(2)의 리드(2a)를 투과한 빛이 선명하도록 실측의 렌즈(9)가 제공됨을 특징으로 하는 직접회로 리드 외관 검사장치.
  3. 제1항 또는 제2항에 있어서, 검사 스테이지(8)의 구동은 이미지 센서(10)의 확실한 명암차의 감지에 따라 그 영상이 이미지 프로세싱부(11)에 의해 검출될 때 정지됨을 특징으로 하는 직접회로 리드 외관 검사장치.
  4. 제1항에 있어서, 검사 스테이지(8)는 무반사 처리됨을 특징으로 하는 직접회로 리드 외관 검사장치.
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