KR950027360A - 판넬 검사방법 및 장치 - Google Patents

판넬 검사방법 및 장치 Download PDF

Info

Publication number
KR950027360A
KR950027360A KR1019940005951A KR19940005951A KR950027360A KR 950027360 A KR950027360 A KR 950027360A KR 1019940005951 A KR1019940005951 A KR 1019940005951A KR 19940005951 A KR19940005951 A KR 19940005951A KR 950027360 A KR950027360 A KR 950027360A
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
panel
data
laser
light
imaging
Prior art date
Application number
KR1019940005951A
Other languages
English (en)
Other versions
KR0160655B1 (ko
Inventor
박제철
조용철
Original Assignee
김광호
삼성전자 주식회사
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 김광호, 삼성전자 주식회사 filed Critical 김광호
Priority to KR1019940005951A priority Critical patent/KR0160655B1/ko
Publication of KR950027360A publication Critical patent/KR950027360A/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR0160655B1 publication Critical patent/KR0160655B1/ko

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J9/00Apparatus or processes specially adapted for the manufacture, installation, removal, maintenance of electric discharge tubes, discharge lamps, or parts thereof; Recovery of material from discharge tubes or lamps
    • H01J9/42Measurement or testing during manufacture
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J29/00Details of cathode-ray tubes or of electron-beam tubes of the types covered by group H01J31/00
    • H01J29/86Vessels; Containers; Vacuum locks
    • H01J29/861Vessels or containers characterised by the form or the structure thereof
    • H01J29/862Vessels or containers characterised by the form or the structure thereof of flat panel cathode ray tubes

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)

Abstract

텔레비전, 컴퓨터의 출력장치 등에 사용되는 판넬(전면유리)등 판넬의 검사장치에 관한 것으로서, 특히 화상이 영사되는 판넬의 표면결함 및 내부결함을 검사하는 판넬 검사방법 및 장치에 관한 것으로, 기존의 판넬 검사방법 및 장치는 CCD카메라를 이용하여 판넬의 내부결함은 비교적 잘 검출하였지만 판넬의 표면에 발생하는 불량은 포착하기 어려운 문제점이 있어 상기 판넬에 레이저 빔을 쏘는 레이저 발광부와, 상기 발광부의 레이저빔이 상기 판넬에 반사되는 빔을 촬상하는 수광부를 구비하여, 검출장치의 크기 및 성능을 저하시키지 않은 채로 판넬의 외부 불량요인 및 내부 불량요인을 함께 검출할 수 있을 뿐만 아니라, 검사가능한 결함의 종류가 대폭 증가하고 검사의 신뢰도 면 및 검사 작업환경의 개선면에서 상당한 효과를 기할 수 있다.

Description

판넬 검사방법 및 장치
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제3도 본 발명에 따른 판넬 검사방법 및 장치의 주요부를 도시한 사시도.
제4도는 본 발명에 따른 판넬 검사방법 및 장치의 구성을 나타낸 구성도.
제5도는 본 발명에 따른 판넬 검사방법 및 장치의 검사 흐름을 나타낸 흐름도.

Claims (2)

  1. 광원으로부터 발광하는 광이 판넬을 통과하여 카메라에 수광되며 이 광이 카메라에 의해 신호화된 비디오시그널과, 레이저 발광부에서 발광하는 레이저 빔이 상기 판넬의 표면에서 반사되어 수광부에 수광되며 이 레이저 빔이 수광부에 의해 신호화된 비디오시그널을 아날로그 디지탈변환기를 통하여 각각 수치화하는 단계와, 상기 수치화된 데이타는 판넬의 두께에 따른 광학적 데이타 성분을 포함하고 있으므로, 상기 각각의 수치화된 데이타를 평활화 시켜주는 쇄딩(shading)보정단계와, 상기 각각의 쇄딩보정된 데이타를 결함 추출하기 위해 데이타를 각각 축약하는 스레스홀딩(thresholding)하는 단계와, 상기 축약된 데이타를 일정한 사이즈 이하의 것을 노이즈로 보고 노이즈를 각각 제거하는 제거단계와, 특징 추출을 위해 상기 축약된 각각의 데이타를 런 랭쓰 코드화 하는 코드화 단계와, 상기 코드화된 데이타를 컴퓨터에 각각 전송하는 전송단계와, 상기 컴퓨터에서 상기 카메라의 데이타와, 레이저의 데이타를 처리하여 최종적으로 검사판정할 수 있는 판정데이타를 출력하는 출력단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 판넬 검사방법.
  2. 검사하기 위한 판넬을 이송하는 이송수단과, 상기 이동되는 판넬에 광을 조사하는 광원과, 상기 판넬을 통과한 광을 이 판넬을 중심으로 광원의 반대편에서 촬상하는 비디오 촬상수단과, 이 촬상수단으로부터 촬상된 화상을 수치화하는 수치화수단과, 이 수치화수단으로부터 수치화된 데이타를 처리하여 검사판정할 수 있는 판정데이타를 출력하는 처리출력수단을 구비하는 판넬 검사장치에 있어서, 상기 판넬에 레이저 빔을 쏘는 레이저 발광부와, 상기 발광부의 레이저 빔이 상기 판넬에 반사되는 빔을 촬상하는 레이져 촬상부를 더 구비하는 것을 특징으로 하는 판넬 검사장치.
    ※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
KR1019940005951A 1994-03-24 1994-03-24 판넬 검사방법 및 장치 KR0160655B1 (ko)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1019940005951A KR0160655B1 (ko) 1994-03-24 1994-03-24 판넬 검사방법 및 장치

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1019940005951A KR0160655B1 (ko) 1994-03-24 1994-03-24 판넬 검사방법 및 장치

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR950027360A true KR950027360A (ko) 1995-10-16
KR0160655B1 KR0160655B1 (ko) 1999-05-01

Family

ID=19379521

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1019940005951A KR0160655B1 (ko) 1994-03-24 1994-03-24 판넬 검사방법 및 장치

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR0160655B1 (ko)

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100355543B1 (ko) * 1998-05-04 2002-12-16 한국전기초자 주식회사 음극선관용패널의광학적자동검사장치
KR100360702B1 (ko) * 1998-05-15 2003-01-15 한국전기초자 주식회사 음극선관용패널의광반사식자동검사장치및자동검사방법
KR100360701B1 (ko) * 1998-05-15 2003-01-15 한국전기초자 주식회사 음극선관용패널의광투과식자동검사장치및자동검사방법
KR100360700B1 (ko) * 1998-05-15 2003-01-15 한국전기초자 주식회사 음극선관용패널의광학적검사장치및검사방법

Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100408995B1 (ko) * 2000-11-02 2003-12-06 엘지전자 주식회사 전계검사장치
KR100554578B1 (ko) * 2003-11-29 2006-03-03 주식회사 쓰리비 시스템 플랫패널용 광관련판요소의 정형성 얼룩 검출방법
KR100642500B1 (ko) * 2005-03-02 2006-11-06 (주)쎄미시스코 유리기판의 에지 결함 및 디스컬러 검사장치

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100355543B1 (ko) * 1998-05-04 2002-12-16 한국전기초자 주식회사 음극선관용패널의광학적자동검사장치
KR100360702B1 (ko) * 1998-05-15 2003-01-15 한국전기초자 주식회사 음극선관용패널의광반사식자동검사장치및자동검사방법
KR100360701B1 (ko) * 1998-05-15 2003-01-15 한국전기초자 주식회사 음극선관용패널의광투과식자동검사장치및자동검사방법
KR100360700B1 (ko) * 1998-05-15 2003-01-15 한국전기초자 주식회사 음극선관용패널의광학적검사장치및검사방법

Also Published As

Publication number Publication date
KR0160655B1 (ko) 1999-05-01

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US20030215127A1 (en) Method and system for imaging an object or pattern
EP1241866A3 (en) Image processing method for correcting defects of scanned image
ATE302978T1 (de) System zur kontrastreichen und verzerrungsarmen bilderfassung
KR850006072A (ko) 열간 금속체의 표면 결함 검출 방법 및 장치
GB2301691A (en) Method and apparatus for reading images without need for self-generated illumination source
EA200200984A1 (ru) Устройство для получения панорамного изображения
WO2001011549A3 (en) Method and apparatus for reduction of trapezoidal distortion and improvement of image sharpness in an optical image capturing system
KR950027360A (ko) 판넬 검사방법 및 장치
US6660987B2 (en) Image reading apparatus and illumination apparatus
JP3677133B2 (ja) 透明体検査装置
JP2005528593A (ja) 画像化方法および装置
DE50303076D1 (de) Digitale Laufbildkamera
IT1292544B1 (it) Dispositivo per misurare le dimensioni di un oggetto molto esteso lon- gitudinalmente e con sezione trasversale a contorno curvo.
JPH10294891A (ja) 画像入力装置
JP4251980B2 (ja) 形状計測装置
KR20030027709A (ko) 외관검사장치
KR100609603B1 (ko) 엑스레이 및 비주얼검사가 통합된 인쇄회로기판 검사장치
JPH0236339A (ja) 光による欠点検査装置
US6333498B1 (en) Reduction of integrating cavity effect in scanners using polarizing filters
CN213364606U (zh) 金属表面检查系统及其照明装置
US7298529B2 (en) Method and system for imaging a transparent media object
KR100241006B1 (ko) 후판표면흠 영상검출시스템
JPH0434345A (ja) プリント基板検査装置のためのイメージ読取りシステム
JP3511096B2 (ja) 背景捨象撮像方法及び装置
JPH04362789A (ja) 画像入力装置

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant
FPAY Annual fee payment

Payment date: 20050727

Year of fee payment: 8

LAPS Lapse due to unpaid annual fee