KR850006072A - 열간 금속체의 표면 결함 검출 방법 및 장치 - Google Patents

열간 금속체의 표면 결함 검출 방법 및 장치 Download PDF

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Abstract

내용 없음

Description

열간 금속체의 표면 결함 검출 방법 및 장치
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제 1도는 열간 금속체로부터의 자발광만을 수용하여 영상신호를 발생시킬 때의 자발광 분광 파장과 잡음 신호에 대한 결함 신호의 비 사이의 관계를 나타낸 그래프.
제 2도는 열간 금속체로부터의 반사광만을 수용하여 영상신호를 발생시킬 때의 반사광 분광 파장과 잡음 신호에 대한 영상 신호의 관계를 나타낸 그래프.
제 3도는 자발광 및 반사광을 동시에 수용하여 영상신호를 발생시킬 때의 분광 파장과 잡음 신호에 대한 영상 신호의 비 사이의 관계를 나타낸 그래프.
제 4도는 본 발명의 실시예에 따른 표면 결함 검출 방법을 수행하는 적합한 장치의 일예의 계통도.
제 5도는 주사선 위에 표시된 반사광으로부터 전달된 영상 신호를 나타낸 도면.
제 6도는 주사선 위에 표시된 자발광으로부터 전달된 영상 신호를 나타낸 도면.
제 7도 및 제 8도는 제 5도 및 제 6도에서 각각 얻어진 결함 표시 2진 신호를 나타낸 도면.
제 9도는 제 7도 및 제 8도의 제 2진 신호를 논리적 처리하여 얻어진 결함 표시 2진 신호를 나타낸 도면.
제 10도는 본 발명에 사용하기에 적합한 촬상(image pickup)장치의 개략도.
제 11도는 본 발명에 따른 적합한 표면 결함 검출 장치의 일예의 계통도.
제 12도, 제 13도 및 제 14도는 제 11도의 장치에 있는 콜드-미러(cold mirror), 적외선 흡수 필터 및 적외선투과 필터의 특성을 나타낸 그래프.
* 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명
10 : 열간금속체 12 : 자발광
14 : 반사광 20 : 촬상장치
22 : 투광기 24 : 촬상장치
26 : 신호 처리회로 28, 34 : 2진 신호 발생 회로
30, 36 : 메모리 32, 38 : 버퍼 증폭기
40 : 동기장치 42 : AND 회로
44 : 판정회로 50 : 촬영장치
52 : 광학렌즈 54 : 콜드-필터
56 : 촬상장치 58 : 적외선 차단 필터
60 : 촬상장치 62 : 적외선 투과 필터
66 : 구동회로

Claims (13)

  1. 열간 금속체 표면 결함 검출 방법에 있어서, 열간 금속체의 표면의 피검출부로부터 방사되는 자발광의 선태된 대역을 광전변환시켜 제 1영상신호를 발생시키는 단계와, 상기 자발광의 선택된 대역과는 간섭되지 않는 외부 광원을 열간 금속 표면의 피검출부에 투사하여 그 반사광을 광전 변환시켜 제 2영상 신호를 발생시키는 단계와, 상기 열간 금속 표면의 피검출부에 결함이 존재할 때 각각 논리"1"의 상태가 되도록 상기 제 1 및 제 2영상 신호를 각각 제 1 및 제 2 2진신호로 변환시키는 단계와, 상기 제 1 및 제 2 2진 신호를 등기 상태에서 논리적 처리를 하여 제 3 2진 신호를 발생시키는 단계와, 상기 제 3 2진 신호를 바탕으로 열간 금속체의 피검출부에 결함 존재 유무를 판정하는 단계로 구성되는 것을 특징으로 하는 열간 금속체의 표면 결함 검출 방법.
  2. 제 1항에 있어서, 상기 자발광의 선택된 대역이 파장 700mm이상의 근적외선 대역이고, 상기 외부광이 파장 400mm 내지 600mm 사이의 가시광선 인것을 특징으로 하는 방법.
  3. 제 1항에 있어서, 상기 제 1 및 제 2영상 신호가 동시에 발행되는 것을 특징으로 하는 방법.
  4. 제 1항에 있어서, 상기 제 1 및 제 2영상 신호 중의 하나를 다른 신호가 발생된 뒤에 발생시키는 것을 특징으로 하는 방법.
  5. 제 1항에 있어서, 상기 열간 금속체가 열간 가공되는 강판인 것을 특징으로 하는 방법.
  6. 열간 금속체의 표면 결함 검출 장치에 있어서, 열간 금속체의 검출부로 부터 방사되는 자발광의 선택된 대역을 수광하여 이를 제 1 영상 신호로 변환시키는 제 1촬상 수단과, 상기 자발광의 선택된 대역과는 비간섭인 외부광을 열간 금속체의 피검출부에 투사하는 투광 수단과, 상기 열간 금속체 표면에 피검출부로 부터 반사된 반사광을 수광하여 이를 제 2영상 신호로 변환시키는 제 2촬상 수단과, 상기 열간 금속 표면의 피검출부에 표면 결함이 존재할 때 각각 논리"1"상태가 되도록 상기 제 1 및 제 2 영상 신호를 각각 제 1및 제 2 2진 신호로 변환시키는 2진 신호 발생 수단과, 상기 제1 및 제 2 2진 신호가 회로의 출력을 바탕으로 상기 열간 금속 표면의 피검출부에 표면 결함의 유무를 판정하는 판정 수단으로 구성된 것을 특징으로 하는 열간 금속체 표면 결함 검출 장치.
  7. 제 6항에 있어서, 상기 자발광의 선택된 대역이 파장 700mm 이상의 근적외선 대역이고, 상기 외부광이 파장 400mm 내지 600mm 사이인 가시광인 것을 특징으로 하는 장치.
  8. 제 6항에 있어서, 상기 투광 수단이 수은등으로 구성된 것을 특징으로 하는 장치.
  9. 제 6항에 있어서, 상기 제 1 및 제 2 촬상 수단이 상기 제 1 및 제 2영상 신호중의 하나가 발생된후에 다른 영상 신호를 발생시키도록 배치되고, 상기 장치가 상기 제 1 및 제 2영상 신호중의 하나로 부터 발생된 2진 신호를 저장하는 메모리 수단과, 상기 제 1 및 제 2 2진 신호가 상기 AND 회로 내에 동시에 입력되도록 상기 메모리 수단을 제어하는 동기 수단으로 또한 구성되는 것을 특징으로 하는 장치.
  10. 제 7항에 있어서, 상기 피검출부로부터와 자발광 및 외부광에 의한 반사광을 다같이 수용하도록된 광학 렌즈 시스템과, 상기 렌즈 시스템을 통과하는 빛을 근적외선 대욕인 제 1부분과 가시광 대역인 제 2부분으로 분광하여 상기 제 1 및 제 2대역의 광을 상기 제 1 및 제 2촬상 수단으로 각각 향하게하는 분광수단과, 상기 제 1촬상 수단에 마련되어 가시광 대역을 차단하는 근적외선 투과 필터와 상기 제 2촬상 수단에 마련되어 가시광 대역을 투과시키는 적외선 차단 필터로 또한 구성되는 것을 특징으로 하는 장치.
  11. 제 10항에 있어서, 상기 분광 수단이 콜드-미러로 구성되는 것을 특징으로 하는 장치.
  12. 제 10항에 있어서, 상기 분광 수단이 콜드-필터로 구성되는 것을 특징으로 하는 장치.
  13. 제 6항에 있어서, 상기 제 1 및 제 2촬상 수단이 각각 선형 배열 영상 감지기로 구성되는 것을 특징으로 하는 장치.
    ※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
KR1019850000437A 1984-02-28 1985-01-24 열간 금속체의 표면 결함 검출 방법 및 장치 KR870001401B1 (ko)

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