KR950012275A - 공용기판상에 집적된 스캐너 - Google Patents

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스턴 미클로스
캇쯔 죠셉
리 얘준
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다니엘 알. 맥글린
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Abstract

바 코드를 주사하기 위한 집적된 스캐너는 공용기판상에 형성되어 있다. 스캐너는 단일 기판이나 또는 복수개로 접속되는 기판상에 장착되는 마이크로-머신 미러 레이저 다이오우드 및 검출기를 포함하고 있다.
렌즈는 레이저다이오우드로부터의 레이저빔의 초점을 맞추는데 사용될 수 있을 뿐만 아니라, 마이크로-머신 미러에 의하여 편향되는 레이져빔을 넓히는데도 사용될 수 있다. 스캐너는, 또한 레이저 다이오우드를 회전시킴으로써 마이크로-머신 미러의 사용없이도 바코드를 주사할 수 있다.

Description

공용기판상에 집적된 스캐너
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제1도는 본 발명의 제1 실시예에 따른 스캐너의 측면도.
제2도는 본 발명의 제1 실시예에 따른 스캐너의 평면도.
제3도는 제1도에 표시된 스캐너에 사용되는 스캔모듈의 측면도.

Claims (30)

  1. 공용 기판상에 형성된 광 스캔시스템에 있어서, 상기 기판상에 집적되고 표적에 광을 주사하기 위한 광 스캐너와, 상기 기판상에 집적되고 상기 표적으로부터 반사되는 광을 검출하여 상기 검출된 광에 대응하는 신호를 발생하기 위한 센서를 구비하는 광 스캔시스템.
  2. 제1항에 있어서, 상기 광 스캐너는, 상기 기판상에 집적되고, 광빔을 생성하기 위한 광원과, 상기 기판상에 집적되고 소정패턴에서 상기 표적에 상기 광빔을 편향시키기 위한 편향기를 포함하는 광 스캔시스템.
  3. 제2항에 있어서, 상기 광 스캐너는 상기 광원에 의하여 생성된 광빔의 초점을 맞추기 위한 제1 렌즈를 더 구비하는 광 스캔시스템.
  4. 제3항에 있어서, 상기 광원은 상기 제1 렌즈의 광축에 정렬되어 있는 광 스캔시스템.
  5. 제3항에 있어서, 상기 광원은 상기 제1 렌즈의 광축으로부터 오프셋되어 있는 광 스캔시스템.
  6. 제3항에 있어서, 상기 광 스캐너는 상기 편향기에 의해 편향된 광빔의 초점을 맞추기 위한 제2 렌즈를 더 포함하도록 한 광 스캔시스템.
  7. 제6항에 있어서, 상기 제1 렌즈는 포지티브렌즈이고, 상기 제2 렌즈는 네가티브 렌즈인 광 스킨 시스템.
  8. 제2항에 있어서, 상기 광 스캐너는 상기 편향기에 의해 편향된 광빔의 초점을 맞추기 위한 렌즈를 더 포함하도록 한 광 스캔시스템.
  9. 제2항에 있어서, 상기 편향기는 마이크로-머신 스캔모듈을 구비하도록 한 광 스캔시스템.
  10. 제9항에 있어서, 상기 마이크로-머신 스캔모듈은 상기 센서의 중심부에 장착되는 스캔용 거울과, 상기 검출기와 상기 스캔용 거울이 회전축 주위를 회전할 수 있도록 상기 검출기에 접속되는 힌지와, 상기 힌지를 지지하기 위하여 상기 기판에 고정된 프레임을 구비하도록 한 광 스캔 시스템.
  11. 제9항에 있어서, 상기 마이크로-머신 스캔모듈은, 전극과, 상기 전극상에 장착되는 지지체와, 상기 지지체의 한단부에 장착되는 거울소자를 구비하고, 상기 상기전극과 거울소자 사이에 인가되는 전압이 상기 거울소자를 구부러지도록 한 광 스캔시스템.
  12. 제9항에 있어서, 상기 마이크로-머신 스캔모듈은, 스캔용 거울과, 상기 스캔용 거울이 회전축 주위를 회전할 수 있도록 상기 스캔용 거울에 접속되는 힌지와, 상기 힌지를 지지하기 위해 상기 기판에 고정된 프레임을 구비하는 광 스캔 시스템.
  13. 제12항에 있어서, 상기 회전축은 상기 광원으로부터 상기 초점이 맞추어진 광빔의 통로에 수직하도록 한 광 스캔 시스템.
  14. 제12항에 있어서, 상기 광원은 상기 기판의 제1 부상에 장착되는 레이저 다이오드 포커싱 모듈을 구비하는 광 스캔 시스템.
  15. 제14항에 있어서, 상기 프레임은 상기 자판의 제1부에 평행한 상기 기판의 제2부상에 고정되도록 한 광 스캔 시스템.
  16. 제14항에 있어서, 상기 프레임은 상기 기판의 상기 제1부에 대하여 경사진 상기 기판의 제2부상에 고정되도록 한 광 스캔 시스템.
  17. 제14항에 있어서, 상기 프레임은 상기 기판의 상기 제1부상에 장착되도록 한 광 스캔 시스템.
  18. 제12항에 있어서, 상기 힌지는 형상기억합금을 포함하도록 한 광 스캔시스템.
  19. 제18항에 있어서, 상기 형상기억합금은 티타늄니켈인 광 스캔 시스템.
  20. 제12항에 있어서, 상기 광 스캐너는 상기 전극의 각각과 상기 스캔용 거울 사이에 전압을 인가함으로써 정전력을 발생하기 위한 전극을 더 포함하도록 한 광 스캔시스템.
  21. 제20항에 있어서, 상기 전극은 상기 스캔용 거울 아래에 배치되는 기판전극을 포함하도록 한 광 스캔시스템.
  22. 제21항에 있어서, 상기 전극은 상기 스캔용 거울위에 배치되는 상측 전극을 더 포함하도록 한 광 스캔시스템.
  23. 제20항에 있어서, 상기 전극은 상기 스캔용 거울 위에 배치되는 상측전극을 포함하도록 한 광 스캔시스템.
  24. 제1항에 있어서, 상기 광스캐너는, 광빔을 생성하기 위한 광원과, 상기 광원이 회전축 주위에서 회전할 수 있도록 한 광 스캔시스템.
  25. 공용기판상에 장착되는 바코드 스캐너에서 입사경로로부터 소정패턴으로 광빔을 주사하기 위한 마이크로-머신 미러에 있어서, 광빔을 반사시키기 위한 반사기와, 상기 반사기가 회전축 주위를 회전할 수 있도록 상기 반사기에 접속되는 힌지와, 상기 힌지를 지지하기 위하여 상기 기판에 고정되는 프레임을 구비하는 마이크로-머신미러.
  26. 제25항에 있어서, 상기 힌지는 형상기억합금을 포함하는 마이크로-머신미러.
  27. 제26항에 있어서, 상기 형상기억합금은 니켈티타늄인 마이크로-머신미러.
  28. 제25항에 있어서, 상기 회전축 주위로 반사기를 회전시키도록 정전력을 발생하기 위한 전극을 더 구비하도록 한 마이크로-머신미러.
  29. 공통기판상에 스캐너를 제조하기 위한 방법에 있어서, (a) 광빔을 만들어내기 위한 광다이오우드를 형상하는 단계와, (b) 상기 공용기판상에 상기 광 다이오우드를 장착시키는 단계와, (c) 소정패턴에서 광빔을 주사하기 위한 광 스캐너를 형성하는 단계와, (d) 상기 공용기판에 상기 광 스캐너를 장착시키는 단계를 구비하는 공용기판상의 스캐너 제조방법.
  30. 공용기판상의 스캐너를 제조하는 방법에 있어서, (a) 상기 공용기판상에 광빔을 만들어 내기 위한 광 다이오우드를 형성하는 단계와, (b) 상기 공용기판상에 소정패턴에서 광빔을 주사하기 위한 광스캐너를 형성하는 단계를 구비하는 공용기판상의 스캐너 제조방법.
    ※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
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