KR950010632B1 - 서미스터회로 및 조리기 - Google Patents

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KR950010632B1
KR950010632B1 KR1019930002625D KR9210279D KR950010632B1 KR 950010632 B1 KR950010632 B1 KR 950010632B1 KR 1019930002625 D KR1019930002625 D KR 1019930002625D KR 9210279 D KR9210279 D KR 9210279D KR 950010632 B1 KR950010632 B1 KR 950010632B1
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thermistor
terminal
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resistor
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KR1019930002625D
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슈이찌 다까다
Original Assignee
린나이코리아주식회사
최창선
린나이 가부시기가이샤
나이또 스스무
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    • H—ELECTRICITY
    • H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05B—ELECTRIC HEATING; ELECTRIC LIGHT SOURCES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; CIRCUIT ARRANGEMENTS FOR ELECTRIC LIGHT SOURCES, IN GENERAL
    • H05B3/00—Ohmic-resistance heating

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  • Control Of Combustion (AREA)
  • Regulation And Control Of Combustion (AREA)
  • Control Of High-Frequency Heating Circuits (AREA)
  • Cookers (AREA)
  • Measuring Temperature Or Quantity Of Heat (AREA)

Abstract

내용 없음.

Description

서미스터회로 및 조리기
제1도는 본 발명에 관한 서미스터회로(A)를 채용한 가스테이블(B)의 구조도.
제2도는 상기 서미스터회로(A)의 원리 설명도.
제3도는 상기 서미스터회로(A)의 작동표시도.
* 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명
1,2,3 : 저항(저항체) 4 : 서미스터
5,6 : 트랜지스터(반도체소자) 7 : 마이크로컴퓨터
81 : "+"극측(일방극측) 82 : "-"극측(타방극측)
71 : 단자(신호송출수단) 72 : 단자(신호송출수단)
73,74 : 단자(서미스터전압입력수단) a : 측정값
A : 서미스터회로 B : 가스테이블(조리기)
E : 단자전압(서미스터전압) Eo, EM,EH: 전압값(서미스터전압)
SM: 중온영역판독용 신호(판독용 신호)
SH: 고온영역판독용 신호(판독용신호)
801 : 피조리물 802 : M버너
803 : 조리용기 805 : 감열관
806 : 제어유니트(가열제어기) 808 : H버너
본 발명은 서미스터의 단자전압에 의거하여 온도를 검출하는 서미스터회로 및 상기 서미스터회로를 이용한 조리기에 관한 것이다.
서미스터를 복수개의 저항체를 통하여 전원회로에 접속하고, 저항체사이를 복수개의 트랜지스터로 단계적으로 단락시켜서 저항값을 절환하므로써 광범위하고 또 고정밀도의 온도검출을 가능하게 한 서미스터회로가 알려져 있다.
상기 서미스터회로에서는, 서미스터의 단자전압에 영역(range) 보정을 가함에 의해서 온도를 산출하고 있으나, 단지 한개의 트랜지스터만이 파괴되더라도, 단자전압에 오차가 생기게 되므로 영역보정된 검출온도는 의미를 상실하게 되어 온도제어등에 지장을 주는 결점이 있다.
본 발명의 제1목적은 광범위하고 또 고정밀도의 온도검출이 가능하며, 동시에 반도체소자의 기능검사를 할 수 있는 서미스터회로의 제공에 있으며, 제2목적은 반도체소자가 파괴되었다 하더라도 잘못된 검출온도에 의하여 가열수단이 제어되는 사례가 없는 조리기를 제공함에 있다.
상기한 과제를 해결하기 위하여, 본 발명은 다음과 같은 구성을 채용하였다.
(1) 전기저항값이 단계적으로 낮아지도록 복수개의 저항체를 직렬접속하고, 고저항단을 직류전원회로의 일방극측으로 접촉한 저항군과, 일방을 상기 저항군의 저저항단에 접속하고, 타방을 상기 직류전원회로의 타방극측에 접속한 서미스터와, 판독용 신호가 입력되면 온(ON)상태로 되는 단자조를 상기 저항체의 양단에 접속한 복수개의 반도체소자와, 상기 반도체소자에 상기 판독용 신호를 송출하는 신호송출수단 및 상기 서미스터의 단자전압을 입력하는 서미스터 전압입력수단을 가진 마이크로컴퓨터를 구비하며, 상기 신호송출수단의 비작동상태에서의 서미스터 전압을 Eo로 하고, 상기 신호송출수단이 상기 반도체소자중 어느 하나에 상기 판독용 신호를 송출하였을 때의 서미스터 전압값을 En으로 하고, 모든 반도체소자의 각각에 대하여 상기한 바와 같이 하여 서미스터 전압값(En)을 검출하고, 판정값을 a라 하면, 검사시에, 『Eo-En|<a』가 한개라도 성립한 경우, 상기 마이크로컴퓨터는 상기 복수개의 반도체소자중 적어도 한개가 불량상태로 되어 있다라고 판정하고 상기 서미스터에 의한 온도검출을 중지한다.
(2) 피조리물이 담겨진 조리용기를 가열하는 가열수단과, 상기 조리용기의 온도를 검출하는 서미스터를 내장한 감열관과, 검출온도에 의거하여 상기 가열수단을 제어하는 가열제어기를 구비하며, 상기 서미스터는 청구항 제1항에 기재된 서미스터회로로 조합되어 있다.
[청구항 제1항에 대하여]
반도체소자의 기능검사는 다음과 같이 실행한다.
신호송출수단을 비작동상태로 하여 서미스터 전압값 Eo를 측정한다.
신호송출수단이 반도체소자중 어느 하나에 판독용 신호를 송출하면 그 반도체소자는 온상태로 되므로, 대응하는 저항체는 전기적으로 단락되어 서미스터 전압값은 En이 된다.
그의 모든 반도체소자의 각각에 대하여, 상기한 바와 같이, 판독용 신호를 송출하는 각각의 서미스터 전압값 En을 검출한다.
이때, 『Eo-En|<a』가 성립되는가 아닌가를 모든 서미스터 전압값 En에 대하여 실행한다.
반도체소자가 전기적으로 파괴되어 있으면, Eo과 En과의 차가 작아진다. 따라서, 상기 검출된 서미스터 전압값중 단지 한개만이라도 『Eo-En|<a』의 조건이 성립된 경우에는, 마이크로컴퓨터는 복수개의 반도체소자중 적어도 한개가 불량상태로 되어 있다고 판단하고, 서미스터에 의한 온도검출을 중지한다.
[청구항 제2항에 대하여]
마이크로컴퓨터가 복수개의 반도체소자중 적어도 한개가 불량상태로 되어 있다고 판정하면 서미스터에 의한 온도검출이 중지되므로, 가열제어기는 검출온도에 의거하는 가열수단의 제어를 정지한다.
따라서, 본 발명에 의하면, 광범위하게 또 고정밀도의 온도검출을 가능하게 하는 복수개의 저항체가 복수개의 반도체소자를 유효하게 이용하여 반도체소자의 불량을 신속하게 발견할 수 있으므로 검출온도의 신뢰성이 향상된다. 또 반도체소자의 기능검사시에 검사용으로서 특별한 부품을 추가할 필요가 없게 된다는 효과가 있다.
또, 복수개의 반도체소자중 적어도 한개가 불량상태로 되어 있다고 판정하면 서미스터에 의한 온도검출이 중지되고, 가열제어기는 검출온도에 의거하는 가열수단의 제어를 정지하기 때문에, 잘못된 검출온도에 의거하여 가열수단이 제어된다는 문제가 발생되지 않는다.
이하, 본 발명의 실시예를 제1도∼제3도에 의거하여 설명한다. 제2도에 나타낸 바와 같이, 서미스터회로(A)는 저항(1,2,3)과 서미스터(4)와 트랜지스터(5,6)와 마이크로컴퓨터(7)로 구성되어 있으며, 제1도에 나타낸 가스테이블(B)에 채용되어 있다.
고저항값을 갖는 저항(1)은 고정밀도의 저항이며, 그 일단(11)이 도시하지 않은 전원회로의 "+"극측(81)에 접속되어 있다.
중저항값[저항(1)보다 낮음]을 갖는 저항(2)은 고정밀도의 저항이며, 그 일단(21)이 상기 저항(1)의 타단(12)에 접속되어 있다.
저저항값[저항(2)보다 낮음]을 갖는 저항(3)은 고정밀도의 저항이며, 그 일단(31)이 상기 저항(2)의 타단(22)에 접속되어 있다.
감열온도가 실온정도인 경우에는 고저항(수십Ω)이 되고, 200℃ 전후의 고온에서는 저저항(수십Ω)이 되는 서미스터(4)는, 그 일단(41)이 상기 저항(3)의 타단(32)에 접속되어 있으며, 그 타단(42)은 전원회로의 "-"극측(82)에 접속되어 있다. 상기 서미스터(4)는 피조리물(801)이 담겨지며 M버너(802)에 의해서 가열되는 조리용기(803)의 용기바닥(804)과 누름접촉되도록 배치된 감열관(805)내에 배치되어 있다.
트랜지스터(5)는, 제2도에 나타낸 바와 같이, 트랜지스터(5)의 단자(51) 및 단자(52)가 상기 저항(1)의 일단(11) 및 타단(22)에 각각 접속되어 있으며, 중앙영역판독용 신호(SM)가 제어단자(53)에 입력되면 상기 트랜지스터(5)의 단자(51)와 단자(52) 사이가 온(ON)상태로 된다. 또한 상기 트랜지스터(5)는 중온영역판독용 신호(SM)가 송출된 상태에서, 통상 190℃ 미만의 온도를 측정한다.
트랜지스터(6)는, 제2도에 나타낸 바와 같이, 트랜지스터(6)의 단자(61) 및 단자(62)에 상기 저항(1)의 일단(11) 및 상기 저항(2)의 타단(22)에 각각 접속되어 있으며, 고온영역판독용 신호(SH)가 제어단자(63)에 입력되면 단자(61)와 단자(62) 사이가 온상태로 된다. 또는 상기 트랜지스터(6)는 고온영역판독용 신호(SH)가 송출된 상태에서, 통상 190℃ 이상의 온도를 측정한다.
마이크로컴퓨터(7)는 트랜지스터(5)에 중온영역판독용 신호(SM)를 송출하는 단자(71)(신호송출수단에 상당)와, 트랜지스터(6)에 고온영역판독용 신호(SH)를 송출하는 단자(72)(신호송출수단에 상당)와, 서미스터(4)의 일단(41) 및 타단(42) 사이에서 발생하는 단자전압(E)을 판독하는 단자(73,74)(서미스터전압입력수단에 상당)을 갖는다.
제1도에 나타낸 가스테이블(B)에 있어서, 806은 서미스터회로(A)나 그외 제어회로를 조합한 제어유니트이며, M버너(802) 또는 H버너(808)의 사용시에 있어서, 서미스터(4)의 검출온도에 의거하여, 「소정온도에 도달하였을때의, 자동소화」등의 온도제어를 한다.
또, M버너(802)만에 구비되며 제어유니트(806)에 의하여 밸브가 개폐되는 온도조절용 전자밸브(807)는, M버너(802)를 큰 화력 또는 작은 화력으로 연소절환하여 피조리물(801)의 온도를 일정하게 유지한다.
다음은, M버너(802)를 사용할때를 일예로 하여 서미스터회로(A)의 작동(기능체크부분)을 제3도의 플로챠트에 의거하여 설명한다.
M버너(802)를 점화조작하면, M버너(802)가 점화됨과 동시에, 점화스위치(SW)가 온상태로 되므로 "+"극측(81)과 "-"극측(82)에 직류전압이 인가되며, 서미스터(4)에는 저항(1,2,3)을 통하여 전기가 공급되며, 서미스터(4)의 일단(41)과 타단(42) 사이에서 발생하는 단자전압(E)의 전압값 Eo로 된다(Eo는 메모리된다).
스텝 S1에서, 마이크로컴퓨터(7)가 단자(71)에서 트랜지스터(5)로 중온영역판독용 신호(SM)를 송출하면, 트랜지스터(5)의 단자(51)와 단자(52) 사이가 온상태로 되어, 서미스터(4)에는 저항(2,3)을 통하여 전기가 공급되게 된다. 또 이때의 서미스터(4)의 단자전압(E)의 전압값은 EM으로 된다.
스텝 S2에서, |Eo-EM|가 판정값(a)(예를 들면 1V) 미만인가 아닌가를 판단하여 판정값(A) 이상인 경우(No)에는 스텝 S3으로 진행하고, 판정값(a) 미만인 경우(Yes)에는 스텝 S7로 진행한다.
스텝 S3에서, 마이크로컴퓨터(7)는 트랜지스터(5)로의 중온영역판독용 신호(SM)의 송출을 정지하고 스텝 S4로 진행한다.
스텝 S4에서, 마이크로컴퓨터(7)가 단자(72)에서 트랜지스터(6)로 고온영역판독용 신호(SH)를 송출하면, 트랜지스터(6)의 단자(61)와 단자(62) 사이는 온상태로 되어, 서미스터(4)에는 저항(3)을 통하여 전기가 공급되게 된다. 또 이때의 서미스터(4)의 단자전압(E)의 전압값은 EH로 된다.
스텝 S5에서, |Eo-EH|가 판정값(a) 미만인가 아닌가를 판단하여, 판정값(a) 이상인 경우(No)에는 스텝 S6으로 진행하고, 판정값(a) 미만인 경우(Yes)에는 스텝 S7로 진행한다.
스텝 S6에서, 마이크로컴퓨터(7)는 트랜지스터(6)로의 고온영역판독용 신호(SH)의 송출을 정지하므로써, 기능확인검사는 종료한다. 상기의 경우는 트랜지스터(5,6)가 모두 정상이라고 판단하며, 마이크로컴퓨터(7)는 단자전압값 Eo, EM, EH중 어느 한 단자의 전압값(E)에 의거하여 온도를 산출한다.
상기 트랜지스터(5,6)중 적어도 어느 하나가 불량상태로 되어 있다고 판단되면, 스텝 S7에서, 마이크로컴퓨터(7)는 서미스터(4)에 의한 온도검출을 중시하며 M버너(802)를 소화함과 동시에 버저(buzzer)로 이상이 있음을 알린다.
이하, 본 발명은 다음과 같은 이점을 가진다.
(가) 마이크로컴퓨터(7)가 트랜지스터(5,6)의 기능이 정상인가 아닌가를 제3도의 플로챠트에 의거하여 자동적으로 판정하기 때문에 기능검사가 용이하다.
(나) M버너(802) 또는 H버너(808)의 사용중(연소중)에 있어서, 온도검출전에 트랜지스터(5,6)의 기능검사를 매회 실행하는 구성이므로 검출온도의 신뢰성이 항상 확보된다.
(다) 서미스터(4)의 영역을 절환하기 위한 저항(1,2)이나 트랜지스터(5,6)를 이용하여 트랜지스터(5,6) 자체를 검사하고 있기 때문에, 검사용으로서 특별한 부품을 추가할 필요가 없어 가스테이블(B)의 제조단자가 높아지지 않는다.
본 발명은 상기 실시예 이외에 다음과 같은 실시태양을 포함한다.
① 반도체소자는 트랜지스터외에 FET이어도 된다.
② 메인전원스위치를 투입했을 때(연소정지상태)에, 트랜지스터(5,6)의 기능검사가 이루어지도록 하여도 된다.
③ 판정값(a), 각 저항의 저항값은 적절히 설정하면 된다.
④ 상기 실시예에서는 3개의 저항을 직렬로 접속하고, 2개의 트랜지스터를 사용하여 온상태로 하였으나, 온도검출의 범위상태에 따라 저항, 트랜지스터의 사용개수를 적절히 결정하면 된다.

Claims (2)

  1. 전기저항값이 단계적으로 낮아지도록 복수개의 저항체를 직렬 접속하고, 고저항단을 직류전원회로의 일방극측으로 접속한 저항군과, 일방을 상기 저항군의 저저항단에 접속하고, 타방을 상기 직류전원회로의 타방극측에 접속한 서미스터와, 판독용 신호가 입력되면 온상태로 되는 단자조를 상기 저항체의 양단에 접속한 복수개의 반도체소자와, 상기 반도체소자에 상기 판독용 신호를 송출하는 신호송출수단 및 상기 서미스터의 단자전압을 입력하는 서미스터 전압입력수단을 가진 마이크로컴퓨터를 구비하며, 상기 신호송출수단의 비작동상태에서의 서미스터 전압값을 Eo로 하고, 상기 신호송출수단이 상기 반도체소자중 어느 하나에 상기 판독용 신호를 송출하였을 때의 서미스터 전압값을 En으로 하고, 모든 반도체소자의 각각에 대하여 상기한 바와 같이 하여 서미스터 전압값(En)을 검출하고, 판정값을 a라 하면, 검사시에, 『|Eo-En|<a』가 한개라도 성립한 경우, 상기 마이크로컴퓨터는 상기 복수개의 반도체소자중 적어도 한개가 불량상태로 되어 있다라고 판정하고 상기 서미스터에 의한 온도검출을 중지하는 서미스터회로.
  2. 피조리물이 담겨진 조리용기를 가열하는 가열수단과, 상기 조리용기의 온도를 검출하는 서미스터를 내장한 감열관과, 검출온도에 의거하여 상기 가열수단을 제어하는 가열제어기를 구비하며, 상기 서미스터는 청구항 제1항에 기재된 서미스터회로로 조합되어 있는 것을 특징으로 하는 조리기.
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