KR950006439Y1 - 프로브카드 - Google Patents

프로브카드 Download PDF

Info

Publication number
KR950006439Y1
KR950006439Y1 KR92009769U KR920009769U KR950006439Y1 KR 950006439 Y1 KR950006439 Y1 KR 950006439Y1 KR 92009769 U KR92009769 U KR 92009769U KR 920009769 U KR920009769 U KR 920009769U KR 950006439 Y1 KR950006439 Y1 KR 950006439Y1
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
probe card
probe
pins
circular
rectangular
Prior art date
Application number
KR92009769U
Other languages
English (en)
Other versions
KR940001987U (ko
Inventor
조훈
손수용
윤한섭
Original Assignee
김주용
현대전자산업 주식회사
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 김주용, 현대전자산업 주식회사 filed Critical 김주용
Priority to KR92009769U priority Critical patent/KR950006439Y1/ko
Publication of KR940001987U publication Critical patent/KR940001987U/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR950006439Y1 publication Critical patent/KR950006439Y1/ko

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R1/00Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
    • G01R1/02General constructional details
    • G01R1/06Measuring leads; Measuring probes
    • G01R1/067Measuring probes
    • G01R1/073Multiple probes
    • G01R1/07307Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card
    • G01R1/07364Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card with provisions for altering position, number or connection of probe tips; Adapting to differences in pitch
    • G01R1/07371Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card with provisions for altering position, number or connection of probe tips; Adapting to differences in pitch using an intermediate card or back card with apertures through which the probes pass
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R1/00Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
    • G01R1/02General constructional details
    • G01R1/06Measuring leads; Measuring probes
    • G01R1/067Measuring probes
    • G01R1/06711Probe needles; Cantilever beams; "Bump" contacts; Replaceable probe pins
    • G01R1/06733Geometry aspects

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Geometry (AREA)
  • Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)
  • Measuring Leads Or Probes (AREA)

Abstract

내용 없음.

Description

프로브카드
제 1 도는 종래의 사각형 프로브카드를 도시한 도면.
제 2 도는 종래의 원형 프로브카드를 도시한 도면.
제 3 도는 본 고안의 사각형 및 원형 겸용 프로브카드를 도시한 도면.
* 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명
1, 1' : 전도트레이스 5, 5' : 제 1 변환홀
7 : 프로브 핀 13, 13' : 제 2 변환홀
17 : 메일핀
본 고안은 반도체 웨이퍼의 전기적특성을 측정하기 위해 사용되는 프로브카드에 관한 것으로, 특히, 누설전류와 기생정전용량을 감소시킬 수 있으며, 사각형 및 원형 프로브카드로 겸용으로 사용할 수 있는 겸용 프로브카드에 관한 것이다.
일반적으로, 반도체소자가 고집적화가 될수록, 반도체소자의 각종 데이타 분석시에는 정확한 저전류 및 저정전용량의 측정을 필요로 한다.
제 1 도는 종래의 사각형 프로브카드를 도시한 도면으로서, 외부의 측정 장비 또는 전원과 연결하기 위하여 프로브 카드(9)의 삽입구가 구비되고, 프로브 카드의 단부에서 프로브핀(7)까지 전기적으로 연되는 전도트레이스(1, 1')를 다수개 구비하고, 상기 프로브핀(7)과 프로브 카드 사이의 중앙부에 상기 전도트레이스(1, 1')를 단락 또는 단선시키기 위해 일정거리 이격된 한쌍의 제 1 변환홀(5, 5')을 구비한다. 그리고, 상기 제 1 변환홀(5, 5')들을 필요에 따라 전기적으로 접속한다. 또한, 도시된 인출홀(6)은 프로브카드(9)를 프로브 스테이션에 정착시키기 위해 사용된다.
종래의 사각형 프로브카드는 프로브 핀에 접속된 전도트레이스의 길이가 길고, 이웃하는 전도트레이스와 인접되게 구비되어 있으므로, 전도 트레이스간의 누설전류와 기생정전용량이 증가되어 측정시 많은 오차를 내포하고 있는 결함을 가진다.
제 2 도는 종래의 원형 프로브카드를 도시한 도면으로서, 원형 프로브카드(19)의 프로브 핀(7)에서 메일핀(17)으로 전도배선에 의해 접속되고, 상기 메일핀(17)에 외부의 측정 장비 또는 전원과 연결하기 위하여 원형프로브 카드 어댑터(20)의 삽입부(21)가 상기 프로브카드의 메일핀(17)에 대응하여 구비된다.
상기한 종래의 프로브카드는 사각형 또는 원형으로 구비함으로서, 사각형 프로브카드는 사각형 프로크카드가 접속되는 장비에만 사용이 가능하고, 또한, 원형 프로브카드는 원형프로브카드에 연결되는 원형 프로브카드 어댑터를 구비하는 장치에만 사용할수가 있으므로 형태가 다른 프로브카드를 별도로 제작함으로 제작비가 더 소용되는 결함을 가진다.
따라서, 본 고안은 상기한 문제점을 해소하기 위하여 프로핀에 접속되는 전도 트레이스를 필요에 따라 연결하도록 변환홀을 구비하고, 사각형 및 원형 프로브카드를 하나의 프로브카드에 구비시켜 겸용으로 사용할 수 있도록 하는 프로브카드를 제공하는 것을 목적으로 한다.
상기 목적을 달성하기 위해, 본 고안의 프로브카드는 사각형 프로브카드의 삽입 단부에서 프로브핀까지 전기적으로 접속하기 위하여 전도트레이스(1, 1')와 제 1 변환홀(5, 5')을 각각 구비하고, 상기 메일핀(17)과 상기 전도트레이스(1) 사이에 한쌍의 제 2 변환(13, 13')을 일정간격 이격되도록 구비하여서 원형 프로브카드와 사각형 프로브카드를 겸용으로 사용할 수 있도록 구비하는 것을 특징으로 한다.
이하, 첨부된 도면으로 본 고안을 더욱 상세하게 설명하기로 한다.
제 3 도는 본 고안의 실시예에 의해 제조된 사각형 및 원형 겸용 프로브카드를 도시한 도면으로서, 종래의 사각형 프로브카드와 같이 전도트레이스(1, 1')와 제 1 변환홀(5, 5')이 구비된 상태에서, 상기 프로브핀(7)에 접속되는 위치에서 바깥쪽에 원형의 프로브카드와 같이 다수개의 메일핀(17)을 원형으로 구비하고, 상기 메일핀(17)에 대하여 각각 인접된 위치에 한쌍의 제 2 변환홀(13, 13')을 일정간격 이격시켜 구비하고, 상기 제 2 변환홀(13)은 메일핀(17)과 프로브핀(7)에 전기적으로 접속하게 한다. 그리고, 제 2 변환홀(13')은 전도트레이스(1)에 접속된다.
여기서, 주지할점은 상기 한쌍의 제 1 변환홀과 제 2 변환홀은 일정간격 이격되어 있으며, 필요에 따라 배선 또는 납땜으로 연결할수가 있다. 또한 본 고안에 의해 제조된 프로브카드는 원형 프로브카드를 사용할경우 제 2 변활홀(13. 13') 사이를 접속하지 않고, 사각형 프로브카드로 사용할경우에만 제 2 변환홀(13, 13') 사이를 접속하면 된다.
본 고안의 겸용 프로브카드는 종래의 사각형 프로브카드에 비해, 인접한 두개의 전도트레이스 사이에 발생되는 누설전류 및 기생정전용량이 많이 감소됨을 하기 도표에서 알 수 있다.
[표1] 전기적 특성비교표
* 최선의 경우 : 프로브핀의 거리가 가장 먼 경우의 2개의 핀 사이의 측정값
*최악의 경우 : 프로브핀의 거리가 가장 가까운 경우의 2개의 핀 사이의 측정값.
측정전압 : 누설전류 측정시 : 10VDC
: 기생정전용량 측정시 : 5VDC, 10KHZ
이상에서 살펴본 바와같이, 종래의 사각형 프로브핀 외주면에 다수의 메일핀을 원형으로 삽입시킨 본 고안의 겸용 프로브카드에 따르면, 종래의 사각형 프로브카드에 비해 누설전류 및 기생정전용량을 감소시킬 수 있을 뿐아니라, 사각형 및 원형 프로브카드를 선택적으로 겸용하여 사용할 수 있어서 제작경비를 절감시킬 수 있다.

Claims (2)

  1. 프로브카드에 있어서, 사각형 프로브카드의 삽입 단부에서 프로브핀까지 전기적으로 접속하기 위하여 전도트레이스(1, 1')와 제 1 변환홀(5, 5')을 각각 구비하고, 프로브핀(7)의 외주면에 상기 프로브핀(7)에서 접속되는 다수개의 메일핀(17)을 원형으로 구비하고, 상기 메일핀(17)과 상기 전도트레이스(1) 사이에 한쌍의 제 2 변환홀(13, 13')을 일정간격 이격되도록 구비하여서 원형 프로브카드와 사각형 프로브 카드를 겸용으로 사용할수 있도록 하는 것을 특징으로 하는 프로브카드.
  2. 제 1 항에 있어서, 상기 제 2 변환홀(13, 13')사이는 필요에 따라 배선 또는 납땜으로 연결된 것을 특징으로 하는 프로브카드.
KR92009769U 1992-06-03 1992-06-03 프로브카드 KR950006439Y1 (ko)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR92009769U KR950006439Y1 (ko) 1992-06-03 1992-06-03 프로브카드

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR92009769U KR950006439Y1 (ko) 1992-06-03 1992-06-03 프로브카드

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR940001987U KR940001987U (ko) 1994-01-03
KR950006439Y1 true KR950006439Y1 (ko) 1995-08-10

Family

ID=19334235

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR92009769U KR950006439Y1 (ko) 1992-06-03 1992-06-03 프로브카드

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR950006439Y1 (ko)

Also Published As

Publication number Publication date
KR940001987U (ko) 1994-01-03

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US4742183A (en) Methods and techniques for fabricating foldable printed circuit boards
US2578288A (en) Test adapter
WO1999041812A1 (en) Ic socket
US10901006B2 (en) Apparatus having a Rogowski coil assembly
US4308498A (en) Kelvin test fixture for electrically contacting miniature, two terminal, leadless, electrical components
KR950006439Y1 (ko) 프로브카드
JP3093308U (ja) カードコネクタ構造
CN114895082A (zh) 一种晶圆测试探针模组
US4218653A (en) Connector contact contamination probe
TWI325500B (en) Integrated circuit testing apparatus
CN215641656U (zh) 一种排线连接器
CN109788632B (zh) 一种线路板及其使用方法
US11462870B2 (en) Wiring board and electronic component testing apparatus comprising coaxial connector, and coaxial connector
CN117276992B (zh) 一种转接盒
KR200287947Y1 (ko) 반도체장치 테스트용 다용도 소켓
CN213122005U (zh) 一种万用表
CN215728330U (zh) 一种用于电子产品的检测工装
CN207866917U (zh) 导通检测装置
CN110880635A (zh) Rfid标签天线、rfid标签以及电缆接头
JPH0128466Y2 (ko)
JPS60192441U (ja) 集積回路試験装置
JPH0320782Y2 (ko)
KR950011616B1 (ko) 번인 테스트용 회로기판에 사용되는 커넥터 어셈블리
JPS5940772Y2 (ja) プロ−ブカ−ド
JPS6025797Y2 (ja) 一括插入式テストプラグ

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E902 Notification of reason for refusal
E701 Decision to grant or registration of patent right
REGI Registration of establishment
FPAY Annual fee payment

Payment date: 20060720

Year of fee payment: 12

EXPY Expiration of term