KR950003600B1 - 저항의 고장율 검출시스템 및 그 검출방법 - Google Patents

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Abstract

내용 없음.

Description

저항의 고장율 검출시스템 및 그 검출방법
제1도는 본 발명에 의한 저항의 고장율 검출시스템의 블럭도.
제2도는 제1도의 롬(ROM)에 저장되어 있는 인자테이블.
제3도는 제1도의 입력처리부에서 수행하는 저항의 고장율 검출프로그램의 수순을 예시하는 순서도.
제4도는 본 발명에 일예의 저항고장율의 결과를 보인 도면.
* 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명
10 : 롬(ROM) 20 : 램(RAM)
30 : 입력처리부 40 : 인자테이블정장부
50 : 고장율 계산부 60 : 에러처리부
70 : 표시부
본 발명은 저항의 고장율 검출시스템 및 그 검출방법에 관한 것으로서, 구체적으로는 상업용 통신기기 등 아날로그 및 디지탈시스템에서 사용되는 저항소자의 예측고장율을 검출하는 시스테 및 그 예측고장율을 검출하는 방법에 관한 것이다.
종래의 저항고장율을 산출하는 방법들이 제안되고 있으나, 이러한 산출방법은 특수장치 등에 사용되는 회로소자인 저항에 적용되는 것이기 때문에 상용화되고 있는 통신시스템에서 사용하고 있는 저항의 고장율을 정확하게 산출할 수 없는 문제점이 야기되었다.
따라서, 이러한 종래의 저항고장율 검출방법을 상용화된 저항소자에 적용하였을 때, 저항의 예측고장율이 실제의 고장율과는 상당한 차이가 나기 때문에 이러한 저항고장율 검출방법에 의해 체크된 상업용 통신시스템 등의 수명을 정확히 검출할 수 없어 시스템의 적절한 교체가 가능하지 않게 된다.
본 발명은 상용화된 시스템에서 사용하고 있는 저항의 고장율을 정확하게 검출하여 상기 시스템의 수명을 정확히 체크할 수 있는 저항의 고장율 검출시스템 및 그 검출방법을 제공하는데 있다.
본 발명의 다른 목적은 저항소자의 기본고장율, 온도인자, 전력인자, 환경인자 및 품질수준을 표본화하여, 이 표본화된 인자들을 기본으로 저항소자의 예측고장율을 정확하게 검출하는 시스템 및 그 검출방법을 제공하는데 있다.
상기의 목적들을 달성하기 위한 본 발명에 의하면, 저항의 고장율 검출시스템은:입력장치로부터 제공된 소정의 입력데이타를 처리하여 출력하는 입력처리부(30)와, 저항소자의 기본고장율(λb), 온도인자(πT), 전력인자(πS), 환경인자(πE) 및 품질수준(πQ)의 표본화된 인자테이블이 격납되어 있는 인자테이블저장부(40)와, 상기 인자테이블을 참조하여 저항의 예측고장율을 검출하는 검출프로그램과 데이타의 입출력에 따른 기능제어프로그램이 저장되어 있는 룸(10)과, 상기 입력처리부(30)로부터 제공된 데이타 및 상기 검출프로그램의 수행에 따라 발생된 데이타를 저장하는 램(20)과,상기 입력처리부(30)의 출력 데이타를 입력하여 상기 검출프로그램에 의해 예측고장율을 다음의 스템으로 산출하는 고장율 계산부(50)와, (a) 저항의 종류와 상기 인자테이블의 요인들과 대응하는 요인을 입력하는 스텝과, (b) 상기 종류와 요인이 각각 소정 범위에 해당되는가를 판단하는 스텝과, (c) 상기 종류와 요인이 소정 범위에 해당되는 경우에는 상기 인자테이블에서 해당 기본고장율(λb)을 독출하여 상기 램(20)에 저장하고 아닌 경우에는 에러처리하는 스텝과, (d) 상기 입력장치로부터 온도인자(πT), 전력인자(πS), 환경인자(πE) 및 품질수준(πQ)의 데이타를 입력하는 스텝과, (e) 상기 입력된 인자의 수가 설정된 갯수와 일치하는가를 판단하는 스텝과, (f) 상기 인자수가 설정갯수와 일치할때 입력된 상기 온도인자, 전력인자, 환경인자 및 품질수준의 데이타를 각각 상기 인자테이블의 설정데이타의 범위에 해당하는가를 판단하여 해당시에는 입력데이타를 상기 램(29)에 저장하고, 해당되지 않을 경우에는 에러처리를 하는 스텝 및, 상기 인자요인의 데이타로부터 예측고장율 λP을 λP=λP+πT×πS+πE×πQ으로 산출하여 출력하는 스텝, 상기 고장율 계산부(50)의 수행으로 발생되는 에러처리에 상응하는 데이타를 출력부(70)로 제공하는 에러처리부(60)를 포함한다.
본 발명의 다른 특징에 의하면 저항의 고장율 검출방법은:데이타를 저장 및 독출하는 램(20)과, 입력처리부(30)로부터 소정의 데이타를 입력하여, 롬(10)에 격납된 저항의 예측고장율을 검출하는 검출프로그램을 수행하는 고장율 계산부(50)와, 저항소자의 기본고장율, 온도인자, 전력인자, 환경인자 및 품질수준의 표본화된 데이타를 수록하는 인자테이블이 격납된 인자테이블저장부(40)를 포함한 저항의 고장율 검출시스템에 있어서, (a) 저항의 종류와 상기 인자테이블의 요인들과 대응하는 요인을 입력하는 스텝과, (b) 상기 종류와 요인이 각각 소정 범위에 해당되는가를 판단하는 스텝과, (c) 상기 종류와 요인이 소정 범위에 해당되는 경우에는 상기 인자테이블에서 해당 기본고장율(λb)을 독출하여 상기 램(20)에 저장하고 아닌 경우에는 에러처리하는 스텝과, (d) 상기 입력장치로부터 온도인자(πT), 전력인자(πS), 환경인자(πE) 및 품질수준(πQ)의 데이타를 입력하는 스텝과, (e) 상기 입력된 인자의 수가 설정된 갯수와 일치하는가를 판단하는 스텝과, (f) 상기 인자수가 설정갯수와 일치할때 입력된 상기 온도인자, 전력인자, 환경인자 및 품질수준의 데이타를 각각 상기 인자테이블의 설정데이타의 범위에 해당하는가를 판단하여 해당시에는 입력데이타를 상기 램(20)에 저장하고, 해당되지 않을 경우에는 에러처리를 하는 스텝 및, (g) 상기 인자요인의 데이타로부터 예측고장율 λP을 λP=λb×πT×πS×πE×πQ으로 산출하여 출력하는 스텝을 포함하는 것을 특징으로 한다.
이하, 본 발명의 실시예를 상세히 설명한다.
제1도는 본 발명의 저항고장율 검출시스템의 블럭도로서, 참조번호 10은 롬(ROM)으로서 시스템의 기능제어를 위한 프로그램(도면에 미도시됨)과 저하의 예측고장율(λP)을 검출하기 위한 검출프로그램(제3도에 플로우챠트로 도시됨)이 저장되고 있고, 참조번호 40은 인자테이블저장부로서 저항소자의 기본고장율(λb), 온도인자(πT), 전력인자(πS), 환경인자(πE) 및 품질수준(πQ)이 표본화된 인자테이블을 저장하고 있은며, 참조번호 30은 입력처리부로서 소정의 데이타를 입력하여 처리한다.
미설명 번호 20은 램으로서 데이타를 저장 및 독출하는 메모리이고, 50은 고장율 계산부로서 상기 검출프로그램을 수행하여 저항의 예측고장율을 산출하며, 60은 에러처리부로서 상기 검출프로그램 수행시 에러처리에 대한 신호를 출력부(70)로 제공한다.
제2(a)도~제2(e)도는 상기 표본화된 인자테이블의 일예를 보여주고 있다.
이러한 구성을 갖는 본 발명의 저항고장율 검출시스템은 제3도에 도시된 바와 같이 검출프로그램의 수순에 의해 작동된다.
먼저, 입력처리장치로부터 저항의 종류 및 요인에 대한 데이타를 입력하면, 마이크로 프로세서로 구성된 고장율 계산부(50)에서는 상기 인자테이블저장부(40)로부터 독출한 저항소자의 종류 및 요인의 표준값과 상기 입력된 데이타를 비교한다.
이때, 입력처리장치(30)로부터 입력된 데이타가 상기 표준값의 범위에 해당될 때 고장율 계산부(50)는 저항의 기본고장율값(λb)을 선택하여 램(20)의 소정 영역에 저장하고, 만일 해당되지 안을 때에는 에러처리를 하여 상기 에러처리부(60)에서는 소정의 제어신호를 출력부(70)로 제공하여 에러표시를 하게 한다.
이어, 상기 입력처리장치(30)로부터 해당 저항소자에 대한 온도인자(πT), 전력인자(πS), 환경인자(πE) 및 품질수준(πQ)의 데이타를 입력하고, 고장율 검출에 필요한 인자갯수(즉 설정된 데이타)가 상기 입력데이타의 인자수와 동일한지를 판단하여, 동일하지 않은 경우에는 상기와 마찬가지로 에러처리를 수행하고, 만일 동일한 경우에는 입력된 각 인자데이타 πT, πS, πE및 πQ가 상기 인자테이블저장부(40)로부터 독출된 각 인자에 대한 표준화 값의 범위에 해당하는지를 판단한다.
여기서, 적어도 어느 하나의 입력인자가 비교되는 표준화 값의 영역에 포함되지 않을 때에는 앞서 설명된 바와 같은 에러처리를 수행하고, 만일 모든 입력데이타가 각 표준화값의 영역에 해당하는 경우에는 각 입력인자데이타를 램(20)에 저장한다.
이와같이, 입력인자데이타가 인자테이블저장부(40)로부터 독출된 표준화 값의 영역에 포함될 경우에는 예측고장율(λP)을 다음의 관계식에 따라 구한다.
λP=λb+πT×πS×πE×πQ
이러한 입력인자데이타로부터 구한 예측고장율은 종래 어떠한 검출방법 보다 상용화된 통신기기에 사용되는 저항의 수명을 정확히 검출할 수 있는 것이다.
제4도는 저하의 일종류에 대하여 저항의 예측고장율을 검출한 결과를 보여주고 있다.
따라서, 저항의 고장율을 확인하고자 할 때에는 제4도와 같은 리포트를 발행하게 되면 저항의 예측고장율이 일목요연하게 나타나게 된다.
상기 실시에에서는 인자테이블의 별도의 인자테이블저장부(40)에 저장되어 있는 경우를 예시하고 있지만, 이에 국한되는 것은 아니고 기타의 변형례는 이 기술분야에 종사하는당업자에게 자명한 것이다.
즉, 상기 인자테이블의 상기 별도의 인자테이블저장부(40)없이 직접 상기 메모리인 롬(10) 또는 램(20)에 저장되어, 고장율 계산부(50)에서는 이를 상기 롬 또는 램에서 독출하여 처리할 수 있다.
또한, 상기 에러처리부(60)는 별도의 구성을 갖지 않고, 에러처리를 위한 수단을 상기 고장율 계산부(50)에서 직접 처리하도록 할 수 있다.
이상의 설명으로부터, 본 발명에 의한 저항의 고장검출시스템 및 그 검출방법은 실제 상용화되는 저항의 고장율을 정확히 산출해낼 수 있어서, 이러한 저항이 사용되는 정보기기 등의 동작수명 등을 체크하여 오동작 또는 부동작에 대한 사고를 미연에 방지할 수 있을 것이다.

Claims (3)

  1. 입력장치로부터 제공된 소정의 입력데이타를 처리하여 출력하는 입력처리부(30)와, 저항소자의 기본고장율(λb), 온도인자(πT), 전력인자(πS), 환경인자(πE) 및 품질수준(πQ)의 표본화된 인자테이블이 격납되어 있는 인자테이블저장부(40)와, 상기 인자테이블을 참조하여 저항의 예측고장율을 검출하는 검출프로그램과 데이타의 입출력에 따른 기능제어프로그램이 저항되어 있는 롬(10)과, 상기 입력처리부(30)로부터 제공된 데이타 및 상기 검출프로그램의 수행에 따라 발생된 데이타를 저장하는 램(20) 및, (a) 저항의 종류와 상기 인자테이블의 용인들과 대응하는 데이타를 입력하는 스텝과, (b) 상기 종류와 요인의 데이타가 각각 소정 범위에 해당되는가를 판단하는 스텝과, (c) 상기 종류와 요인이 소정 범위에 해당되는 경우에는 상기 인자테이블에서 해당 기본고장율(λb)을 독출하여 상기 램(20)에 저장하고 아닌 경우에는 에러처리하는 스텝과, (d) 상기 입력장치로부터 온도인자(πT), 전력인자(πS), 환경인자(πE) 및 품질수준(πQ)의 데이타를 입력하는 스텝과, (e) 상기 입력된 인자의 수가 설정된 갯수와 일치하는가를 판단하는 스텝과, (f) 상기 인자수가 설정갯수와 일치할때 입력된 상기 온도인가, 전력인자, 환경인자 및 품질수준의 데이타를 각각 상기 인자테이블의 설정데이타의 범위에 해당하는 판단하여 해당시에는 입력데이타를 상기 램(20)에 저장하고, 해당되지 않을 경우에는 에러처리를 하는 스텝 및, (g) 상기 인자요인의 데이타로부터 예측고장율 λP을λP=λP+πT×πS×πE×πQ으로 산출하여 출력하는 스텝을 수행하여 상기 입력인자요인에 대한 저항의 예측고장율을 검출하는 고장율 계산부(50)를 포함하는 것을 특징으로 하는 저항의 고장율 검출시스템.
  2. 제1항에 있어서, 상기 고장율 계산부(50)의 수행으로 발생되는 에러처리에 상응하는 데이타를 출력부(70)로 제공하는 에러처리부(60)를 부가하는 것을 특징으로 하는 저항의 고장율 검출시스템.
  3. 데이타를 저장 및 독출하는 램(20)과, 입력처리부(30)로부터 소정의 데이타를 입력하여, 롬(10)에 격납된 저항의 에측고장율을 검출하는 검출프로그램을 수행하는고장율 계산부(50)와, 저항소자의 기본고장율, 온도인자, 전력인자, 환경인자 및 품질수준의 표본화된 데이타를 수록하는 인자테이블이 격납된 인자테이블저장부(40)를 포함한 저항의 고장율 검출시스템에 있어서,
    (a) 저항의 종류와 상기 인자테이블의 용인들과 대응하는 데이타를 입력하는 스텝과, (b) 상기 종류와 요인의 데이타가 각각 소정 범위에 해당되는가를 판단하는 스텝과, (c) 상기 종류와 요인이 소정 범위에 해당되는 경우에는 상기 인자테이블에서 해당 기본고장율(λb)을 독출하여 상기 램(20)에 저장하고 아닌 경우에는 에러처리하는 스텝과, 환경인자(πE) 및 품질수준(πQ)의 데이타를 입력하는 스텝과, (e) 상기 입력된 인자의 수가 설정된 갯수와 일치하는가를 판단하는 스텝과, (f) 상기 인자수가 설정갯수와 일치할때 입력된 상기 온도인가, 전력인자, 환경인자 및 품질수준의 데이타를 각각 상기 인자테이블의 설정데이타의 범위에 해당하는가를 판단하여 해당시에는 입력데이타를 상기 램(20)에 저장하고, 해당되지 않을 경우에는 에러처리를 하는 스텝을 및, (g) 상기 인자요인의 데이타로부터 예측고장율 λP을λP=λb+πT×πS×πE×πQ으로 산출하여 출력하는 스텝을 포함하는 것을 특징으로 하는 저항의 고장율 검출시스템.
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