KR950003272Y1 - Gap distance mesuring device - Google Patents

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KR950003272Y1
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김용술
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석진철
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    • HELECTRICITY
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  • Engineering & Computer Science (AREA)
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  • Manufacture Of Electron Tubes, Discharge Lamp Vessels, Lead-In Wires, And The Like (AREA)

Abstract

내용 없음.No content.

Description

간격 측정장치Thickness measuring device

제1도는 종래의 측정장치를 보이는 단면도.1 is a cross-sectional view showing a conventional measuring device.

제2도는 본 고안 측정장치를 보이는 단면도.2 is a cross-sectional view showing a measuring device of the present invention.

제3도는 그 평면도.3 is a plan view thereof.

제4도는 본 고안 측정블록의 다른 실시예에 대한 사시도이다.Figure 4 is a perspective view of another embodiment of the measuring block of the present invention.

* 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명* Explanation of symbols for main parts of the drawings

1 : 기판(基板) 2 : 지지폴(support pole)1: substrate 2: support pole

4 : 측정블록(測定 block) S : (와류전형)측정센서4: Measurement block S: (vortex type) measuring sensor

MF : 마스크 프레임(mask frame) M : 섀도우마스크(shadow mask)MF: mask frame M: shadow mask

본 고안은 칼라브라운관 제조에 관한것으로, 특히 패널(panel)내면과 섀도우마스크(shadow mask)간의 간격을 측정하는 측정장치에 관한 것이다.The present invention relates to the manufacture of color brown tubes, and more particularly to a measuring device for measuring the distance between the inner surface of the panel (panel) and the shadow mask (shadow mask).

현재 사용되는 칼라브라운관은 대부분 섀도우마스크 방식의 것으로, 이는 섀도우마스크에 형성된 색선별 구멍(色選別 aperture)에 의해 전자총에서 발사된 전자빔을 대응 형광체에 유도하는 방식이다. 즉 섀도우마스크의 각 색선별 구멍은 한 화소를 이루는 R, G, B 형광체 스트라이프(stripe) 또는 도트(dot)에 전자총 어셈블리(專子銃 assembly) 의 각 대응 R, G, B 전자총에서 발사된 전자빔을 유도하는 역할을 하게된다. 뿐만 아니라 섀도우마스크는 패널 내면에 형광면을 형성하는 사진식각공정의 원판마스크 구실을 하게된다.Most of the color CRTs currently used are shadow mask methods, which induce electron beams emitted from electron guns to corresponding phosphors by means of color apertures formed in the shadow masks. That is, the holes for each color line of the shadow mask are electron beams emitted from the corresponding R, G, and B electron guns of the electron gun assembly in the R, G, and B phosphor stripes or dots forming one pixel. It will act to induce. In addition, the shadow mask serves as the original mask of the photolithography process of forming a fluorescent surface on the inner surface of the panel.

이에따라 섀도우마스크와 패널내면간의 간격은 형광면의 형성과 표시화상의 화질(畵質)등, 브라운관의 품위를 좌우하는 큰 중요성을 가진다. 예를들어 이 간격이 지나치게 크면 색선별 구멍을 통과한 전자빔이 대응 스트라이프뿐 아니라 인접스트라이프까지 발광시키게 되어 색 번짐 현상을 야기하게 되고, 지나치게 간격이 작은 경우에는 전반적으로 발광 휘도(發光揮度)를 저하시키게 된다.Accordingly, the distance between the shadow mask and the inner surface of the panel has great importance in determining the quality of the CRT such as the formation of the fluorescent surface and the image quality of the display image. For example, if the spacing is too large, the electron beam passing through the dichroic holes will cause not only the corresponding stripe but also the adjacent stripe to cause color bleeding, and if the spacing is too small, overall emission luminance will be reduced. Is degraded.

그러므로 칼라브라운관의 제조에 있어서 섀도우마스크와 패널 내면의 간격(통칭 q치라 불리우나 의미를 명확히 하기 위해 이하 PM간격이라 호칭함)의 적정 통제는 매우 중요하다. 그런데 이러한 PM간격은 통상 10㎜이내로서 매우 작은 간격이므로 그 사이에 일반적인 측정수단을 넣어 측정을 수행하는 것이 매우 곤란하였다.Therefore, in the manufacture of color CRTs, proper control of the distance between the shadow mask and the inner surface of the panel (commonly referred to as “quench” but referred to hereinafter as “PM interval” for clarity) is very important. By the way, such a PM interval is usually less than 10mm, so very small intervals, it was very difficult to put the measurement means in between.

이에따라 종래에는 기류센서(air flow sensor 또는 air micrometer)에 의해 이 PM간격을 측정하였다. 이 측정방법은 간격의 크기에 따라 개폐되는 밸브(valve)를 구성하고 이에 기류를 흘려 유속이나 유량을 측정함으로써 간격을 측정하는 방법이다.Accordingly, this PM interval was conventionally measured by an air flow sensor (air flow sensor or air micrometer). This measuring method is a method of measuring the gap by forming a valve that opens and closes according to the size of the gap, and flows the airflow to measure the flow rate or flow rate.

그 일례를 제1도에 보였는데, 도면에서 패널(P)과 섀도우마스크(M)사이에는 측정될 각 위치에 각각 기류센서(S')가 설치된 측정판(11)이 삽입된다. 이 기류센서(S')는 선단의 프루브(probe ; P')가 섀도우마스크(M)및/또는 패널(P)에 눌림에 따라 공급관(1)으로부터 공급된 기류의 관로(管路) 면적을 증감시킴으로써 이를 통해 흐르는 기류의 유속 또는 유량을 변화시키도록 되어있다. 이를 도시되지 않은 유속 또는 유량계로 측정하여 룩업 테이블(look-up table)에 의해 거리값으로 변환시킴으로써 PM간격을 측정하도록 되어있다.An example thereof is shown in FIG. 1, in which, the measuring plate 11 is installed between the panel P and the shadow mask M at each position to be measured, respectively. The airflow sensor S 'is used to determine the area of the pipeline of the airflow supplied from the supply pipe 1 as the probe P' at the tip is pressed by the shadow mask M and / or the panel P. It is designed to change the flow rate or the flow rate of the airflow flowing through it by increasing and decreasing it. The PM interval is measured by measuring this with a flow rate or flow meter, not shown, and converting it into a distance value using a look-up table.

그런데 브라운관이 고정세화(高精細化)되어갈수록 해상도(definition)의 향상을 위해 PM간격은 감소되는 바, PM간격이 수㎜에 불과한 CDT의 경우에는 이러한 종래의 측정판은 패널과 마스크사에 삽입되기가 곤란해지며 억지로 측정을 수행하고자 하면 프루브의 탄성력과 기류의 반발력에 의해 다공박판(多孔薄板)인 섀도우마스크에 변형이 야기되는 문제점이 있었다. 이에따라 종래에는 PM간격을 정밀하게 유지해야하는 고정세관은 오히려 이를 측정하여 관리할 수 없다는 모순을 감내할수 밖에 없었다. 또한 설사 측정이 이뤄질수 있다하더라도 패널내에 측정판을 설치하고 마스크 프레임을 다시 결합하여 측정을 행해야하므로 매우 작업이 번거롭고 많은 시간이 소요되므로 전수(全數)검사는 불가능하고 발취(拔取) 검사를 행할수 밖에 없어 부적격품의 후공정 투입을 방치할수 밖에 없었으며, 이러한 부적격품은 브라운관의 완성후 화면 검사에서나 발견되므로 공정과 원가의 손실이 매우 큰 문제점도 있었다.However, as the CRT becomes higher, the PM interval is reduced to improve the resolution. In the case of a CDT having a PM interval of only a few millimeters, the conventional measuring plate is inserted into the panel and the mask yarn. When it is difficult to perform the measurement, forcibly performing the measurement, there is a problem that deformation is caused in the shadow mask which is a porous sheet due to the elastic force of the probe and the repulsive force of the airflow. Accordingly, in the related art, fixed customs, which must precisely maintain PM intervals, have to endure the contradiction that they cannot measure and manage them. In addition, even if the measurement can be made, it is very cumbersome and time consuming because the measuring plate must be installed in the panel and the mask frame is recombined. Therefore, the whole inspection is impossible and the extraction inspection can be performed. There was no choice but to leave inadequate post-process input, and these ineligible products were found only in screen inspection after completion of the CRT, so there was a significant problem of loss of process and cost.

이러한 종래의 문제점을 해결하기 위해 본 고안자는 기준면을 설정하고, 이 기준면과 섀도우마스크간의 간격을 측정하여 PM간격을 구함으로써 종래의 문제점을 해결하는 신규한 PM간격 측정방법을 제안하였다. 이 측정방법은 본원과 동일자로 출원되는 특허출원제(추후보정)호에 기재되어 있는데, 본원은 이 측정방법의 원리를 구현하는 측정장치를 제공하는 것을 목적으로 한다.In order to solve such a conventional problem, the present inventors proposed a novel PM interval measuring method that solves the conventional problem by setting a reference plane and measuring the interval between the reference plane and the shadow mask to obtain the PM interval. This measuring method is described in a patent application (subsequent revision) filed on the same date as the present application, and an object of the present invention is to provide a measuring device that implements the principle of this measuring method.

이러한 목적을 달성하기 위해 본 고안에 따른 PM간격 측정장치는 기판과, 이 기판상의 복수의 위치에 상방으로 연장되어 설치되며 그 상부에 마스크 프레임의 홀더가 결합되는 스터드핀을 구비하는 복수의 지지폴과, 기판상의 복수의 측정위치에 배열되어 설치된 측정블록과, 이 측정블록상에 설치되어 마스크프레임과의 간격을 측정하는 와전류형(渦專流形) 측정센서를 구비하여 구성되는 것을 특징으로 한다.In order to achieve this object, the PM interval measuring apparatus according to the present invention includes a plurality of support poles having a substrate and stud pins extending upwardly at a plurality of positions on the substrate and having a holder of a mask frame coupled thereon. And a measurement block arranged at a plurality of measurement positions on the substrate, and an eddy current type measurement sensor provided on the measurement block to measure a distance from the mask frame. .

이하 첨부된 도면을 참조로하여 본 고안의 바람직한 실시예를 상세히 설명한다.Hereinafter, exemplary embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.

제2도 및 제3도에서, 본 고안 측정장치는 평판형으로 된 기판(1)의 둘레에, 그 선단에 스터드 핀(stud pin ; 3)이 구비된 지지폴(2)의 스터드핀(3)은 마스크 프레임(MF)의 홀더(holder ; H)와 결합되어 마스크프레임(MF)을 지지하게 되는 것이므로 홀더(H)위치에 대응하는 수효 및 위치로 배열된다. 결합된 상태에서 간격이 측정될 섀도우마스크(M)의 각 측정점위치에는 각각 측정센서(S)가 구비되는 측정블록(4)이 설치된다. 도시된 실시예에서 측정위치는 섀도우마스크(M)의 수직, 수평축방향 외측과 대각선 방향 외측 그리고 중앙점의 9위치가 측정되도록 되어있다.2 and 3, the measuring device of the present invention has a stud pin (3) of the support pole (2) provided with a stud pin (3) at the tip of the flat substrate (1) ) Is coupled to the holder (H) of the mask frame (MF) to support the mask frame (MF) is arranged in the number and position corresponding to the holder (H) position. In the combined state, each measuring point position of the shadow mask M to be measured is provided with a measuring block 4 having a measuring sensor S, respectively. In the illustrated embodiment, the measurement position is such that the vertical, horizontal axial outward and diagonal outward and 9 positions of the center point of the shadow mask M are measured.

각 측정블록(4)의 높이는 이에 설치된 측정센서(S)이 영점(zert point)이 각 측정위치에서의 패널의 내면위치와 일치되도록 하는 것이 바람직하다. 즉 제2도에 보인 바와 같이 각 측정센서(S)의 영점들을 패널 내면에 대응하는 가상의 기준곡면(도면에 일점쇄선으로 표시됨)상에 위치한다. 이 경우 각 측정블록(4)의 높이를 균등하게 하거나 기판(1)상에 측정센서(S)들을 설치하여 이로부터 측정된 거리값으로부터 각 측정위치에서 패널내면까지의 거리의 해당값을 감산하는 방법으로 측정을 행할수도 있을 것이다. 그러나 이 경우에는 측정과정에 연산과정이 포함되어 측정이 번거롭고 연산오류에 의한 측정과정에 연산과정이 포함되어 측정이 번거롭고 연산오류에 의한 측정오차가 발생될수도 있으므로 전술한 바와같이 영점을 설정하는 방법이 바람직할 것이다.It is preferable that the height of each measuring block 4 is such that the measuring sensor S installed thereon has a zero point coinciding with the inner surface position of the panel at each measuring position. That is, as shown in FIG. 2, the zero points of the respective measuring sensors S are positioned on a virtual reference curve (indicated by a dashed line in the drawing) corresponding to the inner surface of the panel. In this case, the height of each measuring block 4 is equalized or the measuring sensors S are installed on the substrate 1 to subtract the corresponding value of the distance from each measuring position to the inner surface of the panel from the measured distance value. You can also make measurements in this way. In this case, however, the measurement process is cumbersome because the measurement process is cumbersome, and the measurement process is involved in the measurement error. Therefore, the measurement process is cumbersome and the measurement error may be generated due to the operation error. Would be desirable.

측정센선(S)는 미소거리를 측정할수 있는 센서, 예를들어 초전(蕉專)센서나 반사형 센서등을 사용할수 있으나, 섀도우마스크(M)가 도전체(導專體)이므로 도전체의 상대거리 이동에 따른 와전류(渦專流)의 변화를 감지하는 와전류 센서인 것이 바람직하다.The measuring line S may be a sensor capable of measuring a small distance, for example, a pyroelectric sensor or a reflective sensor, but since the shadow mask M is a conductor, It is preferable that it is an eddy current sensor which detects the change of the eddy current according to a relative distance movement.

한편 측정센서(S)는 제2도 및 제3도에 도시된 바와같이 높이 차이만 있는 평면형의 측정블록(4)상에 설치될수도 있으나, 제4도에 보인바와 같은 측정블록(4')상에 설치될수도 있다. 제4도에 도시된 측정블록(4')은 측정센서(S)의 적어도 일측에 기준면랜드(基準面 land ; 6)를 돌출시켜 그 상면의 연장면이 패널 내면에 대응되도록 구성하고 있다. 측정블록(4')을 이런방식으로 구성하는 경우에는 각 측정블록(4')의 기준면랜드(6)의 상면을 연장하는 가상의 곡면이 패널의 내면에 대응하게 되어 측정의 기준설정에 이용될 수 있다.On the other hand, the measuring sensor (S) may be installed on a flat measuring block 4 having only a height difference as shown in FIGS. 2 and 3, but on the measuring block 4 'as shown in FIG. It can also be installed in. The measurement block 4 ′ shown in FIG. 4 protrudes a reference land 6 on at least one side of the measurement sensor S so that the extended surface of the upper surface corresponds to the inner surface of the panel. In the case of configuring the measuring block 4 'in this manner, a virtual curved surface extending the upper surface of the reference plane land 6 of each measuring block 4' corresponds to the inner surface of the panel to be used for setting the reference of the measurement. Can be.

이러한 구성의 본 고안은 측정장치는 다음과 같이 작동된다.The present invention of this configuration the measuring device is operated as follows.

지지폴(2)의 스터드핀(3)에 마스크프레임(MF)의 홀더(H)를 결합하면 마스크프레임(MF)이 본 고안 측정장치상에 지지된다.When the holder H of the mask frame MF is coupled to the stud pin 3 of the support pole 2, the mask frame MF is supported on the measuring device of the present invention.

다음 각 측정센서(S)에 구동전압을 인가하면 각 측정센서(S)는 섀도우마스크(M)와의 간격에 대응하는 전위값을 출력하고, 이 전위값이 도시되지 않은 표시장치에 인가되어 측정된 간격을 수치로 표시하게 된다. 이 값이 본 고안 원리에 측정된 간격을 수치로 표시하게 된다. 이 값이 본 고안 원리에 따라 PM간격이 된다.Next, when a driving voltage is applied to each of the measuring sensors S, each measuring sensor S outputs a potential value corresponding to a distance from the shadow mask M, and the potential value is applied to a display device (not shown) and measured. The interval is displayed numerically. This value is a numerical representation of the interval measured in accordance with the present principles. This value becomes the PM interval according to the present invention principle.

이 측정센서의 측정치를 마이크로 프로세서(micro processor)에 인가하여 설정된 허용치와 비교하여 양부(良否)를 판정한다던가 부적격시 경보를 발하는 구성등은 당업자라면 용이하게 알수있는 사항일 것이므로 이에 대한 구체적인 설명은 생략하기로 한다.The measurement of the measurement sensor is applied to a microprocessor and compared with the set allowance to determine whether it is OK or to give an alarm when it is inadequate to be easily understood by those skilled in the art. It will be omitted.

이상에서 보인바와 같이 본 고안에 의하면 측정장치를 섀도우마스크와 패널사의 좁은 공간에 설치할 필요가 없으므로 측정장치의 두께를 제한할 필요가 없게된다. 이에따라 측정수단도 기류센서로 제한할 필요가 없게 되어, 복잡한 기류공급관의 설치나 유속등을 두께로 환산하는 과정이 불필요하게 되므로 측정정도로 향상시킬 수 있게된다. 뿐만아니라 측정도 범용의 측정장치상에서 연속적으로 이뤄질수 있게되므로 필요에 따라 전수검사를 행하여 브라운관의 품위를 보장할수 있다.As can be seen from the above, according to the present invention, it is not necessary to install the measuring device in a narrow space of the shadow mask and the panel company, so that it is not necessary to limit the thickness of the measuring device. Accordingly, the measuring means also does not need to be limited to the air flow sensor, and the process of converting the complicated air flow supply pipe or the flow rate into a thickness is unnecessary, thereby improving the measurement accuracy. In addition, since the measurement can be carried out continuously on a general-purpose measuring device, it is possible to guarantee the quality of the CRT by performing a full inspection as necessary.

이와같이 본 고안은 칼라 브라운관의 품질향상에 큰 효과가 있으며, 특히CDT등의 고정세관의 화상표시 신뢰성을 현저히 향상시키는 효과가 있다.In this way, the present invention has a great effect on improving the quality of color CRT, and in particular, it has the effect of remarkably improving the image display reliability of fixed customs such as CDT.

Claims (1)

기판(1)과, 상기 기판(1)상의 복수의 위치에 상방으로 연장되어 설치되어 그 상부에 섀도우마스크(M)를 지지하는 마스크 프레임(MF)의 홀더(H)가 결합되는 스터드핀(3)을 구비하는 복수의 지지폴(2)과, 상기 기판(1)상의 복수의 측정위치에 배열되어 설치된 측정블록(4)과, 측정블록(4)상에 설치되어 상기 마스크프에임(MF)과의 간격을 측정하는 와전류형 측정센서(S)를 구비하여 구성되는 것을 특징으로 하는 패널 내면과 섀도우마스크간의 간격 측정장치.Stud pins (3) to which the substrate (1) and the holder (H) of the mask frame (MF), which extends upward at a plurality of positions on the substrate (1) and is installed thereon and support the shadow mask (M), are coupled thereto. A plurality of support poles (2), a measurement block (4) arranged at a plurality of measurement positions on the substrate (1), and a mask frame (MF) provided on the measurement block (4). And an eddy current type measuring sensor (S) for measuring a distance between the inner surface of the panel and the shadow mask.
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