KR910007499B1

KR910007499B1 - Method of measuring the distance between shadow mask and internal part of pannel

Info

Publication number: KR910007499B1
Application number: KR1019890017234A
Authority: KR
Inventors: 김원호; 김철우
Original assignee: 삼성전관 주식회사; 김정배
Priority date: 1989-11-27
Filing date: 1989-11-27
Publication date: 1991-09-26
Also published as: KR910010589A

Abstract

The method is for measuring the distance from the shadow mask to the inside of panel exactly to produce the high quality colour CRT. A first measuring rod (3) is passed through the hole of a shadow mask (s) up to a panel (P) to measure the distance (L) from a reference point. And a second measuring rod (4) is contacted to the shadow mask to measure the distance (M) from the reference point. Then real distance is calculated by subtrating the thickness (N) of the shadow mask and the distance (M) from the distance (L) .

Description

How to measure the distance between the shadow mask and the inside of the panel

제1도는 본 발명의 거리 측정방법을 나타내는 도면으로서, a도는 측정봉의 패널내면에 접촉된 상태의 단면도, b도는 측정봉이 섀도우마스크에 접촉된 상태의 단면도.1 is a view showing a distance measuring method of the present invention, a is a cross-sectional view of a state in contact with the panel inner surface of the measuring rod, b is a cross-sectional view of the state in which the measuring rod is in contact with the shadow mask.

제2도는 종래의 거리 측정방법을 나타내는 도면으로서, a도는 마스터 게이지의 기준점을 결정하는 과정을 나타내는 도면, b도는 섀도우마스크의 위치측정예를 나타내는 도면이다.2 is a view showing a conventional distance measuring method, a is a view showing a process of determining the reference point of the master gauge, b is a view showing an example of the position measurement of the shadow mask.

* 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명* Explanation of symbols for main parts of the drawings

3 : 제1측정봉 4 : 제2측정봉3: first measuring rod 4: second measuring rod

P : 패널 S : 섀도우마스크P: Panel S: Shadow Mask

본 발명은 섀도우마스크와 패널내면과의 거리 측정방법에 관한 것으로서, 보다 상세하게는 거리를 정확히 측정하여 고품질의 칼라 브라운관을 제작할 수 있도록한 섀도우마스크와 패널내면과의 거리(이하 Q치라 칭한다) 측정방법에 관한 것이다.The present invention relates to a method for measuring the distance between the shadow mask and the inner surface of the panel, and more particularly, to measure the distance between the shadow mask and the inner surface of the panel (hereinafter referred to as Q value) to accurately produce a high-quality color CRT. It is about a method.

섀도우마스크는 칼라 브라운관의 패널내면에 일정한 간격을 두고 장착되어서 전자총으로부터 방사되는 R.G.B 비임의 해당 R.G.B 형광체에 랜딩되도록 하여 주는 컬러 텔레비젼의 주요 부품으로서 브라운관의 패널과 정확한 간격을 이루도록 조립되어야 양질의 화상을 얻을 수 있게 된다.The shadow mask is a key part of a color television that is mounted at regular intervals on the inner surface of the color CRT, allowing it to be landed on the corresponding RGB phosphor of the RGB beam emitted from the electron gun. You can get it.

패널내측면과 섀도우마스크 사이의 거리를 정밀하게 맞춰주기 위하여 종래부터 마스터 게이지가 사용되고 있다. 이 마스터 게이지는 먼저 브라운관의 패널내측면 5개소 내지 9개소에 분산 배치하여 놓고, 큐얼리티체크판(Quality Cheek Pannel)상에 고정 배치된 셋팅 게이지의 포인트를 접촉시킨 상태로 에어 게이지의 0점을 조정하는데 이용된다.In order to precisely adjust the distance between the inner surface of the panel and the shadow mask, a master gauge is conventionally used. This master gauge is first distributed in five to nine places on the inner side of the CRT panel, and the zero point of the air gauge is brought into contact with the points of the setting gauge fixedly placed on the Quality Cheek Pannel. Used to adjust.

에어 게이지의 0점 조정이 완료되면, 패널내면과 동일한 곡률로 형성된 큐얼리티 체크판을 브라운관의 패널에 장치하고 섀도우마스크를 조립한다.After zero adjustment of the air gauge is completed, a curity check plate formed with the same curvature as the inner surface of the panel is mounted on the panel of the CRT and a shadow mask is assembled.

그러면 셋팅 게이지의 포인트가 섀도우마스크의 의해 눌리어져 0점 조정된 에어 게이지의 눈금이 에어압의 변동에 따라 변하게 되는데 이 눈금의 변화가 곧 Q치가 된다.Then, the point of the setting gauge is pressed by the shadow mask so that the scale of the zero-adjusted air gauge changes according to the change in air pressure.

그런데 이러한 방식의 Q치 측정은 마스터 게이지의 높이가 한정되어 있기 때문에 브라운관의 규격별로 각각 제작해 놓아야 한다는 결점이 있다.However, this type of Q value measurement has a drawback that the height of the master gauge is limited and must be manufactured for each CRT standard.

상기한 문제점을 해소하기 위한 방안으로 제2도에 도시된 바와 같이 블록체(A)의 상방에 마이크로 미터(B)를 고정나사(C)로 고정 설치하고, 이 마이크로 미터(B)의 스핀들(D)를 블록체(A)의 내측으로 연장 형성한 게이지가 제안되어 있다.As a solution to the above problem, as shown in FIG. 2, the micrometer B is fixedly installed with the fixing screw C above the block body A, and the spindle of the micrometer B is fixed. The gauge which extended D) inward of the block body A is proposed.

이러한 게이지는 제2도 a)의 도시와 같이 스핀들(D)의 높이(H)를 규정치에 맞춰 놓은 다수의 블록체(A)를 패널(P)의 내측면에 산재시켜 놓은 다음 큐얼리티 체크판(E)상에 고정된 셋팅 게이지의 포인트(F)가 스핀들(D)과 접촉되도록 에어 게이지를 가동시키고, 이 상태에서 에어 게이지를 0점 조정한다.Such a gauge is arranged on the inner surface of the panel P with a plurality of block bodies A having the height H of the spindle D in accordance with a prescribed value, as shown in FIG. The air gauge is operated so that the point F of the setting gauge fixed on (E) comes into contact with the spindle D, and the air gauge is zero-adjusted in this state.

0점 조정이 완료되면 큐얼리티 체크판(E)를 측정대상물에 놓고 섀도우마스크(S)를 조립하면 제2도 b)에 도시한 바와 같이 포인터(F)가 섀도우마스크(S)에 접촉되어 눌리어짐에 따라 에어압이 변동되어 에어게이지를 통하여 Q치(H')를 측정할 수 있게 된다.When the zero point adjustment is completed, the curity check plate E is placed on the measurement object, and the shadow mask S is assembled. As shown in FIG. 2B, the pointer F contacts the shadow mask S and is pressed. Air pressure fluctuates with the rear load, and the Q value H 'can be measured through the air gauge.

이러한 방식의 Q치 측정은 마이크로 미터(B)의 스핀들(D)높이를 가변시킬 수 있기 때문에 브라운관의 규격별로 전용의 마스터 게이지를 준비할 필요가 없는 이점은 있으나, 에어 게이지가 필요할 뿐만 아니라 에어압의 변화와 큐얼리티 체크판의 밀착 여부에 따라 Q치의 산포가 커져 정확한 측정을 기대할 수 없는 문제점이 있다.The Q measurement in this way can vary the height of the spindle (D) of the micrometer (B), but there is an advantage that there is no need to prepare a dedicated master gauge for each CRT specification. According to the change and the close contact of the curity check plate, there is a problem that the distribution of Q value becomes large and accurate measurement cannot be expected.

본 발명은 상기한 바와 같은 종래 기술의 문제점을 해소하고자 발명된 것으로서, 본 발명의 목적은 Q치를 정확히 측정할 수 있는 섀도우마스크와 패널내면과의 거리 측정방법을 제공하는 데 있다.The present invention is invented to solve the problems of the prior art as described above, an object of the present invention is to provide a method for measuring the distance between the shadow mask and the inner surface of the panel that can accurately measure the Q value.

상기한 바와 같은 목적을 달성하기 위하여 본 발명은, 패널내면에 섀도우마스크를 조립한 상태에서 X, Y, Z 방향으로 이동가능한 이동수단을 Z방향으로 작동시켜 제1측정봉이 섀도우마스크의 구멍을 통과하여 그 끝단이 패널내면에 접촉되었을 때 기준점과 패널내면간의 거리를 구하고, 상기한 제1측정봉을 섀도우마스크의 구멍보다 큰 제2측정봉으로 교환함과 아울러 다시 이동수단을 Z방향으로 작동시켜 제2측정봉이 섀도우마스크에 놓인 상태에서 상기 기준점과 섀도우마스크간의 거리를 구한 상기한 첫 번째 측정거리에서 두 번째 측정거리와 섀도우마스크의 두께를 빼내어 Q치를 측정하는 섀도우마스크와 패널내면과의 거리측정방법을 제공한다.In order to achieve the object as described above, the present invention, the first measuring rod passes through the hole of the shadow mask by operating the movable means movable in the X, Y, Z direction in the Z direction while the shadow mask is assembled on the inner surface of the panel. When the tip is in contact with the inner surface of the panel, find the distance between the reference point and the inner surface of the panel, replace the first measuring rod with a second measuring rod larger than the hole of the shadow mask, and operate the moving means again in the Z direction. The distance between the shadow mask and the inner surface of the panel is obtained by taking the second measurement distance and the thickness of the shadow mask from the first measurement distance obtained by obtaining the distance between the reference point and the shadow mask while the second measuring rod is placed on the shadow mask. Provide a method.

이하 본 발명의 바람직한 실시예를 첨부한 도면에 따라 더욱 상세히 설명한다.Hereinafter, preferred embodiments of the present invention will be described in more detail with reference to the accompanying drawings.

제1도는 본 발명의 측정방법을 나타내는 도면으로서, 부호(1)은 이동수단을 나타낸다.1 is a diagram showing a measuring method of the present invention, where reference numeral 1 denotes a moving means.

이동수단(1)은 X, Y, Z방향으로 이동가능한 3차원 측정기로 사용되며, 이 이동수단(1)의 아래쪽에는 수직방향으로 척(chuck) 설치되어 있다. 척(2)는 측정봉을 교환할 수 있는 구조로 된다.The moving means 1 is used as a three-dimensional measuring instrument which is movable in X, Y, and Z directions, and a chuck is installed below the moving means 1 in the vertical direction. The chuck 2 has a structure in which a measuring rod can be replaced.

이러한 이동수단(1)을 사용하여 Q치를 측정하는 방법을 설명한다.The method of measuring the Q value using this moving means 1 will be described.

제1도 a)에 도시한 바와 같이 패널(P)에 섀도우마스크(S)를 조립한 다음, 섀도우마스크(S)의 구멍을 관통할 수 있을 정도의 굵기를 갖는 제1측정봉(3)을 척(2)에 고정시키고 이동수단(1)을 Z방향으로 하강작동시켜 제1측정봉(3)이 섀도우마스크(S)의 구멍을 관통한 상태로 패널(P)의 안쪽면에 닿도록 한다.As shown in FIG. 1A, the shadow mask S is assembled to the panel P, and then the first measuring rod 3 having a thickness enough to penetrate the holes of the shadow mask S is mounted. It is fixed to the chuck 2 and the moving means 1 is lowered in the Z direction so that the first measuring rod 3 touches the inner surface of the panel P while passing through the hole of the shadow mask S. .

이 상태에서 소정의 위치를 기준점으로 하여 이 기준점으로부터 패널(P)까지의 거리(M)을 구한다.In this state, the distance M from the reference point to the panel P is determined using the predetermined position as the reference point.

거리(L)이 구하여지면 이동수단(1)을 상승작동시켜 제1측정봉(3)을 이보다 굵은 제2측정봉(4)로 교환한 다음, 다시 이동수단(1)을 Z방향으로 하강 작동시켜 제2측정봉(4)가 섀도우마스크(S)의 면에 닿은 상태에서 미리 정하여진 기준점으로부터 섀도우마스크(S)까지의 거리(M)를 구한다.When the distance L is found, the moving means 1 is moved upward to replace the first measuring rod 3 with a second thicker measuring rod 4, and then the moving means 1 is lowered in the Z direction. The distance M between the predetermined reference point and the shadow mask S in the state where the second measuring rod 4 is in contact with the surface of the shadow mask S is obtained.

그리고 제1측정봉(3)에 의해 구하여진 기준점으로부터 패널(P)까지의 거리(L)에서, 제2측정봉(4)에 의해 구하여진 기준점으로부터 섀도우마스크(S)까지의 거리(M)과 섀도우마스크(S)의 두께(N)을 뺀다. 그러면 섀도우마스크(S)와 패널(P)까지의 거리 곧 Q치가 측정된다.The distance M from the reference point determined by the second measuring rod 4 to the shadow mask S at the distance L from the reference point obtained by the first measuring rod 3 to the panel P. Subtract the thickness (N) of the shadow mask (S). Then, the Q, which is the distance between the shadow mask S and the panel P, is measured.

이러한 방식으로 이동수단(1)을 X, Y방향으로 이동시키면서 여러군데의 Q치를 구한다.In this manner, several Q values are obtained while moving the moving means 1 in the X and Y directions.

이상 설명한 바와 같이 본 발명의 Q치 측정방법은 큐얼리티 체크판이나 셋팅 게이지 또는 마스터 게이지등을 사용하지 않고도 기종에 관계없이 Q치를 측정할 수 있으며, 에어압력을 이용한 방식이 아니라 3차원 측정기에 의한 거리산출방식으로 측정하기 때문에 보다 정확한 Q치를 측정할 수 있어 고품질의 칼라 브라운관을 제작할 수 있다.As described above, the Q value measuring method of the present invention can measure the Q value regardless of the model without using a curiosity check plate, a setting gauge, or a master gauge. Because of the distance calculation method, it is possible to measure more accurate Q value and to produce high quality color CRT.

Claims

In the method of measuring the Q value for measuring the distance between the shadow mask having a color discrimination function and the inner surface of the panel, after setting the reference point, the first measuring rod 3 is passed through the hole of the shadow mask S to the panel P. The distance (L) between the reference point and the inner surface of the panel in the touched state is obtained. Then, the distance (M) between the reference point and the shadow mast (S) while the second measuring rod 4 is in contact with the shadow mask (S). Obtaining the distance (M) and the shadow mask thickness (N) from the distance (L) to obtain the Q value to measure the distance between the shadow mask and the panel inner surface.