KR910005770Y1

KR910005770Y1 - Gauge

Info

Publication number: KR910005770Y1
Application number: KR2019880017332U
Authority: KR
Inventors: 김동율
Original assignee: 삼성전관 주식회사; 김정배
Priority date: 1988-10-26
Filing date: 1988-10-26
Publication date: 1991-08-03
Also published as: KR900008799U

Abstract

내용 없음.No content.

Description

Gauge for Shadow Mask Position Measurement

제 1 도는 종래의 불럭 게이지를 도시하는 측면도,1 is a side view showing a conventional block gauge,

제 2 도는 본 고안 게이지의 사시도,2 is a perspective view of the present invention gauge,

제 3 도는 본 고안 게이지의 사용예를 도시하는 도면으로서 (a)는 에어 마이크로 미터의 기준점을 결정하는 과정을 나타내는 도면 (b)는 새도우 마스크 위치 측정예를 나타내는 도면.3 is a view showing an example of use of the present invention gauge (a) is a view showing a process of determining the reference point of the air micrometer (b) is a view showing an example of the shadow mask position measurement.

* 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명* Explanation of symbols for main parts of the drawings

1 : 블럭체 2 : 마이크로미터1: block body 2: micrometer

본 고안은 브라운관의조립정밀도 검사에 사용되는 새도우 마스크 위치측정용 게이지에 관한 것이다.The present invention relates to a gauge for shadow mask position measurement used for the assembly precision inspection of the CRT.

새두우 마스크는 브라운관의 패널 내측면에 소정간격을 두고 장착되어서 전자총으로 부터 방사되는 R.G.B비임의 해당 R.G.B 형광체에 랜딩되도록 하여 주는 컬러 텔레비젼의 주요부품으로서 브라운관의 패널과 정확한 간격을 이루도록 조립되어야 양질의 화상을 얻을 수 있게 된다.SADWOO MASK is a main part of color TV which is mounted at the inner surface of CRT panel at a predetermined interval so that it can be landed on the corresponding RGB phosphor of RGB beam emitted from electron gun. The image can be obtained.

패널 내측면과 새도우 마스크 사이의 거리를 정밀하게 맞춰주기 위하여 종래부터 표준블럭 게이지가 사용되고 있다.In order to precisely adjust the distance between the inner surface of the panel and the shadow mask, a standard block gauge is conventionally used.

이 표준블럭 게이지는 제 1 도의 도시와 같이 측면 ㄷ자상으로 된 물체이며, 그 높이(H)가 곧 패널 내측면과 새도우 마스크 사이의 간격을 설계치 대로 셋팅하기 위한 기준 수치로 된다.This standard block gauge is an object having a side c-shape as shown in FIG. 1, and its height H is a reference value for setting the gap between the inner surface of the panel and the shadow mask as designed.

이 표준 블럭 게이지의 사용을 먼저 브라운관의 패널 내측면 5개소 또는 9개소에 게이지를 분산하여 놓고, 큐얼리티 체크판(Quality Check Pannel)상에 고정 배치된 에어마이크로 미터의 게이지 포인트를 접촉시킨 상태로 에어마이크로 미터의 계측기를 0점에 조정하여 주는데 쓰인다.The standard block gauge is first used in five or nine inner panels of the CRT, with the gauge points of the air micrometer fixedly placed on the quality check pannel. Used to adjust the air micrometer's meter to zero.

이렇게 에어마이크로 미터의 계측기를 0점 조정한 다음, 큐얼리티 체크판을 새도우 마스크가 조립된 브라운관 패널에 장치하여 에어마이크로 미터를 가동시키면 게이지 포인트가 새도우 마스크와 접촉되는 지점이 계측기상에 수치로 나타나게 되어 그 조립 위치와 오차를 쉽게 알아 볼수 있는 것이다.After zero-adjusting the instrument of the air micrometer, place the curity check plate on the CRT panel with the shadow mask assembled to operate the air micrometer so that the point where the gauge point is in contact with the shadow mask appears numerically on the instrument. It is easy to see the assembly position and error.

새도우 마스크의 조립위치 측정이 상기한 바와같이 복잡하게 진행되는 이유는 새도우 마스크 자체가 얇은 스틸판으로 형성되어 있어서 다른 방법으로는 정확한 측정을 할수 없기 때문이다.The reason why the measurement of the assembly position of the shadow mask is complicated as described above is that the shadow mask itself is formed of a thin steel plate, so that the accurate measurement cannot be performed by other methods.

그런데 종래의 표준블럭게이지는 그 높이(H)가 한정되어 있기 때문에 브라운관의 규격별로 나누어 제작해 놓아야 한다는 결점이 있다.However, the conventional standard block gage has a drawback that the height (H) is limited and must be manufactured by dividing by the standard of the CRT.

예로서 같은 14인치 브라운관이라 하여도 29.1ø의 것은 센터높이 8.25mm , 주변 측 8.72mm 이지만 22.5ø의 것은 센터높이 11.4mm, 주변측 11.61mm로 같은 화면 크기라도 넥크측의 직경에 따라 새도우 마스크 높이가 달라지게 된다.For example, even with the same 14-inch CRT, the 29.1 ° is 8.25mm in the center and 8.72mm in the periphery, but the 22.5 ° is 11.4mm in the center and 11.61mm in the periphery. Will be different.

그 결과 표준 블럭 게이지는 14인치인 경우에도 그 종류가 필요하게 되고, 화면 크기 별로는 더 많은 수의 전용 표준 블럭 게이지를 준비해야 하는 문제가 생긴다.As a result, standard block gauges are required even for 14 inches, and there is a problem of having to prepare a larger number of dedicated standard block gauges for each screen size.

본 고안은 상술한 종래의 표준블럭 게이지가 갖는 결점을 해결하기 위하여 측정 높이를 조정할 수 있는 새도우 마스크 위치 측정용 게이지를 제공함에 그 목적이 있다.The object of the present invention is to provide a gauge for shadow mask position measurement that can adjust the measurement height in order to solve the drawbacks of the conventional standard block gauge described above.

이를 위하여 본 고안은 블럭체 상에 통상의 마이크로미터를 관통설치하여, 구성됨을 특징으로 한다.To this end, the present invention is characterized in that it is configured by passing through a conventional micrometer on the block body.

이하 본 고안은 첨부도면 제 2 도 내지 제 3 도를 통해 상세히 설명한다.Hereinafter, the present invention will be described in detail with reference to FIGS. 2 through 3.

도면에서 부호(1)은 블럭체를 지칭한다.Reference numeral 1 in the drawings refers to a block body.

블럭체(1)의 상방에는 마이크로미터(2)가 부착 되어서 그 하측의 스핀들(3)을 블럭체(1)의 내측으로 연장시키고 있다.A micrometer 2 is attached above the block 1 to extend the spindle 3 below the block 1 to the inside of the block 1.

그리고 블럭체(1)의 상측 외주에는 스핀들(3)의 진퇴를 일시 정지시켜 두기 위한 고정나사(4)가 설치되어있다.A fixing screw 4 is provided on the upper outer periphery of the block body 1 for temporarily stopping the advancing and retreating of the spindle 3.

이와 같이 구성되는 본 고안은 마이크로 미터(2)를 조작함에 따라 스핀들(3)이 블럭체(1)내로 진퇴하여 측정 높이를 가변시켜 주게 된다.According to the present invention configured as described above, as the micrometer 2 is operated, the spindle 3 moves back and forth into the block body 1 to change the measurement height.

상술한 본 고안을 사용예로서 설명하면 다음과 같다.The present invention described above is described as an example of use as follows.

제 3a 도의 도시와 같이 스핀들(3)의 높이 (H)를 규정치에 맞춰놓은 다수의 블럭체(1)을 브라운관(A)의 패널내측면 소정부위에 산재시켜 놓고, 큐얼리티 체크판(B)상에 고정된 에어마이크로 미터의 게이지 포인트(C)가 마이크로미터(2)의 스핀들(3)과 접촉되도록(1점쇄선 표시)에어 마이크로 미터를 가동시키고, 이 상태에서 에어마이크로 미터의 계측기를 0점 조정한다.As shown in FIG. 3A, a plurality of block bodies 1 having the height H of the spindle 3 aligned with prescribed values are interspersed in predetermined portions of the inner surface of the panel of the CRT, and the curity check plate B is shown. The air micrometer is operated so that the gauge point C of the air micrometer fixed on the surface is in contact with the spindle 3 of the micrometer 2 (indicated by a dashed line), and in this state the instrument of the air micrometer is zero. Adjust the point.

0점 조정이 끝나면 큐얼리티 체크판 (B)를 측정대상물상에 놓고 에어 마이크로 미터를 가동시키면 제 3b 도의 도시와 같이 게이지 포인트(C)가 새도우 마스크(S)에 접촉될때 그 부착 높이(H')는 에어마이크로 미터의 계측기를 통해 나타나는 것이다.After zero adjustment, place the curity check plate (B) on the measurement object and start the air micrometer. When the gauge point (C) is in contact with the shadow mask (S) as shown in FIG. ) Is shown through the instrument of an air micrometer.

이와같이 부착높이(H')의 측정과정은 종래와 동일한 방법으로 행해지는 것이며, 본 고안은 오직 기준수치를 가변할수 있도록 되어 있음에 그 특징을 갖는 것이다.In this way, the measurement of the attachment height (H ') is carried out in the same manner as in the prior art, the present invention is characterized in that only the reference value can be varied.

상술한 본 고안에 의하면 브라운관의 규격별로 전용의 블럭게이지를 준비할 필요가 없게되어 설비비를 대폭 절감할수 있는 장점을 얻을 수 있다.According to the present invention described above, there is no need to prepare a dedicated block gauge for each CRT specification, and thus, the facility cost can be greatly reduced.

Claims

Gauge for positioning a shadow mask, characterized in that the upper surface consists of a block body (1) having a conventional micrometer (2) penetrated thereto.