KR910004956Y1

KR910004956Y1 - Investigating device of the picture factor of apicture tube

Info

Publication number: KR910004956Y1
Application number: KR2019880011306U
Authority: KR
Inventors: 이삼경
Original assignee: 삼성전관 주식회사; 김정배
Priority date: 1988-07-11
Filing date: 1988-07-11
Publication date: 1991-07-10
Also published as: KR900003773U

Abstract

내용 없음.No content.

Description

CRT pixel inspection device

제 1 도는 본 고안의 구성을 도시하는 사시도.1 is a perspective view showing a configuration of the present invention.

제 2 도는 본 고안의 사용예를 나타내는 단면도.2 is a cross-sectional view showing an example of use of the present invention.

* 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명* Explanation of symbols for main parts of the drawings

2 : 아암 3 : 각도계2: arm 3: goniometer

4' : 확대경 5 : 슬라이드채널4 ': Magnifying glass 5: Slide channel

8 : 흡반8: sucker

본 고안은 브라운관의 화소검사장치에 관한 것이다.The present invention relates to a pixel inspection device of a CRT.

칼라브라운관에 있어서 전자총에서 발사되는 R,G,B전자비임은 편향요크에 의해 편향되어 브라운관의 형광면 상에서 주사선을 따라 주사됨으로써 화소를 형성하게 되고, 이 화소가 연결되어 하나의 화상을 구성하게 된다.In the color-brown tube, the R, G, and B electron beams emitted from the electron gun are deflected by the deflection yoke and scanned along the scanning line on the fluorescent surface of the CRT, thereby forming pixels, and the pixels are connected to form an image.

그러므로 브라운관의 화질을 R,G,B전자비임이 화면에 도포된 형광체에 랜딩되어 나타나는 화소로부터 크게 영향을 받게 된다.Therefore, the picture quality of the CRT is greatly influenced by the pixels appearing when the R, G, and B electron beams are landed on the phosphor coated on the screen.

즉 각각의 R,G,B비임이 소정의 R,G,B형광체 상에 정확하게 랜딩되는 가의 여부에 따라 화질의 수준이 결정되는 것이다.That is, the level of image quality is determined depending on whether each of the R, G, and B beams is accurately landed on a predetermined R, G, and B phosphor.

그런데 칼라브라운관에 있어서는 3개의 전자비임이 각각 해당 형광체로 랜딩되도록 하기 위한 수단으로서 새도우마스크를 채택함이 통상이고,이 방식에 있어서는 화면의 중앙부와 주변부에 생기는 화소가 각각 화면의 곡류차이로 말미암아 그 형태가 같지 않게 되는 문제를 일으키고 있다.However, in the case of color CRTs, shadow masks are generally adopted as means for allowing three electron beams to be landed on the corresponding phosphors. It is causing the problem of disagreement.

이러한 문제를 개선하고자, 새도우마스크의 비임통과공 형태를 주변으로 갈수록 전자비임의 랜딩량이 많아지게 변형시키고 또 편향요크에 의한 전자비임의 컨버어젼스도 주변으로갈수록 길어지게 변화시켜서 언더포커스가 생기지 않게 배려하고 있으며, 이 과정에서 브라운관의 화면에 맺혀지는 화소의 검사는 개선방향을 바로 잡는데에 필수직인 것으로 된다.In order to improve this problem, the non-passing hole shape of the shadow mask is modified to increase the landing amount of the electron beam toward the surroundings, and the convergence of the electron beam due to the deflection yoke is changed to become longer toward the periphery, thereby preventing underfocus. In this process, the inspection of the pixels on the CRT screen is essential to correct the direction of improvement.

종래부터 행하고 있는 화소검사의 한 방식은 브라운관의 화면에서 측정위치를 선정하여 표시해 놓은 다음, 브라운관을 동작시켜서 표시점에 맺혀지는 화소를 확대경으로 목측하는 절차를 통해 행하고 있다.A conventional method of pixel inspection is performed by selecting and displaying a measurement position on a screen of a CRT, and then operating a CRT to observe a pixel formed at a display point with a magnifying glass.

상술한 종래 방식은 화면 상의 측정위치를 일일이 측정하여 표시해 두어야 하는 번거로움이 있고, 특히 Y축상의 비임로테이션은 도저히 측정할 수 없는 결점이 있다.The above-described conventional method is cumbersome to measure and display the measurement position on the screen one by one, and particularly, the beam rotation on the Y-axis is hardly measured.

본 고안의 목적은 상기한 종래방식의 문제점을 해결하고자, 조작이 간편하고 Y축 상의 비임로테이션도 측정할 수 있게 구성한 브라운관의 화소장치를 제공함에 있다.An object of the present invention is to provide a CRT pixel device that is easy to operate and configured to measure beam rotation on the Y axis.

이에 따라 본 고안은 브라운관의 X, Y축 직교점을 중심으로 360°회전이 가능함과 동시에 그 회전반경을 임의로 조절할 수 있게 구성함을 특징으로 한다.Accordingly, the present invention is characterized in that it is possible to rotate 360 ° around the X, Y axis orthogonal point of the CRT and to adjust the rotation radius at the same time.

이하 본 고안의 바람직한 실시예를 첨부도면에 따라 상세히 설명한다.Hereinafter, preferred embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.

제 1 도에 도시한 바와 같이 본 고안은 길이방향으로 눈금(1)이 새겨진 아암(2)의 일측에 각도계(3)가 부착되고, 타측에는 확대경(4)이 아암(2)을 타고 슬라이드할 수 있게 구성되어 있다.As shown in FIG. 1, the present invention has a goniometer 3 attached to one side of an arm 2 having a scale 1 engraved in the longitudinal direction, and on the other side, a magnifier 4 slides on the arm 2. It is configured to be.

각도계(3)의 중심에는 위치확인용 확대경(4')이 배치되어서 아암(2)의 회동축을 겸하게 되어 있다.A positioning magnifying glass 4 'is disposed at the center of the goniometer 3 to serve as the rotation axis of the arm 2.

그리고 아암(2)은 내측에 길이방향으로 연장 형성되는 슬라이드 채널(5)을 보유하고, 이 슬라이드채널(5)을 사이에 두고 확대경(4)의 상하 장착판(6)(7)이 조합됨에 따라, 확대경(3)은 아암(2)의 슬라이드채널(5)을 타고이동할 수 있게 조합된다.The arm 2 has a slide channel 5 extending in the longitudinal direction inside thereof, and the upper and lower mounting plates 6 and 7 of the magnifying glass 4 are combined with the slide channel 5 interposed therebetween. Thus, the magnifying glass 3 is combined to move on the slide channel 5 of the arm 2.

한편, 아암(2)은 일측의 위치확인용 확대경(4')을 축으로 하여 360°회전할 수 있게 조립되며, 이를 제 2 도로서 설명하면 다음과 같다.On the other hand, the arm (2) is assembled so as to rotate 360 ° around the positioning magnifying glass (4 ') on one side, as will be described as a second view as follows.

각도계(3)는 위치확인용 확대경(4')의 주위에 배치되고, 또 위치확인용 확대경(4')의 하단에는 흡판(8)이 부착되어 있으며 전기한 아암(2)은 각도계(3)를 고정하여 주는 록킹너트(9)의 외주상으로 스페이서(10)를 개재하여 삽입 배치된다.The goniometer 3 is arranged around the positioning magnifying glass 4 ', and the suction plate 8 is attached to the lower end of the positioning magnifying glass 4', and the arm 2 described above is the goniometer 3. It is inserted through the spacer 10 on the outer circumference of the locking nut 9 for fixing the insertion nut.

이에 따라 아암(2)은 항시 회전 가능한 상태로 배치되나, 각도계(3)는 록킹너트(9)에 의해 회전-비회전상태로 조정 가능하게 설치된다.As a result, the arm 2 is always arranged in a rotatable state, but the goniometer 3 is installed in a rotatable-non-rotating state by the locking nut 9.

상기한 아암(2)은 일측에 각도계(3)의 눈금을 지시하는 각도 지침(11)을 보유하고 있으며, 또 확대경(4)의 장착판(6)으로부터 연장되어 전기한 각도지침(11)에 대칭방향으로 지향된 지침(12)은 화면상에 설정된 노광점과 일치시키기 위한 것이다.The arm 2 has an angle guide 11 for indicating the scale of the goniometer 3 on one side, and extends from the mounting plate 6 of the magnifying glass 4 to the angle guide 11 described above. The instructions 12 oriented in the symmetry direction are for coinciding with the exposure point set on the screen.

그리고 장착판(6)에는 상기한 지침(12)외에도 이것에 직교방향으로 연장되어 확대경(4)의 이동거리를 나타내는 눈금(1)과 일치되는 거리지침(13)이 부가되어 있다.In addition to the above-described instructions 12, the mounting plate 6 is provided with a distance guide 13 extending in the orthogonal direction and coinciding with the scale 1 indicating the moving distance of the magnifying glass 4.

이와 같이 구성된 본 고안은 다음과 같은 순서로 사용된다.The present invention configured as described above is used in the following order.

위치확인용 확대경(4)을 브라운관의 화면(F) 상 중심에 하측의 흡반(8)을 이용하여 부착시켜 놓는다.The positioning magnifying glass 4 is attached to the center on the screen F of the CRT by using the lower sucker 8.

이 경우에 위치확인용 확대경(4)에 "+"자상의 조준선을 그려 넣어 화면(F)의 중심에 정확하게 일치시킬 수 있게 하는 것이 좋다.In this case, it is preferable to draw a "+" shaped aiming line on the positioning magnifying glass 4 so that it can exactly match the center of the screen F. FIG.

다음에 아암(2)을 회동시켜서 예정노광점과 확대경(4)의지침(12)을 일치시킨 다음, 각도계(3)를 회전시켜서 각도지침(11)에 0점이 맞게 조정하고 록킹너트(10)를 죄어서 각도계(3)가 고정되게 한다.Next, rotate the arm 2 to match the predetermined exposure point with the guide 12 of the magnifying glass 4, and then rotate the goniometer 3 to adjust the angle guide 11 to 0 points, and the locking nut 10 To fix the goniometer (3).

브라운관을 작동하여 화소가 형성되게 한 다음, 아암(2)을 회전시키거나 확대경(4)을 아암(2)의 슬라이드채널(5)에서 이동시켜 가면서 화면의 X축 또는 Y축방향의 화소상태를 순차 관찰하여 미스컨버어젼스, X, Y축에 대한 직교도 등을 측정한다.Operate the CRT to form a pixel, then rotate the arm 2 or move the magnifying glass 4 in the slide channel 5 of the arm 2 to change the pixel state in the X-axis or Y-axis direction of the screen. Observation is performed sequentially to measure misconvergence, orthogonality with respect to the X and Y axes.

X, Y축에 대한 직교도는 아암(2)을 화면의 상한 별로 회전시켜 가면서 직교량을 측정한다.The orthogonality with respect to the X and Y axes measures the orthogonal amount by rotating the arm 2 by the upper limit of the screen.

또 비임로테이션 특정은 화면의 중심 직교점과 예정노광점 사이에서 확대경(4)을 Y축으로 이동시켜 가면서 화소의 변화도를 측정하여 간단하게 얻어낼 수 있다.The beam rotation specification can be obtained simply by measuring the degree of change of the pixel while moving the magnifying glass 4 along the Y axis between the center orthogonal point of the screen and the predetermined exposure point.

상술한 바와 같이 본 고안에 의하면 새도우마스크와 편향요크의 특성 개선에 요구되는 화소의 제반 데이터를 간편하게 얻어낼 수 있는 이점을 가지고 있다.As described above, according to the present invention, there is an advantage in that various data of pixels required for improving the characteristics of the shadow mask and the deflection yoke can be easily obtained.

Claims

One end of the positioning magnifier 4 'having the sucker 8 installed on the bottom and the rotameter 3 fixed to the lock nut 9 rotatably inserted therein, and the angle guide 11 formed thereon. It is rotatably supported by the above-mentioned positioning magnifying glass 4 'and holds the slide channel 5 in the longitudinal direction on the inside thereof, and the scale 1 is engraved on the outer periphery of the slide channel 5. An arm 2, a guide 12 extending in the symmetrical direction to the aforementioned angle guide 11 and a distance guide extending in the orthogonal direction to the guide 12 to indicate the scale 1 of the arm 2 ( 13, a magnifying glass supported by the lower mounting plate 7 in combination with the slide channel 5 interposed therebetween to hold the slide channel 5. 4) Pixel inspection device of CRT.