KR950004130Y1 - Examining device for electron gun installation state of braun tube - Google Patents
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Abstract
내용 없음.No content.
Description
제1도는 본 고안의 구성개요를 보여주는 평면도.1 is a plan view showing the configuration of the present invention.
제2도는 동 정면도.2 is a front view of the same.
제3도는 본 고안의 장치를 사용한 검사측정 부위들을 보여주는 발췌 상세도.Figure 3 is an excerpt detail showing inspection measurement sites using the device of the present invention.
* 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명* Explanation of symbols for main parts of the drawings
1 : 검사대상 브라운관 2 : 네크부1: CRT tube 2: Neck part
3 : 전자총 G1, G6: 그리드전극3: electron gun G 1 , G 6 : grid electrode
10 : 기대 20 : 받침대10: expectation 20: pedestal
30, 40 : 측정스코프30, 40: measuring scope
본 고안은 브라운관에 있어서, 전자총이 관축과 동심을 이루어 정확히 설치되어 있는지의 여부를 간편정확하게 검사해낼 수 있도록 안출한 브라운관의 전자총 설치상태 검사장치에 관한 것이다.The present invention relates to an apparatus for inspecting the electron gun installation state of the cathode ray tube, which can be easily and accurately inspected whether the electron gun is concentrically installed with the tube axis.
주지된 바와 같이 브라운관의 전면스크린을 포함하는 판넬(PANEL)부와 그 뒤쪽에 연이어지는 깔때기모양의 훤넬(FUNNEL)부 및 네크(NECK)부의 조합구성으로 몸통이 이루어지고, 그 네크부내에는 스크린내면의 형광층을 향해 전자비임을 방출하는 전자총을 장착, 밀봉하여 완성되어진다.As is well known, the body is formed by a combination of a panel part including the front screen of the CRT and a funnel-shaped funnel-shaped part and a neck part connected to the rear, and the inside of the screen is formed inside the neck part. Is completed by mounting and sealing an electron gun that emits an electron beam toward the phosphor layer.
이러한 브라운관의 제작이 있어서는 종종 전자총이 그 중심축선과 관의 중심축선이 상호 정확히 일치되는 소망되는 위치에 설치되지 못하고 관의 중심축선에 대하여 어느 한 방향으로 기울어진 상태로 설치되는 일이 종종 일어나게 되는데, 그럴 경우 전자총으로부터의 비임이 형광면상의 해당지점에 정확히 랜딩되지 못하게 됨으로써 화질 불량을 초래하게 된다.In the manufacture of such CRTs, it is often the case that the electron gun is not installed in a desired position where the center axis and the center axis of the tube are exactly coincident with each other, and are installed in an inclined direction with respect to the center axis of the tube. In this case, the beam from the electron gun cannot be landed correctly at the corresponding point on the fluorescent surface, resulting in poor image quality.
위와 같은 전자총의 틸트로 인한 화질불량은 보정용 마그네트를 써서 비임의 궤적을 소망하는 궤적으로 쉬프트시켜 줌으로써 보정될 수가 있으나 이 경우는 비임의 인위적 쉬프트의 영향으로 해상도가 떨어지게 되는 원인이 되므로 바람직하게는 해당 전자총의 틸트량과 틸트방향등을 정확히 알아낸후 이를 토대로 그러한 틸트가 생기게 된 원인을 규명하고 근본적인 대책을 세워 전자총의 틸트불량이 없는 브라운관을 제작해 낼수 있도록 도모하는 것이좋다.The poor image quality due to the tilt of the electron gun can be corrected by shifting the beam trajectory to the desired trajectory using a correction magnet, but in this case, since the resolution is degraded due to the artificial shift of the beam, it is preferable to It is good to find out the tilt amount and tilt direction of the gun and find out the cause of the tilt and make a fundamental countermeasure so that the tube can be manufactured without the tilt defect of the gun.
종래에는 이러한 전자총의 틸트불량을 정확히 측정검사할 수 있는 마땅한 장치가 없어 전자총의 틸트로 인한 화질불량이 관찰될 경우 앞서 설명한 바와 같은 보정용 마그네트를 써서 해당 전자총으로부터의 비임궤적을 보정출하하는 정도가 고작이었다.Conventionally, since there is no suitable device for accurately measuring and inspecting the tilt defect of such an electron gun, when the image quality defect is observed due to the tilt of the electron gun, the degree of correcting shipment of the non-trajectory from the electron gun by using the correction magnet as described above is small. It was.
본 고안은 이러한 종래의 문제점을 해소하기 위해 안출한 것으로, 이를 첨부도면에 의거하여 상세히 설명하면 다음과 같다.The present invention is devised to solve such a conventional problem, it will be described in detail based on the accompanying drawings as follows.
제1도는 본 고안에 따른 장치의 개괄구성을 보여주는 도식적인 평면도, 제2도는 동 정면도인데, 여기에서 부호 10은 기대를 나타내며, 이 기대(10)상에는 검사대상 브라운관(1)을 올려 놓을 수 있는 브라운관 받침대(20)와, 이 받침대(20)상에 올려진 브라운관(1)의 일측을 측정검사하기 위한 제1측정스코프(30)와, 상기 브라운관(1)의 타측을 측정검사하기 위한 제2측정스코프(40)가 도시된 양태로 설치제공되어 있다.FIG. 1 is a schematic plan view showing a schematic configuration of a device according to the present invention, and FIG. 2 is a front view of the same, wherein reference numeral 10 denotes an expectation, and on this expectation 10, the CRT 1 to be placed can be placed. CRT 20, a first measuring scope 30 for measuring and inspecting one side of the CRT 1 mounted on the pedestal 20, and a second measuring instrument for inspecting the other side of the CRT 1. Measuring scope 40 is provided in the embodiment shown.
상기 브라운관 받침대(20)는 기대(10)상에 지지부(50)를 통해 회전자재로 설치지지되어 있으며, 기대(10)하부에는 이 브라운관(20)를 일측 혹은 타측으로 회전조작할 수 있는 핸들(60)이 제공되어 있다.The CRT support 20 is supported on the base 10 through the support 50 as a rotating material, and the bottom of the base 10 is a handle capable of rotating the CRT 20 to one side or the other side ( 60) is provided.
제1측정스코프(30)는 검사대상 브라운관(1)에 있어서 예컨대 제3도에 도시된 예와 같은 부위들을 측정검사할 수 있도록 되어 있다.The first measuring scope 30 is capable of measuring and inspecting the parts of the CRT 1 to be inspected, for example, as shown in FIG.
즉, 상기 제1측정스코프(30)는 검사대상 브라운관(1)의 네크부(2)에 내장되어 있는 전자총(3)에 있어서 맨앞쪽에 위치하는 그리드전극(G6)의 양단과 네크부(2)내면간의 간격(a)(a'), 그리고 맨 뒤쪽에 위치하는 그리드전극(G1)의 양단과 네크부(2)내면간의 간격(b)(b')을 각각 측정검사할 수 있도록 되어 있으며, 이를 가능하게 하기 위해 이 제1측정스코프(30)는 그 지지대(70)상에 상하 및 좌우이동조정이 가능하게 설치되어 있다.That is, the first measuring scope 30 has both ends and the neck portion of the grid electrode G 6 positioned at the front of the electron gun 3 embedded in the neck portion 2 of the CRT 1 to be inspected. 2) Measure and inspect the distance (a) (a ') between the inner surface and the distance (b) (b') between both ends of the grid electrode (G 1 ) located at the rear and the inner surface of the neck (2). In order to enable this, the first measuring scope 30 is installed on the support 70 so as to be able to adjust vertically and horizontally.
상기 제1측정스코프(30)를 통해 위 간격(a)(a') 및 간격(b)(b')들을 측정해보아서 이들 간격(a)(a') 및 간격(b)(b')이 각각 동일한 값으로 측정되었을 경우에는 해당 전자총(3)이 그 방향에서 브라운관(1)의 관축과 일치하는 위치에서 정확히 설치되어 있음을 의미하며, 측정된 간격값들이 상호 다를 경우는 해당 전자총(3)이 관축에 대해 틸트된 상태로 설치되어 있음을 의미하므로 그 측정치들을 관련 식들에 대입, 그때의 틸트거리, 틸트각등을 산출하여 틸트의 원인규명 및 대책마련의 자료로 이용한다.By measuring the above gaps (a) (a ') and (b) (b') through the first measuring scope 30 these gaps (a) (a ') and (b) (b') When measured at the same value, it means that the electron gun 3 is installed exactly at the position coinciding with the tube axis of the CRT 1 in that direction. ) Means that it is installed in the tilted state with respect to the tube axis, so that the measured values are substituted into the relevant equations, the tilt distance and tilt angle at that time are used to identify the cause of the tilt and to prepare countermeasures.
상기에서, 전자총(3)의 틸트거리(S)와 틸트각(θ)등은 예컨대 다음의 관계식 ①, ②를 통해 각각 산출할 수 있다.In the above, the tilt distance S and the tilt angle θ of the electron gun 3 can be calculated, for example, through the following relational expressions ① and ②.
여기서 A, B, C는 관종에 따라 달라질 수 있는 일정 수치다.Where A, B, and C are constant values that may vary depending on the type of tube.
한편, 다른 지지대(80)상에 설치되어 있는 제2측정스코프(40)는 그 관측방향축이 앞서 설명한 제1측정스코프(30)의 관측방향축과 일정 각을 갖도록, 바람직하게는 직교하도록 설치되어 있으며, 이 제2측정스코프는 소정의 위치에 고정된 상태에서 상기 검사대상 브라운관(1)의 전자총에(3)에 있어서 특정 기준점, 예컨데 그리드전극(G3)의 양측 중앙부에 뚫리어 있는 통공(G3')들을 이 제2측정스코프(40)로 수평 투시해볼 수 있는 위치로 브라운관(1)을 회전조작하여 이 브라운관(1)을 앞서의 제1측정스코프(30)에 대한 바른 검사위치로 가져갈 수 있도록 하여 준다.On the other hand, the second measuring scope 40 provided on the other support 80 is installed so that its viewing direction axis has a predetermined angle with the viewing direction axis of the first measuring scope 30 described above, preferably perpendicular to each other. The second measuring scope is a hole fixed in a predetermined position in the electron gun 3 of the CRT 1 to be inspected, for example, through the centers of both sides of the grid electrode G 3 . (G 3 ') the position that can see horizontally with this second measuring scope (40) by rotating the CRT (1) to the correct inspection position of the CRT (1) with respect to the first measuring scope (30) Allow them to take
이와 같은 본 고안은 브라운관에 있어서 전자총의 틸트불량을 간편 정확하게 측정검사하여 그 틸트불량의 원인규명 및 근본적인 대책마련에 기여할 수 있으므로 이러한 브라운관의 품질을 가일층 높일 수 있게 된 신규유용한 고안인 것이다.This invention is a new useful design that can further improve the quality of the CRT because it can contribute to the identification of the cause of the tilt failure and the provision of fundamental countermeasures by simply and accurately measuring the tilt defect of the electron gun in the CRT.
Claims (1)
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| KR92027497U KR950004130Y1 (en) | 1992-12-30 | 1992-12-30 | Examining device for electron gun installation state of braun tube |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| KR92027497U KR950004130Y1 (en) | 1992-12-30 | 1992-12-30 | Examining device for electron gun installation state of braun tube |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| KR940017651U KR940017651U (en) | 1994-07-28 |
| KR950004130Y1 true KR950004130Y1 (en) | 1995-05-22 |
Family
ID=19348689
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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| KR92027497U KR950004130Y1 (en) | 1992-12-30 | 1992-12-30 | Examining device for electron gun installation state of braun tube |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| KR (1) | KR950004130Y1 (en) |
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1992
- 1992-12-30 KR KR92027497U patent/KR950004130Y1/en not_active IP Right Cessation
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| Publication number | Publication date |
|---|---|
| KR940017651U (en) | 1994-07-28 |
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