KR940018648A - 광도파관 섬유용 밀폐코팅의 측정방법 - Google Patents
광도파관 섬유용 밀폐코팅의 측정방법 Download PDFInfo
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Abstract
본 발명은 광도파과 섬유 상의 밀폐코팅의 두께를 측정하는 방법에 관한 것으로, 여기서 섬유에 레이저빔을 조사하므로써 간섭패턴이 제조된다. 간섭패턴에 대한 공간 진동수 스팩트럼이 생성되며, 섬유의 외부직경에 해당하는 스팩트럼의 제 1 성분이 확인된다. 이 성분의 크기는 코팅의 두께와 반비례 관계에 있는데, 즉 이의 크기는 코팅두께가 증가함에 따라 감소되며, 이에따라 이 성분의 크기는 예를들면 코팅공정동안 코팅의 두께를 측정하는데 사용될 수 있다. 공간 진동수 스펙트럼의 DC 성분의 크기로 제 1 성분의 크기를 표준화시키므로써 레이저 빔 파워의 변동 및/또는 상기 빔에 대한 섬유의 이동에 따른 효과를 최소화시킬 수 있다.
Description
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제 4 도는 본 발명의 사용될 수 있는 섬유의 직경 측정시스템의 성분을 나타내는 개략도이며, 제5A, 5B 및 5C도는 각각 얇은 밀폐코팅(200Å), 중간 밀페코팅(500Å) 및 두꺼운 밀폐코팅(800Å)을 53.5 내지 69.5도의 각도 범위에 대해 125마이크론의 무코아 섬유의 전형적인 파-필드 간섭패턴을 나타낸 도면이다.
Claims (8)
- (a) 투명 필라멘트에 복사빔을 조사하여 간섭패턴을 제조하는 단계; (b) 상기 간섭패턴을 검출하는 단계; (c) 상기 간섭패턴에 대한 공간 진동수 스팩트럼을 생성시키는 단계; (d) 상기 필라멘트의 외부직경에 해당하는 공간 진동수 스펙트럼의 제 1 성분을 확인하는 단계; (e) 밀폐코팅의 두께를 나타내는 제 1 성분의 크기값을 결정하는 단계; 및 (f) 상기 제 1 성분의 크기로부터 필라멘트의 코팅에 대한 제어 시그널을 생성시키는 단계로 이루어지는 밀폐막을 가지는 투명 필라멘트의 코팅을 측정 및 조절, 또는 측정하는 방법.
- 제 1 항에 있어서, 상기 방법이 f) 상기 공간 진동수 스펙트럼의 DC 성분인 상기 스펙트럼의 제 2 성분을 확인하는 단계; g) 상기 제 2 성분의 크기값을 결정하는 단계; 및 h) 밀폐코팅의 두께를 나타내는 표준화된 값을 얻을 수 있도록 상기 제 2 성분의 크기값으로 제 1 성분의 크기값을 표준화시키는 단계를 부가적으로 포함하는 것을 특징으로 하는 방법.
- 제 1 항 또는 2항에 있어서, 상기 복사빔의 편광이 실질적으로 일정한 것을 특징으로 하는 방법.
- 제 1 항 또는 2항에 있어서, 상기 필라멘트가 종방향 축을 가지며 복사빔의 전기장 성분이 상기 종방향축에 실질적으로 평행한 것을 특징으로 하는 방법.
- 제 1 항 또는 2항에 있어서, 상기 복사빔이 하나의 축을 한정하며, 상기 간섭패턴이 상기 축으로부터 각변위상의 지점에서 검출되는 것을 특징으로 하는 방법.
- 제 1 항 또는 2항에 있어서, 상기 공간 진동수 스펙트럼이 필라멘트의 직경측정, 또는 필라멘트의 결함검출에 사용되는 것을 특징으로 하는 방법.
- 제 1 항 또는 2항에 있어서, 상기 (b)~(f)단계가 공간적으로 분리된 두개의 지점의 그 각각에서 수행되는 것을 특징으로 하는 방법.
- 제 1 항 또는 2항에 있어서, 상기 밀폐코팅이 탄소로 이루어진 것을 특징으로 하는 방법.※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US08/011,393 US5408308A (en) | 1993-01-29 | 1993-01-29 | Method for monitoring hermetically-coated fibers |
US08/011,393 | 1993-01-29 | ||
US8/011,393 | 1993-01-29 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR940018648A true KR940018648A (ko) | 1994-08-18 |
KR100266398B1 KR100266398B1 (ko) | 2001-01-15 |
Family
ID=21750190
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1019940001609A KR100266398B1 (ko) | 1993-01-29 | 1994-01-28 | 광도파관 섬유용 밀폐코팅의 측정방법 |
Country Status (8)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US5408308A (ko) |
EP (1) | EP0608538B1 (ko) |
JP (1) | JP3486677B2 (ko) |
KR (1) | KR100266398B1 (ko) |
AU (1) | AU662085B2 (ko) |
CA (1) | CA2111011A1 (ko) |
DE (1) | DE69309032T2 (ko) |
TW (1) | TW245770B (ko) |
Families Citing this family (14)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5519487A (en) * | 1994-12-30 | 1996-05-21 | Corning Incorporated | Method for monitoring the position of a fiber |
FR2732762B1 (fr) * | 1995-04-05 | 1997-05-09 | Alcatel Fibres Optiques | Procede de detection de la variation du diametre d'une fibre optique et procede de fabrication de fibre optique |
WO1998053305A1 (en) | 1997-05-22 | 1998-11-26 | Corning Incorporated | Methods and apparatus for detecting surface defects of an optical fiber |
FR2792066B1 (fr) * | 1999-04-08 | 2001-06-22 | Jean Francois Fardeau | Dispositif pour la mesure dimensionnelle et le controle des defauts des fibres optiques en production |
US9307648B2 (en) * | 2004-01-21 | 2016-04-05 | Microcontinuum, Inc. | Roll-to-roll patterning of transparent and metallic layers |
US7833389B1 (en) * | 2005-01-21 | 2010-11-16 | Microcontinuum, Inc. | Replication tools and related fabrication methods and apparatus |
US7674103B2 (en) | 2005-01-21 | 2010-03-09 | Microcontinuum, Inc. | Replication tools and related fabrication methods and apparatus |
WO2007100849A2 (en) | 2006-02-27 | 2007-09-07 | Microcontinuum, Inc. | Formation of pattern replicating tools |
UA105182C2 (ru) | 2008-07-03 | 2014-04-25 | Ньюрексон, Інк. | Бензоксазины, бензотиазины и родственные соединения, которые имеют ингибирующую nos активность |
WO2013020914A1 (en) | 2011-08-10 | 2013-02-14 | Celares Gmbh | Peg-conjugated peptides |
US9589797B2 (en) | 2013-05-17 | 2017-03-07 | Microcontinuum, Inc. | Tools and methods for producing nanoantenna electronic devices |
KR102180113B1 (ko) | 2019-04-30 | 2020-11-18 | 한양대학교 산학협력단 | 두께 측정 장치 |
KR102167799B1 (ko) * | 2019-07-24 | 2020-10-20 | 한양대학교 산학협력단 | 두께 측정 장치 |
CN113617594B (zh) * | 2021-09-02 | 2022-09-13 | 武汉锐科光纤激光技术股份有限公司 | 一种光纤自动涂覆装置及系统 |
Family Cites Families (14)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3982816A (en) * | 1974-06-21 | 1976-09-28 | Western Electric Company, Inc. | Method for measuring the parameters of optical fibers |
US4067651A (en) * | 1974-06-21 | 1978-01-10 | Western Electric Company, Inc. | Method for measuring the parameters of optical fibers |
US4280827A (en) * | 1979-09-04 | 1981-07-28 | Corning Glass Works | System for measuring optical waveguide fiber diameter |
JPS6283340A (ja) * | 1985-10-08 | 1987-04-16 | Yokogawa Hewlett Packard Ltd | 光フアイバ被膜用炉 |
JPS6283339A (ja) * | 1985-10-08 | 1987-04-16 | Yokogawa Hewlett Packard Ltd | 光フアイバ被膜形成方法 |
US4735856A (en) * | 1986-03-31 | 1988-04-05 | Spectran Corporation | Hermetic coatings for optical fiber and product |
DE3715922C2 (de) * | 1986-05-15 | 1995-07-20 | Klaus Dipl Ing Jakob | Verfahren und Anordnung zur Messung der Dicke eines fadenförmigen Objekts |
US5000541A (en) * | 1987-09-18 | 1991-03-19 | At&T Bell Laboratories | Hermetically sealed optical fibers |
AU624203B2 (en) * | 1988-12-21 | 1992-06-04 | Sumitomo Electric Industries, Ltd. | Method and apparatus for producing coated optical fiber |
US4952226A (en) * | 1989-02-27 | 1990-08-28 | American Telephone And Telegraph Company | Lightguide coating control |
US5142228A (en) * | 1989-04-24 | 1992-08-25 | Corning Incorporated | Method for statically or dynamically monitoring the thickness of electrically-conductive coatings on optical fibers |
US5013130A (en) * | 1989-07-31 | 1991-05-07 | At&T Bell Laboratories | Method of making a carbon coated optical fiber |
CA2034162A1 (en) * | 1990-02-23 | 1991-08-24 | Akira Inoue | Method and apparatus for measuring the thickness of a coating |
IT1240980B (it) * | 1990-09-10 | 1993-12-27 | Sip | Apparecchiatura per la misura e il controllo dell'eccentricita' dello strato di rivestimento colorato di fibre ottiche. |
-
1993
- 1993-01-29 US US08/011,393 patent/US5408308A/en not_active Expired - Fee Related
- 1993-12-09 CA CA002111011A patent/CA2111011A1/en not_active Abandoned
- 1993-12-14 DE DE69309032T patent/DE69309032T2/de not_active Expired - Fee Related
- 1993-12-14 EP EP93120111A patent/EP0608538B1/en not_active Expired - Lifetime
- 1993-12-18 TW TW082110804A patent/TW245770B/zh active
-
1994
- 1994-01-19 AU AU53849/94A patent/AU662085B2/en not_active Ceased
- 1994-01-28 KR KR1019940001609A patent/KR100266398B1/ko not_active IP Right Cessation
- 1994-01-31 JP JP02587894A patent/JP3486677B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
AU5384994A (en) | 1994-08-04 |
DE69309032D1 (de) | 1997-04-24 |
JP3486677B2 (ja) | 2004-01-13 |
EP0608538A1 (en) | 1994-08-03 |
EP0608538B1 (en) | 1997-03-19 |
CA2111011A1 (en) | 1994-07-30 |
KR100266398B1 (ko) | 2001-01-15 |
JPH0727521A (ja) | 1995-01-27 |
AU662085B2 (en) | 1995-08-17 |
TW245770B (ko) | 1995-04-21 |
DE69309032T2 (de) | 1997-10-09 |
US5408308A (en) | 1995-04-18 |
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Legal Events
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