KR940006094Y1 - 단극성/복극성 접속회로의 성능감시회로 - Google Patents

Abstract

내용 없음.

Description

단극성/복극성 접속회로의 성능감시회로

제1도는 본 고안 단극성/복극성 접속회로의 성능 감시회로의 전체구성도.

제2도는 본 고안 수신부채널1의 상세회로도.

제3도는 본 고안 송신부채널1의 상세회로도.

제4도는 본 고안 감시부의 상세회로도.

제5a도 내지 제5d도는 본 고안 수신부채널1의 각부 파형도.

제6a도 내지 제6d도는 본 고안 송신부채널1의 각부 파형도.

* 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명

10 : 수신채널1 20 : 송신부채널1

30 : 수신부채널N 40 : 송신부채널N

50 : 감시부 60 : 비교부

1, 4 : 데이타재생 및 클럭재생부 2 : 라인드라이브

3 : 수신아날로그스위치 5 : 송신아날로그스위치

COMP₁~COMP₃:비교기 AND₁, AND₂: 앤드게이트

Q₁, Q₂: 트랜지스터 OR₁: 오아게이트

Vcc : 전원 C₁, C₂: 콘덴서

L₁: 코일 I₁: 인버터

T₁, T₂: 트랜스포머

본 고안은 펄스부호변조(PULSE CODE MODULATION : PCM)신호 전송회로의 성능 감시회로에 관한 것으로, 특히 단극성/복극성신호 처리에 사용되는 아날로그회로의 성능감시에 적당하게 한 단극성/복극성 접속회로의 성능 감시회로에 관한 것이다.

종래에는 펄스부호변조신호 전송회로에 있어서, 단극성/복극성 접속회로가 고장나게 되어도 오신호로 수신 및 송신되어 단극성/복극성 신호가 검출되지 못하게 되는 결함이 있었다.

본 고안은 이와 같은 종래의 결함을 감안하여, 단극성/복극성신호 처리에 사용되는 아날로그회로의 성능을 감지함으로써 수신 및 송신되는 단극성/복극성신호의 오신호 유무를 검출하도록 한 단극성/복극성 접속회로의 성능 감시회로를 안출한 것으로, 이를 첨부한 도면에 의하여 상세히 설명하면 다음과 같다.

제1도는 본 고안 단극성/복극성 접속회로의 성능 감시회로의 전체 구성도로서 이에 도시한 바와 같이, 복극성신호(BP)가 트랜스포머(T₁)를 통과한 후 데이타재생 및 클럭재생부(1)를 통해 단극성신호(UP⁺, UP^-, CLK)로 채널을 수신하게 한 수신부채널1(10)과, 상기한 수신부채널(10)의 형태를 채널N을 수신하게 한 부신부채널N(10)과, 단극성신호(UP⁺, UP^-, CLK)가 라인드라이브(2)를 통과한 후 트랜스포머(T₂)를 통해 복극성신호(BP)로 채널1을 송신하게 한 송신부채널1(20)과, 상기한 송신부채널1(20)과 같은 형태로 채널N을 송신하게 한 송신부채널 N(40)과, 상기한 수신부채널1(10) 내지 수신부채널N(30)에 입력되는 복극성신호(BP)가 선택신호에 따라 수신아날로그스위치(3)를 통과하게 하고, 상기한 송신부채널1(20) 내지 송신부채널N(40)로부터 송신되는 복극성신호(BP)가 선택신호에 따라 송신아날로그스위치(5)를 통과하게 한 후 데이타재생 및 클럭재생부(4)를 통해 단극성신호((UP⁺, UP^-, CLK)로 검출되어 감시되게 한 감시부(50)와, 상기한 수신부채널1(10) 내지 수신주채널N(30), 송신부채널1(20) 내지 송신부채널N(40)의 단극성신호(UP⁺, UP^-, CLK) 및 상기한 감시부(50)의 출력 단극성신호(UP⁺) (UP^-)(CLK)를 분석비교하여 아날로그회로의 고장유무를 검출하게 한 비교부(60)로 구성된다.

제2도는 본 고안 수신부채널1(10)의 상세회로도로서, 이에 도시한 바와 같이 복극성신호(BP)가 트랜스포머(T₁)를 통과한 후 비교기(COMP₁)(COMP₂)를 통해 단극성신호(UP⁺) (UP^-)로 수신되게 하며, 이의 신호가 오아게이트(OR₁)를 통과한 후 콘덴서(C₁)(C₂), 코일(L₂) 및 비교기(COMP₃)를 통해 단극성클럭신호(CLK)로 수신되게 한 데이타 재생 및 클럭재생부(1)를 구성한 것이다.

제3도는 본 고안 송신부채널1(20)의 상세회로도로서, 이에 도시한 바와 같이, 단극성신호(UP⁺) (UP^-)가 단극성 클럭신호(CLK)와 앤드게이트(AND₁)(AND₂)를 통해 각기 앤드된 후 전원(Vcc)와 함께 트랜지스터(Q₁)(Q₂)를 구동하게 라인드라이브(2)를 구성한 후 트랜지스포머(T₂)를 통해 복극성신호(BP)로 송신되게 구성한 것이다.

제4도는 본 고안 감시부(50)의 상세회로도로서 이에 도시한 바와 같이, 상기한 수신부채널1(10) 내지 수신부채널N(30)의 트랜스포머(T1)를 통과한 각 채널(CH₁~CH_N)의 복극성신호(BP)가 수신아날로그스위치(3)에 인가되게 하고, 상기한 송신부채널1(20) 내지 송신부채널N(40)의 트랜스포머(T₂)를 통해 송신되는 각 채널(CH₁~CH_N)의 복극성신호(BP)가 송신아날로그(5)에 인가되게 한 후 선택신호(SS)에 따라 그 채널(CH₁~CH_N)을 선택출력하게 하되, 제어신호(CS)가 송신아날로그(5)에 인가됨과 아울러 인버터(I₁)를 통해 수신아날로그스위치(3)에 인가되게 하여, 그 제어신호(CS)에 따라 수신아날로그스위치(3) 및 송신아날로그스위치(5)를 선택적으로 동작제어하게 구성한다.

제5a도 내지 제5d도는 상기 수신채널1(10)의 각부 파형도이고, 제6a도 내지 제6d도는 상기 송신부채 1(20)의 각부 파형도로서, 이에 도시한 바와 같이, 수신 및 송신되는 단극성신호(UP⁺) (UP^-)(CLK) 및 복극성신호(BP)의 파형을 보인 것이다.

이와 같이 구성된 본 고안의 작용효과를 설명하면 다음과 같다.

우선 현재 운용중인 수신채널1(10)의 성능을 감시하는 경우를 예를 들면, 제5a도에 도시한 바와 같은 복국성신호(BP)가 트랜스포머(T₁)를 통해 승압된 후 비교기(COMP₁)(COMP₂)를 각기 통해 제5c도, 제5d도에 도시한 바와 같은 단극성신호(UP⁺) (UP^-)로 수신되며, 이때 비교기(COMP₁)(COMP₂)의 출력이 오아게이트(OP₁), 콘덴서(C₁)(C₂), 코일(L₁)을 통과한 후 비교기(COMP₃)를 통해 제5d도에 도시한 바와 같은 클럭신호(CLK)로 수신된다.

한편, 트랜스포머(T₁)의 별도의 권선을 통과한 복극성신호(BP)가 제1채널(CH₁)의 신호로 수신아날로그스위치(3)에 인가되며, 이때 제어신호(CS)에 따라 그 수신아날로그스위치(3)가 인에이블상태로 된다.

일예로, 제어신호(CS)가 저전위로 인가되면 송신아날로그스위치(5)는 디스에이블되어 동작하지 않고, 그 저전위의 제어신호(CS)가 인버터(I₁)에서 고전위로 반전되어 수신아날로그스위치(3)에 인가되므로 그 수신아날로그스위치(3)가 인에이블되어 동작된다. 따라서, 그 수신아날로그스위치(3)는 선택신호(SS)에 따라 채널(CCH₁~CH₄)중 한 채널의 복극성신호(BP)를 선택하여 출력하게 되는데, 이때 그 선택신호(SS)가 제1채널(CH₁)을 선택하기 위한 신호이면, 상기와 같이 입력되는 제1채널(CH₁)의 복극성신호(BP)가 그 수신아날로그스위치(3)에서 선택되어 출력된다.

이와 같이 수신아날로그스위치(3)에서 출력되는 복극성신호(BP)는 재생 및 클럭재생부(4)를 통해 단극성신호(UP⁺) (UP^-)(CLK)로 출력되며, 이 신호가 비교부(60)에 인가된 후 상기 수신부채널(10)의 데이타재생 및 클럭재생부(1)에서 출력되는 단극성신호(UP⁺) (UP^-)(CLK)와 분석되어, 그 특성이 같은지 비교된다.

즉, 상기 감시부(50)의 데이타재생 및 클럭재생부(4)에서 출력되는 단극성신호(UP⁺, UP^-, CLK)를 비교부 (60)에서 입력받아 코드에러검출부를 통해 에러가 존재하는지 그의 특성을 분석하고, 또한 수신부채널1(10)의 데이타재생 및 클럭재생부(1)에서 출력되는 단극성신호(UP⁺, UP^-, CLK)를 그 비교부(60)에서 입력받아 코드에러검출부를 통해 에러가 존재하는지 그의 특성을 분석하며, 이와 같이 특성을 분석한 두 신호를 비교하여, 그 두 신호가 서로 동일하면 접속회로에 이상이 없는 양호신호를 출력하고, 두 신호가 서로 상이하면 접속회로에 이상이 있는 불량신호로 출력한다.

그리고, 다른 수신채널의 성능을 감시하기 위해서는, 선택신호(SS)에 따라 수신아날로그스위치(3)에서 다른 채널(CH₂~CH_N)의 복극성신호를 선택하기 위하여 상기의 기능을 수행하면 된다.

또한, 송신부채널1을 감시하는 경우에는 제6a도, 제6b도에 도시한 바와 같은 단극성신호(UP⁺) (UP^-)가 제6c도에 도시한 바와 같은 클럭신호 (CLK)와 앤드게이트(AND₁)(AND₂)에 앤드조합되어 트랜지스터(Q₁)(Q₂)의 베이스에 인가되어, 전원(Vcc)과 함께 트랜지스터(Q₁)(Q₂)를 턴온시킨 후 트랜스포머(T₂)를 통해 제6d도에 도시한 바와 같은 복극성신호(BP)로 송신된다.

한편, 트랜스포머(T₂)의 별도 권선을 통과한 복극성신호(BP)가 송신아날로그스위치(5)에 입력되며, 이때 제어신호(CS)가 고전위이어서 그 송신아날로그스위치(5)가 인에이블되어 동작되나, 그 고전위의 제어신호(CS)가 인버터(I₁)에서 저전위신호로 반전되므로 수신아날로그스위치(3)는 디스에이블되어 동작하지 않게 된다.

따라서, 이때 제1채널(CH₁)을 선택하기 위한 선택신호(SS)에 따라 상기와 같이 입력되는 제1채널의 복극성신호(BP)가 그 송신아날로그스위치(5)에서 선택되어 출력된다.

이와 같이 송신아날로그스위치(5)에서 출력되는 복극성신호(BP)는 데이타 재생 및 클럭재생부(4)를 통해 단극성신호(UP⁺, UP^-, CLK)로 출력되며, 이 단극성신호(UP⁺, UP^-, CLK)는 상기의 설명에서와 같이 비교부(60)에 입력되어 그의 특성이 분석되고, 상기 송신부채널1(20)의 라인드라이브(2)에 입력되는 단극성신호(UP⁺, UP^-, CLK)도 비교부(60)에 입력되어 그의 특성이 분석된후, 상기의 설명에서와 같이 그 두신호가 비교되어 그 두신호가 서로 동일하며 접속회로에 이상이 없는 양호신호를 출력하고, 두 신호가 서로 상이하면 접속회로에 이상이 있는 불량신호를 출력하게 된다.

그리고, 다른 송신채널의 성능을 감시하기 위해서는 선택신호(SS)에 따라 송신아날로그스위치(5)에서 다른 채널(CH₂~CH_N)의 복극성신호를 선택하여 상기의 기능을 수행하면 된다.

이상에서 상세히 설명한 바와 같이 본 고안은 트랜스포머로부터 출발하는 단극성/북극성회로의 모든 고장유무를 검출할 수 있고, 또한 이 감시는 라인과 절연된 상태로 행해지므로 운용중인 장치의 성능에 영향을 주지 않고 행해질 수 있는 효과가 있다.

그리고 이와 같은 감시경로를 이용하여 형재 운용중인 장치의 고장을 검출하면, 이를 스위칭 정보로 이용하여 장치의 가동성을 향상시킬 수 있는 효과가 있다.

Claims (1)

1. 복극성신호(BP)가 트랜스포머(T₁)를 통과한 후 비교기(COMP₁)(COMP₂)를 통해 단극성신호(UP⁺) (UP^-)로 수신되게 하고, 오아게이트(OR₁) 및 비교기(COMP₃)를 다시 통해 클럭 단극성신호(CLK)로 수신되게 한 수신부채널1(10)과, 상기한 수신채널1(10)의 형태로 구비한 수신채널N(30)과, 단극성신호(UP⁺) (UP^-)(CLK)가 앤드게이트(AND₁)(AND₂)를 통해 트랜지스터(Q₁)(Q₂)를 구동한 후 트랜스포머(T₂)를 통해 복극성신호(BP)로 송신되게 한 송신부채널1(20)과, 상기한 송신부채널1(20)의 형태로 구비한 송신부채널N(40)과, 상기 수신부채널1(10) 내지 수신부채널N(30)에 수신된 복극성신호(BP)가 인버터(I₁)를 통하는 제어신호(CS) 및 선택신호(SS)에 따라 수신아날로그스위치(3)에서 선택출력되고, 상기 송신부채널1(20) 내지 송신부채널N(40)로 부터 송신되는 복극성신호(BP)가 상기 제어신호(CS) 및 선택신호(SS)에 따라 송신아날로그스위치(5)에서 선택출력된 후 데이타재생 및 클럭재생부(4)를 통해 단극성신호(UP⁺) (UP^-)(CLK)로 검출되어 감시되게한 감시부(50)와, 상기 수신부 및 송신부의 단극성신호(UP⁺) (UP^-)(CLK)와 상기 감시부(50)의 단극성신호(UP⁺) (UP^-)(CLK)를 입력받아 그의 특성을 분석하여 서로 비교하는 비교부(60)로 구성하여 된 것을 특징으로 하는 단극성/복극성 접속회로의 성능 감시회로.