KR920003065A - 반도체 디바이스의 시험방식 - Google Patents
반도체 디바이스의 시험방식 Download PDFInfo
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Abstract
내용 없음
Description
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제2도는 본 발명 따른 반도체 디바이스의 시험 시스템 구성도.
제3도는 (가) 및 (나)와 제4도의 (가) 및 (나)는 본 발명에 따른 특정 시험데이타 포멧 구성도.
Claims (1)
- 반도체 디바이스의 시험방식에 있어서 반도체 디바이스(12)의 데이파 핀(p22)의 홀수비트가 고전위, 짝수 비트가 저전위인 시험 데이타와 부하핀(P23)에는 마지막 비트만 고전위가 되는 시험부가 데이타를 직렬 데이타로인가하여 홀수핀이 고전위일때의 출력 및 짝수핀이 저전위일 때의 출력을 검출하고, 홀수 비티가 저전위, 짝수 비트가 고전위인 특징시험 데이타와 상기 시험부하 데이타를 직렬 데이타로 인가하여 홀수핀이 저전위일때의 출력 및 짝수핀이 고전위일때의 출력을 검출한 후 상기 시험데이타에 따른 기준값과 상기 검출값을 에러체크 회로부(13)를 통해 에러체크하여 화면표시부(14)를 통해 표시하도록 하는 것을 특징으로 하는 반도체 디바이스의 시험방식.※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| KR1019900010723A KR920003065A (ko) | 1990-07-14 | 1990-07-14 | 반도체 디바이스의 시험방식 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| KR1019900010723A KR920003065A (ko) | 1990-07-14 | 1990-07-14 | 반도체 디바이스의 시험방식 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| KR920003065A true KR920003065A (ko) | 1992-02-29 |
Family
ID=67538864
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| KR1019900010723A KR920003065A (ko) | 1990-07-14 | 1990-07-14 | 반도체 디바이스의 시험방식 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| KR (1) | KR920003065A (ko) |
-
1990
- 1990-07-14 KR KR1019900010723A patent/KR920003065A/ko not_active Application Discontinuation
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