KR900005306Y1 - 부품의 전압, 전류 특성 검사회로 - Google Patents

부품의 전압, 전류 특성 검사회로 Download PDF

Info

Publication number
KR900005306Y1
KR900005306Y1 KR2019870003970U KR870003970U KR900005306Y1 KR 900005306 Y1 KR900005306 Y1 KR 900005306Y1 KR 2019870003970 U KR2019870003970 U KR 2019870003970U KR 870003970 U KR870003970 U KR 870003970U KR 900005306 Y1 KR900005306 Y1 KR 900005306Y1
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
voltage
transistor
circuit
terminal
resistor
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired
Application number
KR2019870003970U
Other languages
English (en)
Other versions
KR880018375U (ko
Inventor
이준호
Original Assignee
삼성전자주식회사
한형수
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 삼성전자주식회사, 한형수 filed Critical 삼성전자주식회사
Priority to KR2019870003970U priority Critical patent/KR900005306Y1/ko
Publication of KR880018375U publication Critical patent/KR880018375U/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR900005306Y1 publication Critical patent/KR900005306Y1/ko
Expired legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R13/00—Arrangements for displaying electric variables or waveforms
    • G01R13/20—Cathode-ray oscilloscopes
    • G01R13/22—Circuits therefor
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R19/00—Arrangements for measuring currents or voltages or for indicating presence or sign thereof
    • G01R19/165—Indicating that current or voltage is either above or below a predetermined value or within or outside a predetermined range of values
    • G01R19/16566—Circuits and arrangements for comparing voltage or current with one or several thresholds and for indicating the result not covered by subgroups G01R19/16504, G01R19/16528, G01R19/16533
    • G01R19/16571—Circuits and arrangements for comparing voltage or current with one or several thresholds and for indicating the result not covered by subgroups G01R19/16504, G01R19/16528, G01R19/16533 comparing AC or DC current with one threshold, e.g. load current, over-current, surge current or fault current

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Measurement Of Current Or Voltage (AREA)

Abstract

내용 없음.

Description

부품의 전압, 전류 특성 검사회로
본 고안의 회로도.
* 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명
1 : 오실로 스코우프 2 : 테스트 소자
3 : 전원부 5 : 톱니파 발생회로
10 : 정전압 회로 OP : 오피앰프
CP : 비교기 Q1,Q2: 트랜지스터
Q3: FET C1-C5: 콘덴서
R1-R7: 저항 VR1: 가변저항
C1,C2: 다이오드
본 고안은 간단한 톱니파 발생 회로와 이것을 기준 전압으로 하는 정전압 회로를 이용하여 부품(다이오드,저항, 트랜지스터, 콘덴서 등)의 전압 및 전류 특성을 손쉽게 검사할 수 있도록한 부품의 전압, 전류 특성 검사 회로에 관한 것이다.
종래의 톱니파 발생 회로는 구성이 복잡하였으며 이러한 회로를 이용한 부품의 전압, 전류 특성을 검사하는 회로 또한 상당히 복잡하게 구성되어 가격의 상승 및 제조에 어려움이 따르는 단점이 있었고 그리고 종래의 부품의 전압, 전류 특성 검사 회로는 부품의 특성 곡선을 디스 플레이 하거나 또는 오실로 스코우프의 X-Y레코더(recorder)를 이용하여 기록을 남길 수 없는 단점이 있었다.
본 고안은 이와 같은 점을 감안하여 오피앰프로 간단하고 정확하고 조정이 쉬운 톱니파 발생 회로를 구성하고 이것을 기준 전압으로 사용하는 정전압 회로를 구성하여 부품의 전압, 전류 특성을 손쉽게 검사할 수 있으며 또한 부품의 특성 곡선을 오실로 스코우프로 디스플레이 할 수 있고 X-Y레코더를 사용하여 기록을 남길수 있도록한 부품의 전압, 전류 특성 검사 회로에 관한 것이다.
이를 첨부 도면에 의하여 상세히 설명하면 다음과 같다.
전원부(3)에 접지된 바이패스용 콘덴서(C1)를 통하여 트랜지스터(Q1)의 콜렉터를 연결함과 동시에 전류소오스인 FET(Field Effect Transisfor:Q3)를 통하여 트랜지스터(Ql)의 베이스를 연결하고 트랜지스터(Q1) 에미터측에는 접지된 바이패스용 콘덴서(C2)를 통하여 발진 방지용 콘덴서(C3)와 저항(R3)(R4)을 연결하며 타측단자(-)로 저항(R7)과 톱니파 발생회로(5)가 연결된 비교기(CP)의 일측단자(+)에는 콘덴서(C3)과 저항(R4)을 연결한후 비교기(CP)의 출력측에는 저항(R2)을 통하여 트랜지스터(Q2)의 베이스를 연결하고 에미터가 접지된 트랜지스터(Q2)의 콜랙터측에는 트랜지스터(Q1)의 베이스를 연결하여 정전압 회로(10)를 구성한다.
그리고 트랜지스터(Q1)의 에미터 측에는 오실로 스코우프(1)의 Y축 모우드를 연결함과 동시에 가변저항(VR1)을 통하여 테스트 소자(2)와 오실로 스코우프의 접지 단자를 연결하며 테스트 소자(2)의 또 다른 한쪽은 오실로 스코우프(1)의 X축 모우드에 연결되게 구성한다.
또한 위상 보정용 콘덴서(C5)가 연결되고 일측단자(+)가 접지된 오피앰프(OP)의 타측단자(-)에는 저항(R6)을 통하여 전원(E1)을 연결함과 동시에 콘덴서(C5)와 PUT(p rogrammable Unijunction Transistor:T1)을 통하여 오피앰프(OP)의 출력축과 연결하며 오피앰프(OP)의 출력측은 스위치 다이오드(D1)(D2)를 통하여 비교기(CP)의 타측단자(-)에 연결되게 톱니와 발생회로(5)를 구성한다.
이때 PUT(T1)의 베이스 단자에는 저항(R5)을 통하여 전원(E3)이 연결되게 구성하고 이때의 톱니파 주기는 저항(R6)과 콘덴서(C4)의 시정수로 결정 되어 진다.
이와 같이 구성된 본 고안의 작용 효과를 살펴본다.
톱니파 발생회로(5)의 오피앰프(OP)의 출력 전압(V1)은 톱니파로 출력되는데 이는 콘덴서(C4)의 전압(Vc4)과 PUT(T1)의 베이스로 인가되는 전원(E3)과 같으면 즉 Vc4=E3가 되면 PUT(T1)가 "턴온"하게 되어 전압이 떨어지게 되고 전압이 떨어지면 다시 PUT(T1)가 "오프"되어 오피앰프(OP)의 출력전압(V1)은 다시 상승된다.
따라서 PUT(T1)의 "온""오프"에 따라서 톱니파가 출력되는데 이때의 톱니파는 저항(R6)과 콘덴서(C4)의 시정수에 의하여 상승 궤적이 결정되어지며 콘덴서(C4)의 충전 전압(Vc4)과 전원(E3)간의 전압 관계에 따라서 톱니파가 발생되는 것이다.
그리고 이때의 톱니파 최저치가 1V이상으로 되는 것은 PUT(T1)의 특성 때문이고 전원(E3)을 크게해 줄수록 톱니파 전압의 최대치는 그 만큼 커지게 되며 이때의 톱니파의 기울기는 저항(R6)과 콘덴서(C4)의 시정수에 의하여 결정되어 지므로 저항(R6)의 저항치를 변환 시키면 궤적의 기울기를 변화시킬 수 있다.
이러한 오피앰프(OP)의 출력전압(V1)은 약 1-6V의 톱니파 전압으로 변환되어 출력되는데 이 전압은 스위칭 다이오드(D1)(D2)를 통하면서 1V다운되어 톱니파 발생회로(5)의 출력전압(V2)즉 비교기(CP)의 타측단자(-)의 입력단자(V2)은 O-5V의 톱니파로 나타나게 된다.
이때의 톱니파 발생회로(5)의 출력전압(V2)은 접지된 저항(R7)을 통하여 비교기(CP)의 타측단자(-)에 기준 전압으로 인가되어진다.
그러므로 비교기(CP)에서는 일측단자(+)로 인가되는 전압(V3)과 타측단자(-)로 인가되는 전압(V2)을 비교하여 일측단자(+)의 전압(V3)이 타측단자(-)의 전압(V2)보다 높으면 비교기(CP)의 출력 전압(V4)의 하이 레벨이 되어 저항(R2)을 통한후 트랜지스터(Q2)를 "턴온"시켜 주어 트랜지스터(Q2)의 콜렉터 전류 즉 트랜지스터(Q1)의 베이스 전류를 떨어뜨림으로써 트랜지스터(Q1)의 에미터 전류는 적게 흐르게 되어 결국 비교기(CP)의 일측단자(+)의 입력 전압(V3)은 떨어지게 된다.
왜냐하면 비교기(CP)의 일측단자(+)의 입력전압(V3)은 트랜지스터(Q1)의 에미터 전압이 인가되는 저항(R3)(R4)의 비에 의하여 결정되어 지기 때문이다.
또한 비교기(CP)의 일측단자(+)의 전압(V3)이 타측단자(-)의 전압(V2)보다 낮으면 비교기(CP)의 출력전압(V4)은 로우 레벨이 되어 저항(R2)을 통한후 트랜지스터(Q2)를 "턴 오프"시켜 주어 트랜지스터(Q2)의 콜렉터 전류 즉 전류 소오스인 FET(Q3)가 연결된 트랜지스터(Q1)의 베이스 전류를 높여 주므로써 트랜지스터(Q1)의 에미터 전류가 많이 흐르게 되어 결국 비교기(CP)의 일측단자(+)의 입력전압(V3)은 상승하게되며 이러한 과정을 입력전압(V2)(V3)이 서로 갈아 질때까지 반복하게 된다.
그러므로 비교기(CP)의 일측단자(+)의 입력 전압(V2)은가 된다.
이때 V5는 정전압 회로(10)의 출력전압 즉 트랜지스터(Q1)의 에미터 전압이다.
그리고 상기의 식①을 변형하면 V5=V2·()가 되며 이때 ()를 상수 K로 높으면 V5=K·V2가 된다.
즉 정전압 회로(10)의 출력전압(V5)는 톱니파 발생회로(5)의 출력전압(V2)을 K배한 결과가 되므로 이러한 K배된 톱니파를 오실로 스코우프(1)의 Y축 모우드에 인가시킴과 동시에 가변저항(VR1)을 통하여는 테스트소자(2)의 일측과 오실로 스코우프(1)의 접지단자로 인가시켜 주며 오설로 스코우프(1)의 X축 모우드에는 테스트 소자(2)의 타측을 연결한다.
그러면 테스트 소자(2)인 각종 부품(다이오도, 저항, 콘덴서, 트랜지스터등)의 전압 및 전류 특성을 오실로스코우프(1)의 X-Y모우드로 디스플레이 할 수 있으며 X-Y레코더로는 기록을 남길 수 있는 것이다.
이때 본 고안에서는 가변저항(VR1)을 가변 시킬 수 있어 어떤 전류의 특성도 쉽게 알아 볼 수 있고 또한 전압 특성은 전원부(3)의 전압으로 조정할 수 있으며 정전압 회로(10)의 세미볼륨(Semi-Volume)인 저항(R)으로는 미세 조정을 할 수 있어 손쉽게 부품의 전압 및 전류 특성을 검사할 수 있는 것이다.
이상에서와 같이 본 고안은 오피앰프를 이용하여 간단히 톱니파 발생회로를 구성할 수 있고 비교기와 전류소오스인 FET로 정전압 회로를 구성하여 톱니파 발생 회로의 톱니파를 기준 전압으로 사용 하므로써 오실로 스코우프로 부품의 전압 및 전류 특성을 디스플레이 할 수 있도록 한 것이다.
따라서 본 고안을 사용하면 각 부품을 손쉽게 측정하고 결과를 디스플레이 할 수 있으며 X-Y레코더를 사용하여 결과를 기록으로 남길 수 있는 장점이 있는 것으로써 각 연구실이나 검사과 등에서 값싸게 구성할 수있는 본 고안은 쉽게 사용할 수 있고 또한 실험을 과학화 할 수 있는 효과가 있는 것이다.

Claims (1)

  1. 저항(R5)과 전원(E3)이 연결된 PUT(T1)와 콘덴서(C4)가 연결된 오피앰프(OP)에 저항(R6)을 통하여 전원(E1)을 연결하고 출력측에는 다이오드(D1)(D2)를 통하여 비교기(CP)의 타측단자(-)가 연결되게 톱니파 발생회로(5)를 구성하며 일측단자(+)에 저항(R3)(R4)과 콘덴서(C3)가 연결된 비교기(CP)의 출력측에는 트랜지스터(Q2)와 FET(Q3)로 제어되는 트랜지스터(Q1)를 연결하고 전원부(3)의 출력은 트랜지스터(Q1)를 통한후 콘덴서(C3)와 저항(R3)(R4)에 인가되게 연결하여 정전압 회로(10)를 구성한 후 정전압 회로(10)의 출력측에 가변 저항(VR1)과 테스트 소자(2)를 통하여 오실로 스코우프(1)가 연결되게 구성한 부품의 전압, 전류 특성검사회로.
KR2019870003970U 1987-03-27 1987-03-27 부품의 전압, 전류 특성 검사회로 Expired KR900005306Y1 (ko)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR2019870003970U KR900005306Y1 (ko) 1987-03-27 1987-03-27 부품의 전압, 전류 특성 검사회로

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR2019870003970U KR900005306Y1 (ko) 1987-03-27 1987-03-27 부품의 전압, 전류 특성 검사회로

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR880018375U KR880018375U (ko) 1988-10-28
KR900005306Y1 true KR900005306Y1 (ko) 1990-06-15

Family

ID=19260946

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR2019870003970U Expired KR900005306Y1 (ko) 1987-03-27 1987-03-27 부품의 전압, 전류 특성 검사회로

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR900005306Y1 (ko)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20030092182A (ko) * 2002-05-27 2003-12-06 엘지전자 주식회사 공기조화기의 열교환기 체결구조

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20030092182A (ko) * 2002-05-27 2003-12-06 엘지전자 주식회사 공기조화기의 열교환기 체결구조

Also Published As

Publication number Publication date
KR880018375U (ko) 1988-10-28

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US5773978A (en) Battery impedance monitor
CN101206249A (zh) 电子负载装置
US4473796A (en) Resistance and capacitance measuring device
US3530379A (en) Capacitance measuring apparatus utilizing voltage ramps of predetermined slope
US3694748A (en) Peak-to-peak detector
KR900005306Y1 (ko) 부품의 전압, 전류 특성 검사회로
US3531656A (en) Precision rectifier circuit
JP2718068B2 (ja) 振幅制御台形波発生装置
JPH0250653B2 (ko)
US3493790A (en) Electronic timer circuits with constant current source
JP2002123320A (ja) 電流制限機能付電圧発生器
CN216904873U (zh) 一种电荷平衡式电压-频率变换器
SU1670774A1 (ru) Устройство дл разр да конденсатора
JPH084748Y2 (ja) 基準電圧回路及び発振回路
KR940008904B1 (ko) 전압변환회로
SU949781A2 (ru) Мультивибратор
SU1599975A1 (ru) Формирователь импульсов
SU1552155A1 (ru) Стабилизирующий источник посто нного тока
JP3272205B2 (ja) 発振回路
RU1815625C (ru) Источник посто нного тока
KR860001705B1 (ko) 고전압 가열장치의 정수배주기파형 발생회로
JPH0522862Y2 (ko)
JPS6119223A (ja) 集積時間決定回路装置
KR890002418Y1 (ko) 디지탈 멀티메터
SU561156A1 (ru) Устройство дл измерени статического коэффициента передачи тока транзисторов

Legal Events

Date Code Title Description
UA0108 Application for utility model registration

Comment text: Application for Utility Model Registration

Patent event code: UA01011R08D

Patent event date: 19870327

A201 Request for examination
UA0201 Request for examination

Patent event date: 19871230

Patent event code: UA02012R01D

Comment text: Request for Examination of Application

Patent event date: 19870327

Patent event code: UA02011R01I

Comment text: Application for Utility Model Registration

UG1501 Laying open of application
UG1604 Publication of application

Patent event code: UG16041S01I

Comment text: Decision on Publication of Application

Patent event date: 19900518

E701 Decision to grant or registration of patent right
UE0701 Decision of registration

Patent event date: 19900915

Comment text: Decision to Grant Registration

Patent event code: UE07011S01D

REGI Registration of establishment
UR0701 Registration of establishment

Patent event date: 19901214

Patent event code: UR07011E01D

Comment text: Registration of Establishment

UR1002 Payment of registration fee

Start annual number: 1

End annual number: 3

Payment date: 19901214

UR1001 Payment of annual fee

Payment date: 19930326

Start annual number: 4

End annual number: 4

UR1001 Payment of annual fee

Payment date: 19940530

Start annual number: 5

End annual number: 5

UR1001 Payment of annual fee

Payment date: 19950529

Start annual number: 6

End annual number: 6

UR1001 Payment of annual fee

Payment date: 19960523

Start annual number: 7

End annual number: 7

FPAY Annual fee payment

Payment date: 19970528

Year of fee payment: 8

UR1001 Payment of annual fee

Payment date: 19970528

Start annual number: 8

End annual number: 8

LAPS Lapse due to unpaid annual fee
UC1903 Unpaid annual fee