KR890006855Y1

KR890006855Y1 - P type ic detect system

Info

Publication number: KR890006855Y1
Application number: KR2019870005859U
Authority: KR
Inventors: 임남무
Original assignee: 주식회사 금성사; 구자학
Priority date: 1987-04-22
Filing date: 1987-04-22
Publication date: 1989-10-12
Also published as: KR880020252U

Abstract

내용 없음.No content.

Description

Inspection device for P-type IC

제1도는 본 고안의 장치의 부분 절개 분리 사시도.1 is a partial cutaway perspective view of the device of the present invention.

제2도는 본 고안 장치의 사용상태의 종단면도.Figure 2 is a longitudinal sectional view of the state of use of the device of the present invention.

* 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명* Explanation of symbols for main parts of the drawings

1,2 : 집게판 3,3' ,4,4' : 축편1,2: clip plate 3,3 ', 4,4': shaft

7,8 : 나사 11,12 : 스프링7,8: screw 11,12: spring

13 : 도전편 13' : 검사용 단자13 conductive part 13 'inspection terminal

본 고안은 P형 IC용 검사장치에 관한 것으로서 특히 IC의 각핀에 접촉되는 도전편을 집게형 고정구 몸체속에 내장하고 도전편 일단을 단자로서 외부로 노출되도록 하므로서 검사 작업이 편리를 도모할 수 있도록 한 P형 IC용 검사장치의 구성에 관한 것이다.The present invention relates to an inspection device for a P-type IC. In particular, a conductive piece contacting each pin of the IC is embedded in a clamp-type fixture body, and one end of the conductive piece is exposed to the outside as a terminal so that inspection work can be facilitated. It relates to the configuration of an inspection apparatus for a P-type IC.

종래에 P형 IC용 검사하기 위해서는 회로 기판에 납땜 고정된 IC의 각 핀에 일일이 테스터의 탈침을 직접 접촉시켜가면서 검사하거나 또는 IC핀에 소정길이의 전선가닥을 납땜하여 테스터로 검사토록 되어 있으므로 검사 작업하기가 매우 불편할뿐만 아니라 IC핀에 탐침을 접촉시킬때 부주의로 탐침에 접촉된 핀에 근접해 있는 다른핀에 탐침이 접촉되는 경우가 빈번하여 핀 상호간의 단락으로 인해 IC의 파손이 많았던 문제점이 있었다.Conventionally, the P type IC inspection is performed by directly contacting the tester with a needle of a tester on each pin of the IC fixed to the circuit board or by soldering a wire of a predetermined length to the IC pin. Not only is it very inconvenient to work, but when the probe is in contact with the IC pin, the probe is often inadvertently contacted with another pin close to the pin that is in contact with the probe. .

본 고안은 이와 같은 문제점을 해결하기 위하여 P형 IC의 각핀에 접속되는 검사용 단자를 IC를 집는 집게에 형성하여 IC검사시 이 집게로 IC를 집어 놓은 상태로 검사용 단자에 레스터 탐침을 접촉시켜 검사토록 하므로서 P형 IC 검사작업에 편리를 기하고 IC핀의 단락 방지를 통한 IC 파손방지와 기기수명 연장을 도모할 수 있게한 것이며, 이하 첨부된 도면을 참조하여 본 고안의 구성 및 작용효과를 상세히 설명하면 다음과 같다. 우선 제1,2도를 참조하면 본 고안의 구성은 대향된 2개의 집게판(1,2) 양단에 형성된 축편(3,3' ,4,4')의 축구멍(5,5' ,6,6')에 나사(7,8)를 끼워 고정함과 동시에 집게판(1,2)의 내측면 상부에 형성된 스프링홈(9,9' ,10,10')에는 스프링(11,12)을 끼워 탄지토록 하며, 일측 집게판(1)속에는 L자형 도전편(13)을 내장하되, 도전편(13) 일단은 검사용 단자(13')로서, 타단은 회로기판(14)에 꼽힌 P형 IC(15)의 핀(16)에 접촉되는 접촉부(13")로서 각각 노출되도록 하여서 된 것이다.In order to solve such a problem, the present invention forms a test terminal connected to each pin of a P-type IC on a clamp for picking up the IC. By inspecting it, it is convenient for P-type IC inspection work, and it is possible to prevent IC damage and prolong the life of the device by preventing short circuit of the IC pin. It will be described in detail as follows. First, referring to FIGS. 1 and 2, the constitution of the present invention is the shaft hole 5, 5 ′, 6 of the shaft pieces 3, 3 ′, 4, 4 ′ formed at both ends of two opposed tong plates 1, 2. 6 ') and screws 7 and 8 to fix the springs 9 and 9' and 10 and 10 'formed on the inner side of the tong plates 1 and 2, respectively. The L-shaped conductive piece 13 is built into one side of the clip plate 1, and one end of the conductive piece 13 is a terminal 13 'for inspection, and the other end of the P is connected to the circuit board 14. The contact portions 13 " contacting the pins 16 of the type IC 15 are respectively exposed.

본 고안은 작용효과는 제2도에 도시된 바와 같이, 회로기판(14)에 꼽힌 P형 IC(15)를 검사할시에는 먼저 집게판(1,2)의 상단은 손으로 집어서 오므리면 축편(3,3',4,4')에 나사(7) 고정부를 축으로 점선부와 같이 집게판(1,2)의 하단부가 벌어지면서 스프링(11,12)이 압축된다.In the present invention, as shown in FIG. 2, when the P-type IC 15 attached to the circuit board 14 is examined, first, the upper ends of the tong plates 1 and 2 are picked up by hand. The springs 11 and 12 are compressed while the lower end portions of the tong plates 1 and 2 are opened like the dotted line with the screw 7 fixed portion on the shaft pieces 3, 3 ', 4 and 4'.

이와 같은 상태에서 집게판(1,2)의 하단부를 P형 IC(15)의 하측면과 회로기판(14)사이의 공간에 위치시키면서 일측 집게판(1)속의 도전편(13) 타단부 즉, 접촉부(13")를 각각 IC핀(16)에 접촉되는 위치로 조정한 다음 집게판(1,2) 상단부를 놓으면, 스프링(11,12)이 팽창되면서 집게판(1,2)의 하단부가 실선부와 같이 오무라들게 된다.In this state, the other end of the conductive piece 13 in the one side clamp plate 1 is positioned while the lower end of the clamp plates 1 and 2 is positioned in the space between the lower surface of the P-type IC 15 and the circuit board 14. After adjusting the contact portions 13 ″ to the positions where they are in contact with the IC pins 16, and then placing the upper ends of the tong plates 1 and 2, the springs 11 and 12 are expanded and the lower ends of the tong plates 1 and 2, respectively. Will be like a solid line.

따라서 이 순간 도전편(13)의 접촉부(13")가 IC핀(16)에 접촉 되면서 타측 집게판(2) 하단부와 함께 IC핀(16)을 꼭 물게 된다.Therefore, at this moment, the contact portion 13 ″ of the conductive piece 13 is in contact with the IC pin 16, so as to bite the IC pin 16 together with the lower end of the other tong plate 2.

이와 같은 상태에서 IC핀(16)은 접촉부(13"), 도전편(13), 단자(13')로 통전되게 되므로 데스터 탐침을 단자(13')에 접촉시켜서 IC(15)의 검사를 하면 되는 것이고 단자(13')는 집게판(1) 상단부로 충분히 노출되어지므로 검사작업이 용이해지게 되며, 핀(16) 상호간의 단락사고 위험이 감소되게 되는 것이다.In this state, since the IC pin 16 is energized by the contact portion 13 ", the conductive piece 13, and the terminal 13 ', the IC 15 is brought into contact with the terminal 13' for inspection of the IC 15. Since the terminal 13 'is sufficiently exposed to the upper end of the tong plate 1, the inspection work becomes easy, and the risk of short circuit accident between the pins 16 is reduced.

검사후에는 집게판(1,2) 상단부를 오무리면 스프링(11,12)이 압축되면서 그 하단부가 점선부와 같이 벌어지게 되므로 P형 IC(15)로 부터 집게판(1,2)을 분리해 낼 수 있게 되는 것이다.After inspection, when the upper part of the tongs (1, 2) is closed, the springs (11, 12) are compressed and the lower part of the tongs is opened like a dotted line, so the tongs (1, 2) are separated from the P-type IC (15). You can do it.

다른 IC에 대해서도 상기와 같은 요령으로 계속 검사를 수행할 수 있게 되는 것이다.For other ICs, the same test as described above can continue the inspection.

이와 같이 본 고안에 의하면 P형 IC를 검사할때 핀에 직접 납땜하여 검사하거나 데스터의 땀침을 일일이 IC핀에 접촉시켜가면서 검사하는 번거로움이 배재되므로 검사작업에 편리를 기할 수 있게 됨은 물론 IC핀의 단락으로 인한 파손을 미연에 방지할 수 있게 된 것이다.As such, according to the present invention, when the P-type IC is inspected by soldering directly to the pin or inspecting the sweat of the tester by touching the IC pin one by one, the inspection work is eliminated, so that the inspection work can be convenient. It is possible to prevent damage due to short circuit of the pin.

Claims

Screws 7 and 8 are screwed into the shaft holes 5, 5 ', 6 and 6' of the shaft pieces 3, 3 ', 4 and 4' formed at opposite ends of the two tong plates 1 and 2. At the same time, the spring grooves 9, 9 ', 10, and 10' formed on the inner side of the tong plates 1 and 2 are inserted into the springs 11 and 12 so as to be held therein. A contact portion incorporating the magnetic conductive piece 13, wherein one end of the conductive piece 13 is a test terminal 13 'and the other end is in contact with the pin 16 of the P-type IC 15 plugged into the circuit board 14. Inspection apparatus for P-type ICs each exposed as (13 ").