KR870011449A - 부품표면의 凸출부형상 검출장치 - Google Patents
부품표면의 凸출부형상 검출장치 Download PDFInfo
- Publication number
- KR870011449A KR870011449A KR870004630A KR870004630A KR870011449A KR 870011449 A KR870011449 A KR 870011449A KR 870004630 A KR870004630 A KR 870004630A KR 870004630 A KR870004630 A KR 870004630A KR 870011449 A KR870011449 A KR 870011449A
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- ejection
- detection device
- shape detection
- piezoelectric element
- dimensional pattern
- Prior art date
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/24—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K13/00—Apparatus or processes specially adapted for manufacturing or adjusting assemblages of electric components
- H05K13/08—Monitoring manufacture of assemblages
- H05K13/081—Integration of optical monitoring devices in assembly lines; Processes using optical monitoring devices specially adapted for controlling devices or machines in assembly lines
- H05K13/0813—Controlling of single components prior to mounting, e.g. orientation, component geometry
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Operations Research (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Supply And Installment Of Electrical Components (AREA)
Abstract
내용 없음
Description
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제1도는 본원 발명의 제1의 실시예의 측면도.
제2도는 제1도중의 부품과 플레이트의 관계를 나타내는 사시도.
제3도는 제2도의 부품과 플레이트를 접속시킨 경우의 사시도.
Claims (8)
- 표면에 凸출부를 가진 부품과 이 부품의 凸출부를 누르는 표면을 가진 부재와 , 이 부품의 凸출부를 이 부재의 표면에 소정의 압력으로 누르는 수단과 , 상기 부품의 凸출부가 상기 부재의 표면에 눌려졌을 때의 상기 부재표면상의 비정상의 압력을 검지하는 소단과, 이 검지결과를 2차원 패턴정보로 변환하는 수단을 가진 것을 특징으로 하는 부품표면의 凸출부형상 검출장치.
- 제1항에 있어서, 상기 2차원 패턴정보에 대해서 이 부품의 凸출부에 대한 표준패턴을 기억하는 수단과 이 표준패턴과 상기 변환한 2차원 패턴정보를 비교하므로서 상기 凸출부의 검사를 하는 수단을 갖는 부품표면의 凸출부형상 검출장치.
- 제1항에 있어서, 상기 부품의 凸출부가 전자부품의 리드부재인 부품표면의 凸출부형상 검출장치.
- 제1항에 있어서, 상기 부재표면이 평면인 부품표면의 凸출부형상 검출장치.
- 제1항에 있어서, 상기 부재가 상기 부품 凸출부를 누르는 평면을 가진 광학플레이트이며, 상기 비정상의 압력을 검지하기 위한 광원을 가진 부품표면의 凸출부형상 검출장치.
- 제1항 내지 제3항중 어느 한항에 있어서, 상기 부재가 이 표면에 다수의 압전소자를 배열한 검출부재인 부품표면의 凸출부형상 검출장치.
- 제1항 내지 제3항중 어느 한항에 있어서, 상기 부재가 상기 부재표면에 배열한 압전소자와 이 압전소자에 생긴전하를 화상패턴으로 변환하는 액정소자 로 이루어진 부품표면의 凸출부형상 검출장치.
- 제2항에 있어서, 상기 부재가 상기 부재표면에 배열한 압전소자와 이 압전소자에 생긴전하를 화상패턴으로 변환하는 액정소자로 이루어지고 상기 변환한 2차원 패턴 또는 표준패턴을 촬상하는 수단을 가진 부품표면의 凸출부형상 검출장치.※ 참고사항 : 최초출원내용에 의하여 공개하는 것임.
Applications Claiming Priority (9)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP86-115189 | 1986-05-20 | ||
JP61115189A JPH0743253B2 (ja) | 1986-05-20 | 1986-05-20 | 電子部品のリ−ド曲り検出装置 |
JP115189 | 1986-05-20 | ||
JP205528 | 1986-09-01 | ||
JP61205528A JPS6361101A (ja) | 1986-09-01 | 1986-09-01 | リ−ド形状検査装置 |
JP86-205528 | 1986-09-01 | ||
JP61277108A JPS63131003A (ja) | 1986-11-20 | 1986-11-20 | リ−ド形状検査装置 |
JP86-277108 | 1986-11-20 | ||
JP277108 | 1986-11-20 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR870011449A true KR870011449A (ko) | 1987-12-23 |
KR920004752B1 KR920004752B1 (ko) | 1992-06-15 |
Family
ID=27312905
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1019870004630A KR920004752B1 (ko) | 1986-05-20 | 1987-05-12 | 부품표면의 凸출부형상 검출장치 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4803871A (ko) |
KR (1) | KR920004752B1 (ko) |
Families Citing this family (14)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
FR2642693B1 (fr) * | 1989-02-08 | 1991-04-19 | Hispano Suiza Sa | Procede d'usinage par rectification comportant des mesures d'une meule de forme et machine le mettant en oeuvre |
US4929845A (en) * | 1989-02-27 | 1990-05-29 | At&T Bell Laboratories | Method and apparatus for inspection of substrates |
US5131753A (en) * | 1990-07-23 | 1992-07-21 | Motorola, Inc. | Robotic placement device using compliant imaging surface |
US5420691A (en) * | 1991-03-15 | 1995-05-30 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Electric component observation system |
US5745238A (en) * | 1992-12-22 | 1998-04-28 | International Business Machines Corporation | Apparatus and method for non-destructive inspection and/or measurement |
FR2706032B1 (fr) * | 1993-06-01 | 1995-07-07 | Commissariat Energie Atomique | Procédé et dispositif de contrôle de la conformité de billes d'hybridation. |
US5531632A (en) * | 1993-12-14 | 1996-07-02 | Fuji Photo Film Co., Ltd. | Apparatus for detecting the surface of a member to be ground, method of manufacturing feelers, and automatic inspection/grinding apparatus |
US5460058A (en) * | 1994-03-02 | 1995-10-24 | Trw Vehicle Safety Systems Inc. | Apparatus and method for inspecting an air bag module |
US5570184A (en) * | 1994-12-07 | 1996-10-29 | Lucent Technologies Inc. | Method and apparatus for locating the position of lasing gaps for precise alignment and placement of optoelectric components |
AU3663197A (en) * | 1996-07-12 | 1998-02-20 | Linker, Frank V. Jr. | Split optics arrangement for vision inspection/sorter module |
JP3802957B2 (ja) * | 1996-12-19 | 2006-08-02 | 富士機械製造株式会社 | 光沢を有する球冠状突起の撮像,位置特定方法およびシステム |
US5861564A (en) * | 1997-09-26 | 1999-01-19 | Forintek Canada Corp. | Inspection bench with pivoting arm |
TW371108U (en) * | 1998-04-21 | 1999-09-21 | United Semiconductor Corp | Defected chip detecting tool |
JP7484478B2 (ja) * | 2020-06-19 | 2024-05-16 | スミダコーポレーション株式会社 | 電子部品の検査装置及び電子部品の検査方法 |
Family Cites Families (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US2236373A (en) * | 1940-07-05 | 1941-03-25 | Anthony C Kowalski | Method of permanently recording defects in metals |
US3862047A (en) * | 1970-08-05 | 1975-01-21 | Gen Dynamics Corp | Method and composition for detecting flaws in metallic surfaces, holes and otherwise |
US3755659A (en) * | 1972-06-15 | 1973-08-28 | Gen Motors Corp | Method of determining the surface area of an irregular shape |
US3879993A (en) * | 1973-09-28 | 1975-04-29 | Owens Illinois Inc | Method and apparatus for inspecting glass containers |
US4176205A (en) * | 1976-03-24 | 1979-11-27 | Rockwell International Corporation | Fingerprint powder and method of application |
US4558590A (en) * | 1984-04-27 | 1985-12-17 | International Business Machines Corporation | Method for measuring the real contact area in connectors |
-
1987
- 1987-05-11 US US07/048,725 patent/US4803871A/en not_active Expired - Lifetime
- 1987-05-12 KR KR1019870004630A patent/KR920004752B1/ko not_active IP Right Cessation
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US4803871A (en) | 1989-02-14 |
KR920004752B1 (ko) | 1992-06-15 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
KR870011449A (ko) | 부품표면의 凸출부형상 검출장치 | |
ATE155612T1 (de) | Schaltungsanordnung | |
KR910005349A (ko) | 입력 장치 | |
KR960008603A (ko) | 이미지 입력/출력 장치 | |
ES2129547T3 (es) | Cuadro de pulsadores para un ascensor. | |
KR920020251A (ko) | 카메라의 거리측정장치 | |
KR920003208A (ko) | 지문촬영장치 | |
KR910004372A (ko) | 마킹 방법 및 장치 | |
KR840007634A (ko) | 주사 어레이와 그 배치기구 및 조립방법 | |
DE59106616D1 (de) | Vorrichtung zum Erfassen und Melden von Flüssigkeiten. | |
KR860000155A (ko) | 정보판독장치 | |
DE3778042D1 (de) | Bildformungsvorrichtung mit einem opto-elektronischen system fuer die detektion von fokalisierungsfehlern. | |
KR20160130573A (ko) | 지문인식모듈의 고정 구조 | |
DE59501392D1 (de) | Schallsensor | |
KR890005583A (ko) | 원고 사이즈 검지장치 | |
KR950001548A (ko) | 카드 인식장치 | |
KR900700370A (ko) | 진동부품 정렬장치 | |
JPS6274174A (ja) | 凹凸面情報検出装置 | |
JPS62140187A (ja) | 凹凸面情報検出装置 | |
SU381895A1 (ru) | Электростатическое устройство для закрепления плоских деталей из диэлектрических материалов | |
KR860007810A (ko) | 화상 판독장치 | |
JPH0741247Y2 (ja) | 密着イメージセンサー | |
ATE12442T1 (de) | Vorrichtung fuer die auswertung von roentgenfilmen. | |
FR3105399B1 (fr) | Dispositif electronique comportant une centrale inertielle | |
KR910007398A (ko) | 디스플레이 박스 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A201 | Request for examination | ||
E902 | Notification of reason for refusal | ||
G160 | Decision to publish patent application | ||
E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
GRNT | Written decision to grant | ||
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20010511 Year of fee payment: 10 |
|
LAPS | Lapse due to unpaid annual fee |