KR860008457A - 전자분야의 시험용 유체로서 사용되는 과플루오로폴리에테르 - Google Patents

전자분야의 시험용 유체로서 사용되는 과플루오로폴리에테르 Download PDF

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마르치오니 기우세페
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Abstract

내용 없음

Description

전자분야의 시험용 유체로서 사용되는 과플루오로폴리에테르
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음

Claims (6)

  1. 높은온도 및 낮은온도 모두에서 유일한 작업유체로서, 중합체 사슬에 CF(CF₃)CF₂O 단위체를 함유하고, 적어도 390의 평균분자량, 8.5cSt(20°C에서) 이하의 동적점성도를 갖고, 대기압하에 140°C 이하의 온도에서 많아야 10% 및 260°C보다 높지않은 온도에서 적어도 90%까지 증류되는 과플루오로폴리에테르, 또는 CF(CF₃)CF₂O 단위체를 함유하지 않고, 18cSt(20°C에서) 이하의 점성도를 갖고, 140°C 이하의 온도에서 많아야 10% 및 280°C보다 높지않은 온도에서 적어도 90%까지 증류되는 과플루오로 폴리에테르를 사용함을 특징으로하는 열충격시험, 총누전시험 및 연소시험을 수행하기위한 방법.
  2. 높은온도 및 낮은온도 모두에서 유일한 작업유체로서, 150°내지 230°C로 구성되는 온도에서 10-90%증류 범위를 갖는 6cSt(20°C에서) 이하의 점성도, 또는 과플루오로폴리에테르가 CF(CF₃)CF₂O 단위체로 구성되지않는 경우 150°내지 250°C로 구성되는 온도범위에서 10-90% 증류범위를 갖는 10cSt(20°C에서) 이하의 점성도를 갖는 과플루오로폴리에테르가 사용됨을 특징으로 하는 열충격시험, 총누전시험 및 연소시험을 수행하기위한 방법.
  3. 제1항에 따른 과플루오로폴리에테르가 다음 형태의 구조단위체로 구성되는 부류의 화합물로부터 선택됨을 특징으로 하는 열충격시험, 총누전시험, 및 연소시험을 수행하기위한 방법 :
    1) 과플루오로폴리에테르 사슬을따라 임으로 분포된 CF(CF₃)CF₂O) 및 (CFXO)(식중, X는-F, -CF₃와 같다) :
    2) CF(CF₃)CF₂O) ;
    3) CF(CF₃)CF₂O), 이 부류는 더욱더 특징적인 그룹-CF(CF₃)-CF(CF₃)-로 구성됨.
    4) 과플루오로폴리에테르 사슬을 따라 임으로 분포된 CF(CF₃)CF₂O), (C₂F₄O), (CFXO) (식중, X는-F,-F₃와 같다) :
    5)과플루오로폴리에테르 사슬을 따라 임으로 분포된 (C₂F₄O), (CF₂O) :
    6) (CF₂FCF₂O) ;
    7) (C₂F₄O).
  4. 제3항에 따른 과플루오로포리에테르는 다음부류중에서 선택됨을 특징으로 하는 열충격시험, 총누전시험 및 연소시험을 수행하기 위한 방법 :
    1)
    상기식에서, X는-F, -CF₃이고 : A 및 A'은 서로 같거나 또는 다르고, -CF3, -C2F5-C3F7일 수 있고 : CF(CF₃)CF₂O 및 CFXO단위체들은 과플루오로포리에테르 사슬을 따라 임으로 분포되어있고 : m 및 n은 정수이고, n은 0일 수 있고, n0일 때 m/n비는2이고, 이러한 것의 점성도는 상기 제시한값 8.5cSt보다 낮다:
    2)
    상기식에서, B는 -C2F5, -C3F7일수도 있고, m은 양의 정수, 그리고 이러한 화합물의 점성도는 상기에 제시된값 8.5cSt보다 낮다 :
    3)
    상기식에서, m은 양의 정수이고, 이러한 화합물의 점성도는 상기제시된 값 8.5cSt보다 낮다 :
    4)A'O[CF(CF(CF3)CF2>/SB>O] mC2F<SB<4On(CFXO)q-A,
    상기식에서, A 및 A'은 서로 같거나 또는 다르고,-CF3, C2F5, -C3F7일 수 있고 : X는 -F, -CF₃이고 : m,n 및 q는 정수이고, 또한 0일수 있으나, 어떤 경우에 평균분자량은 적어도 390이고, 점성도는 상기제시한 한계(8.5cSt)내에 있다.
    5) CF3O(C2F4O)p(CF2O)q-CF3
    상기식에서, p 및 q는 서로같거나 또는 다른 정수이고, p/q비는 0.5내지 2이고, 이러한 화합물의 점성도는 제시한 한계(18cSt)내에 있다 :
    6)AO-(CF2CF2CF2O)m-A',
    상기식에서, A 및 A'은 서로같거나 또는 다르고, -CF3, -C2F5, C3F7일 수 있고 m은 정수이고, 이러한 화합물은 상기 제시한값 18cSt에서 보다 낮다 :
    7) DO-(CF2CF2O)r-D'
    상기식에서, D 및 D'은 서로 같거나 또는 다르고, -CF3,-C2F5일 수 있고, r은 정수이고, 이러한 생성물의 점성도는 상기 제시한값 18cSt보다 낮다.
  5. CF(CF3)CF2O 단위체로 구성되는 구조를 갖는 경우에 제4항에 제시한 사슬구조 및 8.5cSt이상의 점성도를 갖는 과플루오로폴리에테르, 또는 구조가 상기 단위체로 구성되지않는 경우에 18cSt이상, 200cSt이하의 점성도를 갖는 과플루오로폴리에테르가 사용됨을 특징으로 하는 연소시험을 위한 방법.
  6. 상기 과플루오로폴리에테르의 점성도가 50cSt이하임을 특징으로하는 제5항에 따른 방법.
    ※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
KR1019860003153A 1985-04-24 1986-04-24 전자분야의 시험용 유체로서 사용되는 과플루오로폴리에테르 KR950007523B1 (ko)

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Families Citing this family (18)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6288561B1 (en) 1988-05-16 2001-09-11 Elm Technology Corporation Method and apparatus for probing, testing, burn-in, repairing and programming of integrated circuits in a closed environment using a single apparatus
AU4524389A (en) * 1988-09-28 1990-04-18 Exfluor Research Corporation Perfluoroacetal and perfluoroketal compounds and use thereof in thermal shock testing
US5539059A (en) * 1988-09-28 1996-07-23 Exfluor Research Corporation Perfluorinated polyethers
US5506309A (en) * 1988-09-28 1996-04-09 Exfluor Research Corporation Perfluorinates polyethers
US5362919A (en) * 1988-12-02 1994-11-08 Minnesota Mining And Manufacturing Company Direct fluorination process for making perfluorinated organic substances
US5039228A (en) * 1989-11-02 1991-08-13 The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Navy Fixtureless environmental stress screening apparatus
IT1237887B (it) * 1989-12-12 1993-06-18 Ausimont Spa Lubrificanti perfluoropolieterei aventi proprieta' antiusura
DE4025348A1 (de) * 1990-08-10 1992-02-13 Hoechst Ag Verfahren und vorrichtung fuer die thermoschock-pruefung
EP0522357A1 (de) * 1991-06-28 1993-01-13 Hoechst Aktiengesellschaft Verfahren zur qualitativen und quantitativen Dichtheitsprüfung von Hohlkörpern
US5369983A (en) * 1992-04-17 1994-12-06 Minnesota Mining And Manufacturing Company Detection medium and method for use in hermetic seal testing
EP0755520B1 (de) * 1994-04-15 1997-10-22 Siemens Aktiengesellschaft Verwendung einer prüfflüssigkeit zur kontrolle der funktionsfähigkeit elektrischer kraftwerkskomponenten
JP4002393B2 (ja) * 1997-10-15 2007-10-31 スリーエム カンパニー 電子部品の試験における試験液としてのヒドロフルオロエーテルの使用
US20020151527A1 (en) * 2000-12-20 2002-10-17 Benjamin Wiegand Method for reducing acne or improving skin tone
DE602004029226D1 (de) * 2003-10-10 2010-11-04 Greatbatch Ltd Leck-Prüfung von hermetischen Gehäusen für implantierbare Energiespeichern-Vorrichtungen
JP4881051B2 (ja) * 2005-09-16 2012-02-22 株式会社アドバンテスト 導電性流体検出装置用のフィルタユニット及びそれを用いた導電性流体検出装置
US8999192B2 (en) * 2008-09-26 2015-04-07 Solvay Specialty Polymers Italy S.P.A. Method for transferring heat
CN103210054B (zh) 2010-09-10 2016-06-15 索尔维特殊聚合物意大利有限公司 传热方法
DE102020112333A1 (de) 2020-05-07 2021-11-11 Bayerische Motoren Werke Aktiengesellschaft Verfahren zur Alterung einer elektronischen Baugruppe, Bewertungsverfahren zur Bewertung der Dauerhaltbarkeit von elektronischen Baugruppen sowie elektronische Baugruppe

Family Cites Families (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3242218A (en) * 1961-03-29 1966-03-22 Du Pont Process for preparing fluorocarbon polyethers
DE1249247B (de) * 1961-04-25 1967-09-07 E. I. Du Pont De Nemours And Company, Wilmington, Del. (V. St. A.) Verfahren zur Herstellung von Perfluorolefinpolyäthern
US3665041A (en) * 1967-04-04 1972-05-23 Montedison Spa Perfluorinated polyethers and process for their preparation
GB1226566A (ko) * 1967-04-04 1971-03-31
US3761808A (en) * 1970-07-08 1973-09-25 Aai Corp Testing arrangement
JPS4945719A (en) * 1972-09-04 1974-05-01 Fuji Photo Film Co Ltd Ichiganrefukamera no miraakaido nyoru shogekikanshosochi
JPS51132778A (en) * 1975-05-14 1976-11-18 Hitachi Ltd Inspection method of semiconductor apparatus
US4523039A (en) * 1980-04-11 1985-06-11 The University Of Texas Method for forming perfluorocarbon ethers
DE3485616D1 (de) * 1983-12-26 1992-05-07 Daikin Ind Ltd Verfahren zur herstellung von halogen enthaltenden polyathern

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KR950007523B1 (ko) 1995-07-11
DE3687593D1 (de) 1993-03-11
EP0203348A2 (en) 1986-12-03
ZA862863B (en) 1986-12-30
EP0203348B1 (en) 1993-01-27
JPH0713236B2 (ja) 1995-02-15
IT8520477A0 (it) 1985-04-24
US4955726A (en) 1990-09-11

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