KR20240035913A - 전극 시트 전위 제어 방법, 장치, 전극 시트, 셀, 배터리 - Google Patents

전극 시트 전위 제어 방법, 장치, 전극 시트, 셀, 배터리 Download PDF

Info

Publication number
KR20240035913A
KR20240035913A KR1020247007361A KR20247007361A KR20240035913A KR 20240035913 A KR20240035913 A KR 20240035913A KR 1020247007361 A KR1020247007361 A KR 1020247007361A KR 20247007361 A KR20247007361 A KR 20247007361A KR 20240035913 A KR20240035913 A KR 20240035913A
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
sheet
electrode sheet
width
anode
deviation value
Prior art date
Application number
KR1020247007361A
Other languages
English (en)
Inventor
찬빈 천
쥔 후
스핑 펑
추후이 정
원 창
칭 우
하오란 루
Original Assignee
컨템포러리 엠퍼렉스 테크놀로지 씨오., 리미티드
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 컨템포러리 엠퍼렉스 테크놀로지 씨오., 리미티드 filed Critical 컨템포러리 엠퍼렉스 테크놀로지 씨오., 리미티드
Publication of KR20240035913A publication Critical patent/KR20240035913A/ko

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01MPROCESSES OR MEANS, e.g. BATTERIES, FOR THE DIRECT CONVERSION OF CHEMICAL ENERGY INTO ELECTRICAL ENERGY
    • H01M10/00Secondary cells; Manufacture thereof
    • H01M10/04Construction or manufacture in general
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06TIMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
    • G06T1/00General purpose image data processing
    • G06T1/0007Image acquisition
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06TIMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
    • G06T7/00Image analysis
    • G06T7/10Segmentation; Edge detection
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06TIMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
    • G06T7/00Image analysis
    • G06T7/70Determining position or orientation of objects or cameras
    • G06T7/73Determining position or orientation of objects or cameras using feature-based methods
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01MPROCESSES OR MEANS, e.g. BATTERIES, FOR THE DIRECT CONVERSION OF CHEMICAL ENERGY INTO ELECTRICAL ENERGY
    • H01M4/00Electrodes
    • H01M4/02Electrodes composed of, or comprising, active material
    • H01M4/04Processes of manufacture in general
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06TIMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
    • G06T2207/00Indexing scheme for image analysis or image enhancement
    • G06T2207/30Subject of image; Context of image processing
    • G06T2207/30108Industrial image inspection
    • G06T2207/30164Workpiece; Machine component

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
  • Electrochemistry (AREA)
  • General Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Computer Vision & Pattern Recognition (AREA)
  • Secondary Cells (AREA)
  • Battery Electrode And Active Subsutance (AREA)

Abstract

본 출원은 배터리 기술 분야에 관한 것으로, 전극 시트 전위 제어 방법, 장치, 전극 시트, 셀 및 배터리를 개시하였다. 상기 전극 시트 전위 제어 방법은 양극 시트의 절개 홀 위치 정보를 획득하여, 상기 절개 홀 위치 정보와 상기 양극 시트의 교정 폭에 따라, 상기 양극 시트에 대응하는 제1 시트 폭 편차값을 계산한다. 음극 시트의 탭 위치 정보를 획득하고, 상기 탭 위치 정보와 상기 음극 시트의 교정 폭에 따라, 상기 음극 시트에 대응하는 제2 시트 폭 편차값을 계산한다. 양극 시트와 음극 시트에 대해 시트 적층 처리를 수행할 때, 상기 제1 시트 폭 편차값에 따라 그에 대응하는 음극 시트의 시트 이송 위치를 조절하고, 상기 제2 시트 폭 편차값에 따라 상기 음극 시트의 시트 절개 폭을 보상한다. 본 출원은 중첩된 음극 시트와 양극 시트의 에지가 소정 거리를 유지하도록 하여, 음극 시트와 양극 시트 전위 불량을 방지하고 셀의 수율을 향상시킨다.

Description

전극 시트 전위 제어 방법, 장치, 전극 시트, 셀, 배터리
본 출원은 배터리 기술 분야에 관한 것으로, 보다 상세하게는 전극 시트 전위 제어 방법, 장치, 전극 시트, 셀 및 배터리에 관한 것이다.
전자 제품의 발전과 배터리 관련 기술의 지속적인 개선으로 배터리 성능에 대한 사람들의 요구 기준이 점점 더 높아지고 있다. 전극 시트는 배터리를 구성하는 중요한 구조로서, 배터리의 충방전 효율에 영향을 미친다. 시트를 적층할 때, 음극 시트가 양극 시트의 두 절개 자국 사이에 있도록 보장해야 한다. 양극 절개 자국을 정확하게 결정하지 못하면, 음극 시트가 양극 절개 자국을 벗어나, 전극 시트가 자연스럽게 적층되지 않고 음극 시트와 양극 시트 전위로 인한 배터리 안전 문제가 초래될 수 있다. 따라서 음극 시트와 양극 시트 전위 불량 문제를 개선하는 것은, 셀 수율을 향상시키는 데 중요한 의미를 갖는다.
본 출원의 실시방식은 상기 문제를 적어도 부분적으로 개선하고, 음극 시트와 양극 시트의 전위 불량 확률을 효과적으로 낮추며, 배터리 셀의 수율을 향상시킨다.
상기 기술적 과제를 해결하기 위하여, 본 출원의 실시예에서 채택한 기술적 해결방안은 다음과 같다. 제1 양상에 있어서, 본 출원의 실시예는 전극 시트 전위 제어 방법을 제공한다. 상기 방법은, 양극 시트의 절개 홀 위치 정보를 획득하고, 상기 절개 홀 위치 정보와 상기 양극 시트의 교정 폭에 따라, 상기 양극 시트에 대응하는 제1 시트 폭 편차값을 계산하는 단계; 음극 시트의 탭 위치 정보를 획득하고, 상기 탭 위치 정보와 상기 음극 시트의 교정 폭에 따라, 상기 음극 시트에 대응하는 제2 시트 폭 편차값을 계산하는 단계; 및 상기 양극 시트와 상기 음극 시트에 대해 시트 적층 처리를 수행할 때, 상기 제1 시트 폭 편차값에 따라 상기 음극 시트의 시트 이송 위치를 조절하고, 상기 제2 시트 폭 편차값에 따라 상기 음극 시트의 시트 절개 폭을 보상하여, 중첩된 상기 음극 시트와 상기 양극 시트의 에지가 소정 거리를 유지하도록 하는 단계를 포함한다. 본 출원에서 제공하는 실시예는 중첩된 음극 시트와 양극 시트의 에지가 소정 거리를 유지하도록 하여, 음극 시트와 양극 시트의 전위 불량을 방지하고, 셀의 수율을 향상시킨다. 또한 각각의 음극 시트에 대해 보상을 수행할 수 있고, 각각의 음극 시트에 대해 차동 편차 보상을 수행할 수 있으며, 마지막으로 음극 시트의 시트 폭이 우수한 일관성을 유지할 수 있도록 한다.
일부 실시예에 있어서, 상기 절개 홀 위치 정보와 상기 양극 시트의 교정 폭에 따라, 상기 양극 시트에 대응하는 제1 시트 폭 편차값을 계산하는 상기 단계는, 센서에서 양극 시트의 절개 홀을 검출하면, 인접한 2개의 상기 양극 시트의 절개 홀의 거리에 따라 상기 인접한 2개의 양극 시트 중 이전 양극 시트의 검출 폭을 획득하고, 상기 검출 폭과 상기 양극 시트의 교정 폭에 따라 상기 이전 양극 시트의 시트 폭 편차값을 계산하는 단계를 포함한다. 본 실시예는 센서를 통해 양극 시트 절개 홀을 검출하며, 검출된 절개 홀 정보에 따라 양극 시트의 시트 폭 편차값을 계산하여, 상기 시트 폭 편차값에 따라 음극 시트의 시트 이송 위치를 보상한다. 이를 통해 각 음극 시트의 시트 이송 위치를 보상하여, 음극 시트와 양극 시트 전위 불량을 방지하고 배터리 셀의 수율을 향상시킬 수 있다.
일부 실시예에 있어서, 상기 방법은, 카메라에서 촬영한 절개 홀 교정 위치에 대응하는 교정 위치 편차값을 획득하는 단계; 상기 센서에서 양극 시트 절개 홀을 검출하지 않았고 현재 검출된 양극 시트가 카메라 촬영 조건을 충족하는 경우, 상기 현재 검출된 양극 시트의 절개 자국 이미지를 획득하고, 상기 절개 자국 이미지에 따라 현재 검출된 양극 시트의 검출 시트 폭 편차값을 획득하는 단계; 및 상기 검출 시트 폭 편차값과 상기 교정 위치 편차값의 차이값을 계산하는 단계 - 상기 차이값은 상기 현재 검출된 양극 시트의 시트 폭 편차값임 - 를 더 포함한다. 본 실시예는 센서 검출이 실효된 경우, 카메라를 통해 편차 계산을 수행하여, 음극 시트와 양극 시트 전위 불량을 효과적으로 방지하고 배터리 셀의 수율을 향상시킬 수 있다.
일부 실시예에 있어서, 카메라에서 촬영한 절개 홀 교정 위치에 대응하는 교정 위치 편차값을 획득하는 상기 단계는, 센서에서 양극 시트 절개 홀을 처음 검출하고 카메라 촬영 조건을 충족하는 경우, 상기 절개 홀에 대응하는 절개 자국 이미지를 획득하고, 상기 절개 자국 이미지와 상기 양극 시트 절개 홀의 교정 위치에 따라, 교정 위치 편차값을 획득하는 단계를 포함한다. 본 실시예는 절개 자국 이미지와 양극 시트 절개 홀의 교정 위치를 통해 카메라에서 촬영한 절개 홀 교정 위치에 대응하는 교정 위치 편차값을 획득하여, 상기 교정 위치 편차값을 정확하게 획득할 수 있다. 따라서 상기 양극 시트의 시트 폭 편차값을 정확하게 계산하여, 음극 시트의 시트 이송 위치를 정확하게 보상할 수 있다.
일부 실시예에 있어서, 센서가 양극 시트 절개 홀을 처음 검출한 경우, 상기 카메라 촬영 조건을 충족하는 상기 단계는, 상기 센서와 상기 카메라의 제1 거리를 획득하는 단계; 상기 센서가 양극 시트 절개 홀을 처음 검출할 때의 위치 정보를 획득하는 단계 - 상기 위치 정보는 제2 거리를 포함함 - ; 및 상기 카메라가 현재 촬영하는 절개 홀의 위치 정보에 대응하는 거리와 상기 제1 거리, 제2 거리의 합이 동일할 때, 카메라 촬영 조건을 충족한다고 결정하는 단계를 포함한다. 본 실시예는 센서가 양극 시트 절개 홀을 처음 검출했을 때의 촬영 조건을 한정하였다. 따라서 상기 조건에 따라 카메라 촬영을 트리거하여, 센서 검출이 실효된 경우에도 양극 시트에 대응하는 시트 폭 편차값을 획득하도록 보장할 수 있다. 따라서 음극 시트의 시트 이송 위치에 대한 보상을 구현한다.
일부 실시예에 있어서, 센서가 양극 시트 절개 홀을 처음 검출한 것이 아닐 때, 카메라 촬영 조건을 충족하는 상기 단계는, 현재 양극 시트 절개 홀에 대응하는 이전에 검출된 양극 시트 절개 홀의 절개 자국 이미지를 획득하는 단계 - 상기 이전에 검출된 양극 시트 절개 홀의 절개 자국 이미지는 제1 절개 자국 거리를 포함함 - ; 상기 현재 양극 시트 절개 홀의 절개 자국 이미지를 획득하는 단계 - 상기 현재 양극 시트 절개 홀의 절개 자국 이미지는 제2 절개 자국 거리를 포함함 - ; 및 상기 제2 절개 자국 거리와 상기 제1 절개 자국 거리, 상기 양극 시트의 교정 폭의 합이 동일하면, 카메라 촬영 조건을 충족한다고 결정하는 단계를 포함한다. 본 실시예는 센서가 양극 시트 절개 홀을 처음 검출한 것이 아닐 때의 촬영 조건을 한정하였다. 따라서 상기 조건에 따라 카메라 촬영을 트리거하여, 센서 검출이 실효된 경우에도 양극 시트에 대응하는 시트 폭 편차값을 획득하도록 보장할 수 있다. 따라서 음극 시트의 시트 이송 위치에 대한 보상을 구현한다.
일부 실시예에 있어서, 상기 탭 위치 정보와 상기 음극 시트의 교정 폭에 따라, 음극 시트에 대응하는 제2 시트 폭 편차값을 계산하는 상기 단계는, 센서가 상기 음극 시트의 탭을 검출한 경우, 각각의 상기 탭에 대응하는 위치 정보를 기록하는 단계; 상기 센서에 의해 검출된 탭의 수량이 소정 임계값보다 큰 경우, 상기 기록된 탭의 위치 정보에 따라 상기 소정 임계값 시트 수량의 음극 시트의 평균 폭을 계산하는 단계; 및 상기 음극 시트의 교정 폭과 상기 평균 폭의 차이값을 계산하는 단계 - 상기 차이값은 상기 음극 시트의 시트 폭 편차값임 - 를 포함한다. 본 실시예는 음극 시트의 탭을 검출하여, 탭에 따라 음극 시트의 폭을 획득한다. 이를 통해 시트 폭 편차값을 계산함으로써 음극 시트 폭에 대해 균일한 보상을 수행하여, 음극 시트 폭 일관성을 우수하게 할 뿐만 아니라, 음극 시트 탭을 검출하여, 음극 시트 폭에 대해 동적 조절을 수행하여 탭 전위를 교정할 수도 있다.
제2 양상에 있어서, 본 출원의 실시예는 전극 시트 전위 제어 장치를 제공한다. 상기 장치는, 양극 시트의 절개 홀 위치 정보를 획득하고, 상기 절개 홀 위치 정보와 상기 양극 시트의 교정 폭에 따라, 상기 양극 시트에 대응하는 제1 시트 폭 편차값을 계산하는 데 사용되는 제1 계산 모듈; 음극 시트의 탭 위치 정보를 획득하고, 상기 탭 위치 정보와 상기 음극 시트의 교정 폭에 따라, 상기 음극 시트에 대응하는 제2 시트 폭 편차값을 계산하는 데 사용되는 제2 계산 모듈; 및 상기 양극 시트와 상기 음극 시트에 대해 시트 적층 처리를 수행할 때, 상기 제1 시트 폭 편차값에 따라 상기 음극 시트의 시트 이송 위치를 조절하고, 상기 제2 시트 폭 편차값에 따라 상기 음극 시트의 시트 절개 폭을 보상하는 데 사용되어, 중첩된 상기 음극 시트와 상기 양극 시트의 에지가 소정 거리를 유지하도록 하는 전극 시트 전위 처리 모듈을 포함한다. 본 출원에서 제공하는 실시예는 중첩된 음극 시트와 양극 시트의 에지가 소정 거리를 유지하도록 하여, 음극 시트와 양극 시트의 전위 불량을 방지하고, 셀의 수율을 향상시킨다. 또한 각각의 음극 시트에 대해 보상을 수행할 수 있고, 각각의 음극 시트에 대해 차동 편차 보상을 수행할 수 있으며, 마지막으로 음극 시트의 시트 폭이 우수한 일관성을 유지할 수 있도록 한다.
일부 실시예에 있어서, 상기 제1 계산 모듈은, 센서에서 양극 시트의 절개 홀을 검출하면, 인접한 2개의 상기 양극 시트의 절개 홀의 거리에 따라 상기 인접한 2개의 양극 시트 중 이전 양극 시트의 검출 폭을 획득하고, 상기 검출 폭과 상기 양극 시트의 교정 폭에 따라 상기 이전 양극 시트의 시트 폭 편차값을 계산하는 데 사용되는 제1 계산 유닛을 포함한다. 본 실시예는 센서를 통해 양극 시트 절개 홀을 검출하며, 검출된 절개 홀 정보에 따라 양극 시트의 시트 폭 편차값을 계산하여, 상기 시트 폭 편차값에 따라 음극 시트의 시트 이송 위치를 보상한다. 이를 통해 각 음극 시트의 시트 이송 위치를 보상하여, 음극 시트와 양극 시트 전위 불량을 방지하고 배터리 셀의 수율을 향상시킬 수 있다.
일부 실시예에 있어서, 상기 제1 계산 모듈은, 카메라에서 촬영한 절개 홀 교정 위치에 대응하는 교정 위치 편차값을 획득하는 데 사용되는 제1 획득 유닛; 상기 센서에서 양극 시트 절개 홀을 검출하지 않았고 현재 검출된 양극 시트가 카메라 촬영 조건을 충족하는 경우, 상기 현재 검출된 양극 시트의 절개 자국 이미지를 획득하고, 상기 절개 자국 이미지에 따라 상기 현재 검출된 양극 시트의 검출 시트 폭 편차값을 획득하는 데 사용되는 제2 획득 유닛; 및 상기 검출 시트 폭 편차값과 상기 교정 위치 편차값의 차이값을 계산하는 데 사용되는 제2 계산 유닛 - 상기 차이값은 상기 현재 검출된 양극 시트의 시트 폭 편차값임 - 을 더 포함한다. 본 실시예는 센서 검출이 실효된 경우, 카메라를 통해 편차 계산을 수행하여, 음극 시트와 양극 시트 전위 불량을 효과적으로 방지하고 배터리 셀의 수율을 향상시킬 수 있다.
일부 실시예에 있어서, 상기 제1 획득 유닛은 구체적으로, 센서에서 양극 시트 절개 홀을 처음 검출하고 카메라 촬영 조건을 충족하는 경우, 상기 절개 홀에 대응하는 절개 자국 이미지를 획득하고, 상기 절개 자국 이미지와 상기 양극 시트 절개 홀의 교정 위치에 따라, 교정 위치 편차값을 획득하는 데 사용된다. 본 실시예는 절개 자국 이미지와 양극 시트 절개 홀의 교정 위치를 통해 카메라에서 촬영한 절개 홀 교정 위치에 대응하는 교정 위치 편차값을 획득하여, 상기 교정 위치 편차값을 정확하게 획득할 수 있다. 따라서 상기 양극 시트의 시트 폭 편차값을 정확하게 계산하여, 음극 시트의 시트 이송 위치를 정확하게 보상할 수 있다.
일부 실시예에 있어서, 센서가 양극 시트 절개 홀을 처음 검출한 경우, 카메라 촬영 조건을 충족하는 상기 단계는, 상기 센서와 상기 카메라의 제1 거리를 획득하는 단계; 상기 센서가 양극 시트 절개 홀을 처음 검출할 때의 위치 정보를 획득하는 단계 - 상기 위치 정보는 제2 거리를 포함함 - ; 및 상기 카메라가 현재 촬영하는 절개 홀의 위치 정보에 대응하는 거리와 상기 제1 거리, 제2 거리의 합이 동일할 때, 카메라 촬영 조건을 충족한다고 결정하는 단계를 포함한다. 본 실시예는 센서가 양극 시트 절개 홀을 처음 검출했을 때의 촬영 조건을 한정하였다. 따라서 상기 조건에 따라 카메라 촬영을 트리거하여, 센서 검출이 실효된 경우에도 양극 시트에 대응하는 시트 폭 편차값을 획득하도록 보장할 수 있다. 따라서 음극 시트의 시트 이송 위치에 대한 보상을 구현한다.
일부 실시예에 있어서, 센서가 양극 시트 절개 홀을 처음 검출한 것이 아닐 때, 카메라 촬영 조건을 충족하는 상기 단계는, 현재 양극 시트 절개 홀에 대응하는 이전에 검출된 양극 시트 절개 홀의 절개 자국 이미지를 획득하는 단계 - 상기 이전에 검출된 양극 시트 절개 홀의 절개 자국 이미지는 제1 절개 자국 거리를 포함함 - ; 상기 현재 양극 시트 절개 홀의 절개 자국 이미지를 획득하는 단계 - 상기 현재 양극 시트 절개 홀의 절개 자국 이미지는 제2 절개 자국 거리를 포함함 - ; 및 상기 제2 절개 자국 거리와 상기 제1 절개 자국 거리, 상기 양극 시트의 교정 폭의 합이 동일하면, 카메라 촬영 조건을 충족한다고 결정하는 단계를 포함한다. 본 실시예는 센서가 양극 시트 절개 홀을 처음 검출한 것이 아닐 때의 촬영 조건을 한정하였다. 따라서 상기 조건에 따라 카메라 촬영을 트리거하여, 센서 검출이 실효된 경우에도 양극 시트에 대응하는 시트 폭 편차값을 획득하도록 보장할 수 있다. 따라서 음극 시트의 시트 이송 위치에 대한 보상을 구현한다.
일부 실시예에 있어서, 상기 제2 계산 모듈은 구체적으로, 센서가 상기 음극 시트의 탭을 검출한 경우, 각각의 상기 탭에 대응하는 위치 정보를 기록하고; 상기 센서에 의해 검출된 탭의 수량이 소정 임계값보다 큰 경우, 상기 기록된 탭의 위치 정보에 따라 상기 소정 임계값 시트 수량의 음극 시트의 평균 폭을 계산하고; 및 상기 음극 시트의 교정 폭과 상기 평균 폭의 차이값을 계산하는 데 - 상기 차이값은 상기 음극 시트의 시트 폭 편차값임 - 사용된다. 본 실시예는 음극 시트의 탭을 검출하여, 탭에 따라 음극 시트의 폭을 획득한다. 이를 통해 시트 폭 편차값을 계산함으로써 음극 시트 폭에 대해 균일한 보상을 수행하여, 음극 시트 폭 일관성을 우수하게 할 뿐만 아니라, 음극 시트 탭을 검출하여, 음극 시트 폭에 대해 동적 조절을 수행하여 탭 전위를 교정할 수도 있다.
제3 양상에 있어서, 본 출원의 실시예는 전극 시트 전위 제어 장치를 제공한다. 상기 장치는 센서, 카메라 및 컨트롤러를 포함한다. 상기 컨트롤러는 상기 센서 및 상기 카메라와 각각 연결된다. 상기 센서는 양극 시트의 절개 홀 위치 정보 및 음극 시트의 탭 위치 정보를 검출하는 데 사용된다. 상기 카메라는 양극 시트에 대응하는 절개 자국 이미지를 촬영하는 데 사용된다. 상기 컨트롤러는 적어도 하나의 프로세서, 및 상기 적어도 하나의 프로세서와 통신 가능하도록 연결된 메모리를 포함한다. 상기 메모리에는 상기 적어도 하나의 프로세서에 의해 실행되는 명령이 저장된다. 상기 명령은 상기 적어도 하나의 프로세서에 의해 실행되어, 상기 적어도 하나의 프로세서가 상기 절개 홀 위치 정보, 상기 탭 위치 정보 및 상기 절개 자국 이미지를 기반으로 상술한 바와 같은 전극 시트 전위 제어 방법을 구현한다. 본 출원에서 제공하는 실시예는 중첩된 양극 시트와 음극 시트의 에지가 소정 거리를 유지하도록 하여, 음극 시트와 양극 시트의 전위 불량을 방지하고, 셀의 수율을 향상시킨다. 또한 각각의 음극 시트에 대해 보상을 수행할 수 있고, 각각의 음극 시트에 대해 차동 편차 보상을 수행할 수 있으며, 마지막으로 음극 시트의 시트 폭이 우수한 일관성을 유지할 수 있도록 한다.
제4 양상에 있어서, 본 출원의 실시예는 전극 시트를 제공한다. 상기 전극 시트는 양극 시트 및 음극 시트를 포함한다. 상기 양극 시트와 상기 음극 시트는 상술한 바와 같은 전극 시트 전위 제어 방법을 통해 전위 처리를 수행하여, 중첩된 상기 음극 시트와 상기 양극 시트의 에지가 소정 거리를 유지하도록 한다. 본 출원의 실시예에서 제공하는 전극 시트의 음극 시트와 양극 시트의 에지는 소정의 거리를 유지할 수 있으며, 전위 불량의 확률이 비교적 낮다.
제5 양상에 있어서, 본 출원의 실시예는 분리막 및 상술한 바와 같은 양극 시트 및 음극 시트를 포함하는 셀을 제공한다. 본 출원의 실시예에서 제공하는 셀은 수율이 비교적 우수하다.
제6 양상에 있어서, 본 출원의 실시예는 전해질, 패키지 하우징 및 상술한 바와 같은 셀을 포함하는 배터리를 제공한다. 본 출원의 실시예에 의해 제공되는 배터리는 안전성이 높고, 우수하다.
본 출원의 실시예는 전극 시트 전위 제어 방법, 장치, 전극 시트, 셀 및 배터리를 제공한다. 양극 시트의 절개 홀 위치 정보와 양극 시트의 교정 폭을 통해 양극 시트에 대응하는 제1 시트 폭 편차값을 계산하고, 음극 시트의 탭 위치 정보와 음극 시트의 교정 폭을 통해 음극 시트에 대응하는 제2 시트 폭 편차값을 계산한다. 시트 적층 처리를 수행할 때, 제1 시트 폭 편차값에 따라 그에 대응하는 음극 시트의 시트 이송 위치를 보상하고, 제2 시트 폭 편차값에 따라 상기 음극 시트의 시트 절개 폭을 보상한다. 본 출원에서 제공하는 실시예는 중첩된 음극 시트와 양극 시트의 에지가 소정 거리를 유지하도록 하여, 음극 시트와 양극 시트의 전위 불량을 방지하고, 셀의 수율을 향상시킨다. 또한 본 출원 실시예에서의 보상 방식은 각각의 음극 시트에 대해 보상을 수행하고, 각각의 음극 시트에 대해 차동 편차 보상을 수행할 수 있으며, 마지막으로 음극 시트의 시트 폭이 우수한 일관성을 유지할 수 있도록 한다.
하나 이상의 실시예는 그에 대응하는 첨부도면을 통해 예시적으로 설명한다. 이러한 예시적 설명은 실시예를 한정하지 않으며, 달리 명시되지 않는 한, 첨부도면에서 동일한 참조 부호를 갖는 요소는 유사한 요소이다. 첨부도면의 도면은 비율에 제한되지 않는다.
도 1은 본 출원의 실시예에 따른 시트 적층기의 구조도이다.
도 2는 본 출원의 실시예에 따른 상기 절개 자국 이미지의 개략도이다.
도 3은 본 출원의 실시예에 따른 전극 시트 전위 제어 장치의 구조도이다.
도 4는 본 출원의 실시예에 따른 전극 시트 전위 제어 방법의 흐름도이다.
도 5는 본 출원의 실시예에 따른 전극 시트 전위 제어 방법에 제공된 상기 제1 시트 폭 편차값을 계산하는 방법의 흐름도이다.
도 6은 본 출원의 실시예에 따른 전극 시트 전위 제어 방법에 제공된 상기 제2 시트 폭 편차값을 계산하는 방법의 흐름도이다.
도 7은 본 출원의 실시예에 따른 전극 시트 전위 제어 장치의 구조도이다.
이하에서는 첨부도면을 참조하여 본 출원의 기술적 해결책의 실시예를 상세하게 설명한다. 이하의 실시예는 본 출원의 기술적 해결책을 보다 명확하게 설명하기 위해 사용된 예시일 뿐이며, 본 출원의 보호 범위를 제한하지 않는다.
달리 정의되지 않는 한, 본원에 사용된 모든 기술 및 과학 용어는 본 출원이 속한 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자가 일반적으로 이해하는 것과 동일한 의미를 갖는다. 본원에 사용된 용어는 구체적인 실시예를 설명하기 위한 것일 뿐이며, 본 출원을 한정하려는 의도가 아니다. 본 출원의 명세서와 청구범위 및 상기 첨부도면에 사용된 용어 “포함하다”와 “구비하다” 및 이들의 임의 변형은 비배타적인 포함을 포괄하도록 의도된다.
본 출원의 실시예를 설명함에 있어서, 기술 용어 “제1”, “제2” 등은 상이한 대상을 구분하기 위한 것으로, 상대적 중요성을 지시 또는 암시하거나 지시하는 기술적 특징의 수량, 특정한 순서 또는 주종 관계를 내포하는 것으로 이해될 수 없다.
본 출원에 언급된 “실시예”는 실시예에 설명된 특정한 특징, 구조 또는 특성과 결합하여 본 출원의 적어도 하나의 실시예에 포함될 수 있음을 의미한다. 명세서의 각각의 위치에서 상기 용어의 출현은 반드시 모두 동일한 실시예를 가리키는 것은 아니며, 다른 실시예와 상호 배타적인 독립적이거나 대체적인 실시예도 아니다. 당업자는 본원에 설명된 실시예가 다른 실시예와 조합될 수 있음을 명시적 및 묵시적으로 이해할 수 있다.
도 1에 도시된 바와 같이, 도 1은 본 출원의 실시예에 따른 시트 적층기의 구조도이다. 상기 시트 적층기(10)는 양극 시트(100), 분리막(110), 음극 시트(120), 센서(200), 카메라(210), 커터(220) 및 시트 이송 메커니즘(230)을 포함한다.
배터리 시트 적층 분야에 있어서, 통상적으로 분리막(110)을 사용하여 양극 시트(100)와 음극 시트(120)를 분리하고, 순차적으로 적층하여 일정한 두께를 갖는 셀을 형성하도록 한다. 시트 적층 처리의 과정에 있어서, 양극 시트(100)와 음극 시트(120)의 에지 거리가 요구되는 범위 내로 유지되어야, 양극 시트(100)와 음극 시트(120) 전위가 방지된다. 관련 기술은 센서를 통해 각각의 셀의 양극 블랭크 위치를 검출한다. 상기 셀의 양극 블랭크 위치는 셀에서 양극 시트와 음극 시트를 적층한 후 상기 양극 시트의 여분의 블랭크 위치이며, 음극 시트 이송 전체 위치를 보상한다. 관련 기술은 각 전극에 대해 차동 편차 보상을 수행할 수 없으며, 센서 검출이 실효되면 편차 계산을 수행할 수 없으므로 시트 이송 전위 불량이 발생할 수 있다. 이를 감안하여, 본 출원의 실시예는 양극 시트(100) 절개 홀 위치를 검출하여, 음극 시트(120)의 시트 이송 위치를 보상한다. 또한 양극 시트(100)에 대응하는 센서(200)가 양극 시트(100) 절개 홀 위치를 검출할 수 없는 경우, 카메라(210)에 의해 촬영된 이미지를 통해 양극 시트(100)의 검출 시트 폭 편차값을 획득하며, 나아가 음극 시트(120)의 시트 이송 위치에 대해 보상을 수행한다. 또한, 음극 시트(120)의 탭 위치를 더 검출하여, 탭의 위치 정보에 따라 음극 시트(120)의 시트 폭을 획득한다. 여기에서 탭을 통해 음극 시트(120)의 시트 폭을 보상하여, 음극 시트(120)와 양극 시트(100)의 시트 폭이 규정 범위 내에 있도록 보장할 수 있다. 또한 검출된 상기 탭 위치에 따라 탭 전위를 더 교정한다. 도 1에 도시된 시트 적층기(10)는 본 출원의 실시예에 따른 전극 시트 전위 제어 방법에 적용될 수 있다. 시트 적층기(10) 작동 시, 이미 절개 자국 및 절개 홀이 있는 양극 시트(100)와 분리막(110)을 복합시킨 후, 센서(200)는 지속적으로 상기 절개 홀을 검출하고 위치를 결정하며, 동시에 카메라(210)가 절개 홀을 촬영하여 양극 시트(100) 절개 홀과 카메라 교정 위치 편차값을 식별한다. 음극 시트(120)에 대응하는 센서(200)가 음극 시트(120)의 탭을 검출하여 위치를 결정하며, 음극 시트의 시트 폭 편차값을 계산한 후, 커터(220)가 계산된 음극 시트 편차값에 따라 음극 시트(120)의 시트 폭을 보상하며, 적합한 폭의 음극 시트(120)를 절취한다. 시트 이송 메커니즘(230)은 절개 홀에 의해 위치가 결정된 편차값에 따라 음극 시트(120)의 시트 이송 위치를 보상한다. 여기에서, 절개 홀에 의해 위치가 결정된 편차값은 센서(200)에 의해 검출된 양극 시트의 절개 홀 위치 정보와 교정 폭 계산으로 획득된 상기 양극 시트의 상기 제1 시트 폭 편차값일 수 있다. 상기 교정 폭은 양극 시트 폭의 설정값이다. 상기 값은 공정에 따라 설정할 수 있다. 카메라(210)에 의해 촬영된 이미지를 통해 양극 시트의 검출 폭을 획득하고, 상기 검출 폭에 따라 상기 제1 시트 폭 편차값을 계산하여 획득할 수도 있다. 상기 제1 시트 폭 편차값은 음극 시트(120)의 시트 이송 위치를 보상하기 위한 값을 의미하며, 이는 음극 시트(120)의 시트 이송 위치를 보상하는 데 사용된다. 이를 통해, 음극 시트(120)를 양극 시트(100)의 정확한 위치로 이송할 수 있다.
여기에서, 센서(200)는 복수 개가 포함되며, 양극 시트(100)와 음극 시트(120)의 대응하는 위치에 각각 설치된다. 센서(200)는 양극 시트(100)의 절개 홀 위치 정보를 검출하고, 음극 시트(120)의 탭 위치 정보를 검출하는 데 사용된다.
여기에서, 카메라(210)는 CCD(Charge coupled Device, 전하 결합 소자) 카메라일 수 있다. 카메라(210)는 양극 시트(100)에 대응하는 절개 자국 이미지를 촬영하는 데 사용된다. 도 2에 도시된 바와 같이, 상기 절개 자국 이미지는 절개 자국 및 절개 홀을 포함한다. 상기 절개 자국은 양극 시트(100) 수직 재료 이송 방향으로 관통하는 자국이며, 절개 자국을 통해 양극 시트(100)의 시트 수를 나눌 수 있다. 예를 들어 인접한 2개의 절개 자국 중간의 양극 시트는 하나의 양극 시트이다. 상기 절개 홀은 상기 절개 자국에 설치된 홀이다. 홀의 길이는 절개 자국의 길이보다 짧을 수 있으며, 일반적으로 상기 절개 홀은 상기 절개 자국과 겹친다.
도 3에 도시된 바와 같이, 도 3은 본 출원의 실시예에 따른 전극 시트 전위 제어 장치의 구조도이다. 상기 전극 시트 전위 제어 장치(30)는 상술한 바와 같은 시트 적층기(10), 컨트롤러(300) 및 호스트 컴퓨터(400)를 포함한다. 상기 컨트롤러(300)는 상기 시트 적층기(10), 상기 호스트 컴퓨터(400)와 각각 통신 가능하도록 연결된다. 상기 컨트롤러(300)는 하나의 독립된 개체로서 시트 적층기(10)와 별도로 설치될 수 있으며, 상기 시트 적층기(10)의 일부분으로서 시트 적층기(10)에 통합될 수도 있다.
본 출원의 실시예에 있어서, 상기 시트 적층기(10)는 상기 양극 시트(100)에 대응되는 센서(200)를 통해 양극 시트(100)의 절개 홀 위치 정보와 음극 시트(120)의 탭 위치 정보를 검출하며, 상기 카메라(210)를 통해 양극 시트(100)의 절개 자국 이미지를 더 검출한다. 여기에서, 상기 컨트롤러(300)는 상기 시트 적층기(10)에 명령을 전송하여 상기 양극 시트(100)에 대응하는 센서(200)가 양극 시트(100)의 절개 홀 위치를 검출하고, 상기 음극 시트(120)에 대응하는 센서(200)가 탭 위치를 검출하도록 제어할 수 있다. 상기 컨트롤러(300)는 상기 시트 적층기(10)에 명령을 전송하여 카메라(210)가 촬영하도록 제어할 수도 있다. 카메라(210)에 의해 촬영된 절개 자국 이미지는 호스트 컴퓨터(400)로 전송될 수 있으며, 호스트 컴퓨터(400)는 상기 절개 자국 이미지를 처리하여 절개 자국 편차를 획득한다. 상기 절개 자국 편차는 카메라에 의해 촬영된 절개 홀 교정 위치에 대응하는 편차값, 즉 상기 교정 위치 편차값이며, 상기 절개 자국 편차를 컨트롤러(300)에 전송한다. 상기 컨트롤러(300)는 상기 절개 홀 위치 정보, 상기 탭 위치 정보 및 상기 절개 자국 이미지를 획득하고, 상기 절개 홀 위치 정보, 상기 탭 위치 정보 및 상기 절개 자국 이미지에 따라 전극 시트 전위를 제어하여, 상기 음극 시트(120)가 상기 양극 시트(100)의 정확한 위치에 위치하도록 보장한다. 예를 들어, 상기 컨트롤러(300)는 양극 시트의 절개 홀 위치 정보를 획득하고, 상기 절개 홀 위치 정보와 상기 양극 시트의 교정 폭에 따라 - 상기 교정 폭은 양극 시트의 설정값이며, 상기 값은 공정에 따라 설정할 수 있음 - 상기 양극 시트에 대응하는 제1 시트 폭 편차값을 계산하고; 음극 시트의 탭 위치 정보를 획득하고, 상기 탭 위치 정보와 상기 음극 시트의 교정 폭에 따라, 상기 음극 시트에 대응하는 제2 시트 폭 편차값을 계산하고; 상기 양극 시트와 상기 음극 시트에 대해 시트 적층 처리를 수행할 때, 상기 제1 시트 폭 편차값에 따라 상기 음극 시트의 시트 이송 위치를 조절하고, 상기 제2 시트 폭 편차값에 따라 상기 음극 시트의 시트 절개 폭을 보상하는 데 사용되어, 중첩된 상기 음극 시트와 상기 양극 시트의 에지가 소정 거리를 유지하도록 한다.
여기에서, 상기 컨트롤러(300)는 프로그래머블 로직 컨트롤러(Programmable Logic Controller, PLC)일 수 있다. 상기 호스트 컴퓨터(400)는 구체적으로 데스크탑 컴퓨터, 노트북 컴퓨터, 태블릿 컴퓨터, 스마트폰 등의 디바이스일 수 있다.
구체적으로, 도 3에 도시된 바와 같이, 상기 컨트롤러(300)는 하나 이상의 프로세서(310) 및 메모리(320)를 포함한다. 도 3에서는 하나의 프로세서(310)를 예로 든다. 프로세서(310)와 메모리(320)는 버스 또는 다른 방식으로 연결될 수 있으며, 도 3에서는 버스를 통한 연결을 예로 들었다.
메모리(320)는 비휘발성 컴퓨터 판독 가능 저장 매체로서, 본 출원 실시예의 전극 시트 전위 제어 방법에 대응하는 프로그램 명령/모듈과 같이 비휘발성 소프트웨어 프로그램, 비휘발성 컴퓨터 실행 프로그램 및 모듈을 저장하는데 사용될 수 있다. 프로세서(310)는 메모리(320)에 저장된 비휘발성 소프트웨어 프로그램, 명령 및 모듈을 실행함으로써, 컨트롤러(300)의 다양한 기능 애플리케이션 및 데이터 처리를 실행한다. 즉, 하기 방법 실시예의 전극 시트 전위 제어 방법을 구현한다. 예를 들어, 도 4에 도시된 방법을 실행한다.
메모리(320)는 프로그램 저장 영역 및 데이터 저장 영역을 포함할 수 있으며, 프로그램 저장 영역은 운영 체제, 적어도 하나의 기능에 필요한 응용 프로그램을 저장할 수 있다. 데이터 저장 영역은 전극 시트 전위 제어 장치의 사용에 따라 생성된 데이터 등을 저장할 수 있다. 또한, 메모리(320)는 고속 랜덤 액세스 메모리를 포함할 수 있으며, 적어도 하나의 자기 디스크 저장 장치, 플래시 메모리 장치 또는 기타 비휘발성 메모리와 같은 비휘발성 메모리를 포함할 수도 있다. 일부 실시예에 있어서, 메모리(320)는 선택적으로 프로세서(310)에 대해 원격 설치된 메모리를 포함할 수 있다. 이처럼 원격 설치된 메모리는 네트워크를 통해 전극 시트 전위 제어 장치에 연결될 수 있다. 상기 네트워크의 예시에는 인터넷, 근거리 통신망, 이동 통신망, 인트라넷 및 이들의 조합이 포함되나 이에 한정되지 않는다.
상기 하나 이상의 모듈은 메모리(320)에 저장되고, 하나 이상의 프로세서(310)에 의해 실행될 때, 하기의 임의 방법 실시예 중 전극 시트 전위 제어 방법이 실행된다.
본 출원의 실시예에 제공된 전극 시트 전위 제어 장치(30)는 본 출원의 실시예에 제공된 전극 시트 전위 제어 방법을 구현하는 데 사용될 수 있으며, 방법 실행에 상응하는 기능 모듈 및 유익한 효과를 갖는다. 본 출원의 실시예에서 상세하게 설명되지 않은 기술적 세부 사항은 본 출원의 실시예에서 제공되는 전극 시트 전위 제어 방법을 참조할 수 있다.
도 4에 도시된 바와 같이, 도 4는 본 출원의 실시예에 따른 전극 시트 전위 제어 방법의 흐름도이다. 상기 방법은 도 1 및 도 3에 도시된 디바이스에 적용 가능하다. 상기 방법은 각 전극 시트에 대해 차동 편차 보상을 수행할 수 있으며, 센서 검출 실효 시 전극 시트의 편차를 계산하여 전극 시트를 보상할 수도 있다. 구체적으로, 상기 방법은 하기 단계를 포함할 수 있다.
S11: 양극 시트의 절개 홀 위치 정보를 획득하고, 상기 절개 홀 위치 정보와 상기 양극 시트의 교정 폭에 따라, 상기 양극 시트에 대응하는 제1 시트 폭 편차값을 계산한다.
전극 시트는 양극 시트(마이너스극 시트로 불리기도 함)와 음극 시트(플러스극 시트로 불리기도 함)를 포함한다. 플러스극 시트는 양극 활물질이 코팅된 제1 코팅 영역과 양극 활물질이 코팅되지 않은 양극 탭을 구비하고, 마이너스극 시트는 음극 활물질이 코팅된 제2 코팅 영역과 음극 활물질이 코팅되지 않은 음극 탭을 구비한다. 셀은 복수의 양극 탭을 포함하는 양극 탭 클러스터 및 복수의 음극 탭을 포함하는 음극 탭 클러스터를 구비한다. 전극 시트는 복수의 이격 설치된 탭을 구비한다.
본 출원의 실시예에 있어서, 각각의 상기 양극 시트에는 절개 홀이 설치되며, 상기 절개 홀의 형상 및 크기는 본 출원의 실시예에서 구체적으로 한정하지 않는다. 상기 절개 홀 위치 정보는 상기 전극 시트에서 상기 절개 홀의 구체적인 위치를 의미한다. 센서를 통해 상기 절개 홀 위치 정보를 검출할 수 있다. 상기 절개 홀은 상기 양극 시트를 관통하는 홀이다. 센서가 절개 홀을 검출할 때, 양극 시트의 일부 위치에 투과된 빛이 존재하고 다른 위치에는 투과된 빛이 없으면, 이러한 조건에 따라 센서는 상기 절개 홀의 위치, 즉 상기 절개 홀 위치 정보를 검출할 수 있다. 상기 절개 홀 검출의 목적은 상기 양극 시트의 폭을 획득하는 것이다. 상기 양극 시트의 폭은 상기 시트 적층기 재료 이송 방향에서 인접한 2개의 절개 홀 사이의 거리로 이해될 수 있다. 획득된 상기 양극 시트의 폭에 따라, 음극 시트의 시트 이송 위치를 정확하게 결정할 수 있다. 상기 양극 시트의 교정 폭은 양극 시트 폭의 설정 값을 의미하며, 상기 값은 공정에 따라 설정된다. 상기 제1 시트 폭 편차값은 음극 시트의 시트 이송 위치를 보상하기 위한 값을 의미한다. 상기 시트 이송 위치는 시트 적층 과정에서 상기 음극 시트가 거치되는 위치를 의미하며, 상기 위치에 대한 보상을 통해, 음극 시트를 정확한 위치에 거치한다. 여기에서, 제1 시트 폭 편차값은 첫 번째 음극 시트를 제외한 각 음극 시트의 시트 이송 위치를 보상하는 데 사용된다. 각 음극 시트에는 모두 그에 대응하는 상기 제1 시트 폭 편차값이 있다. 첫 번째 음극 시트는 센서가 처음 검출했을 때 시트 이송 위치를 이미 확인한 상태이므로, 첫 번째 음극 시트는 시트 이송 위치 보상을 수행할 필요가 없다.
본 출원의 실시예는 센서를 통해 양극 시트의 절개 홀 위치 정보를 검출할 수 있고, 절개 홀 위치 정보와 상기 교정 폭에 따라 상기 제1 시트 폭 편차값을 계산한다. 그러나 절개 홀을 제작할 때 상기 절개 홀이 완전히 뚫리지 않아 센서가 절개 홀을 검출하지 못하거나, 재료 벨트가 이탈하여 절개 홀이 센서의 검출 범위에 있지 않은 경우 센서가 절개 홀을 검출할 수 없다. 이때 카메라로 촬영한 이미지를 통해 양극 시트의 검출 폭을 획득하고, 상기 제1 시트 폭 편차값을 계산할 수 있다.
구체적으로, 도 5에 도시된 바와 같이, 상기 절개 홀 위치 정보와 상기 양극 시트의 교정 폭에 따라 상기 양극 시트에 대응하는 제1 시트 폭 편차값을 계산하는 단계는 하기 단계를 포함한다.
S111: 카메라가 촬영한 절개 홀 교정 위치에 대응하는 교정 위치 편차값을 획득한다.
상기 센서가 양극 시트의 절개 홀을 처음 검출한 경우, 즉 현재가 첫 번째 양극 시트로 간주된 경우, 이때 고정 거리를 통해 카메라 촬영을 트리거한다. 상기 촬영된 이미지는 절개 자국을 포함한 이미지이다. 상기 이미지에 따라 절개 자국 위치 정보를 검출하여 획득한 다음, 상기 절개 자국 위치 정보와 교정 절개 자국에 따라 편차값을 계산하여 획득한다. 상기 편차값이 바로 상기 카메라가 촬영한 절개 홀 교정 위치에 대응하는 상기 교정 위치 편차값이다. 여기에서, 상기 교정 절개 자국은 절개 자국을 제조할 때 검출을 거쳐 획득된 절개 자국 정보를 의미한다. 상기 절개 자국 위치 정보는 카메라가 현재 촬영한 이미지에서 절개 자국이 있는 위치를 의미한다. 절개 자국 위치의 픽셀 포인트와 상기 교정 절개 자국에 대응하는 픽셀 포인트에 따라 상기 편차값을 계산할 수 있다.
상기 교정 위치 편차값은 카메라로 촬영한 이미지에서 절개 자국의 위치 정보를 교정하는 데 사용된다. 따라서 절개 자국의 위치를 정확하게 결정할 수 있다. 즉, 음극 시트의 시트 이송 위치의 보상값을 정확하게 획득할 수 있다.
여기에서, 상기 센서가 양극 시트의 절개 홀을 처음 검출하면, 고정 거리를 통해 카메라 촬영이 트리거된다. 상기 고정 거리는 카메라 촬영을 충족시키는 하나의 조건을 의미한다. 구체적으로, 상기 센서와 상기 카메라의 제1 거리를 획득한다. 상기 제1 거리는 센서 및 카메라와의 위치와 관련되며, 센서에서 카메라까지의 거리를 의미한다. 구체적으로 양극 시트에 수직인 방향에서 상기 센서와 상기 카메라가 각각 상기 양극 시트에 투영되는 위치 사이의 거리를 의미한다. 상기 양극 시트에 대응하는 센서가 양극 시트 절개 홀을 처음 검출할 때의 위치 정보를 획득한다. 상기 위치 정보는 제2 거리를 포함한다. 상기 제2 거리는 절개 홀 위치와 센서의 거리를 의미한다. 상기 카메라가 현재 촬영한 절개 홀의 위치 정보에 대응하는 거리와 상기 제1 거리, 상기 제2 거리의 합이 같을 때, 카메라 촬영 조건이 충족된 것으로, 즉 상기 고정 거리가 충족된 것으로 결정한다. 이때 카메라 촬영이 트리거된다.
S112: 센서가 양극 시트 절개 홀을 검출하였는지 여부를 판단한다.
양극 시트 절개 홀이 검출되면, 하기 단계 S113을 실행한다. 양극 시트 절개 홀이 검출되지 않으면, 현재 검출된 양극 시트가 카메라 촬영 조건을 충족할 경우, 하기 단계 S114 및 단계 S115를 실행한다.
여기에서, 상기 절개 홀이 제작 시 완전하게 뚫리지 않거나, 재료 벨트 이탈 등의 원인으로 인해 절개 홀이 센서의 검출 범위 내에 있지 않으면, 센서가 양극 시트 절개 홀을 검출하지 못할 수 있다. 양극 시트 절개 홀이 검출되면, 검출된 절개 홀의 정보에 따라 상기 제1 시트 폭 편차값을 획득하며, 양극 시트 절개 홀이 검출되지 않으면, 카메라가 촬영한 절개 자국 이미지에 따라 상기 제1 시트 폭 편차값을 획득한다. 따라서 본 출원의 실시예는 음극 시트의 시트 이송 위치의 보상값을 정확하고 확실하게 획득할 수 있어 시트 이송 전위 불량 확률을 낮출 수 있다.
S113: 인접한 2개의 상기 양극 시트의 절단 홀의 거리에 따라 상기 인접한 2개의 양극 시트 중 이전 양극 시트의 검출 폭을 획득하고, 상기 검출 폭과 상기 양극 시트의 교정 폭에 따라 상기 이전 양극 시트의 시트 폭 편차값을 계산한다. 상기 시트 폭 편차값은 상기 시트 적층기의 재료 이송 방향에서의 거리로 이해될 수 있다.
여기에서, 상기 검출 폭은 절개 홀에 따라 실시간으로 검출되는 양극 시트의 폭을 의미한다. 상기 검출 폭과 상기 교정 폭의 차이값을 계산하며, 상기 차이값은 상기 제1 시트 폭 편차값이다.
예를 들어, 현재 첫 번째 양극 시트의 시트 폭 차이값이 필요한 경우, 두 번째 시트와 첫 번째 시트의 절개 홀 위치에 따라 첫 번째 시트의 검출 폭을 획득하며, , 상기 검출 폭 과 설정 폭 차이를 구하여, 첫 번째 시트의 시트 폭 편차값을 획득한다. 즉, 이다. 상기 는 두 번째 음극 시트의 시트 이송 위치를 보상하는 데 사용된다.
S114: 상기 현재 검출된 양극 시트의 절개 자국 이미지를 획득하고, 상기 절개 자국 이미지에 따라 상기 현재 검출된 양극 시트의 검출 시트 폭 편차값을 획득한다.
상기 절개 자국 이미지는 상기 CCD 카메라로 촬영하여 획득할 수 있다. 상기 검출 시트 폭 편차값은 카메라에 의해 촬영된 이미지에 따라 검출 획득한 양극 시트의 시트 폭 편차값을 의미한다. 상기 검출 시트 폭 편차값을 획득하는 방식은 절개 자국 이미지에서 획득한 양극 시트의 검출 폭에 따라, 상기 검출 폭과 교정 폭의 차이값을 계산하는 것일 수 있다. 상기 차이값은 상기 검출 시트 폭 편차값이다.
여기에서, 현재 검출된 양극 시트가 카메라 촬영 조건을 충족하는 단계는, 현재 양극 시트 절개 홀에 대응하는 이전에 검출된 양극 시트 절개 홀의 절개 자국 이미지를 획득하는 단계 - 상기 이전에 검출된 양극 시트 절개 홀의 절개 자국 이미지는 제1 절개 자국 거리를 포함함 - ; 상기 현재 양극 시트 절개 홀의 절개 자국 이미지를 획득하는 단계 - 상기 현재 양극 시트 절개 홀의 절개 자국 이미지는 제2 절개 자국 거리를 포함함 - ; 및 상기 제2 절개 자국 거리와 상기 제1 절개 자국 거리, 상기 양극 시트의 교정 폭의 합이 동일하면, 카메라 촬영 조건을 충족한다고 결정하는 단계를 포함한다. 예를 들어, 상기 제1 절개 자국 거리는 이고, 상기 제2 절개 자국 거리는 이고, 상기 양극 시트의 교정 폭은 이다. 일 때, 카메라 촬영이 트리거된다. 상기 제1 절개 자국 거리와 상기 제2 절개 자국 거리는 모두 각각 카메라에 의해 촬영되는 양극 시트의 절개 자국과 동일한 원점의 거리이다. 인접한 2개의 양극 시트의 절개 자국 거리에 따라 그 차이값을 계산한다. 상기 차이값은 상기 인접한 양극 시트 중 이전 양극 시트의 폭을 나타낼 수 있다.
일부 실시예에 있어서, 카메라 촬영을 통해 직접 상기 검출 시트 폭 편차값을 획득할 수 있다. 상기 내용에서 알 수 있듯이, 두 번째 시트에서 시작해 모두 상기 을 통해 카메라 촬영을 트리거할 수 있다. 즉, 이전 촬영 위치에 따라 다시 하나의 표준 시트 폭 을 이송하면 카메라 촬영을 트리거하여 양극 시트 절개 홀과 카메라 교정 위치 편차값, 즉 검출 시트 폭 편차값을 획득할 수 있다.
S115: 상기 검출 시트 폭 편차값과 상기 교정 위치 편차값의 차이값을 계산한다. 상기 차이값은 상기 현재 검출된 양극 시트의 시트 폭 편차값이다.
상기 양극 시트의 시트 폭 편차값은 상기 제1 시트 폭 편차값이다. 예를 들어, 두 번째 양극 시트의 절개 홀이 검출되지 않으면, 상술한 바에 따라 그 검출 시트 폭 편차값 을 획득하고, 그에 대응하는 제1 시트 폭 편차값을 로 계산할 수 있다. 여기에서, 은 카메라에 의해 촬영된 절개 홀 교정 위치에 대응하는 교정 위치 편차값이며, 는 상기 제1 시트 폭 편차값이다.
상술한 내용은 주로 두 가지 방식을 통해 상기 양극 시트의 상기 음극 시트 이송 위치에 대한 보상값을 획득하여, 음극 시트를 양극 시트의 적합한 위치에 거치할 수 있도록 한다.
S12: 음극 시트의 탭 위치 정보를 획득하고, 상기 탭 위치 정보와 상기 음극 시트의 교정 폭에 따라, 상기 음극 시트에 대응하는 제2 시트 폭 편차값을 계산한다.
상기 탭 위치 정보는 음극 시트 상의 탭의 구체적인 위치를 의미한다. 본 출원의 실시예에 있어서, 탭 위치 검출을 통해 상기 음극 시트의 폭을 획득한다. 상기 음극 시트의 교정 폭은 음극 시트 폭의 교정 값을 의미하며, 상기 값은 공정에 따라 설정된다. 상기 제2 시트 폭 편차값은 음극 시트의 시트 폭을 보상하기 위해 사용되는 값을 의미한다.
본 출원의 일 실시예에 있어서, 도 6에 도시된 바와 같이, 상기 탭 위치 정보 및 상기 음극 시트의 교정 폭에 따라, 상기 음극 시트에 대응하는 제2 시트 폭 편차값을 계산하는 단계는 하기 단계를 포함한다.
S121: 센서가 상기 음극 시트의 탭을 검출하면, 각 상기 탭에 대응하는 위치 정보를 기록한다.
S122: 상기 센서에 의해 검출된 탭의 수가 소정 임계값보다 큰 경우, 상기 기록된 탭의 위치 정보에 따라 상기 소정 임계값 시트 수량의 음극 시트의 평균 폭을 계산한다.
S123: 상기 음극 시트의 교정 폭과 상기 평균 폭의 차이값을 계산한다. 상기 차이값은 상기 음극 시트의 시트 폭 편차값이다.
여기에서, 상기 탭에 대응하는 위치 정보는 센서가 검출한 음극 시트 상의 탭의 위치를 의미하며, 구체적으로 센서와 탭의 거리일 수 있다. 상기 소정의 임계값은 시스템에 의해 정의되거나 10 등과 같이 수동으로 설정할 수 있다.
하기 공식에 따라 상기 음극 시트의 평균 폭을 계산할 수 있으며, 공식은 다음과 같다.
여기에서, m은 현재 검출된 음극 시트의 시트 수이고, 은 현재 검출된 m번째 음극 시트의 위치이고, k는 설정된 평균 시트 폭 수이고, 는 (m-k)번째 음극 시트의 위치이다.
음극 시트에 대응하는 센서에서 검출한 음극 시트의 시트 수 m이 k보다 큰지 판단하며, 크다면, 상기 공식에 따라 상기 평균 폭을 계산하여 획득한다.
상기 음극 시트의 시트 폭 편차값은 이고, 는 상기 음극 시트의 교정 폭이다.
본 출원의 일 실시예에 있어서, 한 세트의 음극 시트의 탭 위치 정보에 따라 음극 시트의 폭을 획득한다. 예를 들어, 5 내지 10개 음극 시트가 한 세트이다. 평균을 구하는 방식을 통해 음극 시트의 폭을 보다 정확하게 결정할 수 있으며, 후속적으로 음극 시트의 시트 폭 편차값을 계산할 때에도 더욱 정확하여, 음극 시트의 시트 폭을 정확하게 보상할 수 있다. 음극 시트의 시트 폭을 계산하는 방식은 상술한 평균을 구하는 방식에 한정되지 않음에 유의한다. 보간법 등과 같은 다른 계산 방식을 채택할 수도 있다.
본 출원의 실시예에서는 음극 시트 탭을 통해 음극 시트의 시트 폭을 균일하게 보상하여, 음극 시트의 시트 폭의 일관성을 잘 유지한다. 또한 음극 시트에 대해 넓은 동적 조정을 수행할 때, 탭 전위 제어를 구현하고 탭 전위를 교정할 수도 있다.
S13: 상기 양극 시트와 상기 음극 시트에 대해 시트 적층 처리를 수행할 때, 상기 제1 시트 폭 편차값에 따라 상기 음극 시트의 시트 이송 위치를 조절하고, 상기 제2 시트 폭 편차값에 따라 상기 음극 시트의 시트 절개 폭을 보상하여, 중첩된 상기 음극 시트와 상기 양극 시트의 에지를 소정 거리로 유지시킨다.
상기 시트 적층 처리는 상기 시트 적층기 등 디바이스를 통해 양극 시트와 음극 시트를 분리하고 순차적으로 적층하여 이를 셀로 형성하는 과정을 의미한다. 이 과정에서 상기의 계산하여 획득한 제1 시트 폭 편차값에 따라 음극 시트 이송 위치를 결정할 수 있다. 구체적으로 첫 번째 양극 시트의 제1 시트 폭 편차값 대 두 번째 음극 시트의 시트 이송 위치를 결정하고, 두 번째 양극 시트의 제1 시트 폭 편차값 대 세 번째 음극 시트의 시트 이송 위치를 결정하며, 이와 같은 방식으로 순차 진행한다. 상기 제2 시트 폭 편차값은 음극 시트의 시트 절개 폭을 보상하는 데 사용된다. 설정된 음극 시트의 시트 절개 폭이 좁으면, 상기 제2 시트 폭 편차값을 증가시키고, 설정한 음극 시트의 시트 절개 폭이 넓으면, 상기 제2 시트 폭 편차값을 감소시킨다. 각 음극 시트의 시트 폭을 각각 보상할 수 있다. 여기에서, 상술한 시트 이송 위치 조정 과정과 음극 시트의 시트 폭 보상 과정은 동시에 수행될 수 있다. 여기에서는 그 실행 순서를 한정하지 않는다.
여기에서, 중첩된 상기 음극 시트와 상기 양극 시트의 에지는 소정 거리를 유지한다. 즉, 중첩 거치된 음극 시트의 에지와 양극 시트의 에지는 소정 거리의 전위를 가지며, 상기 소정 거리는 일 수 있다.
본 출원의 실시예는 전극 시트 전위 제어 방법을 제공한다. 이는 중첩된 음극 시트와 양극 시트의 에지를 소정 거리로 유지하여, 음극 시트와 양극 시트 전위 불량을 방지함으로써, 셀의 수율을 향상시킨다. 또한, 본 출원 실시예에서의 보상 방식은 각각의 음극 시트를 각각 보상하는 것으로, 각 음극 시트에 대해 차동 편차 보상을 수행하여, 음극 시트의 시트 폭이 우수한 일관성을 유지하도록 할 수 있다. 마지막으로 음극 시트에 대해 넓은 동적 범위 조정을 수행할 때, 탭 전위 제어를 구현하고 탭 전위를 교정할 수도 있다.
도 7에 도시된 바와 같이, 도 7은 본 출원의 실시예에 따른 전극 시트 전위 제어 장치의 구조도이다. 상기 전극 시트 전위 제어 장치(40)는 제1 계산 모듈(41), 제2 계산 모듈(42) 및 전극 시트 전위 처리 모듈(43)을 포함한다.
제1 계산 모듈(41)은 양극 시트의 절개 홀 위치 정보를 획득하고, 상기 절개 홀 위치 정보와 상기 양극 시트의 교정 폭에 따라 상기 양극 시트에 대응하는 제1 시트 폭 편차값을 계산하는 데 사용된다. 제2 계산 모듈(42)은 음극 시트의 탭 위치 정보를 획득하고, 상기 탭 위치 정보와 상기 음극 시트의 교정 폭에 따라, 상기 음극 시트에 대응하는 제2 시트 폭 편차값을 계산하는 데 사용된다. 전극 시트 전위 처리 모듈(43)은 상기 양극 시트와 상기 음극 시트에 대해 시트 적층 처리를 수행할 때, 상기 제1 시트 폭 편차값에 따라 상기 음극 시트의 시트 이송 위치를 조절하고, 상기 제2 시트 폭 편차값에 따라 상기 음극 시트의 시트 절개 폭을 보상하여, 중첩된 상기 음극 시트와 상기 양극 시트의 에지가 소정 거리를 유지하는 데 사용된다.
여기에서, 제1 계산 모듈(41)은 제1 계산 유닛(411)을 포함한다. 상기 제1 계산 유닛(411)은 센서에서 양극 시트의 절개 홀을 검출하면, 인접한 2개의 상기 양극 시트의 절개 홀의 거리에 따라 상기 인접한 2개의 양극 시트 중 이전 양극 시트의 검출 폭을 획득하고, 상기 검출 폭과 상기 양극 시트의 교정 폭에 따라 상기 이전 양극 시트의 시트 폭 편차값을 계산하는 데 사용된다.
일부 실시예에 있어서, 제1 계산 모듈(41)은 제1 획득 유닛(412), 제2 획득 유닛(413) 및 제2 계산 유닛(414)을 더 포함한다. 상기 제1 획득 유닛(412)은 카메라에서 촬영한 절개 홀 교정 위치에 대응하는 교정 위치 편차값을 획득하는 데 사용된다. 상기 제2 획득 유닛(413)은 상기 센서에서 양극 시트 절개 홀을 검출하지 않았고 현재 검출된 양극 시트가 카메라 촬영 조건을 충족하는 경우, 상기 현재 검출된 양극 시트의 절개 자국 이미지를 획득하고, 상기 절개 자국 이미지에 따라 상기 현재 검출된 양극 시트의 검출 시트 폭 편차값을 획득하는 데 사용된다. 상기 제2 계산 유닛(414)은 상기 검출 시트 폭 편차값과 상기 교정 위치 편차값의 차이값을 계산하는 데 사용된다. 상기 차이값은 상기 현재 검출된 양극 시트의 시트 폭 편차값이다. 여기에서, 제1 획득 유닛(412)은 구체적으로 센서에서 양극 시트 절개 홀을 처음 검출하고 카메라 촬영 조건을 충족하는 경우, 상기 절개 홀에 대응하는 절개 자국 이미지를 획득하고, 상기 절개 자국 이미지와 상기 양극 시트 절개 홀의 교정 위치에 따라, 교정 위치 편차값을 획득하는 데 사용된다.
여기에서, 센서가 양극 시트 절개 홀을 처음 검출한 경우, 상기 카메라 촬영 조건을 충족하는 단계는, 상기 센서와 상기 카메라의 제1 거리를 획득하는 단계; 상기 센서가 양극 시트 절개 홀을 처음 검출할 때의 위치 정보를 획득하는 단계 - 상기 위치 정보는 제2 거리를 포함함 - ; 및 상기 카메라가 현재 촬영하는 절개 홀의 위치 정보에 대응하는 거리와 상기 제1 거리, 상기 제2 거리의 합이 동일할 때, 카메라 촬영 조건을 충족한다고 결정하는 단계를 포함한다.
여기에서, 센서가 양극 시트 절개 홀을 처음 검출한 것이 아닐 때, 카메라 촬영 조건을 충족하는 상기 단계는, 현재 양극 시트 절개 홀에 대응하는 이전에 검출된 양극 시트 절개 홀의 절개 자국 이미지를 획득하는 단계 - 상기 이전에 검출된 양극 시트 절개 홀의 절개 자국 이미지는 제1 절개 자국 거리를 포함함 - ; 상기 현재 양극 시트 절개 홀의 절개 자국 이미지를 획득하는 단계 - 상기 현재 양극 시트 절개 홀의 절개 자국 이미지는 제2 절개 자국 거리를 포함함 - ; 및 상기 제2 절개 자국 거리와 상기 제1 절개 자국 거리, 상기 양극 시트의 교정 폭의 합이 동일하면, 카메라 촬영 조건을 충족한다고 결정하는 단계를 포함한다.
여기에서, 상기 제2 계산 모듈(42)은 구체적으로, 센서가 상기 음극 시트의 탭을 검출한 경우, 각각의 상기 탭에 대응하는 위치 정보를 기록하고; 상기 센서에 의해 검출된 탭의 수량이 소정 임계값보다 큰 경우, 상기 기록된 탭의 위치 정보에 따라 상기 소정 임계값 시트 수량의 음극 시트의 평균 폭을 계산하고; 및 상기 음극 시트의 교정 폭과 상기 평균 폭의 차이값을 계산하는 데 - 상기 차이값은 상기 음극 시트의 시트 폭 편차값임 - 사용된다.
상기 전극 시트 전위 제어 장치는 본 발명의 실시예에 의해 제공되는 전극 시트 전위 제어 방법을 실행할 수 있고, 방법을 실행하기 위한 상응하는 기능 모듈 및 유익한 효과를 갖는다는 점에 유의해야 한다. 전극 시트 전위 제어 장치 실시예에서 상세하게 설명하지 않은 기술적인 내용은 본 발명의 실시예에서 제공되는 전극 시트 전위 제어 방법을 참조한다.
본 출원의 실시예는 전극 시트를 제공한다. 상기 전극 시트는 양극 시트 및 음극 시트를 포함한다. 상기 양극 시트와 상기 음극 시트는 상술한 바와 같은 전극 시트 전위 제어 방법을 통해 전위 처리를 수행하여, 중첩된 상기 음극 시트와 상기 양극 시트의 에지가 소정 거리를 유지하도록 한다. 본 출원의 실시예에 의해 제공되는 전극 시트는 양극 시트에서 음극 시트의 정확한 위치를 보장하고, 전극 시트의 수율을 향상시킬 수 있다.
본 출원의 실시예는 셀을 제공한다. 상기 셀은 분리막 및 상술한 실시예의 전극 시트를 포함한다. 상기 셀은 높은 수율, 강한 안정성 등의 장점이 있다.
본 출원의 실시예는 전해질, 패키지 하우징 및 상기 셀을 포함하는 배터리를 제공한다. 상기 배터리는 높은 수율, 강한 안정성 등의 장점이 있다.
마지막으로, 상술한 실시예는 본 출원의 기술적 해결책을 설명하기 위해 사용된 것일 뿐이며 제한하려는 것은 아니다. 본 출원의 사상 하에서, 상기 실시예 또는 상이한 실시예의 기술적 특징은 조합될 수도 있다. 단계는 임의의 순서로 수행될 수 있고, 상술한 바와 같은 본 발명의 상이한 측면에서 다양한 변화가 존재할 수 있다. 간결함을 위해, 이는 상세하게 제공되지 않았다. 전술한 실시예를 참조하여 본 출원을 상세하게 설명하였으나, 당업계의 통상의 기술자는, 전술한 각 실시예에 기재된 기술적 해결책을 수정하거나, 그 중 일부 기술적 특징에 대해 등가의 치환을 수행할 수도 있음을 이해할 수 있다. 이러한 수정 또는 치환은 상응하는 기술적 해결책의 본질이 본 출원 각 실시예의 기술적 해결책의 범위를 벗어나게 만들지 않는다.

Claims (18)

  1. 전극 시트 전위 제어 방법에 있어서,
    상기 방법은,
    양극 시트의 절개 홀 위치 정보를 획득하고, 상기 절개 홀 위치 정보와 상기 양극 시트의 교정 폭에 따라, 상기 양극 시트에 대응하는 제1 시트 폭 편차값을 계산하는 단계;
    음극 시트의 탭 위치 정보를 획득하고, 상기 탭 위치 정보와 상기 음극 시트의 교정 폭에 따라, 상기 음극 시트에 대응하는 제2 시트 폭 편차값을 계산하는 단계; 및
    상기 양극 시트와 상기 음극 시트에 대해 시트 적층 처리를 수행할 때, 상기 제1 시트 폭 편차값에 따라 상기 음극 시트의 시트 이송 위치를 조절하고, 상기 제2 시트 폭 편차값에 따라 상기 음극 시트의 시트 절개 폭을 보상하여, 중첩된 상기 음극 시트와 상기 양극 시트의 에지가 소정 거리를 유지하도록 하는 단계; 를 포함하는 것을 특징으로 하는 전극 시트 전위 제어 방법.
  2. 제1항에 있어서,
    상기 절개 홀 위치 정보와 상기 양극 시트의 교정 폭에 따라, 상기 양극 시트에 대응하는 제1 시트 폭 편차값을 계산하는 상기 단계는,
    센서에서 양극 시트의 절개 홀을 검출하면, 인접한 2개의 상기 양극 시트의 절개 홀의 거리에 따라 상기 인접한 2개의 양극 시트 중 이전 양극 시트의 검출 폭을 획득하고, 상기 검출 폭과 상기 양극 시트의 교정 폭에 따라 상기 이전 양극 시트의 시트 폭 편차값을 계산하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 전극 시트 전위 제어 방법.
  3. 제2항에 있어서,
    상기 방법은,
    카메라에서 촬영한 절개 홀 교정 위치에 대응하는 교정 위치 편차값을 획득하는 단계;
    상기 센서에서 양극 시트 절개 홀을 검출하지 않았고 현재 검출된 양극 시트가 카메라 촬영 조건을 충족하는 경우, 상기 현재 검출된 양극 시트의 절개 자국 이미지를 획득하고, 상기 절개 자국 이미지에 따라 현재 검출된 양극 시트의 검출 시트 폭 편차값을 획득하는 단계; 및
    상기 검출 시트 폭 편차값과 상기 교정 위치 편차값의 차이값을 계산하는 단계 - 상기 차이값은 상기 현재 검출된 양극 시트의 시트 폭 편차값임 - 를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 전극 시트 전위 제어 방법.
  4. 제3항에 있어서,
    카메라에서 촬영한 절개 홀 교정 위치에 대응하는 교정 위치 편차값을 획득하는 상기 단계는,
    센서에서 양극 시트 절개 홀을 처음 검출하고 카메라 촬영 조건을 충족하는 경우, 상기 절개 홀에 대응하는 절개 자국 이미지를 획득하고, 상기 절개 자국 이미지와 상기 양극 시트 절개 홀의 교정 위치에 따라, 교정 위치 편차값을 획득하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 전극 시트 전위 제어 방법.
  5. 제4항에 있어서,
    센서가 양극 시트 절개 홀을 처음 검출한 경우, 카메라 촬영 조건을 충족하는 상기 단계는,
    상기 센서와 상기 카메라의 제1 거리를 획득하는 단계;
    상기 센서가 양극 시트 절개 홀을 처음 검출할 때의 위치 정보를 획득하는 단계 - 상기 위치 정보는 제2 거리를 포함함 - ; 및
    상기 카메라가 현재 촬영하는 절개 홀의 위치 정보에 대응하는 거리와 상기 제1 거리, 제2 거리의 합이 동일할 때, 카메라 촬영 조건을 충족한다고 결정하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 전극 시트 전위 제어 방법.
  6. 제3항에 있어서,
    센서가 양극 시트 절개 홀을 처음 검출한 것이 아닐 때, 카메라 촬영 조건을 충족하는 상기 단계는,
    현재 양극 시트 절개 홀에 대응하는 이전에 검출된 양극 시트 절개 홀의 절개 자국 이미지를 획득하는 단계 - 상기 이전에 검출된 양극 시트 절개 홀의 절개 자국 이미지는 제1 절개 자국 거리를 포함함 - ;
    상기 현재 양극 시트 절개 홀의 절개 자국 이미지를 획득하는 단계 - 상기 현재 양극 시트 절개 홀의 절개 자국 이미지는 제2 절개 자국 거리를 포함함 - ; 및
    상기 제2 절개 자국 거리와 상기 제1 절개 자국 거리, 상기 양극 시트의 교정 폭의 합이 동일하면, 카메라 촬영 조건을 충족한다고 결정하는 단계;를 포함하는 것을 특징으로 하는 전극 시트 전위 제어 방법.
  7. 제1항 내지 제6항 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 탭 위치 정보와 상기 음극 시트의 교정 폭에 따라, 상기 음극 시트에 대응하는 제2 시트 폭 편차값을 계산하는 상기 단계는,
    센서가 상기 음극 시트의 탭을 검출한 경우, 각각의 상기 탭에 대응하는 위치 정보를 기록하는 단계;
    상기 센서에 의해 검출된 탭의 수량이 소정 임계값보다 큰 경우, 상기 기록된 탭의 위치 정보에 따라 상기 소정 임계값 시트 수량의 음극 시트의 평균 폭을 계산하는 단계; 및
    상기 음극 시트의 교정 폭과 상기 평균 폭의 차이값을 계산하는 단계 - 상기 차이값은 상기 음극 시트의 시트 폭 편차값임 - 를 포함하는 것을 특징으로 하는 전극 시트 전위 제어 방법.
  8. 전극 시트 전위 제어 장치에 있어서,
    상기 장치는,
    양극 시트의 절개 홀 위치 정보를 획득하고, 상기 절개 홀 위치 정보와 상기 양극 시트의 교정 폭에 따라, 상기 양극 시트에 대응하는 제1 시트 폭 편차값을 계산하는 데 사용되는 제1 계산 모듈;
    음극 시트의 탭 위치 정보를 획득하고, 상기 탭 위치 정보와 상기 음극 시트의 교정 폭에 따라, 상기 음극 시트에 대응하는 제2 시트 폭 편차값을 계산하는 데 사용되는 제2 계산 모듈; 및
    상기 양극 시트와 상기 음극 시트에 대해 시트 적층 처리를 수행할 때, 상기 제1 시트 폭 편차값에 따라 상기 음극 시트의 시트 이송 위치를 조절하고, 상기 제2 시트 폭 편차값에 따라 상기 음극 시트의 시트 절개 폭을 보상하는 데 사용되어, 중첩된 상기 음극 시트와 상기 양극 시트의 에지가 소정 거리를 유지하는 데 사용되는 전극 시트 전위 처리 모듈; 을 포함하는 것을 특징으로 하는 전극 시트 전위 제어 장치.
  9. 제8항에 있어서,
    상기 제1 계산 모듈은,
    센서에서 양극 시트의 절개 홀을 검출하면, 인접한 2개의 상기 양극 시트의 절개 홀의 거리에 따라 상기 인접한 2개의 양극 시트 중 이전 양극 시트의 검출 폭을 획득하고, 상기 검출 폭과 상기 양극 시트의 교정 폭에 따라 상기 이전 양극 시트의 시트 폭 편차값을 계산하는 데 사용되는 제1 계산 유닛을 포함하는 것을 특징으로 하는 전극 시트 전위 제어 장치.
  10. 제9항에 있어서,
    상기 제1 계산 모듈은,
    카메라에서 촬영한 절개 홀 교정 위치에 대응하는 교정 위치 편차값을 획득하는 데 사용되는 제1 획득 유닛;
    상기 센서에서 양극 시트 절개 홀을 검출하지 않았고 현재 검출된 양극 시트가 카메라 촬영 조건을 충족하는 경우, 상기 현재 검출된 양극 시트의 절개 자국 이미지를 획득하고, 상기 절개 자국 이미지에 따라 상기 현재 검출된 양극 시트의 검출 시트 폭 편차값을 획득하는 데 사용되는 제2 획득 유닛; 및
    상기 검출 시트 폭 편차값과 상기 교정 위치 편차값의 차이값을 계산하는 데 사용되는 제2 계산 유닛 - 상기 차이값은 상기 현재 검출된 양극 시트의 시트 폭 편차값임 - 을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 전극 시트 전위 제어 장치.
  11. 제10항에 있어서,
    상기 제1 획득 유닛은 구체적으로,
    센서에서 양극 시트 절개 홀을 처음 검출하고 카메라 촬영 조건을 충족하는 경우, 상기 절개 홀에 대응하는 절개 자국 이미지를 획득하고, 상기 절개 자국 이미지와 상기 양극 시트 절개 홀의 교정 위치에 따라, 교정 위치 편차값을 획득하는 데 사용되는 것을 특징으로 하는 전극 시트 전위 제어 장치.
  12. 제11항에 있어서,
    센서가 양극 시트 절개 홀을 처음 검출한 경우, 카메라 촬영 조건을 충족하는 상기 단계는,
    상기 센서와 상기 카메라의 제1 거리를 획득하는 단계;
    상기 센서가 양극 시트 절개 홀을 처음 검출할 때의 위치 정보를 획득하는 단계 - 상기 위치 정보는 제2 거리를 포함함 - ; 및
    상기 카메라가 현재 촬영하는 절개 홀의 위치 정보에 대응하는 거리와 상기 제1 거리, 제2 거리의 합이 동일할 때, 카메라 촬영 조건을 충족한다고 결정하는 단계; 를 포함하는 것을 특징으로 하는 전극 시트 전위 제어 장치.
  13. 제10항에 있어서,
    센서가 양극 시트 절개 홀을 처음 검출한 것이 아닐 때, 카메라 촬영 조건을 충족하는 상기 단계는,
    현재 양극 시트 절개 홀에 대응하는 이전에 검출된 양극 시트 절개 홀의 절개 자국 이미지를 획득하는 단계 - 상기 이전에 검출된 양극 시트 절개 홀의 절개 자국 이미지는 제1 절개 자국 거리를 포함함 - ;
    상기 현재 양극 시트 절개 홀의 절개 자국 이미지를 획득하는 단계 - 상기 현재 양극 시트 절개 홀의 절개 자국 이미지는 제2 절개 자국 거리를 포함함 - ; 및
    상기 제2 절개 자국 거리와 상기 제1 절개 자국 거리, 상기 양극 시트의 교정 폭의 합이 동일하면, 카메라 촬영 조건을 충족한다고 결정하는 단계; 를 포함하는 것을 특징으로 하는 전극 시트 전위 제어 장치.
  14. 제8항 내지 제13항 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 제2 계산 모듈은 구체적으로,
    센서가 상기 음극 시트의 탭을 검출한 경우, 각각의 상기 탭에 대응하는 위치 정보를 기록하고;
    상기 센서에 의해 검출된 탭의 수량이 소정 임계값보다 큰 경우, 상기 기록된 탭의 위치 정보에 따라 상기 소정 임계값 시트 수량의 음극 시트의 평균 폭을 계산하고; 및
    상기 음극 시트의 교정 폭과 상기 평균 폭의 차이값을 계산하는 데 - 상기 차이값은 상기 음극 시트의 시트 폭 편차값임 - 사용되는 것을 특징으로 하는 전극 시트 전위 제어 장치.
  15. 전극 시트 전위 제어 장치에 있어서,
    상기 장치는 센서, 카메라 및 컨트롤러를 포함하고, 상기 컨트롤러는 상기 센서 및 상기 카메라와 각각 연결되고;
    상기 센서는 양극 시트의 절개 홀 위치 정보 및 음극 시트의 탭 위치 정보를 검출하는 데 사용되고;
    상기 카메라는 양극 시트에 대응하는 절개 자국 이미지를 촬영하는 데 사용되고;
    상기 컨트롤러는,
    적어도 하나의 프로세서, 및 상기 적어도 하나의 프로세서와 통신 가능하도록 연결된 메모리를 포함하고, 상기 메모리에는 상기 적어도 하나의 프로세서에 의해 실행되는 명령이 저장되고, 상기 명령은 상기 적어도 하나의 프로세서에 의해 실행되어, 상기 적어도 하나의 프로세서가 상기 절개 홀 위치 정보, 상기 탭 위치 정보 및 상기 절개 자국 이미지를 기반으로 제1항 내지 제7항 중 어느 한 항에 따른 전극 시트 전위 제어 방법을 구현하도록 하는 것을 특징으로 하는 전극 시트 전위 제어 장치.
  16. 전극 시트에 있어서,
    상기 전극 시트는 양극 시트 및 음극 시트를 포함하고, 상기 양극 시트와 상기 음극 시트는 제1항 내지 제7항 중 어느 한 항에 따른 전극 시트 전위 제어 방법을 통해 전위 처리를 수행하여, 중첩된 상기 음극 시트와 상기 양극 시트의 에지가 소정 거리를 유지하도록 하는 것을 특징으로 하는 전극 시트.
  17. 셀에 있어서,
    분리막, 제16항에 따른 양극 시트 및 음극 시트를 포함하는 것을 특징으로 하는 셀.
  18. 배터리에 있어서,
    전해질, 패키지 하우징 및 제17항에 따른 셀을 포함하는 것을 특징으로 하는 배터리.
KR1020247007361A 2022-01-14 2022-01-14 전극 시트 전위 제어 방법, 장치, 전극 시트, 셀, 배터리 KR20240035913A (ko)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
PCT/CN2022/072060 WO2023133809A1 (zh) 2022-01-14 2022-01-14 极片错位控制方法、装置、极片、电芯、电池

Publications (1)

Publication Number Publication Date
KR20240035913A true KR20240035913A (ko) 2024-03-18

Family

ID=87280065

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020247007361A KR20240035913A (ko) 2022-01-14 2022-01-14 전극 시트 전위 제어 방법, 장치, 전극 시트, 셀, 배터리

Country Status (4)

Country Link
EP (1) EP4362150A1 (ko)
KR (1) KR20240035913A (ko)
CN (1) CN116941080A (ko)
WO (1) WO2023133809A1 (ko)

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN117733374B (zh) * 2024-02-07 2024-05-10 蔚来电池科技(安徽)有限公司 极片分切设备及极片分切设备的控制方法
CN117781914A (zh) * 2024-02-28 2024-03-29 宁德时代新能源科技股份有限公司 极耳错位检测系统及方法

Family Cites Families (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH07326367A (ja) * 1994-05-31 1995-12-12 Toshiba Battery Co Ltd 積層型スパイラル構造の巻きずれ良否判別方法および良否判別装置
CN205333066U (zh) * 2015-12-15 2016-06-22 宁德时代新能源科技股份有限公司 一种极片错位检测系统
CN109444145A (zh) * 2018-08-31 2019-03-08 广州超音速自动化科技股份有限公司 极片制片贴胶和极片纠偏检测方法、设备、介质及系统
CN109390636B (zh) * 2018-08-31 2021-06-04 广州超音速自动化科技股份有限公司 自动卷绕机极片纠偏方法、电子设备、存储介质及系统
CN109585902A (zh) * 2018-12-24 2019-04-05 江苏塔菲尔新能源科技股份有限公司 可调节极耳错位的电芯卷绕系统和方法
CN112310568B (zh) * 2019-09-24 2022-09-23 宁德时代新能源科技股份有限公司 极耳错位调整方法以及装置

Also Published As

Publication number Publication date
WO2023133809A1 (zh) 2023-07-20
CN116941080A (zh) 2023-10-24
EP4362150A1 (en) 2024-05-01

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR20240035913A (ko) 전극 시트 전위 제어 방법, 장치, 전극 시트, 셀, 배터리
US8397372B2 (en) Electrode winding apparatus
CN107681202B (zh) 一种ccd反馈纠偏闭环控制方法、控制装置及控制系统
CN114549531A (zh) 一种锂电池卷绕OverHang对中纠偏控制系统及方法
CN115872209B (zh) 一种自动对中的ccd闭环纠偏控制系统
US11736800B2 (en) Method, apparatus, and device for image capture, and storage medium
EP4332555A1 (en) Electrode sheet wrinkling detection apparatus and battery cell production equipment
CN113526066B (zh) 极片加工纠偏方法、纠偏装置和计算机可读存储介质
WO2023217040A1 (zh) 一种纠偏装置和卷绕机
CN117213372A (zh) 极片检测方法及系统
US20240199359A1 (en) Material strip feeding detection method and apparatus for stacking machine, stacking machine, device, and medium
US11933598B2 (en) Deviation detection method and deviation detection device
KR20240032094A (ko) 극편 표면 접착 검출 방법, 장치, 설비 및 극편 접착기
US8134800B2 (en) Stop position adjusting device and stop position adjusting method for accessor mechanism
CN112249795B (zh) 贴胶工序实时校正方法、装置、电子设备及可读存储介质
US20240039031A1 (en) Deviation detection method and deviation detection device
CN115578462B (zh) 应用于显示屏光学薄膜自动对贴的机器视觉定位控制系统
CN115631110A (zh) 对位方法、对位系统和装置、计算机设备、存储介质
CN113824939B (zh) 投影图像调节方法、装置、投影设备及存储介质
CN117133961A (zh) 纠偏方法、装置、叠片机和存储介质
WO2023124726A1 (zh) Ccd拍照检测的运行控制方法、检测系统及存储介质
WO2017031644A1 (zh) 涂膜错位处理方法、装置及系统
CN115763995A (zh) 电池电芯的叠片方法、装置、设备及存储介质
WO2023197167A1 (zh) 一种控制方法及叠片系统
CN114851202A (zh) 碰撞检测方法、控制方法、抓取系统及计算机存储介质

Legal Events

Date Code Title Description
A302 Request for accelerated examination
E902 Notification of reason for refusal