KR20240003435A - 위상 시프트 마스크 블랭크, 위상 시프트 마스크, 노광방법, 및 디바이스의 제조 방법 - Google Patents
위상 시프트 마스크 블랭크, 위상 시프트 마스크, 노광방법, 및 디바이스의 제조 방법 Download PDFInfo
- Publication number
- KR20240003435A KR20240003435A KR1020237027182A KR20237027182A KR20240003435A KR 20240003435 A KR20240003435 A KR 20240003435A KR 1020237027182 A KR1020237027182 A KR 1020237027182A KR 20237027182 A KR20237027182 A KR 20237027182A KR 20240003435 A KR20240003435 A KR 20240003435A
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- phase shift
- layer
- shift mask
- mask blank
- shift layer
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03F—PHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
- G03F1/00—Originals for photomechanical production of textured or patterned surfaces, e.g., masks, photo-masks, reticles; Mask blanks or pellicles therefor; Containers specially adapted therefor; Preparation thereof
- G03F1/26—Phase shift masks [PSM]; PSM blanks; Preparation thereof
- G03F1/32—Attenuating PSM [att-PSM], e.g. halftone PSM or PSM having semi-transparent phase shift portion; Preparation thereof
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Preparing Plates And Mask In Photomechanical Process (AREA)
- Physical Vapour Deposition (AREA)
Applications Claiming Priority (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JPJP-P-2021-077848 | 2021-04-30 | ||
| JP2021077848 | 2021-04-30 | ||
| PCT/JP2022/017946 WO2022230694A1 (ja) | 2021-04-30 | 2022-04-15 | 位相シフトマスクブランクス、位相シフトマスク、露光方法、及びデバイスの製造方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| KR20240003435A true KR20240003435A (ko) | 2024-01-09 |
Family
ID=83848108
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| KR1020237027182A Pending KR20240003435A (ko) | 2021-04-30 | 2022-04-15 | 위상 시프트 마스크 블랭크, 위상 시프트 마스크, 노광방법, 및 디바이스의 제조 방법 |
Country Status (5)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPWO2022230694A1 (https=) |
| KR (1) | KR20240003435A (https=) |
| CN (1) | CN116670583A (https=) |
| TW (1) | TW202303260A (https=) |
| WO (1) | WO2022230694A1 (https=) |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2011013283A (ja) | 2009-06-30 | 2011-01-20 | Ulvac Seimaku Kk | 位相シフトマスクの製造方法、フラットパネルディスプレイの製造方法及び位相シフトマスク |
Family Cites Families (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH08297357A (ja) * | 1995-04-25 | 1996-11-12 | Toppan Printing Co Ltd | エッジ強調型位相シフトマスクの製造方法 |
| JP3037941B2 (ja) * | 1997-12-19 | 2000-05-08 | ホーヤ株式会社 | ハーフトーン型位相シフトマスク及びハーフトーン型位相シフトマスクブランク |
| JP3988041B2 (ja) * | 2002-10-08 | 2007-10-10 | 信越化学工業株式会社 | ハーフトーン位相シフトマスクブランク及びその製造方法 |
| JP4324778B2 (ja) * | 2003-11-21 | 2009-09-02 | 信越化学工業株式会社 | 位相シフトマスクブランク、位相シフトマスク、位相シフトマスクブランクの製造方法、及びパターン転写方法 |
| JP2005284216A (ja) * | 2004-03-31 | 2005-10-13 | Shin Etsu Chem Co Ltd | 成膜用ターゲット及び位相シフトマスクブランクの製造方法 |
| JP6891099B2 (ja) * | 2017-01-16 | 2021-06-18 | Hoya株式会社 | 位相シフトマスクブランクおよびこれを用いた位相シフトマスクの製造方法、並びに表示装置の製造方法 |
| JP7073246B2 (ja) * | 2018-02-27 | 2022-05-23 | Hoya株式会社 | 位相シフトマスクブランク、位相シフトマスクの製造方法、及び表示装置の製造方法 |
-
2022
- 2022-04-15 JP JP2023517448A patent/JPWO2022230694A1/ja active Pending
- 2022-04-15 KR KR1020237027182A patent/KR20240003435A/ko active Pending
- 2022-04-15 WO PCT/JP2022/017946 patent/WO2022230694A1/ja not_active Ceased
- 2022-04-15 CN CN202280008221.6A patent/CN116670583A/zh active Pending
- 2022-04-20 TW TW111115050A patent/TW202303260A/zh unknown
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2011013283A (ja) | 2009-06-30 | 2011-01-20 | Ulvac Seimaku Kk | 位相シフトマスクの製造方法、フラットパネルディスプレイの製造方法及び位相シフトマスク |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| WO2022230694A1 (ja) | 2022-11-03 |
| JPWO2022230694A1 (https=) | 2022-11-03 |
| CN116670583A (zh) | 2023-08-29 |
| TW202303260A (zh) | 2023-01-16 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| KR102756698B1 (ko) | 위상 시프트 마스크 블랭크, 위상 시프트 마스크의 제조 방법, 및 표시 장치의 제조 방법 | |
| JP7371198B2 (ja) | フォトマスクブランク、フォトマスクの製造方法及び表示装置の製造方法 | |
| TWI902765B (zh) | 光罩基底、光罩基底之製造方法、光罩之製造方法及顯示裝置之製造方法 | |
| KR102894571B1 (ko) | 마스크 블랭크, 전사용 마스크의 제조 방법 및 표시 장치의 제조 방법 | |
| TWI828864B (zh) | 光罩基底、光罩之製造方法、及顯示裝置之製造方法 | |
| KR102738728B1 (ko) | 위상 시프트 마스크 블랭크, 위상 시프트 마스크의 제조 방법, 및 표시 장치의 제조 방법 | |
| CN115145110B (zh) | 光掩模坯料、光掩模的制造方法、及显示装置的制造方法 | |
| KR20240003435A (ko) | 위상 시프트 마스크 블랭크, 위상 시프트 마스크, 노광방법, 및 디바이스의 제조 방법 | |
| KR20230114714A (ko) | 마스크 블랭크, 전사용 마스크, 전사용 마스크의 제조 방법 및 표시 장치의 제조 방법 | |
| JP2023077629A (ja) | マスクブランク、転写用マスク、マスクブランクの製造方法、転写用マスクの製造方法、及び表示装置の製造方法 | |
| KR20240157742A (ko) | 위상 시프트 마스크 블랭크, 위상 시프트 마스크, 및 그들의 제조 방법 | |
| KR20240137470A (ko) | 마스크 블랭크, 전사용 마스크, 전사용 마스크의 제조 방법 및 표시 장치의 제조 방법 | |
| KR20240085859A (ko) | 마스크 블랭크, 전사용 마스크, 전사용 마스크의 제조 방법 및 표시 장치의 제조 방법 | |
| CN111624848B (zh) | 光掩模坯料、光掩模的制造方法、及显示装置的制造方法 | |
| WO2024190208A1 (ja) | フォトマスクブランクス、フォトマスク、フォトマスクブランクスの製造方法、フォトマスクの製造方法、及びデバイスの製造方法 | |
| JP7151774B2 (ja) | 位相シフトマスクブランクス、位相シフトマスク、露光方法、デバイスの製造方法、位相シフトマスクブランクスの製造方法、位相シフトマスクの製造方法、露光方法、及び、デバイスの製造方法 | |
| KR20240100256A (ko) | 마스크 블랭크, 전사용 마스크, 전사용 마스크의 제조 방법 및 표시 장치의 제조 방법 | |
| KR20250142766A (ko) | 마스크 블랭크, 전사용 마스크 및 표시 장치의 제조 방법 | |
| JP7254470B2 (ja) | 位相シフトマスクブランク、位相シフトマスクの製造方法、及び表示装置の製造方法 | |
| JP2023108276A (ja) | マスクブランク、転写用マスク、転写用マスクの製造方法、及び表示装置の製造方法 | |
| JP2023108598A (ja) | マスクブランク、転写用マスク、転写用マスクの製造方法、及び表示装置の製造方法 | |
| JP2022083394A (ja) | 位相シフトマスクブランク、位相シフトマスクの製造方法及び表示装置の製造方法 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| PA0105 | International application |
St.27 status event code: A-0-1-A10-A15-nap-PA0105 |
|
| P11-X000 | Amendment of application requested |
St.27 status event code: A-2-2-P10-P11-nap-X000 |
|
| P13-X000 | Application amended |
St.27 status event code: A-2-2-P10-P13-nap-X000 |
|
| PG1501 | Laying open of application |
St.27 status event code: A-1-1-Q10-Q12-nap-PG1501 |
|
| R18-X000 | Changes to party contact information recorded |
St.27 status event code: A-3-3-R10-R18-oth-X000 |
|
| A201 | Request for examination | ||
| PA0201 | Request for examination |
St.27 status event code: A-1-2-D10-D11-exm-PA0201 |
|
| D21 | Rejection of application intended |
Free format text: ST27 STATUS EVENT CODE: A-1-2-D10-D21-EXM-PE0902 (AS PROVIDED BY THE NATIONAL OFFICE) |
|
| PE0902 | Notice of grounds for rejection |
St.27 status event code: A-1-2-D10-D21-exm-PE0902 |
|
| E13 | Pre-grant limitation requested |
Free format text: ST27 STATUS EVENT CODE: A-2-3-E10-E13-LIM-X000 (AS PROVIDED BY THE NATIONAL OFFICE) |
|
| E13-X000 | Pre-grant limitation requested |
St.27 status event code: A-2-3-E10-E13-lim-X000 |
|
| P11 | Amendment of application requested |
Free format text: ST27 STATUS EVENT CODE: A-2-2-P10-P11-NAP-X000 (AS PROVIDED BY THE NATIONAL OFFICE) |
|
| P11-X000 | Amendment of application requested |
St.27 status event code: A-2-2-P10-P11-nap-X000 |