KR20230127343A - 금속 표면의 조면 처리의 평가 방법 및 평가 장치 - Google Patents

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도시아키 시노하라
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신고 나카하라
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재팬 마린 유나이티드 코포레이션
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Abstract

표면 처리가 실시된 검사 대상의 표면의 화상 데이터를 취득하는 스텝 S2와, 상기 화상 데이터에 기초하여, 미리 선정된 2개의 파장의 광에 관하여, 상기 화상 데이터의 각 픽셀에서의 NDSI값을 산출하는 스텝 S7과, 상기 NDSI값에 기초하여, 검사 대상의 조면 처리에 관한 평가를 행하는 스텝 S8 내지 S12를 실행한다.

Description

금속 표면의 조면 처리의 평가 방법 및 평가 장치
본 개시는, 강재 등의 금속의 표면에 실시된 조면(粗面) 처리에 관한 평가를 행하기 위한 방법 및 이것을 실행할 수 있는 평가 장치에 관한 것이다.
강재 등의 금속의 표면에 대해서는, 녹을 제거하거나, 도료를 잘 달라붙게 할 목적으로, 숏 블라스트(shot blast) 등의 조면 처리가 행하여질 경우가 있다. 특히 선박에서는, 선체를 구성하는 강재에 대하여, 대상의 개소에 따라서 조면 처리의 실시가 의무화되어 있다. 예를 들어, 방청 도료의 도막 상태가 건전한 개소에 대해서는 스위프 블라스트(sweep blast)라고 불리는 가벼운 조면 처리가 행해지고, 건전하지 않은 개소에 관해서는, 보다 강한 정도의 조면 처리가 요구된다. 그리고, 이러한 처리가 실시된 강재 표면이, 조도(粗度)나 녹 제거 정도, 청정도와 같은 소정 요건을 충족시키고 있는지 여부에 대하여, 검사관에 의한 입회 검사가 행하여지도록 되어 있다. 단, 이러한 입회 검사는, 검사관이 육안에 의해 주관적으로 평가를 행하는 방식이 대부분이다. 따라서, 평가는 검사관의 기량이나 경험에 의존하여, 결과에 편차가 발생하기 쉽다.
이러한 평가 방법에 기인하는 평가의 편차를 억제하기 위해, 정도가 다른 조면 처리를 실시한 금속 표면의 사진을 기준으로 하여 준비하고, 그것들과 실물과 비교 대조함으로써 평가를 행하는 방법 등도 경우에 따라서는 채용되어 있다. 하지만, 검사의 현장에서의 광학적인 조건은 다양한 데다, 검사 대상인 금속에 세월의 흐름에 따른 퇴색 등이 보이는 경우도 있고, 사진을 이용했다고 해도 재현성이 높은 안정적인 평가를 행하는 것은 곤란하다.
그래서, 금속 표면에서의 조면 처리의 정도를 객관적으로 측정하기 위한 장치나 방법이 여러가지로 창안되어, 실용화되어 있다(예를 들어, 하기 특허문헌 1, 2 참조).
[특허문헌 1] 일본 공개특허공보 특개2019-158820호 [특허문헌 2] 일본 공개특허공보 특개2019-168353호
하지만, 상기 특허문헌 1, 2에 기재한 바와 같은 기술을 이용한 경우, 표면 조도는 평가할 수 있어도, 녹 제거 정도나 청정도는 평가할 수 없고, 검사관의 육안에 의한 평가를 이들 기술만으로 대체할 수는 없다. 금속의 조면 처리를 평가하기 위한 기술로서는, 그 밖에도 다양한 광학적인 기술이나 방법이 개발되어 있지만, 예를 들어 한번에 평가 가능한 범위가 현저하게 좁은 등, 모두 약점을 안고 있고, 그것들도 조면 처리의 평가 기술로서 실용상 반드시 충분하다고는 할 수 없었다.
그래서, 본 개시에서는, 이러한 실정을 감안하여, 금속 표면의 조면 처리를 간단하고 적합하게 평가할 수 있는 금속 표면의 조면 처리의 평가 방법 및 평가 장치를 설명한다.
본 개시는, 조면 처리가 실시된 검사 대상의 표면의 화상 데이터를 취득하는 스텝과, 상기 화상 데이터에 기초하여, 미리 선정된 2개의 파장의 광에 관하여, 상기 화상 데이터의 각 픽셀에서의 NDSI값을 산출하는 스텝과, 상기 NDSI값에 기초하여, 검사 대상의 조면 처리에 관한 평가를 행하는 스텝을 실행하는, 금속 표면의 조면 처리의 평가 방법에 관한 것이다.
상술의 금속 표면의 조면 처리의 평가 방법에 있어서, NDSI값의 산출에 이용하는 광의 파장은, 다음 조건에 기초하여 선정할 수 있다.
조건 1) 표면 조도의 대소에 대하여, 반사율의 대소가 양(+)의 상관이 있을 것.
조건 2) 조건 1을 충족시키고, 2파장의 반사광 중, 한쪽은 검사 대상의 표면 조도에 의한 반사율의 변동폭이 가능한 한 작고, 다른 쪽은 가능한 한 클 것.
상술의 금속 표면의 조면 처리의 평가 방법에 있어서는, 취득된 화상 데이터에 있어서, 대상으로 하는 픽셀의 NDSI값의 평균값을 산출하고, 상기 평균값에 기초하여 표면 조도에 관한 평가를 행할 수 있다.
상술의 금속 표면의 조면 처리의 평가 방법에 있어서는, 취득된 화상 데이터에 있어서, 대상으로 하는 각 픽셀의 NDSI값을 미리 설정된 임계값과 참조하여, 발청(녹발생)에 관한 평가를 행할 수 있다.
상술의 금속 표면의 조면 처리의 평가 방법에 있어서는, 취득된 화상 데이터에서 평가의 대상으로 하는 범위를 선택하고, 조면 처리에 관한 평가를 선택된 상기 범위 내에서 행할 수 있다.
또한, 본 개시는, 적어도 미리 선정된 상기 2개의 파장의 광에 기초하여 화상 데이터를 작성하는 화상 작성부와, 상기 화상 데이터에 기초하여 NDSI 해석을 행하는 해석부를 구비하고, 상술의 금속 표면의 조면 처리의 평가 방법을 실행 가능하게 구성되어 있는, 금속 표면의 조면 처리의 평가 장치에 관한 것이다.
본 발명의 금속 표면의 조면 처리의 평가 방법 및 평가 장치에 의하면, 금속 표면의 조면 처리를 간편하고 적합하게 평가한다는 우수한 효과를 나타낼 수 있다.
[도 1] 본 개시의 실시예에 의한 금속 표면의 조면 처리의 평가 장치의 구성의 일례를 나타내는 블록도이다.
[도 2] 조면 처리를 실시한 강재 표면에서의 광의 파장과 반사율과의 관계를 나타내는 그래프이다.
[도 3] 도 2의 각 파장에서의 각 반사율을, 특정 파장에서의 반사율에 대하여 정규화해서 나타낸 그래프이다.
[도 4] 산출된 NDSI값과, 표면 조도와의 관계의 일례를 나타내는 그래프이다.
[도 5] 본 개시의 실시예에 의한 금속 표면의 조면 처리의 평가 방법의 수순의 일례를 설명하는 플로우 챠트이다.
[도 6] 본 개시의 실시예에 있어서, 표시부에 표시되는 화면의 일례를 나타내는 도면이고, 가시광에 의한 측정 대상의 화상과, 그 선택 범위를 표시한 모습을 나타내고 있다.
[도 7] 본 개시의 실시예에 있어서, 표시부에 표시되는 화면의 다른 일례를 나타내는 도면이고, 선택 범위가 NDSI값에 따라서 색구분된 화상을 표시한 모습을 나타내고 있다.
[도 8] 본 개시의 실시예에 있어서, 표시부에 표시되는 화면의 다른 일례를 나타내는 도면이고, 선택 범위가 NDSI값에 따라서 2치화된 화상을 표시한 모습을 나타내고 있다.
이하, 본 개시에서의 실시예의 형태를 첨부 도면을 참조해서 설명한다.
도 1은 본 개시의 실시예에 의한 금속 표면의 조면 처리의 평가 장치의 구성의 일례를 나타내고 있다. 평가 장치(1)는, 검사를 위한 광을 조사하는 조사부(2)와, 검사 대상의 화상 데이터를 취득하는 촬상부(3)와, 각종의 시각 정보를 표시하는 표시부(4)와, 조사부(2)나 촬상부(3), 표시부(4)와 같은 각 부로의 조작을 입력하는 조작부(5)와, 이들 각 부에 전력을 공급하는 전원부(6)를 구비한 간편한 구성의 장치이다.
조사부(2)는, 예를 들어 LED 조명 장치이고, 검사 대상에 대하여 검사를 위한 광을 조사하게 되어 있다. 조사부(2)의 조사하는 광은, 적어도 후술하는 2파장의 반사광에 대응하는 파장의 광을 포함할 필요가 있다. 여기에서, 「어느 파장(λnm)의 반사광에 대응하는 파장의 광」이란, 「그 광이 검사 대상에 입사한 경우에, λnm의 파장의 반사광이 얻어지는 파장의 광」을 가리킨다. 한편, 검사 대상이 다른 광원에 의해 비쳐지고 있고, 그것에 의해서 후술하는 화상의 취득이나 검사의 수순을 지장 없이 실행할 수 있는 경우에는, 평가 장치(1)의 구성 요소로서의 조사부(2)는 반드시 필요하지 않다.
촬상부(3)는, 수광부(7)와, 화상 작성부(8)와, 해석부(9)를 구비하고 있다. 수광부(7)는, 검사 대상의 표면의 반사광을 수광하고, 화상 작성부(8)는, 수광부(7)가 수광한 광에 기초하여 검사 대상의 표면의 화상 데이터를 작성한다. 해석부(9)는, 화상 작성부(8)가 작성한 화상 데이터에 기초하여, 후술하는 해석을 행한다.
수광부(7)는, 적어도 후술하는 2파장의 반사광을 검출할 수 있을 필요가 있다. 또한, 수광부(7)는, 이것에 더하여 가시광을 검출할 수 있는 것이 바람직하고, 특히 RGB의 3원색을 검출할 수 있도록 되어 있는 것이 바람직하다. 이러한 수광부(7)를 구비한 촬상부(3)로서는, 예를 들어 하이퍼 스펙트럼 카메라를 사용할 수 있지만, 촬상부(3)는 상기 2파장을 포함하는 광을 검출할 수 있는 장치이면 후술하는 해석 및 검사에는 충분하고, 검출 가능한 광의 파장역이 일반적인 하이퍼 스펙트럼 카메라보다는 좁은 장치라도 좋다.
표시부(4)는, 촬상부(3)에서 취득된 화상이나, 해석부(9)에 의한 처리를 거친 화상, 또한 해석부(9)에 의한 해석의 결과를 나타내는 문자 정보 등의 시각 정보를 표시하는 디스플레이이다.
조작부(5)는, 조사부(2), 촬상부(3), 표시부(4)라고 한 각 부에 대하여, 사용자가 조작을 입력하기 위한 입력 장치이고, 예를 들어 촬상부(3)의 본체에 구비된 버튼류, 혹은 촬상부(3)의 본체에 접속된 터치 패널식의 디스플레이 등이다. 한편, 조작부(5)를 터치 패널식의 디스플레이로서 구성할 경우, 조작부(5)는 표시부(4)의 기능을 겸할 수도 있다.
전원부(6)는, 예를 들어 충전식의 전지가 수용되는 전지 박스이고, 조사부(2), 촬상부(3), 표시부(4) 및 조작부(5)로 전력을 공급하게 되어 있다. 한편, 조사부(2)나 표시부(4) 등에 해당하는 장치가 각각 충전식 전지 등의 전원 장치를 구비하고 있는 경우에는, 이들 전원부(6)로부터의 전력 공급은 불필요하다(예를 들어, 표시부(4)와 조작부(5)가 터치 패널식 디스플레이로서 구성될 경우, 상기 터치 패널식 디스플레이에는 통상, 전원 장치가 표준 장비로서 부속되어 있다).
상기 평가 장치(1)를 사용한 검사의 메커니즘에 대하여 설명한다. 검사에는, 2파장의 반사광에 의한 NDSI(Normalized Difference Spectral Index) 해석이나 기울기 해석 등이라고 불리는 수법을 사용한다. NDSI 해석이란, 검사 대상의 표면에서 얻은 광 중, 특정한 2파장의 광을 검출하고, 그것들의 강도의 차에 의해 검사 대상의 표면의 성질 등을 파악하는 수법이다. 금속의 표면에서의 광의 반사율은 표면 조도에 따라 다르지만, 그 표면 조도에 의한 반사율의 변화의 정도는, 또한 반사광의 파장에 의해 다른 것이 알려져 있다. 따라서, 검사 대상의 표면의 반사광으로부터 특정한 2파장의 광을 검출하고, 그것들의 반사율을 비교하면, 그 대소에 따라 표면 조도를 파악할 수 있다. 구체적으로는, 검사 대상의 표면에 광을 조사하고, 반사광 중, λ1과 λ2라는 2파장의 반사광을 검출하고, 각각의 반사 강도를 산출한다. 그리고, 하기의 식에 의해 양자의 차를 상대값으로서 대소를 평가한다. 한편, 하기 식 (1)에 있어서, Rλ1은 파장λ1의 광의 반사율, Rλ2는 파장λ2의 광의 반사율이다.
(Rλ1－Rλ2)/ (Rλ1＋Rλ2) …… (1)
이러한 NDSI 해석의 원리 자체는 이미 널리 알려져 있지만, 본원 발명자는 특히 금속의 표면 조도를 해석함에 있어서 최적의 반사광의 파장을 특정하는 수법을 개발하고, 또한, 조면 처리의 평가에서의 표면 조도 이외의 지표도 함께 평가할 수 있는 기술을 발명하기에 이르렀다.
우선, 표면 조도의 해석에 적합한 반사광의 파장의 특정에 대하여 설명한다. 도 2는, 강재에서의 반사광의 파장과, 그 파장의 반사광의 반사율을 나타내는 그래프이다. 도면 중에 나타난 5개의 곡선은, 각각 표면 조도가 서로 다른 강재에서의 반사율의 측정 결과를 나타내고 있다. 한편, 도면 중에 나타내는 각 곡선에 대응하는 강재의 표면 조도는, 강재 A에서 가장 크고, 강재 B, 강재 C, 강재 D, 강재 E의 순으로 작아진다.
여기에 나타내는 바와 같이, 동일한 검사 대상이라도, 반사광의 강도는 파장마다 다르다. 또한, 파장에 의한 반사광의 강도의 변화율은 표면 조도에 상관 없이 고르다는 것은 아니고, 예를 들어 도면 중에서의 파장 p의 반사광은, 파장 q의 반사광과 비교하여, 표면 조도에 의해 강도가 크게 변화되어 있다.
이것을 바탕으로 하여, 검사에 사용하는 2파장(λ1, λ2)의 반사광을 선정한다. 파장의 선정에 있어서는, 이하의 2조건이 중요하다.
조건 1) 표면 조도의 대소에 대하여, 반사율의 대소가 양의 상관이 있을 것.
조건 2) 조건 1을 충족시키고, 2파장의 반사광 중, 한쪽은 검사 대상의 표면 조도에 의한 반사율의 변동폭이 가능한 한 작고, 다른 쪽은 가능한 한 클 것.
조건 1은, 검사의 기본적인 정확함을 담보하기 위한 조건이다. 예를 들어 도 2에 나타내는 그래프에서는, 파장 p 및 파장 q의 반사광의 강도는 표면 조도와 상관하고 있지만(즉, 표면 조도가 작을수록 반사율이 낮고, 표면 조도가 클수록 반사율이 높지만), 파장 r의 반사광에 대해서는, 표면 조도의 일부 영역에서 반사율의 대소가 바뀌어 있다(강재 D, E에 착안하면, 표면 조도가 낮은 강재 E에서의 반사광의 반사율이, 표면 조도가 보다 높은 강재 D에서의 반사율보다도 높다). 이러한 현상이 보이는 파장의 반사광은, 조건 1에 합치하지 않고, 검사를 행함에 있어 적절하지 않다.
조건 2는, 검사의 정밀도를 높이기 위한 조건이다. 상기 식 (1)을 사용하는 NDSI 해석에서는, 양 파장의 광의 반사율의 차가 클수록 검출 감도가 높고, 표면 조도의 평가에 적합하다. 한편, 여기에서 말하는 「변동폭이 가능한 한 작다」 「변동폭이 가능한 한 크다」란, 조건 1에 합치하는 파장 중에서, 표면 조도에 의한 반사율이 「가장 큰」 혹은 「가장 작은」 것을 의미하지 않는다. 물론, 표면 조도에 의한 반사율이 「가장 큰」 혹은 「가장 작은」 파장을 여기에서 선택해도 좋지만, 반드시 이들 파장에 한정되지 않는다. 「2파장의 반사광 중, 한쪽은 검사 대상의 표면 조도에 의한 반사율의 변동폭이 가능한 한 작고, 다른 쪽은 가능한 한 큰 파장을 선정한다」란, 이들 2파장의 광을 이용하여 조면 처리에 관한 NDSI 해석을 행함에 있어서 지장이 없을 정도로, 표면 조도에 의한 변동폭의 차가 커지도록, 2파장을 선정하는 것을 가리킨다. 기준으로서는, 예를 들어 표면 조도에 의한 반사율의 변동폭(가장 반사율이 높은 표면 조도에서의 반사율과, 가장 반사율이 낮은 표면 조도에서의 반사율의 차)이 큰 순으로 각 파장의 광을 늘어놓은 경우에, 상위 3분의 1 정도 이내에 위치하는 파장으로부터 선정된 파장을 λ1에, 하위 3분의 1 이내 정도에 위치하는 파장으로부터 선정된 파장을 λ2에, 각각 설정하면 족하다. 혹은, 우선 반사율의 변동폭이 하위 3분의 1 정도 이내에 위치하는 파장의 광을 파장 λ2의 광으로서 선정하고, 파장 λ1의 광에 대해서는, 반사율의 변동폭이 λ2 이상인 파장의 광으로부터 선정한다는 방법으로 선정해도 좋다.
구체적인 선정의 수순의 일례를 이하에 설명한다. 우선 도 2에 있어서, 조건 1을 만족시키고, 또한 표면 조도에 의한 반사율의 변동폭이 가능한 한 작은 파장 q의 반사광을, 검사에 사용하는 한쪽의 반사광(파장이 λ2의 반사광)으로서 선정한다.
다음에, 각 검사 대상에서의 파장 λ2의 광의 반사율을 기준으로 하고, 그 밖의 파장의 광의 반사율을 정규화한다. 이 정규화된 반사율에 기초하여 도 2의 그래프를 다시 그리면, 도 3과 같이 된다. 이 도 3의 그래프에 있어서, 상기 조건 1, 2에 합치하는 다른 쪽의 파장(파장 λ1)을 선정한다. 표면 조도의 대소와 반사율의 대소가 양의 상관이 있고, 또한 표면 조도에 의한 반사율의 변동폭이 가능한 한 크다는 조건에는, 예를 들어 파장 p의 반사광이 해당하므로, 이 파장 p의 반사광을, 검사에 사용하는 다른 쪽의 반사광(파장이 λ1의 반사광)으로서 선정한다.
한편, 검사 대상이 강재인 경우, 파장 λ1의 광으로서는 620nm 이상 700nm 이하 정도, 파장 λ2의 광으로서는 450nm 이상 520nm 이하 정도의 파장의 광을 각각 선택하면, 검사에 있어서 특히 적합한(즉, 이들 파장이 상기 조건 1, 2에 잘 합치한) 것을 본원 발명자들은 발견하였다. 단, 이 수치는 물론, 검사 대상을 구성하는 금속의 종류에 따라 변할 수 있다. 철 이외의 금속에 대하여 본 발명의 평가 방법을 실시할 경우에는, 상기와 동일한 수법에 의해, 검사에 사용하는 2파장(파장 λ1, λ2)의 광을 특정하면 좋다. 또한, 검사 대상이 강재라도, 시험의 방법 등에 따라서는, 파장 λ1, λ2의 광으로서 적합한 광의 파장은 상기의 수치와는 다를 수 있다. 위에 예시한 수치는 어디까지나 일례인 것을 유의해야 한다.
이러한 원리에 의해, 도 1에 나타내는 바와 같은 평가 장치(1)를 이용하여 검사 대상의 표면 조도를 검사하는 경우, 우선 조사부(2)로부터 검사 대상으로 광을 조사하고, 촬상부(3)에서 검사 대상의 표면의 화상 데이터를 취득한다. 즉, 수광부(7)에서 수광한 광으로부터, 화상 작성부(8)에서 화상 데이터를 작성한다. 여기서 취득되는 화상 데이터는, 예를 들어 검사 대상의 표면을 몇cm×몇cm 내지 1m×1m 정도의 범위에서 촬영한 화상이다. 해석부(9)는, 이 화상 데이터 중, 적당한 범위(얻어진 화상 중, 검사 대상으로 하는 일부의 영역을 선택해도 좋고, 화상 데이터의 전체를 대상으로 해도 좋다)에 포함되는 각 픽셀마다, 파장이 λ1 및 λ2의 광의 강도에 기초하여, 상기 식 (1)을 이용하여 NDSI값을 산출한다. 픽셀마다 얻어진 NDSI값의 평균값을 산출하면, 이것을 표면 조도를 나타내는 값으로서 평가할 수 있다.
이렇게 해서 산출한 NDSI값과, 강재의 표면 조도와의 실제의 관계의 일례를 도 4에 나타낸다. 가로축은, 조면 처리를 다른 정도로 실시한 다양한 강재에 대하여 조도계를 이용해서 계측한 표면 조도, 세로축은 각 강재에 대하여 상기 방법에 의해 산출한 NDSI값이다. 여기에 나타내는 바와 같이, 양 값은 강한 상관을 나타내고(한편, 샘플수 n=24, 상관계수 r=0.958이다), NDSI값이 표면 조도의 지표로서 유용한 것을 알 수 있다.
또한, 이 NDSI값은, 표면 조도뿐만 아니라 녹 제거 정도의 평가에도 사용하는 것이 가능하다. 금속 표면에서의 반사광에 기초하는 NDSI값은, 상술한 바와 같이 표면 조도에 따라서 변동되지만, 녹 제거 정도에도 영향을 받고, 녹이 있는 부분에서는 표면 조도에 따르지 않고 큰 값을 나타내는 것이 본원 발명자의 연구에 의해 판명되어 있다. 예를 들어 강재에 있어서, 상기 수법에 의해 결정한 파장의 광(620nm≤λ1≤700nm, 450nm≤λ2≤520nm)에 기초하여, 상기 식 (1)에 의해 NDSI값을 산출할 경우, 녹이 있는 영역(발청부)에서는, NDSI값은 대강 일정값(구체적인 값은 계측 환경 등에 따라서 변동하지만, 예를 들어 60 정도)을 나타낸다. 따라서, NDSI값이 60 이상이면, 그 부분에는 녹이 존재한다고 판단할 수 있다. 즉, 예를 들어 상기 평가 장치(1)에 의해 취득된 화상 데이터에 NDSI값이 60 이상을 나타내는 영역이 있는 경우에는, 그 영역은 발청부라고 판단할 수 있다. 그리고, NDSI값이 60 미만인 픽셀의 비율을 녹 제거 정도로서 파악할 수 있다.
상술한 바와 같은 평가 장치(1)(도 1 참조)를 이용한 검사의 수순은, 예를 들어 도 5에 나타내는 플로우 챠트에 나타낼 수 있다.
검사에 앞서, 촬상부(3)에 보정을 위한 백판(白板)의 데이터를 취득하고, NDSI값의 산출에 사용하는 광 강도를 설정해 둔다(스텝 S1). 상기 식 (1)로 표시되는 NDSI값의 산출에 사용하는 각 값(Rλ1 및 Rλ2)은 반사율이고, 즉 상대값이지만, 이 상대값의 산출에 있어서, 백판의 명도를 분모로서 사용하는 것이다. 즉, 후의 스텝에서 취득되는 화상이 있는 픽셀에 있어서, 어느 파장의 광의 강도를, 스텝 S1에서 취득한 백판의 데이터에서의 같은 파장의 광의 강도로 나눈 값이, 그 픽셀에서의 그 파장의 광의 반사율이다. 한편, 이 스텝 S1은, 광학적인 조건이 크게 다르지 않는 한, 각 현장마다 한번만 실행하면 충분하다.
검사 대상의 표면에 조사부(2)로부터 광을 조사하고, 검사 대상의 표면의 화상 데이터를 취득한다(스텝 S2). 여기에서는, 적어도 상기 2파장의 광에 대하여 화상 데이터를 작성하지만, 이에 더하여 그 밖의 파장, 예를 들어 RGB에 닿는 파장의 광에 의한 화상 데이터를 작성해도 좋다.
취득한 화상 데이터의 명도 등을 보정하고(스텝 S3), 픽셀마다 취득된 각 파장의 광 강도의 데이터를, 가우시안 필터 등을 이용하여 평활화한다(스텝 S4).
화상 데이터를, 표시부(4)에 표시한다(스텝 S5). 스텝 S2에 있어서 RGB에 닿는 파장의 광에 의한 화상 데이터를 작성한 경우, 이 스텝 S5에서는, 표시부(4)에 예를 들어 도 6에 나타내는 바와 같이, RGB에 의한 검사 대상의 화상을 표시할 수 있다.
평가 장치(1)의 유저는, 표시부(4)에 표시된 화상 중, 조면 처리의 평가의 대상으로 하는 영역을 선택한다(스텝 S6). 이 때의 선택 범위의 일례를 도 6 중에 직사각형으로 나타낸다. 여기에 나타낸 예의 경우, 표시된 화상 중, 검사에 사용할 수 있는 표면의 모습을 포착한 부분은 중앙의 영역이므로, 이 영역을 선택한다. 이후의 조면 처리에 관한 평가를 행하는 스텝은, 여기에서 선택된 범위 내에서 행한다.
한편, 이 스텝 S6은, 예를 들어 스텝 S2에서 취득된 화상 내에 이물 등, 검사에 사용하고 싶지 않은 부분이 있을 때 등에 실행하는 공정으로서, 필요가 없으면 생략해도 좋다. 또한, 이 스텝 S6에서의 영역의 선택을 행할 경우, 유저의 조작에 의하지 않고, 평가 장치(1)에 의해 자동적으로 행하도록 해도 좋다. 그 경우, 예를 들어, 표시부(4)에 표시되는 화상 중 선택하는 일정한 영역을 미리 기억해 두고, 기억한 상기 영역을, 화상마다 평가의 대상으로서 선택하도록 설정해 두면 좋다. 또한, 표시되는 화상의 전 영역을, 평가의 대상으로서 자동적으로 선택하도록 설정해도 좋다.
선택한 영역에 포함되는 각 픽셀에 대하여, 상기 2파장의 광의 반사율을 계산하고, NDSI값(상기 식 (1) 참조)을 산출한다(스텝 S7).
계속해서, 각 픽셀에 대하여 산출된 NDSI값에 기초하여, 표면 조도, 블라스트율, 발청부의 면적, 녹 제거 정도와 같은 검사 대상의 조면 처리에 관한 평가를 행하고, 또한 그것들에 기초하여, 조면 처리의 품질에 관한 최종적인 평가를 행한다. 표면 조도와 블라스트율을 구하는 공정은 스텝 S8, S9, 발청부의 면적과 녹 제거 정도를 구하는 공정은 스텝 S10, S11이다.
스텝 S8에서는, 스텝 S7에서 구한 각 픽셀의 NDSI값의 평균값을 산출한다. 이 평균값에 기초하여, 미리 실험으로 구한 NDSI값과 표면 조도의 관계(도 4 참조)로부터, 표면 조도와 블라스트율을 산출한다(스텝 S9). 여기에서, 블라스트율이란, 조면 처리에 의해 대상 표면에 적정한 앵커 패턴이 형성된 면적의 비율이고, 표면 조도와 상관하고 있다. 표면 조도는 NDSI값에 기초하여 도 4로부터 구할 수 있지만, 표면 조도와 블라스트율은 상관하므로, 도 4로부터 구한 표면 조도에 기초하여 블라스트율도 구하는 것이 가능하다.
스텝 S10, S11에서는, 취득된 화상에 있어서, 대상으로 하는 각 픽셀의 NDSI값을 미리 설정된 임계값과 참조하여, 발청에 관한 평가를 행한다. 우선 스텝 S10에서는, 화상 데이터를, 스텝 S7에서 구한 각 픽셀의 NDSI값에 기초하여 2치화한다. 2치화에 사용하는 임계값은, 미리 실험에 의해 구한 발청부의 판정에 적합한 NDSI값이다. NDSI값이 임계값 이상인 픽셀은 발청부에 해당하고, NDSI값이 임계값 이상인 픽셀의 비율에 기초하여, 발청부의 면적 및 녹 제거 정도를 산출할 수 있다 (스텝 S11).
스텝 S7 내지 S11에서는, 표시부(4)에서 대상물의 화상이나, 각종 수치 등을 적절히 표시할 수 있다. 예를 들어, 스텝 S7에서 각 픽셀에 대하여 NDSI값을 산출한 후, NDSI값의 대소에 따라서 각 픽셀을 색구분한 화상을, 도 7에 나타내는 바와 같이 표시할 수 있다. 또한, 스텝 S10에서 픽셀을 색구분한 화상을, 발청부를 나타내는 화상으로서 도 8에 나타내는 바와 같이 표시할 수 있다. 유저는, 예를 들어 이들 화상을 도 6에 나타내는 바와 같은 화상과 비교해 보고, 도 6의 화상에 나타나 있는 검사 대상의 표면 중, 어느 영역에서 표면 조도나 블라스트율이 높은가(또는 낮은가), 혹은, 어느 영역이 발청부에 해당하는가 등을 파악할 수 있다. 또한, 검사 대상의 표면에 오염 등이 부착되어 있는 경우에는, 그 위치를 도 6에 나타내는 화상으로부터 파악할 수 있다. 또한, 도 7, 도 8에 나타내는 화상에서 NDSI값의 이상한 영역이 보인 경우에는, 그 영역이 육안으로 어떻게 보이는지(그 영역에 오염이나 녹 등이 존재하는지 여부)를 도 6에 나타내는 화상에서 확인할 수 있다.
한편, 표시부(4)에는, 도 6 내지 도 8에 나타내는 바와 같은 화상에 더하여, 각종의 값 등의 문자 정보(예를 들어 선택한 영역에서의 NDSI값의 평균값이나, 발청부의 검출에 사용하는 NDSI값의 임계값, 이것들에 기초하여 산출된 표면 조도나 블라스트율, 녹 제거 정도 등)를 적절히 표시할 수도 있다. 또한, 표시부(4)가 터치 패널식의 디스플레이이고, 조작부(5)의 기능도 겸하고 있는 경우에는, 조작 버튼 등을 표시할 수도 있다.
스텝 S9에서 구한 표면 조도 또는 블라스트율과, 스텝 S10에서 구한 녹 제거 정도로부터, 조면 처리의 품질을 평가한다(스텝 S12). 여기에서의 평가는, 검사 대상이나 분야, 현장 등에 의해 다양하게 다른 평가 기준과의 정합성을 고려해서 결정한다. 선박의 강재에서의 스위프 블라스트의 품질 평가에서는, 예를 들어 블라스트율이 30% 이상, 또한 녹 제거 정도가 90% 이상이면 합격이라고 여겨지므로(한편, 이들 수치는 일례이고, 구체적인 기준은 대상이나 현장에 따라 다를 수 있다), NDSI값으로부터 산출된 표면 조도에 따른 블라스트율과, 2치화에 의해 산출된 녹 제거 정도에 기초하여 평가를 행한다. 한편, 이 스텝 S12에서의 평가는, 미리 입력된 기준(사업소나 선주 감독 등, 장치를 운용하는 환경에 따라서 미리 설정해 둔, 블라스트율이나 녹 제거 정도 등에 관한 기준값)에 기초하여 촬상부(3)의 해석부(9)에서 행하여도 좋고, 스텝 S9나 스텝 S11의 결과에 기초하여 사람이 행하여도 좋다.
표시부(4)에 표시된 결과(표면 조도, 블라스트율, 발청부 면적, 녹 제거 정도, 조면 처리의 품질, 중 일부 또는 전부, 혹은 그 밖의 정보)를 기록하거나, 도시하지 않은 인쇄기로 인쇄하는 등 적절히 출력해서(스텝 S13), 검사를 종료한다.
이와 같이, 본 실시예와 같은 평가 방법 및 평가 장치에서는, 검사에 적합한 파장으로서 미리 특정된 2파장의 광의 반사율을 이용하고, NDSI 해석에 의해 표면 조도나 발청도에 관한 평가를 행한다. 표면 조도 또는 발청도의 어느 하나를 평가하는 기술이면, 지금까지도 여러가지 제안되어 있지만, 그 양쪽을 같은 NDSI 해석에 의해 간편하게 평가할 수 있는 기술은, 본 발명자가 아는 한 유례가 없다. 금속 표면의 조면 처리의 평가에 있어서는, 표면 조도와 발청도의 양쪽을 평가할 필요가 있다. 검사관의 육안에 의한 검사는 물론 이것을 충족하고 있었던 것이지만, 지금까지 개발되어 온 기계적인 평가 기술에서는, 표면 조도 또는 발청도 중 어느것을 평가하는 장치 또는 방법을 제공하는 것에 그치고, 양쪽을 한번에 평가할 수는 없었다. 본 실시예와 같이 하면, 간단한 계산에 의한 양쪽의 지표를 평가하고, 심지어는 그것들에 기초하여 조면 처리에 관한 평가 그 자체까지를 출력할 수 있다.
또한, 상기와 같은 평가 장치(1)에서는, 검사 대상의 표면에 대하여 1m×1m 정도까지의 범위를 한번에 검사할 수 있다. 이것은, 검사관이 육안으로 평가하는 범위와 동등한 범위이다. 조면 처리의 품질을 평가하기 위해 개발된 종래의 장치 중에는, 검사 대상의 표면에 관해서 극히 좁은 범위밖에 한번에 검사할 수 없는 장치도 존재하지만, 위에 설명한 바와 같은 평가 장치(1)이면, 한번의 조작으로 충분히 넓은 범위를 검사할 수 있다. 또한, 표면 조도나 녹 제거 정도의 평가에는 극히 단순한 연산 처리를 행하면 족하므로, 어느 정도 큰 픽셀수의 화상에 대하여 픽셀마다 연산을 행하였다고 해도, 연산이나 평가의 결과가 나올 때까지 요하는 시간은 아주 조금(길어도 몇초 정도)이다. 따라서, 화상을 취득하면, 그 자리에서 검사 대상의 조면 처리에 관한 평가를 확인할 수 있다. 이와 같이, 본 실시예에서는, 평가의 정밀도 외에, 평가 항목, 평가를 행하는 범위, 평가에 요하는 시간에 있어서도, 종래의 검사관의 육안에 의한 검사를 충분히 대체할 수 있다.
또한, 평가에는 특정한 2파장의 광만을 사용하므로, 반드시 고가의 하이퍼 스펙트럼 카메라를 이용할 필요는 없고, 도 1에 나타내는 바와 같은 평가 장치(1)는 저렴하게 제조할 수 있다. 또한, 촬상부(3)나 조사부(2)는, 전지식의 전원부(6)에 의해 가동하고, 전원 케이블 등은 불필요하므로, 예를 들어 선각 구조물의 내부와 같은 검사 현장에도 용이하게 가지고 들어갈 수 있고, 간편한 검사가 가능하다. 또한, 촬상부(3)는 일반적인 카메라 장치와 동등한 사이즈의 장치로서 구성할 수 있고, 표시부(4)나 조작부(5)는 터치 패널식의 디스플레이 등의 장치로서 구성할 수 있으므로, 한명이라도 평가 장치(1)를 현장에 휴대해서 가고, 간단한 조작으로 평가를 행할 수 있다.
이러한 본 실시예의 금속 표면의 조면 처리의 평가 방법 및 평가 장치는, 예를 들어 조선의 도장에 앞서는 블라스트 작업 후의 검사에 있어서, 현상의 육안 평가 대신에 정량적인 평가를 행하는 기술로서 활용할 수 있다. 예를 들어 조면 처리에 대하여, 합격인가 불합격인가의 평가가 사람에 따라 갈리는 것 같은 경우에, 객관적인 기준을 제시하는 방법으로서 이용할 수 있다. 혹은, 도장 작업의 초심자에 대한 훈련이나 교육을 위한 툴로서의 이용 등도 상정할 수 있다. 훈련이나 교육의 현장에서는, 검사관 혹은 그것에 상당하는 지식이나 경험을 갖는 인원을 때마다 준비하는 것이 어려운 경우가 있지만, 그와 같은 상황 하에서도, 검사관과 동등한 평가 기준을 제시하여, 그것에 의해 훈련이나 교육에 도움을 줄 수 있다.
한편, 상술의 평가 장치(1)의 구성이나 평가의 수순은 어디까지나 일례이며, 동일한 원리로 평가를 적합하게 실행할 수 있는 한에서, 장치의 구성이나 수순은 적절히 변경할 수 있다. 예를 들어, 평가 장치(1)를 구성하는 화상 작성부(8)나 해석부(9)에 대하여, 위에서는 촬상부(3)에 마련한 수광부(2)에서 수광한 광으로부터 화상을 작성하고, 이것을 해석하는 경우를 설명했지만, 예를 들어 외부의 장치로부터 검사에 이용하는 화상 데이터를 화상 작성부(8)에서 취득하고, 이것을 해석부(9)가 해석하도록 해도 좋다. 이 경우, 평가 장치(1)는, 적어도 화상 생성부(8)와 해석부(9)를 구비하고 있으면 충분하다. 또한, 평가의 공정에 대하여, 위에서는 설명의 편의상, 표면 조도에 관한 평가 수순과 발청도에 관한 평가를 병행하여 행하는 것을 상정해서 설명했지만, 이것들을 차례로 개별로 실행하도록 해도 좋다.
이상과 같이, 상기 본 실시예의 금속 표면의 조면 처리의 평가 방법에 있어서는, 조면 처리가 실시된 검사 대상의 표면의 화상 데이터를 취득하는 스텝 S2과, 상기 화상 데이터에 기초하여, 미리 선정된 2개의 파장의 광에 관하여, 상기 화상 데이터의 각 픽셀에서의 NDSI값을 산출하는 스텝 S7과, 상기 NDSI값에 기초하여, 검사 대상의 조면 처리에 관한 평가를 행하는 스텝 S8 내지 S12를 실행한다. 이와 같이 하면, 종래의 검사관의 육안에 의한 검사를 대체하여, 객관적인 평가를 행할 수 있다.
상기 실시예에 있어서, NDSI값의 산출에 이용하는 광의 파장은, 다음 조건에 기초하여 선정할 수 있다. 이렇게 하면, 금속 표면의 조면 처리에 관하여, 정확하고 정밀도가 높은 평가를 행할 수 있다.
조건 1) 표면 조도의 대소에 대하여, 반사율의 대소가 양의 상관이 있을 것.
조건 2) 조건 1을 충족시키고, 2파장의 반사광 중, 한쪽은 검사 대상의 표면 조도에 의한 반사율의 변동폭이 가능한 한 작고, 다른 쪽은 가능한 한 클 것.
상기 실시예에서는, 취득된 화상 데이터에 있어서, 대상으로 하는 픽셀의 NDSI값의 평균값을 산출하고, 상기 평균값에 기초하여 표면 조도에 관한 평가를 행할 수 있다.
상기 실시예에서는, 취득된 화상 데이터에 있어서, 대상으로 하는 각 픽셀의 NDSI값을 미리 설정된 임계값과 참조하여, 발청에 관한 평가를 행할 수 있다.
상기 실시예에서는, 취득된 화상 데이터에서 평가의 대상으로 하는 범위를 선택하여, 조면 처리에 관한 평가를 선택된 상기 범위 내에서 행할 수 있다.
또한, 상기 실시예의 금속 표면의 조면 처리의 평가 장치(1)는, 적어도 미리 선정된 상기 2개의 파장의 광에 기초하여 화상 데이터를 작성하는 화상 작성부(8)와, 상기 화상 데이터에 기초하여 NDSI 해석을 행하는 해석부(9)를 구비하고, 상술의 금속 표면의 조면 처리의 평가 방법을 실행 가능하게 구성되어 있다. 이렇게 하면, 간편한 구성의 장치에 의해, 상술의 작용 효과를 나타낼 수 있다.
따라서, 상기 본 실시예에 의하면, 금속 표면의 조면 처리를 간편하고 적합하게 평가할 수 있다.
한편, 본 개시에서 설명한 금속 표면의 조면 처리의 평가 방법 및 평가 장치는, 상술의 실시예에만 한정되는 것은 아니고, 본 발명의 요지를 일탈하지 않는 범위 내에서 여러가지 변경을 가할 수 있음은 물론이다.
1 평가 장치
2 조사부
3 촬상부
4 표시부
5 조작부
6 전원부
7 수광부
8 화상 작성부
9 해석부

Claims (8)

  1. 조면 처리가 실시된 검사 대상의 표면의 화상 데이터를 취득하는 스텝과,
    상기 화상 데이터에 기초하여, 미리 선정된 2개의 파장의 광에 관하여, 상기 화상 데이터의 각 픽셀에서의 NDSI값을 산출하는 스텝과,
    상기 NDSI값에 기초하여, 검사 대상의 조면 처리에 관한 평가를 행하는 스텝을 실행하는, 금속 표면의 조면 처리의 평가 방법.
  2. 제 1 항에 있어서, NDSI값의 산출에 이용하는 광의 파장은, 다음 조건에 기초하여 선정되는, 금속 표면의 조면 처리의 평가 방법.
    조건 1) 표면 조도의 대소에 대하여, 반사율의 대소가 양의 상관이 있을 것.
    조건 2) 조건 1을 충족시키고, 2파장의 반사광 중, 한쪽은 검사 대상의 표면 조도에 의한 반사율의 변동폭이 가능한 한 작고, 다른 쪽은 가능한 한 클 것.
  3. 제 1 항에 있어서, 취득된 화상 데이터에 있어서, 대상으로 하는 픽셀의 NDSI값의 평균값을 산출하고, 상기 평균값에 기초하여 표면 조도에 관한 평가를 행하는, 금속 표면의 조면 처리의 평가 방법.
  4. 제 2 항에 있어서, 취득된 화상 데이터에 있어서, 대상으로 하는 픽셀의 NDSI값의 평균값을 산출하고, 상기 평균값에 기초하여 표면 조도에 관한 평가를 행하는, 금속 표면의 조면 처리의 평가 방법.
  5. 제 1 항 내지 제 4 항 중 어느 한 항에 있어서, 취득된 화상 데이터에 있어서, 대상으로 하는 각 픽셀의 NDSI값을 미리 설정된 임계값과 참조하여, 발청에 관한 평가를 행하는, 금속 표면의 조면 처리의 평가 방법.
  6. 제 1 항 내지 제 4 항 중 어느 한 항에 있어서, 취득된 화상 데이터에서 평가의 대상으로 하는 범위를 선택하고, 조면 처리에 관한 평가를 선택된 상기 범위 내에서 행하는, 금속 표면의 조면 처리의 평가 방법.
  7. 제 5 항에 있어서, 취득된 화상 데이터에서 평가의 대상으로 하는 범위를 선택하고, 조면 처리에 관한 평가를 선택된 상기 범위 내에서 행하는, 금속 표면의 조면 처리의 평가 방법.
  8. 적어도 미리 선정된 상기 2개의 파장의 광에 기초하여 화상 데이터를 작성하는 화상 작성부와,
    상기 화상 데이터에 기초하여 NDSI 해석을 행하는 해석부를 구비하고,
    제 1 항 또는 제 2 항에 기재된 금속 표면의 조면 처리의 평가 방법을 실행가능하게 구성되어 있는, 금속 표면의 조면 처리의 평가 장치.
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Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
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Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
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Family Cites Families (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS56120904A (en) * 1980-02-29 1981-09-22 Chugoku Toryo Kk Measuring method for rate of removal of coating film
US4349277A (en) * 1980-06-11 1982-09-14 General Electric Company Non-contact measurement of surface profile
US4511800A (en) 1983-03-28 1985-04-16 Rca Corporation Optical reflectance method for determining the surface roughness of materials in semiconductor processing
JP2005241316A (ja) 2004-02-25 2005-09-08 Nec Corp 金属腐食度測定方法および装置
JP5724810B2 (ja) 2011-09-16 2015-05-27 株式会社湯山製作所 液体排出機構及び分注装置
JP7039299B2 (ja) 2017-03-03 2022-03-22 株式会社神戸製鋼所 残存粒界酸化層の検査方法及び残存粒界酸化層検査装置

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2019158820A (ja) 2018-03-16 2019-09-19 Ｊｆｅエンジニアリング株式会社 下地処理検査装置および下地処理検査方法

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