KR20230078967A - 터치 패널 및 이의 제조 방법 - Google Patents

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Abstract

터치패널의 제조방법은 은 나노 와이어층을 제공하는 단계, 상기 은 나노 와이어층 상에 제1 유기 패턴들 및 제2 유기 패턴들을 제공하는 단계, 상기 제1 유기 패턴들 및 상기 제2 유기 패턴들 상에 금속층을 제공하는 단계, 상기 금속층 및 상기 은 나노 와이어층을 식각하여 제1 브릿지층, 제1 감지 전극들 및 제2 감지 전극들을 형성하는 단계, 상기 제1 유기 패턴들, 상기 제2 유기 패턴들, 상기 제1 브릿지층, 상기 제1 감지 전극들 및 상기 제2 감지 전극들 상에 투명 도전성 산화물층을 제공하는 단계 및 상기 투명 도전성 산화물층을 식각하여 제2 브릿지층을 형성하는 단계를 포함할 수 있다.

Description

터치 패널 및 이의 제조 방법{TOUCH PANEL AND FABRICATION METHOD OF THE SAME}
본 발명은 터치 패널 및 이의 제조 방법에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 공정을 간소화할 수 있고, 신뢰성을 향상시킬 수 있는 터치 패널 및 이의 제조 방법에 관한 것이다.
터치 패널은 영상 표시 장치 등의 화면에 나타난 지시 내용을 사람의 손 또는 물체로 선택하여 사용자의 명령을 입력할 수 있도록 한 입력 장치이다. 이를 위해, 터치 패널은 영상 표시 장치의 전면(front face)에 구비되어 사람 또는 물체에 직접 또는 간접 접촉된 접촉 위치를 전기적 신호로 변환한다. 접촉 위치에서 선택된 지시 내용이 입력신호로 받아들여진다.
이와 같은 터치 패널은 키보드 및 마우스와 같이 영상 표시 장치에 연결되어 동작하는 별도의 입력장치를 대체할 수 있기 때문에 그 이용범위가 점차 확장되고 있는 추세이다. 터치 패널을 구현하는 방식으로는 저항막 방식, 광감지 방식 및 정전 용량 방식 등이 알려져 있다. 정전 용량 방식의 터치 패널은 사람 또는 물체에 직접 또는 간접 접촉될 때 도전성 감지 전극이 주변의 다른 감지 전극 또는 접지 전극 등과 형성하는 정전 용량의 변화를 감지함으로써, 접촉 위치를 전기적 신호로 변환한다. 최근 정전 용량 방식의 터치 패널의 제조 공정을 간소화하고, 터치 패널의 신뢰성을 향상시키기 위한 연구가 활발히 진행되고 있다.
본 발명의 목적은 공정을 간소화하여 제조할 수 있고, 신뢰성을 향상시킬 수 있는 터치 패널을 제공하는 것이다.
본 발명의 다른 목적은 공정을 간소화할 수 있고, 신뢰성을 향상시킬 수 있는 터치 패널의 제조 방법을 제공하는 것이다.
본 발명의 일 실시예에 따른 터치 패널의 제조 방법은 나노 와이어층을 제공하는 단계, 상기 은 나노 와이어층 상에 제1 유기 패턴들 및 제2 유기 패턴들을 제공하는 단계, 상기 제1 유기 패턴들 및 상기 제2 유기 패턴들 상에 금속층을 제공하는 단계, 상기 금속층 및 상기 은 나노 와이어층을 식각하여 제1 브릿지층, 제1 감지 전극들 및 제2 감지 전극들을 형성하는 단계, 상기 제1 유기 패턴들, 상기 제2 유기 패턴들, 상기 제1 브릿지층, 상기 제1 감지 전극들 및 상기 제2 감지 전극들 상에 투명 도전성 산화물층을 제공하는 단계 및 상기 투명 도전성 산화물층을 식각하여 제2 브릿지층을 형성하는 단계를 포함할 수 있다.
상기 금속층 및 상기 은 나노 와이어층은 하나의 단계에서 식각되는 것일 수 있다.
상기 제1 유기 패턴들 및 상기 제2 유기 패턴들을 제공하는 단계는 유기층을 제공하는 단계, 상기 유기층 상에 제1 포토 레지스트층을 제공하는 단계, 제1 마스크를 사용하여, 상기 제1 포토 레지스트층을 식각하여 제1 포토 레지스트 패턴들을 형성하는 단계 및 상기 제1 포토 레지스트 패턴들을 마스크로 하여, 상기 유기층을 식각하여, 상기 제1 유기 패턴들 및 상기 제2 유기 패턴들을 형성하는 단계를 포함하는 것일 수 있다.
상기 제1 브릿지층, 상기 제1 감지 전극들 및 상기 제2 감지 전극들을 형성하는 단계는 상기 금속층 상에 제2 포토 레지스트층을 제공하는 단계, 제2 마스크를 사용하여, 상기 제2 포토 레지스트층을 식각하여 제2 포토 레지스트 패턴들을 형성하는 단계 및 상기 제2 포토 레지스트 패턴들을 마스크로 하여, 상기 금속층 및 상기 투명 도전성 산화물층을 식각하여 상기 제1 브릿지층, 상기 제1 감지 전극들 및 상기 제2 감지 전극들을 형성하는 단계를 포함할 수 있다.
상기 제2 브릿지층을 형성하는 단계는 상기 투명 도전성 산화물층 상에 제3 포토 레지스트층을 제공하는 단계, 제3 마스크를 사용하여, 상기 제3 포토 레지스트층을 식각하여 제3 포토 레지스트 패턴들을 형성하는 단계 및 상기 제3 포토 레지스트 패턴들을 마스크로 하여, 상기 투명 도전성 산화물층을 식각하여 상기 제2 브릿지층을 형성하는 단계를 포함할 수 있다.
상기 제1 브릿지층, 상기 제1 감지 전극들 및 상기 제2 감지 전극들을 형성하는 단계에서, 상기 제1 감지 전극들 각각은 상기 제1 유기 패턴들 각각과 대응하고, 상기 제2 감지 전극들 각각은 상기 제2 유기 패턴들 각각과 대응하는 것일 수 있다.
본 발명의 일 실시예에 따른 터치 패널에 의하면, 공정을 간소화하여 제조하고, 신뢰성이 향상된 터치 패널을 제공할 수 있다.
본 발명의 일 실시예에 따른 터치 패널의 제조 방법에 의하면, 공정을 간소화할 수 있고, 신뢰성이 향상된 터치 패널을 제공할 수 있다.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 터치 패널을 개략적으로 나타낸 평면도이다.
도 2a는 도 1의 Ⅰ-Ⅰ'선에 대응하는 개략적인 단면도이다.
도 2b는 도 1의 Ⅱ-Ⅱ'선에 대응하는 개략적인 단면도이다.
도 2c는 도 1의 Ⅲ-Ⅲ'선에 대응하는 개략적인 단면도이다.
도 3a는 본 발명의 일 실시예에 따른 제1 감지 전극들의 개략적인 단면도이다.
도 3b는 본 발명의 일 실시예에 따른 제2 감지 전극들의 개략적인 단면도이다.
도 4는 본 발명의 일 실시에에 따른 터치 패널의 제조 방법을 개략적으로 나타낸 순서도이다.
도 5a 내지 도 5m은 본 발명의 일 실시예에 따른 터치 패널의 제조 방법을 순차적으로 나타낸 개략적인 단면도이다.
이상의 본 발명의 목적들, 다른 목적들, 특징들 및 이점들은 첨부된 도면과 관련된 이하의 바람직한 실시예들을 통해서 쉽게 이해될 것이다. 그러나 본 발명은 여기서 설명되는 실시예들에 한정되지 않고 다른 형태로 구체화될 수도 있다. 오히려, 여기서 소개되는 실시예들은 개시된 내용이 철저하고 완전해질 수 있도록 그리고 통상의 기술자에게 본 발명의 사상이 충분히 전달될 수 있도록 하기 위해 제공되는 것이다.
각 도면을 설명하면서 유사한 참조부호를 유사한 구성요소에 대해 사용하였다. 첨부된 도면에 있어서, 구조물들의 치수는 본 발명의 명확성을 위하여 실제보다 확대하여 도시한 것이다. 제1, 제2 등의 용어는 다양한 구성요소들을 설명하는데 사용될 수 있지만, 상기 구성요소들은 상기 용어들에 의해 한정되어서는 안 된다. 상기 용어들은 하나의 구성요소를 다른 구성요소로부터 구별하는 목적으로만 사용된다. 예를 들어, 본 발명의 권리 범위를 벗어나지 않으면서 제1 구성요소는 제2 구성요소로 명명될 수 있고, 유사하게 제2 구성요소도 제1 구성요소로 명명될 수 있다. 단수의 표현은 문맥상 명백하게 다르게 뜻하지 않는 한, 복수의 표현을 포함한다.
본 출원에서, "포함하다" 또는 "가지다" 등의 용어는 명세서 상에 기재된 특징, 숫자, 단계, 동작, 구성요소, 부품 또는 이들을 조합한 것이 존재함을 지정하려는 것이지, 하나 또는 그 이상의 다른 특징들이나 숫자, 단계, 동작, 구성요소, 부분품 또는 이들을 조합한 것들의 존재 또는 부가 가능성을 미리 배제하지 않는 것으로 이해되어야 한다. 또한, 층, 막, 영역, 판 등의 부분이 다른 부분 "상에" 있다고 할 경우, 이는 다른 부분 "바로 위에" 있는 경우뿐만 아니라 그 중간에 또 다른 부분이 있는 경우도 포함한다. 반대로 층, 막, 영역, 판 등의 부분이 다른 부분 "하부에" 있다고 할 경우, 이는 다른 부분 "바로 아래에" 있는 경우뿐만 아니라 그 중간에 또 다른 부분이 있는 경우도 포함한다.
이하에서는 본 발명의 일 실시예에 따른 터치 패널에 대하여 설명한다.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 터치 패널을 개략적으로 나타낸 평면도이다.
도 1을 참조하면, 본 발명의 일 실시예에 따른 터치 패널(10)은 사용자의 직접 터치, 사용자의 간접 터치, 물체의 직접 터치 또는 물체의 간접 터치를 인식할 수 있다. 직접 터치란 사용자 또는 물체가 터치 패널(10)을 직접적으로 접촉하는 것을 의미한다. 간접 터치란 사용자 또는 물체가 터치 패널(10)을 직접적으로 접촉하지 않아도, 터치 패널(10)이 사용자 또는 물체가 터치하는 것으로 인식할 수 있는 거리에 있어, 터치 패널(10)이 터치를 인식하는 것을 의미한다.
본 발명의 일 실시예에 따른 터치 패널(10)은 액정 표시 패널(Liquid Crystal Display Panel, LCD), 전계 방출 표시 패널(Field Emission Display Panel, FED), 플라즈마 디스플레이 패널(10)(Plasma Display Panel, PDP), 유기 전계 발광 표시 패널(Organic Electroluminescence Device, EL), 전기 영동 표시 패널 등을 포함하는 표시 장치에 적용될 수 있다. 이 때, 본 발명의 일 실시예에 따른 터치 패널(10)은 표시 패널과 접착제 또는 점착제에 의해 연결될 수도 있고, 표시 패널의 최상부에 위치하는 층(예를 들어, 유기 전계 발광 표시 패널에서 발광층을 포함하는 유기층을 보호하기 위한 봉지층)을 기저층(BL)으로 하여, 연속적으로 연결되는 것일 수도 있다.
본 발명의 일 실시예에 따른 터치 패널(10)은 기저층(BL), 제1 센싱부들(미도시), 제2 센싱부들(미도시), 패드부(PAD) 및 외곽 배선(OL)을 포함한다. 제1 감지 전극들(Tx) 및 제2 감지 전극들(Rx)은 감지 전극(TE)에 포함된다.
제1 센싱부들(미도시)은 제1 방향(DR1)으로 연장되고, 서로 제2 방향(DR2)으로 이격된다. 제1 센싱부들(미도시)은 제1 감지 전극들(Tx) 및 브릿지들(BD)을 포함한다.
제2 센싱부들(미도시)은 제2 방향(DR2)으로 연장되고, 서로 제1 방향(DR1)으로 이격된다. 제2 센싱부들은 제2 감지 전극들(Rx) 및 연결부들(CN)을 포함한다.
기저층(BL)에는 외부에 의한 터치가 입력될 수 있다. 기저층(BL)은 투광성으로, 투명한 유전 필름 형태로 구성될 수 있다. 기저층(BL)은 통상적으로 사용하는 물질이라면 특별히 한정하지 않으나, 예를 들어 플라스틱, 유리, 세라믹, 폴리머, 유기 화합물, 무기 화합물 등으로 이루어질 수 있다. 기저층(BL)은 예를 들어, 판상으로 제공될 수 있다. 또한, 기저층(BL)은 유기 전계 발광 소자에서, 발광층을 포함하는 유기층을 보호하기 위한 박막 봉지층인 것일 수도 있고, 별도의 기판일 수 있다.
기저층(BL)은 터치 비인식 영역(NTA) 및 터치 인식 영역(TA)을 포함한다. 터치 비인식 영역(NTA)은 외부의 터치를 인식하지 않는다. 터치 비인식 영역(NTA)은 예를 들어, 터치 인식 영역(TA)을 둘러싸는 것일 수 있다. 터치 인식 영역(TA)은 외부의 터치를 인식한다. 터치 인식 영역(TA)은 대략 직사각형일 수 있으나, 이에 한정되는 것은 아니다.
터치 비인식 영역(NTA)에는 패드부(PAD) 및 외곽 배선(OL)이 배치될 수 있다. 도 1에서는 패드부(PAD)가 평면상에서, 터치 인식 영역(TA)의 좌측에 배치되는 것을 예를 들어 도시하였으나, 이에 한정하는 것은 아니고, 평면상에서, 터치 인식 영역(TA)의 우측, 상측, 하측 등 다양한 위치에 배치될 수 있다.
패드부(PAD)는 감지 전극(TE)과 전기적으로 연결된다. 패드부(PAD)는 기저층(BL) 상에 형성된다. 패드부(PAD)는 제1 패드부들(PAD1) 및 제2 패드부들(PAD2)을 포함할 수 있다.
제1 패드부들(PAD1)은 제1 감지 전극들(Tx)과 전기적으로 연결된다. 제1 패드부들(PAD1)은 제1 감지 전극들(Tx) 중에서 제1 방향(DR1)으로 연장되는 하나의 행을 이루는 제1 감지 전극들(Tx) 중 일단에 배치되는 제1 감지 전극과 전기적으로 연결될 수 있다. 도 1에서는 제1 패드부들(PAD1)가 제1 방향(DR1)으로 연장되는 하나의 행을 이루는 제1 감지 전극들(Tx) 중 일단에 배치되는 제1 감지 전극과 전기적으로 연결되는 것을 예를 들어 설명하였으나, 이에 한정하는 것은 아니고, 제1 패드부들(PAD1)은 제1 방향(DR1)으로 연장되는 하나의 행을 이루는 제1 감지 전극들(Tx) 중 양단에 배치되는 제1 감지 전극들 각각과 전기적으로 연결될 수도 있다.
제2 패드부들(PAD2)은 제2 감지 전극들(Rx)과 전기적으로 연결된다. 제2 패드부들(PAD2)은 제2 감지 전극들(Rx) 중에서 제2 방향(DR2)으로 연장되는 하나의 열을 이루는 제2 감지 전극들(Rx) 중 일단에 배치되는 제2 감지 전극과 전기적으로 연결될 수 있다. 도 2에서는 제2 패드부들(PAD2)가 제2 방향(DR2)으로 연장되는 하나의 열을 이루는 제2 감지 전극들(Rx) 중 일단에 배치되는 제2 감지 전극과 전기적으로 연결되는 것을 예를 들어 설명하였으나, 이에 한정하는 것은 아니고, 제2 패드부들(PAD2)은 제2 방향(DR2)으로 연장되는 하나의 열을 이루는 제2 감지 전극들(Rx) 중 양단에 배치되는 제2 감지 전극들 각각과 전기적으로 연결될 수도 있다.
외곽 배선(OL)은 감지 전극(TE)과 패드부(PAD)를 연결한다. 외곽 배선(OL)은 기저층(BL) 상에 형성된다. 외곽 배선(OL)은 제1 외곽 배선들(OL1) 및 제2 외곽 배선들(OL2)을 포함할 수 있다.
제1 외곽 배선들(OL1)은 제1 감지 전극들(Tx) 및 제1 패드부들(PAD1)을 연결한다. 제1 감지 전극들(Tx) 중에서 제1 방향(DR1)으로 연장되는 하나의 행을 이루는 제1 감지 전극들(Tx) 중 일단에 배치되는 제1 감지 전극은 제1 외곽 배선들(OL1)과 연결되어, 제1 패드부들(PAD1)와 전기적으로 연결된다. 도 1에서는 제1 방향(DR1)으로 연장되는 하나의 행을 이루는 제1 감지 전극들(Tx) 중 일단에 배치되는 제1 감지 전극이 제1 외곽 배선들(OL1)과 연결되어 제1 패드부들(PAD1)와 전기적으로 연결되는 것을 예를 들어 설명하였으나, 제1 방향(DR1)으로 연장되는 하나의 행을 이루는 제1 감지 전극들(Tx) 중 양단에 배치되는 제1 감지 전극들 각각이 제1 외곽 배선들(OL1)과 연결되어, 제1 패드부들(PAD1)와 전기적으로 연결될 수도 있다.
제2 외곽 배선들(OL2)은 제2 감지 전극들(Rx) 및 제2 패드부들(PAD2)을 연결한다. 제2 감지 전극들(Rx) 중에서 제2 방향(DR2)으로 연장되는 하나의 열을 이루는 제2 감지 전극들(Rx) 중 일단에 배치되는 제2 감지 전극은 제2 외곽 배선들(OL2)과 연결되어, 제2 패드부들(PAD2)와 전기적으로 연결된다. 도 2에서는 제2 방향(DR2)으로 연장되는 하나의 열을 이루는 제2 감지 전극들(Rx) 중 일단에 배치되는 제2 감지 전극이 제2 외곽 배선들(OL2)과 연결되어 제2 패드부들(PAD2)와 전기적으로 연결되는 것을 예를 들어 설명하였으나, 제2 방향(DR2)으로 연장되는 하나의 열을 이루는 제2 감지 전극들(Rx) 중 양단에 배치되는 제2 감지 전극들 각각이 제2 외곽 배선들(OL2)과 연결되어, 제2 패드부들(PAD2)와 전기적으로 연결될 수도 있다.
터치 인식 영역(TA)에는 감지 전극(TE)이 배치될 수 있다. 터치 인식 영역(TA)에는 제1 센싱부들(미도시) 및 제2 센싱부들(미도시)이 배치될 수 있다. 터치 인식 영역(TA)에서는 감지 전극(TE)에 의해 외부에 터치의 입력이 인식된다. 외부에 의한 터치와 관련하여, 외부에 의한 터치가 발생되면, 감지 전극(TE), 예를 들어 감지 전극(TE)에 포함되는 제1 감지 전극들(Tx) 및 제2 감지 전극들(Rx) 사이에 정전 용량의 변화가 발생된다. 정전 용량의 변화에 따라 제1 감지 전극들(Tx)에 인가되는 감지 신호는 딜레이되어 제2 감지 전극들(Rx)에 제공될 수 있다. 터치 패널(10)은 감지 신호의 딜레이 값으로부터 터치 좌표를 센싱할 수 있다.
도 2a는 도 1의 Ⅰ-Ⅰ'선에 대응하는 개략적인 단면도이다. 도 2b는 도 1의 Ⅱ-Ⅱ'선에 대응하는 개략적인 단면도이다. 도 2c는 도 1의 Ⅲ-Ⅲ'선에 대응하는 개략적인 단면도이다.
도 3a는 본 발명의 일 실시예에 따른 제1 감지 전극들의 개략적인 단면도이다. 도 3b는 본 발명의 일 실시예에 따른 제2 감지 전극들의 개략적인 단면도이다.
도 1 및 도 2a 내지 도 2c를 참조하면, 감지 전극(TE)은 제1 방향(DR1)으로 연장되는 복수의 행들과 제2 방향(DR2)으로 연장되는 복수의 열들을 갖는 매트릭스 형태로 배치된다. 감지 전극(TE)은 제1 감지 전극들(Tx) 및 제2 감지 전극들(Rx)을 포함한다. 제1 감지 전극들(Tx) 및 제2 감지 전극들(Rx) 각각은 서로 전기적으로 절연된다. 제1 감지 전극들(Tx) 및 제2 감지 전극들(Rx) 각각은 대략적으로 마름모, 정사각형, 직사각형, 원 또는 정형화되지 않은 모양(예를 들면, 덴드라이트(dendrite) 구조와 같이 나뭇가지들이 얽혀 있는 모양) 등의 다양한 형상을 가질 수 있다.
제1 감지 전극들(Tx)은 제1 방향(DR1) 및 제1 방향(DR1)과 교차하는 제2 방향(DR2) 각각으로 이격되어 배열된다. 제1 방향(DR1)으로 이격되는 제1 감지 전극들(Tx)은 브릿지들(BD)에 의해 연결된다.
제1 감지 전극들(Tx)은 수지층(RL) 및 수지층(RL)에 배치되는 은 나노 와이어(NW)를 포함한다. 제1 감지 전극들(Tx) 각각은 제1 감지부(SP1) 및 제1 비감지부(NSP1)를 포함한다. 제1 감지부(SP1)는 은 나노 와이어(NW)를 포함한다. 제1 비감지부(NSP1)는 제1 감지부(SP1)와 연결된다. 제1 비감지부(NSP1)는 은 나노 와이어(NW)를 포함하지 않는다. 즉, 제1 비감지부(NSP1)는 수지층(RL)으로 구성된다. 도 3a를 참조하면, 평면상에서, 제1 비감지부(NSP1)는 제1 감지부(SP1)를 둘러싸는 것일 수 있다. 도 3a를 참조하면, 평면상에서 제1 감지부(SP1)는 마름모 형상을 갖는 것일 수 있고, 평면상에서 제1 비감지부(NSP1)는 마름모 형태의 고리 형상을 갖는 것일 수 있다.
다시, 도 1 및 도 2a 내지 도 2c를 참조하면, 제2 감지 전극들(Rx)은 제1 방향(DR1) 및 제2 방향(DR2)으로 이격되어 배열된다. 제2 방향(DR2)으로 이격되는 제2 감지 전극들(Rx)은 연결부들(CN)에 의해 연결된다.
제2 감지 전극들(Rx)은 수지층(RL) 및 수지층(RL)에 배치되는 은 나노 와이어(NW)를 포함한다. 제2 감지 전극들(Rx) 각각은 제2 감지부(SP2) 및 제2 비감지부(NSP2)를 포함한다. 제2 감지부(SP2)는 은 나노 와이어(NW)를 포함한다. 제2 비감지부(NSP2)는 제2 감지부(SP2)와 연결된다. 제2 비감지부(NSP2)는 은 나노 와이어(NW)를 포함하지 않는다. 즉, 제2 비감지부(NSP2)는 수지층(RL)으로 구성된다. 도 3b를 참조하면, 평면상에서, 제2 비감지부(NSP2)는 제2 감지부(SP2)를 둘러싸는 것일 수 있다. 도 3b를 참조하면, 평면상에서 제2 감지부(SP2)는 마름모 형상을 갖는 것일 수 있고, 평면상에서 제2 비감지부(NSP2)는 마름모 형태의 고리 형상을 갖는 것일 수 있다.
다시, 도 1 및 도 2a 내지 도 2c를 참조하면, 브릿지들(BD)은 제1 방향(DR1)으로 이격되는 제1 감지 전극들(Tx)을 연결한다. 브릿지들(BD)에 의해, 제1 방향(DR1)으로 이격되는 제1 감지 전극들(Tx)이 서로 신호를 주고받을 수 있다.
브릿지들(BD) 각각은 제1 방향(DR1)으로 서로 이격되고, 제1 방향(DR1)으로 서로 인접한 두 개의 제1 감지 전극들(Tx)을 연결한다. "서로 인접한"이란 서로 이격된 거리가 최소인 것을 의미한다.
브릿지들(BD) 각각은 제1 브릿지층(BDL1) 및 제2 브릿지층(BDL2)을 포함한다. 제1 브릿지층(BDL1)은 컨택홀(CH)과 중첩한다. 제1 브릿지층(BDL1)은 금속을 포함한다. 금속은 통상적으로 사용하는 것이라면 특별히 한정하지 않으나, 예를 들어, Al, Cu, Ti, Ag, Au, Pt, Mo, 은 파라듐 구리 합금(APC) 및 은 파라듐 합금(AP) 중 적어도 하나를 포함할 수 있다. 제1 브릿지층(BDL1)은 제1 감지 전극들(Tx) 및 제2 감지 전극들(Rx) 각각과 동일한 공정에서 형성된다.
제1 브릿지층(BDL1)을 제2 브릿지층(BDL2)과 대응하여 제공할 경우, 제1 브릿지층(BDL1)이 금속을 포함하여, 불투명하므로 사용자에게 인식될 수 있다. 본 발명의 일 실시예에 따른 터치 패널은 저항이 낮은 금속을 포함하는 제1 브릿지층(BDL1)을 사용하여, 저항이 높은 제2 브릿지층(BDL2)만 사용하는 경우에 비해 저항 값을 낮출 수 있고, 또한, 최소한의 제1 브릿지층(BDL1)만을 사용하여, 사용자에게 브릿지들(BD)가 인식되는 것을 줄일 수 있다.
평면상에서, 제1 브릿지층(BDL1)은 제1 감지 전극들(Tx) 각각의 일부와 중첩한다. 평면상에서, 제1 브릿지층(BDL1)은 제2 감지 전극들(Rx) 각각과 이격된다. 평면상에서, 제1 브릿지층(BDL1)은 연결부들(CN)과 이격된다.
평면상에서, 제1 브릿지층(BDL1)은 제1 유기 패턴들(OP1) 각각의 일부와 중첩한다. 평면상에서, 제1 브릿지층(BDL1)은 제2 유기 패턴들(OP2)과 이격된다. 평면상에서, 제1 브릿지층(BDL1)은 제3 유기 패턴들(OP3)과 이격된다.
제2 브릿지층(BDL2)의 일부는 제1 브릿지층(BDL1)과 중첩한다. 제2 브릿지층(BDL2)은 제1 브릿지층(BDL1) 및 제1 유기 패턴들(OP1) 상에 제공된다. 제2 브릿지층(BDL2)은 제1 브릿지층(BDL1), 제1 유기 패턴들(OP1) 및 제3 유기 패턴들(OP3) 상에 제공된다. 제2 브릿지층(BDL2)은 제1 감지 전극들(Tx) 각각의 일부와 중첩한다. 평면상에서 제2 브릿지층(BDL2)은 제1 감지 전극들(Tx) 각각의 일부와 중첩한다. 제2 브릿지층(BDL2)은 제2 감지 전극들(Rx)과 이격된다. 평면상에서 제2 브릿지층(BDL2)은 제2 감지 전극들(Rx)과 이격된다. 제2 브릿지층(BDL2)은 연결부들(CN)과 중첩한다. 평면상에서 제2 브릿지층(BDL2)은 연결부들(CN)과 중첩한다.
제2 브릿지층(BDL2)은 투명 도전성 산화물을 포함한다. 투명 도전성 산화물은 통상적으로 사용하는 것이라면 특별히 한정하지 않으나, ITO(Indium Tin Oxide), IZO(Indium Zinc Oxide) 및 IGZO(Indium Gallium Zinc Oxide) 중 적어도 하나를 포함할 수 있다.
제2 브릿지층(BDL2)은 제1 브릿지부(BDLP1) 및 제2 브릿지부(BDLP2)를 포함한다. 제1 브릿지부(BDLP1)는 제1 브릿지층(BDL1)과 중첩한다. 제1 브릿지부(BDLP1)는 제1 브릿지층(BDL1)과 대응한다. 제1 브릿지부(BDLP1)는 제1 브릿지층(BDL1) 상에 제공된다. 제1 브릿지부(BDLP1)는 제1 유기 패턴들(OP1) 각각의 일부와 중첩한다. 평면상에서 제1 브릿지부(BDLP1)는 제1 유기 패턴들(OP1) 각각의 일부와 중첩한다. 제1 브릿지부(BDLP1)는 제1 감지 전극들(Tx) 각각의 일부와 중첩한다. 평면상에서 제1 브릿지부(BDLP1)는 제1 감지 전극들(Tx) 각각의 일부와 중첩한다. 제1 브릿지부(BDLP1)는 제2 유기 패턴들(OP2)과 이격된다. 평면상에서 제1 브릿지부(BDLP1)는 제2 유기 패턴들(OP2)과 이격된다. 제1 브릿지부(BDLP1)는 제2 감지 전극들(Rx)과 이격된다. 평면상에서 제1 브릿지부(BDLP1)는 제2 감지 전극들(Rx)과 이격된다. 제1 브릿지부(BDLP1)는 제3 유기 패턴들(OP3)과 이격된다. 평면상에서 제1 브릿지부(BDLP1)는 제3 유기 패턴들(OP3)과 이격된다. 제1 브릿지부(BDLP1)는 연결부들(CN)과 이격된다. 평면상에서 제1 브릿지부(BDLP1)는 연결부들(CN)과 이격된다.
제2 브릿지부(BDLP2)는 제1 브릿지부(BDLP1)와 연결된다. 제2 브릿지부(BDLP2)는 제1 브릿지부(BDLP1)와 일체이다. 제2 브릿지부(BDLP2)는 제1 브릿지층(BDL1)과 중첩하지 않는다. 평면상에서 제2 브릿지부(BDLP2)는 제1 브릿지층(BDL1)과 중첩하지 않는다. 제2 브릿지부(BDLP2)는 제1 유기 패턴들(OP1) 각각의 일부와 중첩한다. 평면상에서 제2 브릿지부(BDLP2)는 제1 유기 패턴들(OP1) 각각의 일부와 중첩한다. 제2 브릿지부(BDLP2)는 제1 감지 전극들(Tx) 각각의 일부와 중첩한다. 평면상에서 제2 브릿지부(BDLP2)는 제1 감지 전극들(Tx) 각각의 일부와 중첩한다. 제2 브릿지부(BDLP2)는 제2 유기 패턴들(OP2)과 이격된다. 평면상에서 제2 브릿지부(BDLP2)는 제2 유기 패턴들(OP2)과 이격된다. 제2 브릿지부(BDLP2)는 제2 감지 전극들(Rx)과 이격된다. 평면상에서 제2 브릿지부(BDLP2)는 제2 감지 전극들(Rx)과 이격된다. 제2 브릿지부(BDLP2)는 제3 유기 패턴들(OP3)과 중첩한다. 평면상에서 제2 브릿지부(BDLP2)는 제3 유기 패턴들(OP3)과 중첩한다. 제2 브릿지부(BDLP2)는 연결부들(CN)과 중첩한다. 평면상에서 제2 브릿지부(BDLP2)는 연결부들(CN)과 중첩한다.
연결부들(CN)은 제2 방향(DR2)으로 서로 이격되는 제2 감지 전극들(Rx)을 서로 연결한다. 연결부들(CN)에 의해, 제2 방향(DR2)으로 이격되는 제2 감지 전극들(Rx)이 서로 신호를 주고받을 수 있다. 연결부들(CN) 각각은 제2 방향(DR2)으로 서로 이격되고, 제2 방향(DR2)으로 서로 인접한 두 개의 제2 감지 전극들(Rx)을 연결한다. 연결부들(CN) 각각은 제2 감지 전극들(Rx)과 일체로 형성된다. 연결부들(CN)은 수지층(RL) 및 수지층(RL)에 배치되는 은 나노 와이어(NW)를 포함한다.
연결부들(CN) 각각은 제1 서브 연결부(CNP1) 및 제2 서브 연결부(CNP2)를 포함한다. 제1 서브 연결부(CNP1)는 수지층(RL) 및 수지층(RL)에 배치되는 은 나노 와이어(NW)를 포함한다. 제2 서브 연결부(CNP2)는 제1 서브 연결부(CNP1)와 연결된다. 제2 서브 연결부(CNP2)는 은 나노 와이어(NW)를 포함하지 않는다. 제2 서브 연결부(CNP2)는 수지층(RL)으로 구성된다.
본 발명의 일 실시예에 따른 터치 패널(10)은 제1 유기 패턴들(OP1), 제2 유기 패턴들(OP2) 및 제3 유기 패턴들(OP3)을 포함한다. 제1 유기 패턴들(OP1), 제2 유기 패턴들(OP2) 및 제3 유기 패턴들(OP3)은 동일한 공정에서 형성되는 것일 수 있다. 제1 유기 패턴들(OP1), 제2 유기 패턴들(OP2) 및 제3 유기 패턴들(OP3)은 PET(Polyethylene terephthalate), PEN(Polyethylene naphthalate), 폴리이미드(Polyimide), 폴리에테르술폰 등을 포함할 수 있다.
제1 유기 패턴들(OP1) 각각은 제1 감지 전극들(Tx) 각각 상에 제공된다. 제1 유기 패턴들(OP1) 각각은 제1 감지 전극들(Tx) 각각과 대응한다. 제1 유기 패턴들(OP1) 각각은 적어도 하나의 컨택홀(CH)을 포함한다. 제1 유기 패턴들(OP1) 각각은 제1 감지 전극들(Tx) 각각과 중첩한다. 평면상에서 제1 유기 패턴들(OP1) 각각은 제1 감지 전극들(Tx) 각각과 중첩한다. 제1 유기 패턴들(OP1)은 제2 유기 패턴들(OP2)과 이격된다. 평면상에서 제1 유기 패턴들(OP1)은 제2 유기 패턴들(OP2)과 이격된다. 제1 유기 패턴들(OP1)은 제3 유기 패턴들(OP3)과 이격된다. 평면상에서 제1 유기 패턴들(OP1)은 제3 유기 패턴들(OP3)과 이격된다.
제2 유기 패턴들(OP2) 각각은 제2 감지 전극들(Rx) 각각 상에 제공된다. 제2 유기 패턴들(OP2) 각각은 제2 감지 전극들(Rx) 각각과 대응한다. 제2 유기 패턴들(OP2) 각각은 제2 감지 전극들(Rx) 각각과 중첩한다. 평면상에서 제2 유기 패턴들(OP2) 각각은 제2 감지 전극들(Rx) 각각과 중첩한다.
제3 유기 패턴들(OP3) 각각은 연결부들(CN) 상에 제공된다. 제3 유기 패턴들(OP3) 각각은 연결부들(CN) 각각과 대응한다. 제3 유기 패턴들(OP3) 각각은 제2 유기 패턴들(OP2)과 일체이다. 제3 유기 패턴들(OP3) 각각은 연결부들(CN) 각각과 중첩한다. 평면상에서 제3 유기 패턴들(OP3) 각각은 연결부들(CN) 각각과 중첩한다.
종래의 터치 패널은 일반적으로, 제1 유기 패턴들, 제2 유기 패턴들 및 제3 유기 패턴들을 포함하지 않았다. 제1 감지 전극들, 제2 감지 전극들 및 연결부들에 포함되는 은 나노 와이어는 제1 유기 패턴들, 제2 유기 패턴들 및 제3 유기 패턴들을 포함하지 않는 경우, 브릿지들에 포함되는 금속을 식각할 때 함께 식각될 수 있다.
본 발명의 일 실시예에 따른 터치 패널은 제1 감지 전극들 상에 배치되는 제1 유기 패턴들을 포함하고, 제2 감지 전극들 상에 배치되는 제2 유기 패턴들을 포함하고, 연결부들 상에 배치되는 제3 유기 패턴들을 포함한다. 이에 따라, 브릿지들을 형성하는 과정에서 제1 감지 전극들, 제2 감지 전극들 및 연결부들이 손상되는 것을 방지할 수 있다. 이에 따라 본 발명의 일 실시예에 따른 터치 패널은 종래의 터치 패널과 비교할 때 터치의 신뢰성을 향상시킬 수 있다.
이하에서는 본 발명의 일 실시예에 따른 터치 패널의 제조 방법에 대하여 설명한다. 이하에서는 앞서 설명한 본 발명의 일 실시예에 따른 터치 패널과의 차이점을 위주로 구체적으로 설명하고, 설명되지 않은 부분은 앞서 설명한 본 발명의 일 실시예에 따른 터치 패널에 따른다.
도 4는 본 발명의 일 실시에에 따른 터치 패널의 제조 방법을 개략적으로 나타낸 순서도이다. 도 5a 내지 도 5m은 본 발명의 일 실시예에 따른 터치 패널의 제조 방법을 순차적으로 나타낸 개략적인 단면도이다.
도 1, 도 2a 내지 도 2c 및 도 4를 참조하면, 본 발명의 일 실시예에 따른 터치 패널(10)의 제조 방법은 은 나노 와이어층(NWL)을 제공하는 단계(S100), 은 나노 와이어층(NWL) 상에 제1 유기 패턴들(OP1) 및 제2 유기 패턴들(OP2)을 제공하는 단계(S200), 제1 유기 패턴들(OP1) 및 제2 유기 패턴들(OP2) 상에 금속층(ML)을 제공하는 단계(S300), 금속층(ML) 및 은 나노 와이어층(NWL)을 식각하여 제1 브릿지층(BDL1), 제1 감지 전극들(Tx) 및 제2 감지 전극들(Rx)을 형성하는 단계(S400), 제1 유기 패턴들(OP1), 제2 유기 패턴들(OP2), 제1 브릿지층(BDL1), 제1 감지 전극들(Tx) 및 제2 감지 전극들(Rx) 상에 투명 도전성 산화물층(TCOL)을 제공하는 단계(S500) 및 투명 도전성 산화물층(TCOL)을 식각하여 제2 브릿지층(BDL2)을 형성하는 단계(S600)를 포함한다.
도 4 및 도 5a를 참조하면, 기저층(BL) 상에 은 나노 와이어층(NWL)을 제공한다(S100). 기저층(BL)은 투광성 기저층으로, 투명한 유전 필름 형태로 구성될 수 있다. 기저층(BL)은 통상적으로 사용하는 물질이라면 특별히 한정하지 않으나, 예를 들어 플라스틱, 유리, 세라믹, 폴리머, 유기 화합물, 무기 화합물 등으로 이루어질 수 있다. 기저층(BL)은 예를 들어, 판상으로 제공될 수 있다. 또한, 기저층(BL)은 유기 전계 발광 소자에서, 발광층을 포함하는 유기층을 보호하기 위한 박막 봉지층인 것일 수도 있고, 별도의 기판일 수 있다.
은 나노 와이어층(NWL)은 수지층(RL) 및 수지층(RL)에 배치되는 은 나노 와이어(NW)를 포함한다. 은 나노 와이어층(NWL)은 기저층(BL) 상에 전면적으로 제공된다.
도 4 및 도 5b 내지 도 5e를 참조하면, 제1 유기 패턴들(OP1) 및 제2 유기 패턴들(OP2)을 제공하는 단계(S200)는 유기층(ORL)을 제공하는 단계, 유기층(ORL) 상에 제1 포토 레지스트층(PRL1)을 제공하는 단계, 제1 마스크(MSK1)를 사용하여, 제1 포토 레지스트층(PRL1)을 식각하여 제1 포토 레지스트 패턴들(PRP1)을 형성하는 단계 및 제1 포토 레지스트 패턴들(PRP1)을 마스크로 하여, 유기층(ORL)을 식각하여, 제1 유기 패턴들(OP1) 및 제2 유기 패턴들(OP2)을 형성하는 단계를 포함하는 것일 수 있다.
도 4 및 도 5b를 참조하면, 은 나노 와이어층(NWL) 상에 유기층(ORL)을 제공한다. 유기층(ORL)은 통상적으로 사용하는 것이라면 특별히 한정하지 않으나, 유기 절연 물질인 것일 수 있다. 유기층(ORL)은 예를 들어, PET(Polyethylene terephthalate), PEN(Polyethylene naphthalate), 폴리이미드(Polyimide), 폴리에테르술폰 등을 포함하는 것일 수 있다.
도 4 및 도 5c를 참조하면, 유기층(ORL) 상에 제1 포토 레지스트층(PRL1)을 제공한다. 제1 포토 레지스트층(PRL1)은 포토 레지스트를 도포하여 형성할 수 있다. 포토 레지스트층 상에 제1 마스크(MSK1)를 배치한다.
도 4 및 도 5d를 참조하면, 제1 마스크(MSK1)를 사용하여, 제1 포토 레지스트층(PRL1)을 노광 및 현상하여 제1 포토 레지스트 패턴들(PRP1)을 형성한다. 제1 포토 레지스트 패턴들(PRP1)은 유기층(ORL) 상에 제공된다.
도 4 및 도 5e를 참조하면, 제1 포토 레지스트 패턴들(PRP1)을 마스크로 하여, 제1 유기 패턴들(OP1), 제2 유기 패턴들(OP2) 및 제3 유기 패턴들(OP3)을 형성한다. 제1 유기 패턴들(OP1), 제2 유기 패턴들(OP2) 및 제3 유기 패턴들(OP3)을 형성하고, 제1 포토 레지스트 패턴들(PRP1)을 제거한다.
도 4 및 도 5f를 참조하면, 제1 유기 패턴들(OP1) 및 제2 유기 패턴들(OP2) 상에 금속층(ML)을 제공한다(S300). 제3 유기 패턴들(OP3) 상에도 금속층(ML)이 제공된다. 금속층(ML)은 전면적으로 제공된다. 금속층(ML)은 통상적으로 사용하는 것이라면 특별히 한정하지 않으나, 예를 들어, Al, Cu, Ti, Ag, Au, Pt, Mo, 은 파라듐 구리 합금(APC) 및 은 파라듐 합금(AP) 중 적어도 하나를 포함할 수 있다.
도 4 및 도 5g 내지 도 5i를 참조하면, 제1 브릿지층(BDL1), 제1 감지 전극들(Tx) 및 제2 감지 전극들(Rx)을 형성하는 단계(S400)는 금속층(ML) 상에 제2 포토 레지스트층(PRL2)을 제공하는 단계, 제2 마스크(MSK2)를 사용하여, 제2 포토 레지스트층(PRL2)을 식각하여 제2 포토 레지스트 패턴들(PRP2)을 형성하는 단계 및 제2 포토 레지스트 패턴들(PRP2)을 마스크로 하여, 금속층(ML) 및 투명 도전성 산화물층(TCOL)을 식각하여 제1 브릿지층(BDL1), 제1 감지 전극들(Tx) 및 제2 감지 전극들(Rx)을 형성하는 단계를 포함하는 것일 수 있다.
도 4 및 도 5g를 참조하면, 금속층(ML) 상에 제2 포토 레지스트층(PRL2)을 제공한다. 제2 포토 레지스트층(PRL2)은 포토 레지스트를 도포하여 형성할 수 있다. 포토 레지스트층 상에 제2 마스크(MSK2)를 배치한다.
도 4 및 도 5h를 참조하면, 제2 마스크(MSK2)를 사용하여, 제2 포토 레지스트층(PRL2)을 노광 및 현상하여 제2 포토 레지스트 패턴들(PRP2)을 형성한다. 제2 포토 레지스트 패턴들(PRP2)은 금속층(ML) 상에 제공된다.
도 4 및 도 5i를 참조하면, 제2 포토 레지스트 패턴들(PRP2)을 마스크로 하여, 금속층(ML) 및 은 나노 와이어층(NWL)을 하나의 단계에서 식각하여, 제1 브릿지층(BDL1), 제1 감지 전극들(Tx) 및 제2 감지 전극들(Rx)을 형성한다. 제2 포토 레지스트 패턴들(PRP2)을 마스크로 하여, 제1 브릿지층(BDL1), 제1 감지 전극들(Tx), 제2 감지 전극들(Rx) 및 연결부들(CN)를 형성한다. 제1 브릿지층(BDL1), 제1 감지 전극들(Tx) 및 제2 감지 전극들(Rx)을 형성하고, 제2 포토 레지스트 패턴들(PRP2)을 제거한다.
제1 감지 전극들(Tx)은 수지층(RL) 및 수지층(RL)에 배치되는 은 나노 와이어(NW)를 포함한다. 제1 감지 전극들(Tx) 각각은 제1 감지부(SP1) 및 제1 비감지부(NSP1)를 포함한다. 제1 감지부(SP1)는 은 나노 와이어(NW)를 포함한다. 제1 비감지부(NSP1)는 제1 감지부(SP1)와 연결된다. 제1 비감지부(NSP1)는 은 나노 와이어(NW)를 포함하지 않는다.
제1 유기 패턴들(OP1) 각각은 제1 감지 전극들(Tx) 각각 상에 제공된다. 제1 유기 패턴들(OP1) 각각은 제1 감지 전극들(Tx) 각각과 대응한다. 제1 유기 패턴들(OP1) 각각은 적어도 하나의 컨택홀(CH)을 포함한다. 제1 유기 패턴들(OP1) 각각은 제1 감지 전극들(Tx) 각각과 중첩한다.
제2 감지 전극들(Rx)은 수지층(RL) 및 수지층(RL)에 배치되는 은 나노 와이어(NW)를 포함한다. 제2 감지 전극들(Rx) 각각은 제2 감지부(SP2) 및 제2 비감지부(NSP2)를 포함한다. 제2 감지부(SP2)는 은 나노 와이어(NW)를 포함한다. 제2 비감지부(NSP2)는 제2 감지부(SP2)와 연결된다. 제2 비감지부(NSP2)는 은 나노 와이어(NW)를 포함하지 않는다.
제2 유기 패턴들(OP2) 각각은 제2 감지 전극들(Rx) 각각 상에 제공된다. 제2 유기 패턴들(OP2) 각각은 제2 감지 전극들(Rx) 각각과 대응한다. 제2 유기 패턴들(OP2) 각각은 제2 감지 전극들(Rx) 각각과 중첩한다.
연결부들(CN)은 제2 감지 전극들(Rx)과 일체로 형성된다. 연결부들(CN)은 수지층(RL) 및 수지층(RL)에 배치되는 은 나노 와이어(NW)를 포함한다. 연결부들(CN) 각각은 제1 서브 연결부(CNP1) 및 제2 서브 연결부(CNP2)를 포함한다. 제1 서브 연결부(CNP1)는 수지층(RL) 및 수지층(RL)에 배치되는 은 나노 와이어(NW)를 포함한다. 제2 서브 연결부(CNP2)는 제1 서브 연결부(CNP1)와 연결된다. 제2 서브 연결부(CNP2)는 은 나노 와이어(NW)를 포함하지 않는다.
제3 유기 패턴들(OP3) 각각은 연결부들(CN) 각각상에 제공된다. 제3 유기 패턴들(OP3) 각각은 연결부들(CN) 각각과 대응한다. 제3 유기 패턴들(OP3)은 제2 유기 패턴들(OP2)과 일체이다. 제3 유기 패턴들(OP3) 각각은 연결부들(CN) 각각과 중첩한다.
제1 브릿지층(BDL1)은 제1 유기 패턴들(OP1)에 포함되는 컨택홀(CH)과 중첩한다. 제1 브릿지층(BDL1)은 제1 감지 전극들(Tx) 각각의 일부와 중첩한다. 제1 브릿지층(BDL1)은 제2 감지 전극들(Rx) 각각과 이격된다. 제1 브릿지층(BDL1)은 연결부들(CN)과 이격된다. 제1 브릿지층(BDL1)은 제1 유기 패턴들(OP1) 각각의 일부와 중첩한다. 제1 브릿지층(BDL1)은 제2 유기 패턴들(OP2)과 이격된다. 제1 브릿지층(BDL1)은 제3 유기 패턴들(OP3)과 이격된다.
도 4 및 도 5j를 참조하면, 제1 유기 패턴들(OP1), 제2 유기 패턴들(OP2), 제1 브릿지층(BDL1), 제1 감지 전극들(Tx) 및 제2 감지 전극들(Rx) 상에 투명 도전성 산화물층(TCOL)을 제공한다(S500). 투명 도전성 산화물층(TCOL)은 통상적으로 사용하는 것이라면 특별히 한정하지 않으나, ITO(Indium Tin Oxide), IZO(Indium Zinc Oxide) 및 IGZO(Indium Gallium Zinc Oxide) 중 적어도 하나를 포함할 수 있다. 투명 도전성 산화물층(TCOL)은 전면적으로 제공된다.
도 4 및 도 5k 내지 도 5m을 참조하면, 제2 브릿지층(BDL2)을 형성하는 단계(S600)는 투명 도전성 산화물층(TCOL) 상에 제3 포토 레지스트층(PRL3)을 제공하는 단계, 제3 마스크(MSK3)를 사용하여, 제3 포토 레지스트층(PRL3)을 식각하여 제3 포토 레지스트 패턴들(PRP3)을 형성하는 단계, 및 제3 포토 레지스트 패턴들(PRP3)을 마스크로 하여, 투명 도전성 산화물층(TCOL)을 식각하여 제2 브릿지층(BDL2)을 형성하는 단계를 포함하는 것일 수 있다.
도 4 및 도 5k를 참조하면, 투명 도전성 산화물층(TCOL) 상에 제3 포토 레지스트층(PRL3)을 제공한다. 제3 포토 레지스트층(PRL3)은 포토 레지스트를 도포하여 형성할 수 있다. 포토 레지스트층 상에 제3 마스크(MSK3)를 배치한다.
도 4 및 도 5l를 참조하면, 제3 마스크(MSK3)를 사용하여, 제3 포토 레지스트층(PRL3)을 노광 및 현상하여 제3 포토 레지스트 패턴들(PRP3)을 형성한다. 제3 포토 레지스트 패턴들(PRP3)은 투명 도전성 산화물층(TCOL) 상에 제공된다.
도 4 및 도 5m을 참조하면, 제3 포토 레지스트 패턴들(PRP3)을 마스크로 하여, 투명 도전성 산화물층(TCOL)을 식각하여, 제2 브릿지층(BDL2)을 형성한다. 제2 브릿지층(BDL2)을 형성하고, 제3 포토 레지스트 패턴들(PRP3)을 제거한다.
브릿지들(BD) 각각은 제1 브릿지층(BDL1) 및 제2 브릿지층(BDL2)을 포함한다. 제2 브릿지층(BDL2)의 일부는 제1 브릿지층(BDL1)과 중첩한다. 제2 브릿지층(BDL2)은 제1 브릿지층(BDL1) 및 제1 유기 패턴들(OP1) 상에 제공된다. 제2 브릿지층(BDL2)은 제1 브릿지층(BDL1), 제1 유기 패턴들(OP1) 및 제3 유기 패턴들(OP3) 상에 제공된다. 제2 브릿지층(BDL2)은 제1 감지 전극들(Tx) 각각의 일부와 중첩한다. 제2 브릿지층(BDL2)은 제2 감지 전극들(Rx)과 이격된다. 제2 브릿지층(BDL2)은 연결부들(CN)과 중첩한다.
제2 브릿지층(BDL2)은 제1 브릿지부(BDLP1) 및 제2 브릿지부(BDLP2)를 포함한다. 제1 브릿지부(BDLP1)는 제1 브릿지층(BDL1)과 중첩한다. 제1 브릿지부(BDLP1)는 제1 브릿지층(BDL1)과 대응한다. 제1 브릿지부(BDLP1)는 제1 브릿지층(BDL1) 상에 제공된다. 제1 브릿지부(BDLP1)는 제1 유기 패턴들(OP1) 각각의 일부와 중첩한다. 제1 브릿지부(BDLP1)는 제1 감지 전극들(Tx) 각각의 일부와 중첩한다. 제1 브릿지부(BDLP1)는 제2 유기 패턴들(OP2)과 이격된다. 제1 브릿지부(BDLP1)는 제2 감지 전극들(Rx)과 이격된다. 제1 브릿지부(BDLP1)는 제3 유기 패턴들(OP3)과 이격된다. 제1 브릿지부(BDLP1)는 연결부들(CN)과 이격된다.
제2 브릿지부(BDLP2)는 제1 브릿지부(BDLP1)와 연결된다. 제2 브릿지부(BDLP2)는 제1 브릿지부(BDLP1)와 일체이다. 제2 브릿지부(BDLP2)는 제1 브릿지층(BDL1)과 중첩하지 않는다. 제2 브릿지부(BDLP2)는 제1 유기 패턴들(OP1) 각각의 일부와 중첩한다. 제2 브릿지부(BDLP2)는 제1 감지 전극들(Tx) 각각의 일부와 중첩한다. 제2 브릿지부(BDLP2)는 제2 유기 패턴들(OP2)과 이격된다. 제2 브릿지부(BDLP2)는 제2 감지 전극들(Rx)과 이격된다. 제2 브릿지부(BDLP2)는 제3 유기 패턴들(OP3)과 중첩한다. 제2 브릿지부(BDLP2)는 연결부들(CN)과 중첩한다.
종래의 터치 패널의 제조 방법에 의해 제조된 터치 패널은 일반적으로, 제1 유기 패턴들, 제2 유기 패턴들 및 제3 유기 패턴들을 포함하지 않았다. 제1 감지 전극들, 제2 감지 전극들 및 연결부들에 포함되는 은 나노 와이어는 제1 유기 패턴들, 제2 유기 패턴들 및 제3 유기 패턴들을 포함하지 않는 경우, 브릿지들에 포함되는 금속을 식각할 때 함께 식각될 수 있다.
본 발명의 일 실시예에 따른 터치 패널의 제조 방법에 의해 제조된 터치 패널은 제1 감지 전극들 상에 배치되는 제1 유기 패턴들을 포함하고, 제2 감지 전극들 상에 배치되는 제2 유기 패턴들을 포함하고, 연결부들 상에 배치되는 제3 유기 패턴들을 포함한다. 이에 따라, 브릿지들을 형성하는 과정에서 제1 감지 전극들, 제2 감지 전극들 및 연결부들이 손상되는 것을 방지할 수 있다. 이에 따라 본 발명의 일 실시예에 따른 터치 패널의 제조 방법에 의해 제조된 터치 패널은 종래의 터치 패널의 제조 방법에 의해 제조된 터치 패널과 비교할 때 터치의 신뢰성을 향상시킬 수 있다.
또한, 본 발명의 일 실시예에 따른 터치 패널의 제조 방법은 금속층 및 은 나노 와이어층을 하나의 단계에서 식각하여 공정을 간소화할 수 있다.
이상, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 실시예를 설명하였지만, 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자는 본 발명이 그 기술적 사상이나 필수적인 특징으로 변경하지 않고서 다른 구체적인 형태로 실시될 수 있다는 것을 이해할 수 있을 것이다. 그러므로 이상에서 기술한 실시예는 모든 면에서 예시적인 것이며 한정적이 아닌 것으로 이해해야만 한다.
10: 터치 패널 SUB: 기저층
Tx: 제1 감지 전극들 Rx: 제2 감지 전극들
CN: 연결부들 PAD: 패드부
BD: 브릿지들 OP1: 제1 유기 패턴들
OP2: 제2 유기 패턴들 OP3: 제3 유기 패턴들

Claims (6)

  1. 은 나노 와이어층을 제공하는 단계;
    상기 은 나노 와이어층 상에 제1 유기 패턴들 및 제2 유기 패턴들을 제공하는 단계;
    상기 제1 유기 패턴들 및 상기 제2 유기 패턴들 상에 금속층을 제공하는 단계;
    상기 금속층 및 상기 은 나노 와이어층을 식각하여 제1 브릿지층, 제1 감지 전극들 및 제2 감지 전극들을 형성하는 단계;
    상기 제1 유기 패턴들, 상기 제2 유기 패턴들, 상기 제1 브릿지층, 상기 제1 감지 전극들 및 상기 제2 감지 전극들 상에 투명 도전성 산화물층을 제공하는 단계; 및
    상기 투명 도전성 산화물층을 식각하여 제2 브릿지층을 형성하는 단계를 포함하는 터치 패널의 제조 방법.
  2. 제1 항에 있어서,
    상기 금속층 및 상기 은 나노 와이어층은 하나의 단계에서 식각되는 것인 터치 패널의 제조 방법.
  3. 제1항에 있어서,
    상기 제1 유기 패턴들 및 상기 제2 유기 패턴들을 제공하는 단계는
    유기층을 제공하는 단계;
    상기 유기층 상에 제1 포토 레지스트층을 제공하는 단계;
    제1 마스크를 사용하여, 상기 제1 포토 레지스트층을 식각하여 제1 포토 레지스트 패턴들을 형성하는 단계; 및
    상기 제1 포토 레지스트 패턴들을 마스크로 하여, 상기 유기층을 식각하여, 상기 제1 유기 패턴들 및 상기 제2 유기 패턴들을 형성하는 단계를 포함하는 것인 터치 패널의 제조 방법.
  4. 제1항에 있어서,
    상기 제1 브릿지층, 상기 제1 감지 전극들 및 상기 제2 감지 전극들을 형성하는 단계는
    상기 금속층 상에 제2 포토 레지스트층을 제공하는 단계;
    제2 마스크를 사용하여, 상기 제2 포토 레지스트층을 식각하여 제2 포토 레지스트 패턴들을 형성하는 단계; 및
    상기 제2 포토 레지스트 패턴들을 마스크로 하여, 상기 금속층 및 상기 투명 도전성 산화물층을 식각하여 상기 제1 브릿지층, 상기 제1 감지 전극들 및 상기 제2 감지 전극들을 형성하는 단계를 포함하는 것인 터치 패널의 제조 방법.
  5. 제1항에 있어서,
    상기 제2 브릿지층을 형성하는 단계는
    상기 투명 도전성 산화물층 상에 제3 포토 레지스트층을 제공하는 단계;
    제3 마스크를 사용하여, 상기 제3 포토 레지스트층을 식각하여 제3 포토 레지스트 패턴들을 형성하는 단계; 및
    상기 제3 포토 레지스트 패턴들을 마스크로 하여, 상기 투명 도전성 산화물층을 식각하여 상기 제2 브릿지층을 형성하는 단계를 포함하는 것인 터치 패널의 제조 방법.
  6. 제1항에 있어서,
    상기 제1 브릿지층, 상기 제1 감지 전극들 및 상기 제2 감지 전극들을 형성하는 단계에서,
    상기 제1 감지 전극들 각각은 상기 제1 유기 패턴들 각각과 대응하고, 상기 제2 감지 전극들 각각은 상기 제2 유기 패턴들 각각과 대응하는 것인 터치 패널의 제조 방법.

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