KR20230062144A - 접속 지그 및 이를 이용한 케이블 테스트 장치 - Google Patents

접속 지그 및 이를 이용한 케이블 테스트 장치 Download PDF

Info

Publication number
KR20230062144A
KR20230062144A KR1020210147115A KR20210147115A KR20230062144A KR 20230062144 A KR20230062144 A KR 20230062144A KR 1020210147115 A KR1020210147115 A KR 1020210147115A KR 20210147115 A KR20210147115 A KR 20210147115A KR 20230062144 A KR20230062144 A KR 20230062144A
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
connection
pins
connector
connection port
cable
Prior art date
Application number
KR1020210147115A
Other languages
English (en)
Inventor
손상훈
Original Assignee
세메스 주식회사
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 세메스 주식회사 filed Critical 세메스 주식회사
Priority to KR1020210147115A priority Critical patent/KR20230062144A/ko
Publication of KR20230062144A publication Critical patent/KR20230062144A/ko

Links

Images

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/50—Testing of electric apparatus, lines, cables or components for short-circuits, continuity, leakage current or incorrect line connections
    • G01R31/66—Testing of connections, e.g. of plugs or non-disconnectable joints
    • G01R31/67—Testing the correctness of wire connections in electric apparatus or circuits
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
    • G01R1/02—General constructional details
    • G01R1/06—Measuring leads; Measuring probes
    • G01R1/067—Measuring probes
    • G01R1/073—Multiple probes
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R19/00—Arrangements for measuring currents or voltages or for indicating presence or sign thereof
    • G01R19/0046—Arrangements for measuring currents or voltages or for indicating presence or sign thereof characterised by a specific application or detail not covered by any other subgroup of G01R19/00
    • G01R19/0053—Noise discrimination; Analog sampling; Measuring transients
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/08—Locating faults in cables, transmission lines, or networks
    • G01R31/081—Locating faults in cables, transmission lines, or networks according to type of conductors
    • G01R31/083—Locating faults in cables, transmission lines, or networks according to type of conductors in cables, e.g. underground

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)

Abstract

하네스 케이블의 이상 여부를 빠르고 정확하게 체크할 수 있는 케이블 테스트 장치가 제공된다. 상기 케이블 테스트 장치는 제1 커넥터와 제2 커넥터를 포함하는 하네스 케이블을 테스트하기 위한 케이블 테스트 장치에 있어서, 제1 접속포트를 포함하는 메인 테스터; 제2 접속포트를 포함하는 서브 테스터; 상기 제1 접속포트에 연결되는 제1 연결부와, 상기 제1 커넥터와 연결되는 제2 연결부를 포함하는 제1 접속 지그; 및 상기 제2 접속포트에 연결되는 제3 연결부와, 상기 제2 커넥터와 연결되는 제4 연결부를 포함하는 제2 접속 지그를 포함한다.

Description

접속 지그 및 이를 이용한 케이블 테스트 장치{Connection zig and cable test apparatus using the same}
본 발명은 접속 지그 및 이를 이용한 케이블 테스트 장치에 관한 것이다.
기판 처리 시스템에서 다양한 하네스 케이블이 사용된다. 하네스 케이블을 기판 처리 시스템 내에 설치하기 전에, 케이블 테스트 장치를 이용하여 하네스 케이블에 이상(예를 들어, 단선, 꼬임, 합선 등)이 없는지 확인할 필요가 있다.
한편, 최근 전자기기의 소형화에 따라 실장밀도가 높아짐에 따라 동작 주파수가 높어지고, 이에 따라 방출 노이즈가 발생한다. 방출 노이즈는 하네스 케이블의 구동을 저해하는 요소이다. 실제 현장에서는 하네스 케이블의 이상이 없음에도 전체 시스템의 구동 저해 요인을 하네스 케이블에서 찾음으로써, 시간적 경제적 손실이 발생하곤 한다.
또한, 다수의 하네스 케이블의 이상유무를 테스트하기 위해서는 굉장히 많은 시간이 걸린다. 뿐만 아니라, 테스트 과정의 실수로 인해서, 오테스트 가능성이 많다.
본 발명이 해결하고자 하는 과제는, 하네스 케이블의 이상 여부를 빠르고 정확하게 체크할 수 있는 케이블 테스트 장치를 제공하는 것이다.
본 발명이 해결하고자 하는 다른 과제는, 상기 케이블 테스트 장치에서 사용되는 접속 지그를 제공하는 것이다.
본 발명의 과제들은 이상에서 언급한 과제로 제한되지 않으며, 언급되지 않은 또 다른 과제들은 아래의 기재로부터 당업자에게 명확하게 이해될 수 있을 것이다.
상기 과제를 달성하기 위한 본 발명의 케이블 테스트 장치의 일 면(aspect)은, 제1 커넥터와 제2 커넥터를 포함하는 하네스 케이블을 테스트하기 위한 케이블 테스트 장치에 있어서, 제1 접속포트를 포함하는 메인 테스터; 제2 접속포트를 포함하는 서브 테스터; 상기 제1 접속포트에 연결되는 제1 연결부와, 상기 제1 커넥터와 연결되는 제2 연결부를 포함하는 제1 접속 지그; 및 상기 제2 접속포트에 연결되는 제3 연결부와, 상기 제2 커넥터와 연결되는 제4 연결부를 포함하는 제2 접속 지그를 포함한다.
상기 제1 접속포트 및 상기 제1 연결부 각각은 n(단, n은 2이상의 자연수)개의 핀을 포함하고, 상기 제1 커넥터 및 상기 제2 연결부 각각은 m(단, m은 n과 같거나 작은 자연수)개의 핀을 포함한다.
상기 제2 접속포트 및 상기 제3 연결부 각각은 s(단, s는 2이상의 자연수)개의 핀을 포함하고, 상기 제2 커넥터 및 상기 제4 연결부 각각은 t(단, t은 s와 같거나 작은 자연수)개의 핀을 포함한다.
상기 메인 테스터는 상기 제1 접속포트의 n개의 핀 중 m개의 핀을 통해서, 테스트 신호를 순차적으로 상기 제1 접속 지그로 전송한다.
상기 메인 테스터는 상기 제1 접속포트의 n개의 핀과 각각 연결되는, n개의 스위치를 포함하고, 작업자가 상기 n개의 스위치 중 어느 하나의 스위치를 턴온하면, 상기 제1 접속포트의 n개의 핀 중 턴온된 스위치에 대응되는 핀을 통해서 테스트 신호가 상기 제1 접속 지그로 전송된다.
상기 서브 테스터는 상기 제2 접속포트의 s개의 핀 각각과 연결된, s개의 표시기를 포함한다.
상기 다른 과제를 달성하기 위한 본 발명의 접속 지그의 일 면은, 테스터의 접속포트에 연결되기 위한 제1 연결부; 피테스트 대상인 하네스 케이블의 커넥터와 연결되기 위한 제2 연결부; 및 상기 제1 연결부와 상기 제2 연결부를 연결하는 케이블을 포함한다.
기타 실시예들의 구체적인 사항들은 상세한 설명 및 도면들에 포함되어 있다.
도 1은 본 발명의 몇몇 실시예에 따른 케이블 테스트 장치를 설명하기 위한 도면이다.
도 2 내지 도 4는 도 1의 접속 지그의 다양한 예를 설명하기 위한 도면이다.
도 5는 도 1의 메인 테스터의 일 예를 설명하기 위한 도면이다.
도 6은 도 1의 서브 테스터의 일 예를 설명하기 위한 도면이다.
도 7은 도 1의 메인 테스터의 다른 예를 설명하기 위한 도면이다.
도 8은 본 발명의 몇몇 실시예에 따른 케이블 테스트 방법을 설명하기 위한 순서도이다.
이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시예를 상세히 설명한다. 본 발명의 이점 및 특징, 그리고 그것들을 달성하는 방법은 첨부되는 도면과 함께 상세하게 후술되어 있는 실시 예들을 참조하면 명확해질 것이다. 그러나 본 발명은 이하에서 게시되는 실시 예들에 한정되는 것이 아니라 서로 다른 다양한 형태로 구현될 수 있으며, 단지 본 실시 예들은 본 발명의 게시가 완전하도록 하고, 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 발명의 범주를 완전하게 알려주기 위해 제공되는 것이며, 본 발명은 청구항의 범주에 의해 정의될 뿐이다. 명세서 전체에 걸쳐 동일 참조 부호는 동일 구성 요소를 지칭한다.
공간적으로 상대적인 용어인 "아래(below)", "아래(beneath)", "하부(lower)", "위(above)", "상부(upper)" 등은 도면에 도시되어 있는 바와 같이 하나의 소자 또는 구성 요소들과 다른 소자 또는 구성 요소들과의 상관관계를 용이하게 기술하기 위해 사용될 수 있다. 공간적으로 상대적인 용어는 도면에 도시되어 있는 방향에 더하여 사용시 또는 동작시 소자의 서로 다른 방향을 포함하는 용어로 이해되어야 한다. 예를 들면, 도면에 도시되어 있는 소자를 뒤집을 경우, 다른 소자의 "아래(below)" 또는 "아래(beneath)"로 기술된 소자는 다른 소자의 "위(above)"에 놓여질 수 있다. 따라서, 예시적인 용어인 "아래"는 아래와 위의 방향을 모두 포함할 수 있다. 소자는 다른 방향으로도 배향될 수 있고, 이에 따라 공간적으로 상대적인 용어들은 배향에 따라 해석될 수 있다.
비록 제1, 제2 등이 다양한 소자, 구성요소 및/또는 섹션들을 서술하기 위해서 사용되나, 이들 소자, 구성요소 및/또는 섹션들은 이들 용어에 의해 제한되지 않음은 물론이다. 이들 용어들은 단지 하나의 소자, 구성요소 또는 섹션들을 다른 소자, 구성요소 또는 섹션들과 구별하기 위하여 사용하는 것이다. 따라서, 이하에서 언급되는 제1 소자, 제1 구성요소 또는 제1 섹션은 본 발명의 기술적 사상 내에서 제2 소자, 제2 구성요소 또는 제2 섹션일 수도 있음은 물론이다.
이하, 첨부한 도면들을 참조하여 본 발명의 실시예들을 상세히 설명하기로 하며, 첨부 도면을 참조하여 설명함에 있어 도면 부호에 상관없이 동일하거나 대응하는 구성 요소는 동일한 참조번호를 부여하고 이에 대한 중복되는 설명은 생략하기로 한다.
도 1은 본 발명의 몇몇 실시예에 따른 케이블 테스트 장치를 설명하기 위한 도면이다. 도 2 내지 도 4는 도 1의 접속 지그의 다양한 예를 설명하기 위한 도면이다.
우선 도 1을 참고하면, 본 발명의 몇몇 실시예에 따른 케이블 테스트 장치(1)는 하네스 케이블(10)을 테스트하기 위한 장치이다. 케이블 테스트 장치(1)는 하네스 케이블(10)의 이상(예를 들어, 단선, 꼬임, 합선 등)을 체크할 수 있다. 하네스 케이블(10)은 제1 커넥터(11), 제2 커넥터(12), 제1 커넥터(11) 및 제2 커넥터(12)을 서로 연결하는 케이블(15)을 포함한다.
이러한 케이블 테스트 장치(1)는 메인 테스터(100), 서브 테스터(200), 제1 접속 지그(20) 및 제2 접속 지그(30)를 포함한다.
메인 테스터(100)는 신호를 생성하여, 제1 접속 지그(20), 하네스 케이블(10), 제2 접속 지그(30)를 통해서 서브 테스터(200)에 전송한다.
서브 테스터(200)는 메인 테스터(100)로부터 제공된 신호가 정상적으로 도착했는지 여부를 표시한다. 예를 들어, 서브 테스터(200)는 표시기를 포함할 수 있다. 표시기는 시각, 청각, 촉각 등 다양한 방식으로 신호의 도착 여부를 작업자에게 알려줄 수 있다. 예를 들어, 시각 방식의 표시기는 LED, OLED, 전구 등일 수 있고, 청각 방식의 표시기는 스피커일 수 있고, 촉각 방식의 표시기는 진동기일 수 있다.
메인 테스터(100)는 제1 접속포트(101)를 포함한다. 서브 테스터(200)는 제2 접속포트(202)를 포함한다.
제1 접속 지그(20)는 제1 접속포트(101)에 연결되는 제1 연결부(21)와, 하네스 케이블(10)의 제1 커넥터(11)와 연결되는 제2 연결부(22)를 포함한다. 제1 연결부(21)와 제2 연결부(22)는 케이블(25)에 의해 서로 연결된다.
제2 접속 지그(30)는 제2 접속포트(202)에 연결되는 제3 연결부(31)와, 하네스 케이블(10)의 제2 커넥터(12)와 연결되는 제4 연결부(32)를 포함한다. 제3 연결부(31)와 제4 연결부(32)는 케이블(35)에 의해 서로 연결된다.
제1 접속 지그(20)는, 하네스 케이블(10)의 제1 커넥터(11)의 핀수와 메인 테스터(100)의 제1 접속포트(101)의 핀수가 매칭되지 않을 때, 제1 커넥터(11)와 제1 접속포트(101)를 서로 전기적으로 연결하기 위한 것이다.
예를 들어, 제1 접속포트(101)의 핀수가 32개이고, 제1 커넥터(11)의 핀수가 8개이면, 제1 접속포트(101)와 제1 커넥터(11)를 직접 연결할 수 없다. 제1 연결부(21)의 핀수는 32개이고 제2 연결부(22)의 핀수는 8개인 제1 접속 지그(20)를 사용하면, 제1 접속포트(101)와 제1 커넥터(11)를 전기적으로 연결할 수 있다.
제2 접속 지그(30)는, 하네스 케이블(10)의 제2 커넥터(12)의 핀수와 서브 테스터(200)의 제2 접속포트(202)의 핀수가 매칭되지 않을 때, 제2 커넥터(12)와 제2 접속포트(202)를 서로 전기적으로 연결하기 위한 것이다.
예를 들어, 제2 접속포트(202)의 핀수가 32개이고, 제2 커넥터(12)의 핀수가 8개이면, 제2 접속포트(202)와 제2 커넥터(12)를 직접 연결할 수 없다. 제3 연결부(31)의 핀수는 32개이고 제4 연결부(32)의 핀수는 8개인 제2 접속 지그(30)를 사용하면, 제2 접속포트(202)와 제2 커넥터(12)를 전기적으로 연결할 수 있다.
정리하면, 제1 접속포트(101) 및 제1 연결부(21) 각각은 n(단, n은 2이상의 자연수)개의 핀을 포함하고, 제1 커넥터(11) 및 제2 연결부(22) 각각은 m(단, m은 n과 같거나 작은 자연수)개의 핀을 포함할 수 있다.
제2 접속포트(202) 및 제3 연결부(31) 각각은 s(단, s는 2이상의 자연수)개의 핀을 포함하고, 제2 커넥터(12) 및 제4 연결부(32) 각각은 t(단, t은 s와 같거나 작은 자연수)개의 핀을 포함할 수 있다.
실시예에 따라서는, 제1 접속포트(101)와 제2 접속포트(202)의 핀수는 서로 동일하고(즉, n과 s는 서로 동일하고), 제2 연결부(22)와 제4 연결부(32)의 핀수는 서로 동일할 수 있으나(즉, m과 t는 서로 동일할 수 있으나), 이에 한정되지 않는다.
하네스 케이블(10)의 커넥터(11, 12)는 다양한 핀수(예를 들어, 3핀, 5핀, 10핀, 32핀 등)를 가질 수 있다. 만약 접속 지그(20, 30)를 사용하지 않는다면, 테스트 대상인 하네스 케이블(10)의 커넥터(11, 12)가 달라질 때마다, 커넥터(11, 12)에 맞는 메인 테스터(100), 서브 테스터(200)로 바꿔서 사용해야 한다. 하지만, 본 발명의 몇몇 실시예에 따른 케이블 테스트 장치(1)에서는, 하네스 케이블(10)의 커넥터(11, 12)에 맞도록 접속 지그(20, 30)만 바꿈으로써, 메인 테스터(100), 서브 테스터(200)는 바꾸지 않고 테스트를 계속할 수 있다. 이와 같이 함으로써, 테스트 시간의 단축 및 편리성을 높일 수 있다.
도 2 내지 도 4에 도시된 것과 같이, 하네스 케이블(10a, 10b, 10c)의 커넥터의 종류에 맞는, 연결부를 갖는 제1 접속 지그(20a, 20b, 20c) 및 제2 접속 지그(30a, 30b, 30c)를 사용할 수 있다.
도 5는 도 1의 메인 테스터의 일 예를 설명하기 위한 도면이다. 도 6은 도 1의 서브 테스터의 일 예를 설명하기 위한 도면이다.
도 5를 참고하면, 메인 테스터(100) 내에는 신호 발생기(110), 제1 접속포트(101) 및 이들을 서로 연결하는 다수의 신호배선(A1~An)을 포함한다.
예를 들어, 제1 접속포트(101) 및 제1 연결부(21) 각각은 n(단, n은 2이상의 자연수)개의 핀을 포함하고, 제1 커넥터(11) 및 제2 연결부(22) 각각은 m(단, m은 n과 같거나 작은 자연수)개의 핀을 포함할 수 있다.
도 6을 참고하면, 서브 테스터(200) 내에는 다수의 표시기(C1~Cn), 제2 접속포트(202) 및 이들을 서로 연결하는 다수의 신호배선(D1~Dn)을 포함한다. 예를 들어, 표시기(C1~Cn)는 LED일 수 있다.
예를 들어, 제2 접속포트(202) 및 제3 연결부(31) 각각은 n(단, n은 2이상의 자연수)개의 핀을 포함하고, 제2 커넥터(12) 및 제4 연결부(32) 각각은 m(단, m은 n과 같거나 작은 자연수)개의 핀을 포함할 수 있다.
이러한 경우, 메인 테스터(100)는 제1 접속포트(101)의 n개의 핀 중 m개의 핀을 통해서 테스트 신호를 순차적으로 제1 접속 지그(20)로 전송한다. 즉, 신호 발생기(110)는 m개의 테스트 신호만을 순차적으로 발생시켜, 신호배선(A1) 내지 신호배선(Am)을 통해서 제1 접속포트(101)의 m개의 핀에 순차적으로 전달한다.
m개의 테스트 신호는 순차적으로, 제1 접속 지그(20), 하네스 케이블(10) 및 제2 접속 지그(30)를 통해서 서브 테스터(200)의 제2 접속포트(202)에 전달된다.
순차적으로 도착하는 m개의 테스트 신호에 따라, 서브 테스터(200)의 대응되는 m개의 표시기(C1~Cm)가 순차적으로 턴온될 수 있다. 예를 들어, 표시기(C1), 표시기(C2), 표시기(C3), … , 표시기(Cm)이 순차적으로 턴온될 수 있다.
이와 같이 다수의 테스트 신호를 순차적으로 생성하여 전송함으로써, 빠르고 정확하게 테스트를 진행할 수 있다.
도 7은 도 1의 메인 테스터의 다른 예를 설명하기 위한 도면이다. 설명의 편의상 도 1, 도 5 및 도 6을 이용하여 설명한 것과 다른 점을 위주로 설명한다.
도 7을 참고하면, 메인 테스터(100)의 신호 발생기(111)에는, 제1 접속포트(101)의 n개의 핀과 각각 연결되는, n개의 스위치(B1~Bn)을 포함한다.
도 6의 메인 테스터(100)에서는 m개의 테스트 신호가 순차적으로 발생되었다. 반면, 도 7의 메인 테스터(100)에서는, 작업자가 n개의 스위치(B1~Bn) 중 어느 하나의 스위치(예를 들어, B1)를 턴온하면, 선택한 스위치(B1)에 대응되는 테스트 신호가 발생된다. 발생된 테스트 신호는 턴온된 스위치(B1)에 대응되는 신호배선(A1)을 따라서 제1 접속포트(101)에 전달된다.
전달된 테스트 신호는 순차적으로, 제1 접속 지그(20), 하네스 케이블(10) 및 제2 접속 지그(30)를 통해서 서브 테스터(200)의 제2 접속포트(202)에 전달된다.
전달된 테스트 신호는 신호배선(D1)을 따라서 표시기(C1)에 전달되고, 표시기(C1)에는 광이 발생된다.
이와 같이 다수의 스위치(B1~Bn)을 사용하여, 작업자는 다수의 테스트 신호를 개별적으로 생성하여, 원하는 핀의 정합성 여부를 개별적으로 테스트할 수 있다.
도 8은 본 발명의 몇몇 실시예에 따른 케이블 테스트 방법을 설명하기 위한 순서도이다.
도 1 및 도 8을 참고하면, 우선 테스트 대상인 하네스 케이블(10)의 제1 커넥터(11), 제2 커넥터(12)의 핀수를 확인한다(S1).
이어서, 메인 테스터(100)의 제1 접속포트(101)에 제1 접속 지그(20)를 연결한다(S2). 사용될 제1 접속 지그(20)의 제1 연결부(21)의 핀수는 제1 접속포트(101)의 핀수와 같고, 제1 접속 지그(20)의 제2 연결부(22)의 핀수는 제1 커넥터(11)의 핀수와 같다.
이어서, 서브 테스터(200)의 제2 접속포트(202)에 제2 접속 지그(30)를 연결한다(S3). 사용될 제2 접속 지그(30)의 제3 연결부(31)의 핀수는 제2 접속포트(202)의 핀수와 같고, 제2 접속 지그(30)의 제4 연결부(32)의 핀수는 제2 커넥터(12)의 핀수와 같다.
이어서, 하네스 케이블(10)을 제1 접속 지그(20)와 제2 접속 지그(30) 사이에 연결한다(S4). 하네스 케이블(10)의 제1 커넥터(11)는 제2 연결부(22)와 연결되고, 제2 커넥터(12)는 제4 연결부(32)와 연결된다.
이어서, 메인 테스터(100)는 순차적으로 신호를, 제1 접속 지그(20), 하네스 케이블(10) 및 제2 접속 지그(30)를 통해서 서브 테스터(200)에 전달한다(S5).
이상과 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 실시예를 설명하였지만, 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자는 본 발명이 그 기술적 사상이나 필수적인 특징을 변경하지 않고서 다른 구체적인 형태로 실시될 수 있다는 것을 이해할 수 있을 것이다. 그러므로 이상에서 기술한 실시예들은 모든 면에서 예시적인 것이며 한정적이 아닌 것으로 이해해야만 한다.
10: 하네스 케이블 11: 제1 커넥터
12: 제2 커넥터 20: 제1 접속 지그
21: 제1 연결부 22: 제2 연결부
30: 제2 접속 지그 31: 제3 연결부
32: 제4 연결부 100: 메인 테스터
101: 제1 접속포트 200: 서브 테스터
202: 제2 접속포트

Claims (7)

  1. 제1 커넥터와 제2 커넥터를 포함하는 하네스 케이블을 테스트하기 위한 케이블 테스트 장치에 있어서,
    제1 접속포트를 포함하는 메인 테스터;
    제2 접속포트를 포함하는 서브 테스터;
    상기 제1 접속포트에 연결되는 제1 연결부와, 상기 제1 커넥터와 연결되는 제2 연결부를 포함하는 제1 접속 지그; 및
    상기 제2 접속포트에 연결되는 제3 연결부와, 상기 제2 커넥터와 연결되는 제4 연결부를 포함하는 제2 접속 지그를 포함하는, 케이블 테스트 장치.
  2. 제 1항에 있어서,
    상기 제1 접속포트 및 상기 제1 연결부 각각은 n(단, n은 2이상의 자연수)개의 핀을 포함하고,
    상기 제1 커넥터 및 상기 제2 연결부 각각은 m(단, m은 n과 같거나 작은 자연수)개의 핀을 포함하는, 케이블 테스트 장치.
  3. 제 2항에 있어서,
    상기 제2 접속포트 및 상기 제3 연결부 각각은 s(단, s는 2이상의 자연수)개의 핀을 포함하고,
    상기 제2 커넥터 및 상기 제4 연결부 각각은 t(단, t은 s와 같거나 작은 자연수)개의 핀을 포함하는, 케이블 테스트 장치.
  4. 제 2항에 있어서,
    상기 메인 테스터는 상기 제1 접속포트의 n개의 핀 중 m개의 핀을 통해서, 테스트 신호를 순차적으로 상기 제1 접속 지그로 전송하는, 케이블 테스트 장치.
  5. 제 2항에 있어서, 상기 메인 테스터는
    상기 제1 접속포트의 n개의 핀과 각각 연결되는, n개의 스위치를 포함하고,
    작업자가 상기 n개의 스위치 중 어느 하나의 스위치를 턴온하면, 상기 제1 접속포트의 n개의 핀 중 턴온된 스위치에 대응되는 핀을 통해서 테스트 신호가 상기 제1 접속 지그로 전송되는, 케이블 테스트 장치.
  6. 제 3항에 있어서, 상기 서브 테스터는
    상기 제2 접속포트의 s개의 핀 각각과 연결된, s개의 표시기를 포함하는, 케이블 테스트 장치.
  7. 테스터의 접속포트에 연결되기 위한 제1 연결부;
    피테스트 대상인 하네스 케이블의 커넥터와 연결되기 위한 제2 연결부; 및
    상기 제1 연결부와 상기 제2 연결부를 연결하는 케이블을 포함하는, 접속 지그.
KR1020210147115A 2021-10-29 2021-10-29 접속 지그 및 이를 이용한 케이블 테스트 장치 KR20230062144A (ko)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020210147115A KR20230062144A (ko) 2021-10-29 2021-10-29 접속 지그 및 이를 이용한 케이블 테스트 장치

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020210147115A KR20230062144A (ko) 2021-10-29 2021-10-29 접속 지그 및 이를 이용한 케이블 테스트 장치

Publications (1)

Publication Number Publication Date
KR20230062144A true KR20230062144A (ko) 2023-05-09

Family

ID=86408172

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020210147115A KR20230062144A (ko) 2021-10-29 2021-10-29 접속 지그 및 이를 이용한 케이블 테스트 장치

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR20230062144A (ko)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US7014500B2 (en) Testing assembly and method for identifying network circuits
US20130018624A1 (en) System For Manufacturing Cables
WO2007109460A2 (en) Method for distinguishing a first group of wires from other wires of a multi-wire cable, test connector for use in this method and a kit comprising such a multiwire cable and test connector
US20090189625A1 (en) Method and System for Continuity Testing of Conductive Interconnects
JP4930705B2 (ja) 構造化配線システムおよびパッチング方法
US6466885B2 (en) Line tester
US6798183B2 (en) Method of and apparatus for simultaneously providing tone and intermittent link onto a cable to assist identifying the cable
US4814693A (en) Data cable test apparatus and method
US20120270436A1 (en) Identifying individual copper network cables on a patch panel
KR20230062144A (ko) 접속 지그 및 이를 이용한 케이블 테스트 장치
JP2008096127A (ja) ターミネータおよび多芯ケーブル検査装置
JP5248898B2 (ja) 試験装置及び診断用パフォーマンスボード
JP2015111078A (ja) 導通検査装置及び導通検査ユニット
CN101424722B (zh) 主板发光二极管测试系统及方法
US5764725A (en) Apparatus for testing the line continuity of telephone switch equipment
CN109061435A (zh) 一种背钻加工能力的检测装置及方法
KR101865622B1 (ko) 랜선 테스터기
KR101892221B1 (ko) 랜 케이블 식별 시스템
CA2356318A1 (en) Device for testing cables that are provided with plug connectors
KR102026296B1 (ko) 회로검사기 성능 검사를 위한 와이어 시뮬레이션 시스템
KR20090005487U (ko) 케이블 테스터
JP2001165986A (ja) ケーブル検査装置
US11965800B1 (en) Breakout box for testing periscope cable connectors
CN213302432U (zh) 功能测试装置和系统
CN106501664B (zh) 一种电器设备的检测设备和检测系统